2025/02/03 更新

写真a

オオツカ マサヒロ
大塚 真弘
OHTSUKA, Masahiro
所属
未来材料・システム研究所 附属高度計測技術実践センター 電子顕微鏡計測部 講師
大学院担当
大学院工学研究科
職名
講師
連絡先
メールアドレス

学位 3

  1. 博士(理学) ( 2013年3月   東京理科大学 ) 

  2. 修士(理学) ( 2009年3月   東京理科大学 ) 

  3. 学士(理学) ( 2007年3月   東京理科大学 ) 

研究キーワード 6

  1. 機能材料

  2. 透過電子顕微鏡

  3. 動力学的電子回折理論

  4. 電子チャネリング効果

  5. ナノテクノロジー

  6. ドーパント占有サイト解析

研究分野 1

  1. ナノテク・材料 / ナノ材料科学  / 電子顕微鏡

現在の研究課題とSDGs 1

  1. 電子チャネリング効果を活用したサイト選択的定量分析手法の開発とその実用材料分析への応用

経歴 4

  1. 名古屋大学   未来材料・システム研究所 高度計測技術実践センター 電子顕微鏡計測部   講師

    2020年4月 - 現在

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    国名:日本国

  2. 名古屋大学   工学研究科物質科学専攻   助教

    2017年4月 - 2020年3月

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    国名:日本国

  3. 名古屋大学   工学研究科 マテリアル理工学専攻 量子エネルギー工学分野   助教

    2012年9月 - 2017年3月

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    国名:日本国

  4. 財団法人材料科学技術振興財団   分析評価部

    2009年4月 - 2011年9月

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    国名:日本国

学歴 3

  1. 東京理科大学   理学研究科   物理学専攻

    2010年4月 - 2013年3月

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    国名: 日本国

  2. 東京理科大学   理学研究科   物理学専攻

    2007年4月 - 2009年3月

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    国名: 日本国

  3. 東京理科大学   理学部   物理学科

    2003年4月 - 2007年3月

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    国名: 日本国

所属学協会 3

  1. 日本顕微鏡学会

  2. 日本物理学会

  3. 日本金属学会

委員歴 1

  1. 公益社団法人日本顕微鏡学会   学際的顕微研究領域若手研究部会 幹事  

    2020年4月 - 2022年3月   

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    団体区分:学協会

受賞 6

  1. 公益社団法人日本顕微鏡学会 第79回学術講演会 優秀ポスター賞[一般「顕微鏡技術(装置・手法系)部門]

    2023年6月   日本顕微鏡学会   電子チャネリングカソードルミネッセンス分光による原子振動情報抽出

    大塚真弘, 久保田潮, 武藤俊介

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    受賞区分:国内学会・会議・シンポジウム等の賞 

  2. 公益社団法人日本顕微鏡学会 第77回学術講演会 優秀ポスター賞(一般部門)

    2021年6月   日本顕微鏡学会   HARECXS法を用いたBaTiO3におけるドーパント占有サイトの定量解析

    大塚真弘, 忽那真也, 武藤俊介

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    受賞区分:国内学会・会議・シンポジウム等の賞 

  3. 公益社団法人日本顕微鏡学会 第74回学術講演会 優秀ポスター賞

    2019年5月   日本顕微鏡学会   STEM-CL法によるナノ分相ガラ スのナノスケール応力マッピング

    山田泰希, 大塚真弘, 吉野晴彦, 安間伸一, 武藤俊介

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    受賞区分:国内学会・会議・シンポジウム等の賞 

  4. 公益社団法人日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会 優秀ポスター賞

    2014年5月   日本顕微鏡学会   層状構造を有するNaイオン電子正極材料の結晶構造解析

    本田善岳, 北野保行, 武藤俊介, 大塚真弘, 巽一厳, 片岡理樹

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    受賞区分:国内学会・会議・シンポジウム等の賞 

  5. 公益社団法人日本顕微鏡学会 第69回学術講演会 優秀ポスター賞

    2013年5月   日本顕微鏡学会   Bloch波法によるfrozen lattice近似の計算手法

    山崎貴司, 大塚真弘, 小高康稔, 渡辺和人

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    受賞区分:国内学会・会議・シンポジウム等の賞 

  6. 公益社団法人日本顕微鏡学会 第68回学術講演会 優秀ポスター賞

    2012年5月   日本顕微鏡学会   最適化手法による明視野STEM検出器の精密位置測定

    山崎貴司, 小高康稔, 大塚真弘, 渡辺和人

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    受賞区分:国内学会・会議・シンポジウム等の賞 

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論文 31

  1. Dopant site occupancies and iron valence states in SrZnxFe18_xO27 W-type hexaferrites using site-selective X-ray/electron spectroscopy 査読有り

