論文 - 武藤　俊介

Intercalated hydrogen in nanostructured graphite studied by electron energy-loss spectroscopy and molecular orbital calculation 査読有り

T. Kimura, S. Muto, K. Tatsumi, T. Tanabe and T. Kiyobayashi

Journal of Alloys and Compounds   413 巻 ( 1-2 ) 頁： 150-154   2006年3月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Hydrogen loosely trapped between graphitic basal planes in hydrogenated nanostructured graphite was detected by the change in the relative intensity ratio of the π * and σ* peaks of the C K-edge in electron energy-loss spectroscopy (EELS). The experimental spectral change was explained by model calculations of intercalated hydrogen in graphitic sheets, using an ab initio molecular orbital (DV-X

Change in mechanical properties of ion-irradiated ceramics by nanoindentation method 査読有り

S. Nakano, S. Muto and T. Tanabe

Materials Transactions   47 巻 ( 1 ) 頁： 112-121   2006年1月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Changes in hardness of several representative ceramics and semiconductors associated with ion irradiation were systematically studied using a combination of nanoindentation and finite element analysis. We established a new method for obtaining the precise hardness of the embedded damaged layer of ion-irradiated samples. The method was applied to silicon carbide,

Site-specific electronic structure analysis by channeling EELS and first principles calculations 査読有り

K. Tatsumi, S. Muto, Y. Yamamoto, H. Ikeno, S. Yoshioka and I. Tanaka

Ultramicroscopy   106 巻   頁： 1019-1023   2006年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Local Oxidation Induced by Inhomogeneous Stress on Blistered Si Surface 査読有り

S. Igarashi, A. N. Itakura, M. Kitajima, S. Nakano, S. Muto, T. Tanabe, H. Yamamoto and K. Hojou

Jpn. J. Appl. Phys.   45 巻   頁： 4179-4182   2006年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Substructures of gas-ion-irradiation induced surface blisters in Si studied with cross-sectional transmission electron microscopy 査読有り

  46 巻 ( 10 ) 頁： 2117-2124   2005年10月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

微小押し込み試験法によるセラミック材料のイオン照射に伴う力学特性変化 査読有り

中野伸祐，武藤俊介，田辺哲朗

日本金属学会誌   69 巻 ( 9 ) 頁： 815-824   2005年9月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

非金属材料におけるヘリウム照射損傷について 招待有り 査読有り

武藤俊介

プラズマ・核融合学会誌   81 巻 ( 1 ) 頁： 41-45   2005年1月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語  

Structure of Oxygen-Related Defect Centers in of Ge1-xSix Alloys Studied by Extended Energy-Loss Fine Structure Analysis 査読有り

S. Muto, H. Sugiyama, I. Yonenaga and T. Tanabe

Japanese Journal of Applied Physics   44 巻   頁： 1892-1896   2005年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy analysis of hydrogenated nanostructured graphite prepared by mechanical milling 査読有り

S. Muto, T. Kimuta, T. Kiyobayashi, T. Tanabe and T. Maruyama

Japanese Journal of Applied Physics   44 巻   頁： 2061-2068   2005年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Hydrogen trapping sites in hydrogenated nanostructured graphite (HNG) prepared by mechanical milling under hydrogen atmosphere were intensively studied with transmission electron microscopy (TEM) and electron energy-loss spectroscopy (EELS). Measurements of

複合電子顕微分光への展望とその応用の可能性 招待有り 査読有り

武藤俊介、巽一厳

日本セラミックス協会「セラミックス」   11 巻   頁： 928-931   2005年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語  

TEM-EXELFS法の特徴とその応用の現状と展望 招待有り 査読有り

武藤俊介

日本結晶学会誌   471 巻   頁： 61-66   2005年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語  

Formation and in-situ dynamics of metallic nanoblisters in Ga+ implanted GaN nanowires 査読有り

A. Datta, S. Dhara, S. Muto, C. W. Hsu, C. T. Wu, C. H. Shen, T. Tanabe, T. Maruyama, K. H. Chen, L. C. Chen and Y. L. Wang

Nanotechnology   16 巻   頁： 2764-2769   2005年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Atomistic structure and strain relaxation in Czochralski-grown SixGe1-x bulk alloys 査読有り

  16 巻   頁： 429-432   2005年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Mechanism of nanoblister formation in Ga+ self-ion implanted GaN nanowires 査読有り

S. Dahra, A. Datta, S. Muto, C.T. Wu, K.H. Chen, Y. L. Wang, T. Tanabe, C.H. Shen, C.W.Hsu, L.C. Chen and T. Maruyama

Appllied Physics Letters   86 巻   頁： 203119-1-3   2005年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Irradiation-induced hardening/softening in SiO2 studied with instrumented indentation 査読有り

S. Nakano, S. Muto and T. Tanabe

Materials Science and Engineering A   400-401 巻   頁： 382-385   2005年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Maximum entropy spectral analysis of extended energy-loss fine structure and its application to time-resolved measurement 査読有り

S. Muto

Philosophical Magazine   84 巻   頁： 2793-2808   2004年9月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

EXELFS analysis of oxygen in Si-Ge alloys 査読有り

S. Muto, H. Sugiyama, I. Yonenaga and T. Tanabe

Proc. 8th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference (APEM-8)     頁： 483-484   2004年6月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語  

Evidence of spatial valence fluctuation in Ce2Zr2O7.5 detected with electron channeling EELS: Janus state of Cerium 査読有り

S. Arai, S. Muto, T. Sasaki, Y. Ukyo, K. Kuroda and H. Saka

Proc. 8th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference (APEM-8)     頁： 142-143   2004年6月

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記述言語：英語  

FT-IR study on the effect of OH content on the damaging process in silica irradiated by hydrogen 査読有り

T. Yoshida, T. Tanabe, M. Hirano and S. Muto

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B   218 巻   頁： 202-208   2004年6月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Characterization of nanodome on GaN nanowires formed with Ga Ion irradiation 査読有り

S. Muto, S. Dhara, A. Datta, C.-W. Hsu, C.-T. Wu, C.-H. Shen, L.-C. Chen, K.-H. Chen, Y.-L. Wang, T. Tanabe, T. Maruyama, H.-M. Lin and C.-C. Chen

Materials Transactions   45 巻 ( 2 ) 頁： 435-439   2004年4月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）