論文 - 石川 健治
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Observation of Thin SiO2 Films using IR-RAS 査読有り
Shuzo Fujimura, Kenji Ishikawa, and Haruhisa Mori
The Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface 2, edited by C. R. Helms and B. E. Deal, (Plenum Press) 頁: 91 1993年
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New Analytical Method of SiO2 Structure by Infrared Reflection Absorption Spectroscopy (IR-RAS) 査読有り
Kenji Ishikawa, Hiroki Ogawa, Carlos Inomata, Shuzo Fujimura and Haruhisa Mori
MRS Proceedings 318 巻 頁: 425-431 1993年