Presentations -
-
ベイズ超解像による分光分析の高精度化と応用展開 Invited
原田俊太
顕微鏡計測インフォマティックス研究部会 第4回研究会 2022.10.22
-
H+注入によるSiC PiNダイオード内積層欠陥拡張の抑制
渡邉 王雅, 三井 俊樹, 原田 俊太, 坂根 仁, 加藤 正史
2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会 2022.9.20
-
機械学習を用いたSiC結晶の転位増殖抑制に向けた降温条件の探索
熊谷 尚純, 沓掛 健太朗, 原田 俊太, 田川 美穂, 宇治原 徹
2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会 2022.9.22
-
専門家の知識を入れたものづくりのためのデータ同化（ii） -SiC溶液成長シミュレーションへの適用-
太田 壮音, 沓掛 健太朗, 竹野 思温, 烏山 昌幸, 竹内 一郎, 原田 俊太, 田川 美穂, 宇治原 徹
2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会 2022.9.22
-
大口径SiC溶液成長の現状と課題
宇治原 徹, 鈴木 皓己, 古庄 智明, 沓掛 健太朗, 黨 一帆, 劉 欣博, 朱 燦, 周 惠琴, 深見 勇馬, 太田 壮音, 関 翔太, 霜田 大貴, 中西 祐貴, 島 颯一, 布野 日奈子, 上松 浩, 原田 俊太, 田川 美穂
2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会 2022.9.20
-
多段プロセスに対するベイズ最適化の提案 -太陽電池プロセスを例に-
沓掛 健太朗, 中野 高志, 草川 隼也, 竹内 一郎, 原田 俊太, 田川 美穂, 宇治原 徹
2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会 2022.9.22
-
偏光観察による次世代パワーデバイス半導体基板の欠陥解析 Invited
原田俊太, 松原康高, 村山健太
日本金属学会2022年秋期(第171回)講演大会 2022.9.22
-
プロトン注入によるSiCエピタキシャル層の基底面部分転位の運動抑制
原田 俊太, 坂根 仁, 三井 俊樹, 加藤 正史
2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会 2022.9.20
-
SiC溶液法における溶媒への添加元素効果の第一原理計算による解析
関 翔太, 河村 貴宏, 原田 俊太, 田川 美穂, 宇治原 徹
2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会 2022.9.20
-
SiC溶液成長法における中間メルトバックによる表面平坦性の改善
馬 叔陽, 朱 燦, 党 一帆, 劉 欣博, 原田 俊太, 田川 美穂, 宇治原 徹
2022年第83回応用物理学会秋季学術講演会 2022.9.20
-
Analysis of effect of additives in solution growth of SiC by first-principles molecular dynamics calculation
SHOTA SEKI, Takahiro Kawamura, Shunta Harada, Miho Tagawa, Toru Ujihara
19th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2022.9.12
-
Suppression of stacking fault expansion in SiC PiN diodes by H+ implantation
MASASHI KATO, Ohga Watanabe, Toshiki Mii, Hitoshi Sakane, Shunta Harada
19th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2022.9.15
-
Suppression of recombination enhanced dislocation glide motion in 4H-SiC by hydrogen ion implantation
SHUNTA HARADA, Toshiki Mii, Hitoshi Sakane, Masashi Kato
19th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2022.9.15
-
Mechanism of defect contrast formation in off-axis SiC wafers by polarized light microscopy
SHUNTA HARADA, Kenta Murayama
19th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2022.9.13
-
Defect Recognition and Evaluation of SiC Wafers for Power Device Application Invited
Shunta Harada
19th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces 2022.9.8
-
ベイズ超解像によるラマン散乱スペクトルの高精度化
長坂 野乃子, 辻森 皓太, 原田 俊太, 廣谷 潤
第59回炭素材料夏季セミナー 2022.9.1
-
Designing automated defect detection algorithm for characterization of semiconductor wafers
Shunta Harada, Kota Tsujimori
19th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors 2022.8.30
-
Identifying edge-component Burgers vector of threading dislocations in SiC crystals by birefringence imaging
Shunta Harada, Kenta Murayama
19th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors 2022.8.31
-
Development of a high-resolution nuclear emulsion plate for X-ray topography observation of large-size semiconductor wafers
Shunta Harada, Kunihiro Morishima, Nobuko Kitagawa, Atsushi Tanaka, Kenji Hanada, Kotaro Ishiji
19th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors 2022.8.31
-
ベイズ超解像による分光分析の高精度化 Invited
原田俊太
応用物理学会 インフォマティクス応用研究会 第4回研究会「計測インフォマティクス」 2022.5.24