論文 - 武藤　俊介

透過電子エネルギー損失分光における内殻励起スペクトルを利用した軽元素材料の局所領域構造解析 査読有り

武藤俊介、田辺哲朗

表面科学   23 巻   頁： 381-388   2002年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語  

Formation of Si clusters in electron-irradiated SiC studied by electron energy-loss spectroscopy 査読有り

N. Asaoka, S. Muto and T. Tanabe

Diamond and Related Materials   10 巻   頁： 1247-1250   2001年4月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

低角度入射電子顕微鏡法による表面微小構造体の非破壊分析 査読有り

五十嵐慎一、武藤俊介、田辺哲朗

日本金属学会誌「分析電子顕微鏡法による材料評価」   65 巻 ( 5 ) 頁： 423-426   2001年

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記述言語：日本語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Non-Destructive Structural Analysis of Surface Blistering by TEM and EELS in a Reflection Configuration 査読有り

S. Muto, T. Matsui and T. Tanabe

Journal of Nuclear Materials   290-293 巻   頁： 131-134   2001年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Energy-Filtered Image of Surface Blisters by Grazing Incidence Electron Microscopy 査読有り

S. Igarashi, S. Muto, T. Tanabe and T. Maruyama

Materials Transactions   42 巻 ( 10 ) 頁： 2131-2132   2001年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

TEM-EXELFS法の効用：EXAFSとの対比 招待有り

武藤俊介

電子顕微鏡   36 巻 ( 1 ) 頁： 65-67   2001年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語  

エネルギー損失広域微細構造による短距離構造相関の解析―二体分布から多体分布導出へ―

武藤俊介、田辺哲朗

日本金属学会誌「分析電子顕微鏡法による材料評価」   65 巻 ( 5 ) 頁： 332-337   2001年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Detailed Structure Analysis of Deposit Layer in TEXTOR by Means of TEM Techniques 査読有り

S. Muto, N. Yokoya and T. Tanabe

Journal of Nuclear Materials   290-293 巻   頁： 295-298   2001年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Observation of Surface Blistering by Grazing Incidence Electron Microscopy

S. Muto, T. Matsui and T. Tanabe

Japanese Journal of Applied Physics   39 巻 ( 6A ) 頁： 3555-3556   2000年4月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Application of spline wavelet transformation to the analysis of extended energy-loss fine structure 査読有り

S. Muto

Journal of Electron Microscopy   49 巻   頁： 525-529   2000年4月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

We propose a new analysis method of the extended energy-loss fine structure (EXELFS), applying the multi-resolution analysis (MRA) in the wavelet transformation. We select the cardinal spline wavelet where the rank-4 cardinal spline function is used as a scaling function to construct the mother wavelet. In contrast with the conventional analysis method, the present method is efficient in filtering out the high-frequency noise and low-frequency components introduced by the numerical analysis process without distorting the original signal components, which promises quantitative analyses with less uncertainties.

Temperature effect of electron-irradiation-induced structural modification in graphite 査読有り

S. Muto and T. Tanabe

Journal of Nuclear Materials   283-287 巻   頁： 917-921   2000年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Extraction of three-body distribution in amorphous silicon by wavelet analysis of EXELFS

S. Muto, K. M. Yu, W. Walukiewicz, H-C. Jin and J. R. Abelson

Proceedings of 12th European Congress on Electron Microscopy, EUREM-2000   1 巻   頁： 319-320   2000年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語  

TEM study on deuterium irradiation-induced defects in tungsten and molybdenum 査読有り

T. Matsui, S. Muto and T. Tanabe

Journal of Nuclear Materials   283-287 巻   頁： 1139-1143   2000年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Wavelet analysis of extended energy-loss fine structure

S. Muto

Proceedings 12th European Congress on Electron Microscopy, EUREM-2000   1 巻   頁： 321-322   2000年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語  

Structural Change in Graphite under Electron Irradiation at Low Temperatures

Journal of Nuclear Materials   271&272 巻   頁： 280-284   1999年4月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Local structures of Ga atoms in amorphous silicon and hydrogenated amorphous silicon before and after synchrotron X-ray irradiation

K. M. Yu, W. Walukiewicz, S. Muto, H.-G. Jin, J. R. Abelson, C. Clerc, C. J. Glover and M. C. Ridgway

Applied Physics Letters   75 巻 ( 21 ) 頁： 3282-3284   1999年4月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Fragmentation of graphite crystals by electron irradiation at elevated temperatures

S. Muto and T. Tanabe

Journal of Electron Microscopy   48 巻 ( 5 ) 頁： 519-523   1999年4月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Local structural order in electron-irradiated graphite studied by high-resolution high-voltage electron microscopy

S. Muto, S. Horibuchi and T. Tanabe

Journal of Electron Microscopy   48 巻 ( 6 ) 頁： 767-776   1999年4月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Change in Chemical Bonding States in Electron-Irrodiated Graphite(共著)

Japanese Journal of Applied Physics Part(]G0001[)   38 巻 ( 3A ) 頁： 1514-1515   1999年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

On EXELFS data analysis for obtaining reliable structural parameters

Y. Kobayashi, S. Muto, C. J. Echer and T. Tanabe

Journal of Electron Microscopy   48 巻 ( 5 ) 頁： 525-529   1999年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）