講演・口頭発表等 - 原田 俊太
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脂質二重膜上におけるDNA被覆金ナノ粒子のセルフアセンブリに対するイオンの効果 国際会議
磯貝卓巳, 赤田英理, 中田咲子, 吉田直矢, 手老龍吾, 原田俊太, 宇治原徹, 田川美穂
第65回応用物理学会春季学術講演会 2015年3月11日
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窒素添加した 4H-SiC における積層欠陥拡張・収縮挙動の高温その場観察 国際会議
藤榮 文博, 原田 俊太, 村山 健太, 花田 賢志, 陳 鵬磊, 田川 美穂, 加藤 智久, 宇治原 徹
先進パワー半導体分科会 第3回講演会 2016年11月8日
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溶液成長法二段階成長による SiC 結晶内の欠陥密度の低減 国際会議
村山 健太, 堀 司紗, 原田 俊太, 田川 美穂, 宇治原 徹
先進パワー半導体分科会 第3回講演会 2016年11月8日
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溶液成長SiC基板上に作製した酸化膜の評価 国際会議
古庄 智明, 川畑 直之, 古橋 壮之, 渡辺 友勝, 渡邊 寛, 山川 聡, 村山 健太, 原田 俊太, 宇治原 徹
2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会 2017年9月5日
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水素挿入・脱離によるWO3薄膜の熱伝導率制御 国際会議
中村 彩乃, 小林 竜太, 原田 俊太, 田川 美穂, 宇治原 徹
2017年第64回応用物理学会春季学術講演会 2017年3月14日
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機械学習を用いた溶液成長における過飽和度分布の予測 国際会議
角岡 洋介, 小久保 信彦, 原田 俊太, 田川 美穂, 宇治原 徹
2016年第81回応用物理学会秋季学術講演会 2016年9月13日
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機械学習を用いたSiC結晶成長実験条件の最適化 国際会議
村井 良多, 畑佐 豪記, 角岡 洋介, 林 宏益, 村山 健太, 朱 燦, 原田 俊太, 田川 美穂, 宇治原 徹
2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会 2017年9月5日
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後方反射X線トポグラフィによる4H-SiC積層欠陥拡張挙動のその場観察 国際会議
藤榮 文博, 原田 俊太, 村山 健太, 花田 賢志, 陳鵬磊, 加藤 智久, 田川 美穂, 宇治原 徹
2017年第64回応用物理学会春季学術講演会 2017年3月14日
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塩素酸ナトリウム水溶液中の銀ナノ粒子円偏光光学捕捉により誘起されるキラル結晶化におけるキラリティの偏り 国際会議
新家 寛正, 杉山 輝樹, 田川 美穂, 村山 健太, 原田 俊太, 宇治原 徹
日本地球惑星科学連合2016年大会 2016年5月22日
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単結晶Cu集電体を用いた金属Li負極の不均一析出抑制 国際会議
石川 晃平, 原田 俊太, 田川 美穂, 宇治原 徹
日本金属学会 2017年秋期講演会 2017年9月6日
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半導体伝導帯構造を明らかにする可視光電子光電子分光法の提案 国際会議
宇治原 徹, 市橋 史朗, 董 キン宇, 井上 明人, 川口 昂彦, 桑原 真人, 伊藤 孝寛, 原田 俊太, 田川 美穂
2016年真空・表面科学合同講演会 第 36 回表面科学学術講演会 第 57 回真空に関する連合講演会 2016年11月29日
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“金属絶縁体転移に伴う WO3薄膜の熱伝導率変化” 国際会議
中村彩乃, 青柳健大, 原田俊太, 田川美穂, 宇治原徹
公益社団法人日本セラミックス協会 第 28 回秋季シンポジウム 2015年9月16日
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“脂質二重膜上のDNA被覆ナノ粒子の2次元配列に及ぼすマグネシウムおよび脂質膜形状の影響” 国際会議
磯貝卓巳, 赤田英里, 中田咲子, 吉田直矢, 手老龍吾, 原田俊太, 宇治原徹, 田川美穂
第45回結晶成長国内会議（NCCG-45） 2015年10月19日
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“脂質二重膜の性質が膜上のDNA被覆金ナノ粒子に及ぼす影響” 国際会議
中田咲子, 赤田英里, 磯貝卓巳, 吉田直矢, 手老龍吾, 原田俊太, 宇治原徹, 田川美穂
2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会 2015年9月13日
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“溶液法により成長したn型4H-SiC結晶のキャリア濃度分布の評価” 国際会議
王 振江, 川口昂彦, 村山健太, 青柳健大, 原田俊太, 酒井武信, 宇治原徹
2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会 2015年9月13日
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“溶媒を用いたAlNウィスカーの直接窒化法における溶媒組成が生成量に与える影響” 国際会議
松本昌樹, 渡邉将太, 竹内幸久, 青柳健大, 原田俊太, 田川美穂, 宇治原徹
第45回結晶成長国内会議（NCCG-45） 2015年10月19日
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SiC 溶液成長法における溶媒中の Cr 組成に対する 成長ポリタイプの面内分布及び相対存在割合の評価 国際会議
鈴木皓己, 高橋大, 土本直道, 玄光龍, 太子敏則, 村山健太, 原田俊太, 宇治原徹
先進パワー半導体分科会 第4回講演会 2017年11月1日
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Automatic Detection of Dislocation contrasts in Birefringence Image of SiC Wafers Using Variance Filter Method
Shunta Harada
SSDM2020 2020年9月29日