Presentations -
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EELS データへの統計処理の応用‐化学状態分析の新しい展開
武藤俊介
日本顕微鏡学会関西支部特別企画講演会「産業基盤を支える顕微鏡」
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S/TEM分析データへの多変量解析の応用
第三回日本電子TEMユーザーズミーティング
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S/TEM像・分析データの信号処理による情報抽出
武藤俊介
日本顕微鏡学会・第54回シンポジウム，瀬藤賞受賞講演
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Statistical signal processing of S/TEM-EELS datasets–Extraction of information without reference– International conference
Max Planck Institute, STEM group seminar
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リチウム電池正極のSTEM-EELSイメージングによるナノ劣化解析とリチウム状態分析
日本金属学会分科会シンポジウム
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スペクトラムイメージによるリチウムイオン二次電池正極の劣化解析
武藤俊介
日本顕微鏡学会第66回学術講演会
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最先端電子顕微分光法の周辺－水素を見ることができるか－
第３回「環境調和型水素製造システムにおける生成と吸蔵貯蔵の一体化研究会」
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多変量スペクトル分解法によるSTEM-EELS化学結合マップ
日本顕微鏡学会第53回シンポジウム
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Diagnostic analysis of Li ion secondary batteries by STEM-EELS/SI-MCR International conference
Electrochemical laboratory seminar
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S/TEM-EELSデータの統計処理による先端材料ナノ物性解析
日本学術振興会 マイクロビームアナリシス第141委員会 09年度研究会
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多変量スペクトル分解法の基礎とスペクトラムイメージングへの応用
第25回分析電子顕微鏡討論会
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Diagnostic analysis of ion-beam induced nanostructures by S/TEM-EELS International conference
XVIII International Materials Research Congress: Symposium 20:Beams and Materials: Ion Beams
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TEM関連スペクトロスコピーによる情報抽出法
武藤俊介
金属学会セミナー「機能元素のナノ材料科学｝
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複合電子分光によるナノテク実材料のナノ領域特性画像診断
武藤俊介
第56回応用物理学関係連合講演会
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複合電子分光による機能元素分析
武藤俊介
日本金属学会第143回秋期大会 基調講演
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Combined Electron Spectroscopy and Imaging Associated with (S)TEM Application of Multivariate Curve Resolution
The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
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電子顕微鏡におけるX線マイクロアナリシスへの期待
武藤 俊介
島津製作所第25回記念マイクロアナリシス研究懇談会
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Electronic state analysis of implanted nitrogen in visible-light response TiO2 photocatalyst by TEM-EELS
Lattice Defects Forum, The Doyama Symposium on Advanced Materials, “Materials to Save Humankind: The Dream, Creativity, and Working Toward its Realization"
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複合電子分光TEMによる局所領域電子状態解析の最近の進展
武藤 俊介
豊田中研講演会「微細(界面)構造観察から計算科学へ」
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電子定在波を利用した原子位置選択的電子状態測定
武藤俊介、巽 一厳
日本顕微鏡学会第63回学術講演会