Presentations -
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光電子収率分光法による熱酸化SiO2/Si構造の電子状態計測
大田晃生、今川拓哉、池田弥央、牧原克典、宮崎誠一
第65回応用物理学会春季学術講演会
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電子・正孔交互注入によるGeコアSi量子ドット多重集積構造からのエレクトロルミネッセンス
牧原克典、池田弥央、藤村信幸、大田晃生、宮崎誠一
第65回応用物理学会春季学術講演会
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SiO2/Si構造の真空紫外光電子分光分析
今川拓哉、大田晃生、田岡紀之、藤村信幸、池田弥央、牧原克典、宮崎誠一
第65回応用物理学会春季学術講演会
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XPSによるY2O3/SiO2界面の化学結合状態および内部電位評価
藤村信幸、大田晃生、池田弥央、牧原克典、宮崎誠一
第65回応用物理学会春季学術講演会
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リモートプラズマによって酸化されたn-GaNのPL特性
高田昇治、山本泰史、田岡紀之、大田晃生、グェンスァンチュン、山田永、高橋言緒、池田弥央、牧原克典、清水三聡、宮崎誠一
第65回応用物理学会春季学術講演会
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Evaluation of Potential Distribution in Multiply-Stacked Si Quantum Dots Structure by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy International conference
11th International WorkShop on New Group IV Semiconductor Nanoelectronics
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Insulator/GaN Interface Control for Intelligent Power Integrated Circuit International conference
11th International WorkShop on New Group IV Semiconductor Nanoelectronics
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Control of Surface Segregated Ultrathin Ge Layer Formation on Ag Surface International conference
10th Anniversary International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials (ISPlasma2018)/11th International Conference on Plasma-Nano Technology & Science (IC-PLANTS2018)
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Operand Study of Multiple Stacked Si Quantum Dots by Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy International conference
10th Anniversary International Symposium on Advanced Plasma Science and its Applications for Nitrides and Nanomaterials (ISPlasma2018)/11th International Conference on Plasma-Nano Technology & Science (IC-PLANTS2018)
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Electroluminescence from Si-QDs with Ge Core International conference
11th International WorkShop on New Group IV Semiconductor Nanoelectronics
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Insights into Growth of Two-Dimensional Ge Crystal on Epitaxial Ag/Ge(111) by Thermal Annealing International conference
11th International WorkShop on New Group IV Semiconductor Nanoelectronics
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XPS Study on High-k/SiO2 Interface -Correlation between Electrical Dipole and Oxygen Density - International conference
11th International WorkShop on New Group IV Semiconductor Nanoelectronics
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Carrier Conduction in SiO2/GaN Structure with Abrupt Interface International conference
The 2018 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications
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磁性AFM探針を用いたFe3Siナノドットの電子輸送特性評価
武 嘉麟、張 海、古幡 裕志、牧原 克典、池田 弥央、大田 晃生、宮崎 誠一
第67回応用物理学会春季学術講演会
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リモート酸素プラズマ支援CVD SiO2/GaNの化学構造及び電気特性評価
グェンスァン チュン, 田岡紀之, 大田晃生, 山田永, 高橋言緒, 池田弥央, 牧原克典, 清水三聡, 宮崎誠一
電子情報通信学会 電子デバイス研究会
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リモート酸素プラズマによって酸化したGaNの表面構造
山本泰史、田岡紀之、大田 晃生、グェンスァン チュン、山田永、高橋言緒、池田弥央、牧原克典、清水三聡、宮崎誠一
先進パワー半導体分科会第4回講演会
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高誘電率絶縁膜/SiO2積層構造の光電子分光分析-界面ダイポールと酸素密度の相関-
藤村 信幸、大田 晃生、池田 弥央、牧原 克典、宮崎 誠一
応用物理学会SC東海地区学術講演会2017
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硬X線光電子分光法によるSi量子ドット多重集積構造のオペランド分析
中島 裕太、牧原 克典、大田 晃生、池田 弥央、宮崎 誠一
応用物理学会SC東海地区学術講演会2017
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GeコアSi量子ドットのEL特性評価
山田健太郎、池田弥生、牧原克典、大田晃生、宮崎誠一
応用物理学会SC東海地区学術講演会2017
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入射エネルギー可変の真空紫外光電子分光による固体表面の価電子帯上端位置の計測
今川 拓哉、大田 晃生、田岡 紀之、藤村 信幸、グェン スァン チュン、池田 弥央、牧原 克典、宮崎 誠一
応用物理学会SC東海地区学術講演会2017