Presentations -
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超高圧電子顕微鏡による新たなナノ物性測定の可能性
武藤俊介
日本顕微鏡学会第70回記念学術講演会
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Recent development of EMCD technique:toward spin nanoscopy using STEM-EELS
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超高圧STEMによるナノ磁性材料の電子磁気円二色性定量測定
武藤俊介, 巽一厳, Jan Rusz, 荒井重勇
第74回応用物理学会秋季学術講演会
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Element/Site-Selective Microanalysis UsingHigh-Angular Resolution Electron Channeled X-ray/Electron/Light Spectroscopy International conference
The 4th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations(AMTC)
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電子顕微鏡による炭素系非晶質膜のミクロ構造と結合状態のキャラクタリゼーション
武藤俊介
第93回東海トライボロジー研究会
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グリーンビーグル材料の特性と局所電子状態可視化
武藤俊介
第152回日本金属学会2013年春期大会
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SEM反射電子像コントラストの動力学的電子回析理論による解釈の試み
武藤俊介
日本顕微鏡学会第69回学術講演会
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電子顕微鏡による電池材料分析への取り組みについて
武藤俊介
日本学術振興会材料の微細組織と機能性第133委員会第217回研究会
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多変量スペクトル分解法のスペクトラムイメージングへの応用
武藤俊介
平成24年度日本表面科学会関西支部セミナー
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S/TEMにおける分析の極意－電子遷移の過程を知ろう－
武藤俊介
2013年新春電子顕微鏡解析技術フォーラム
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高分解能電子エネルギー損失分光法
武藤俊介
第16回VBLシンポジウム
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複合電子分光S/TEMで探る不均一触媒の局所電子状態マッピング
武藤俊介 他
日本顕微鏡学会第56回シンポジウム「ソフト・ハードマターの多様性を観る」
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動力学回折理論の基礎とSEMへの適用
武藤俊介
「SEMの物理科学」研究部会 合宿幹事会
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酸化物の定量解析
武藤 俊介
電子顕微鏡解析技術フォーラム
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A new method for extracting EMCD signals from spectrum diffraction datacube using a multivariate curve resolution technique International conference
武藤 俊介
Workshop on EELS in Materials Science
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Extraction of Electron Magnetic Circular Dichroism from Energy-Filtered Nano-Diffraction by Multivariate Curve Resolution Technique International conference
武藤 俊介
The 3rd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations(AMTC3)
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複合電子分光による物性画像診断とそのリチウム電池材料への応用
武藤 俊介
高分子分析研究懇談会第362回例会
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TEM-EELSによるパラメータフリー磁気円二色性測定法の開発
武藤 俊介
日本金属学会2012年度春期講演大会
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エネルギー・環境材料と格子欠陥－分光TEMによる展開－
武藤 俊介
日本物理学会第67回年次大会
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Diagnostic STEM-EELS Analysis of Cathodes in Lithium-Ion Secondary Batteries International conference
Shunsuke MUTO
International Symposium on Role of Electron Microscopy in Industry-Toward genuine collaboration between academia and industry-