論文 - 武藤 俊介
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シリコン表面の水素イオン照射誘起ブリスターの非破壊構造解析と内部ガス圧評価 査読有り
中野伸祐、榎本成晟、武藤俊介、田辺哲朗
日本金属学会会報「まてりあ」 43 巻 ( 12 ) 頁： 1008 2004年4月
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Synthesis of boron nitride nanolayers encapsulating iron fine particles and boron nitride nanotubes 査読有り
H. Tokoro, S. Fujii, T. Oku and S. Muto
Materials Research Society Symposium Proceedings 789 巻 頁： N3.34-39 2004年
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Valence Change of Cerium Ion associated with Redox reactions of Ceria-Zirconia Solid Solution by Electron Energy-Loss Spectroscopy 査読有り
S. Arai, S. Muto, J. Murai, T. Sasaki, Y. Ukyo, K. Kuroda and H. Saka
Mater.Trans. 45 巻 頁： 2951-2955 2004年
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TEM analysis of blisters on Si surface formed by hydrogen ion irradiation 査読有り
S. Muto, T. Tanabe and S. Igarashi
Physica Scripta T108 巻 頁： 19-22 2004年
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ブリスタリングによる応力変調を利用した局所シリコン酸化の観察 査読有り
五十嵐慎一、板倉明子、北島正弘、中野伸祐、武藤俊介、田辺哲朗、山本博之、北條喜一
表面科学 25 巻 頁： 562-567 2004年
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Crystal Structure of Ce2Zr2O7 and β-Ce2Zr2O7.5 査読有り
T. Sasaki, Y. Ukyo, K. Kuroda, S. Arai, S. Muto and H. Saka
Journal of ceramics society of Japan 112 巻 ( 8 ) 頁： 440-444 2004年
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電子エネルギー損失分光法によるセリア－ジルコニア固溶体の規則相の解析 査読有り
荒井重勇、武藤俊介、村井盾哉、佐々木厳、右京良雄、黒田光太郎、坂公恭
日本金属学会誌 68 巻 ( 5 ) 頁： 264-268 2004年
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EXELFS/ELNES study of electron irradiation induced oxidation of α-SiC 査読有り
S. Muto, H. Sugiyama, T. Kimura, T. Tanabe and T. Maruyama
218C 巻 頁： 117-122 2004年
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Structure of an Oxygen-Related Defect Complex in SiC Studied with Electron Energy-Loss Spectroscopy 査読有り
S. Muto, H. Sugiyama, T. Kimura and T. Tanabe
Japanese Journal of Applied Physics 43 巻 頁： 1076-1080 2004年
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Reverse Monte Carlo analysis of extended energy-loss fine structure for disordered structures of tetrahedrally co-ordinated materials: its applicability 査読有り
S. Muto and T. Tanabe
Journal of Electron Microscopy 52 巻 頁： 125-132 2003年
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Cross sectional TEM observation of gas-ion-irradiation induced surface blisters and their precursors in SiC 査読有り
S. Muto, T. Tanabe and T. Maruyama
Materials Transactions 44 巻 ( 12 ) 頁： 2599-2604 2003年
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Experimental and full multiple scattering approaches to energy-loss near-edge structures for c-Si, a-Si and a-Si:H 査読有り
K. Hayakawa, T. Fujikawa and S. Muto
Chemical Physics Letters 371 巻 頁： 498-503 2003年
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Local structures and damage processes of electron irradiated α-SiC studied with transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy 査読有り
S. Muto and T. Tanabe
Journal of Applied Physics 93 巻 頁： 3765-3775 2003年
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Damaging process of α-SiC under electron irradiation studied with electron microscopy and spectroscopy 査読有り
S. Muto, T. Tanabe, T. Shibayama, and H. Takahashi
Nuclear Instruments and Methods for Physics Research B 191 巻 頁： 519-523 2002年
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Development of new TEM specimen holder for cathodoluminescence detection 査読有り
T. Tanabe, S. Muto and S. Tohtake
Journal of Electron Microscopy 51 巻 頁： 311-313 2002年
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Surface Blistering of Ion Irradiated SiC studied by Grazing Incidence Electron Microscopy 査読有り
S. Igarashi, S. Muto T. Tanabe and T. Maruyama
Journal of Nuclear Materials 307-311 巻 頁： 1126-1129 2002年
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TEM and EELS characterization of carbon dust and co-deposited layers from the TEXTOR tokamak 査読有り
Journal of Nuclear Materials 307-311 巻 頁： 1289-1293 2002年
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In-situ Observation of Surface Blistering in Silicon by Deuterium and Helium Ion Irradiation 査読有り
S. Igarashi, S. Muto, T. Tanabe, J. Aihara and K. Hojou
Surface and Coatings Technology 158-159C 巻 頁： 421-425 2002年
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Chemical effects of hydrogen on surface damaging process in gas-ion irradiated alumina 査読有り
J. Asami, S. Muto and T. Tanabe
Surface and Coatings Technology 158-159C 巻 頁： 518-521 2002年
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RHEED study of irradiation-induced surface damage processes in Si and α-Al2O3 査読有り
S. Muto, J. Asami and T. Tanabe
Nuclear Instruments and Methods for Physics Research B 196 巻 頁： 324-332 2002年