    Ohtsuka, M; Anan, Y; Muto, S

    JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS   1005 巻   頁: 176028   2024年11月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.jallcom.2024.176028

    Web of Science

  2. Automating ALCHEMI at the nano-scale using software compatible with PC-controlled transmission electron microscopy 査読有り 国際誌

    Ishizuka, A; Ohtsuka, M; Muto, S

    JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY   55 巻   頁: 551 - 557   2022年6月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1107/S1600576722003818

    Web of Science

    PubMed

  3. ReciPro: free and open-source multipurpose crystallographic software integrating a crystal model database and viewer, diffraction and microscopy simulators, and diffraction data analysis tools 査読有り 国際誌

    Seto, Y; Ohtsuka, M

    JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY   55 巻   頁: 397 - 410   2022年4月

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    担当区分:最終著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1107/S1600576722000139

    Web of Science

  4. 2D-HARECXS analysis of dopant and oxygen vacancy sites in Al-doped yttrium titanate 査読有り 国際誌

    Ohtsuka, M; Oda, K; Tanaka, M; Kitaoka, S; Muto, S

    JOURNAL OF THE AMERICAN CERAMIC SOCIETY   104 巻 ( 7 ) 頁: 3760 - 3769   2021年7月

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    担当区分:筆頭著者, 最終著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1111/jace.17764

    Web of Science

  5. Quantitative Atomic-Site Analysis of Functional Dopants/Point Defects in Crystalline Materials by Electron-Channeling-Enhanced Microanalysis 査読有り 国際誌

    Ohtsuka, M; Muto, S

    JOVE-JOURNAL OF VISUALIZED EXPERIMENTS   e62015 巻 ( 171 )   2021年5月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.3791/62015

    Web of Science

    PubMed

  6. Cation mixing in LiNi0.8Co0.15Al0.05O2 positive electrode material studied using high angular resolution electron channeling X-ray spectroscopy 査読有り 国際誌

    Yamamoto, Y; Ohtsuka, M; Azuma, Y; Takahashi, T; Muto, S

    JOURNAL OF POWER SOURCES   401 巻   頁: 263 - 270   2018年10月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.jpowsour.2018.08.100

    Web of Science

  7. High-precision quantitative atomic-site-analysis of functional dopants in crystalline materials by electron-channelling-enhanced microanalysis 招待有り 査読有り 国際誌

    Muto, S; Ohtsuka, M

    PROGRESS IN CRYSTAL GROWTH AND CHARACTERIZATION OF MATERIALS   63 巻 ( 2 ) 頁: 40 - 61   2017年6月

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    担当区分:最終著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.pcrysgrow.2017.02.001

    Web of Science

  8. Dopant site analysis of heavily Si-doped GaAs using a combination of electron microscopy and synchrotron radiation

    Saito, G; Ishizuka, A; Ohtsuka, M; Ito, S; Okajima, T; Muto, S

    JOURNAL OF APPLIED PHYSICS   137 巻 ( 2 )   2025年1月

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  9. Improved dopant fraction variance estimation in statistical ALCHEMI based on correct error propagation rule 査読有り 国際誌

    Ishizuka, A; Ohtsuka, M; Muto, S

    MICROSCOPY     2024年11月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1093/jmicro/dfae052

    Web of Science

    PubMed

  10. Cell structure development during cyclic deformation of near-[001] and near-[011] copper single crystals 査読有り

    Wang, B; Shi, H; Miyazawa, T; Ohtsuka, M; Muto, S; Arai, S; Fujii, T

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING   916 巻   頁: 147357   2024年11月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.msea.2024.147357

    Web of Science

  11. Formation mechanism of dislocation network of cell structure in cyclically deformed near-[111] copper single crystals 査読有り 国際誌

    Wang, BH; Umeda, Y; Miyazawa, T; Ohtsuka, M; Muto, S; Arai, S; Fujii, T

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING   879 巻   2023年7月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.msea.2023.145287

    Web of Science

  12. Extension of focal depth by electron quasi-Bessel beam in atomic-resolution scanning transmission electron microscopy 査読有り 国際誌

    Ishida, T; Owaki, T; Ohtsuka, M; Kuwahara, M; Saitoh, K; Kawasaki, T

    APPLIED PHYSICS EXPRESS   15 巻 ( 11 )   2022年11月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.35848/1882-0786/ac96ce

    Web of Science

  13. A study on the relationship of magnetic moments orientation in L1<sub>0</sub>FePt network nanostructured film by electron energy-loss magnetic chiral dichroism using semi-core excitation spectra 査読有り 国際共著 国際誌

    Makino, H; Rusz, J; Wang, J; Turenne, D; Ohtsuka, M; Takahashi, YK; Dürr, HA; Muto, S

    JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS   558 巻   2022年9月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.jmmm.2022.169522

    Web of Science

  14. Structural and chemical modifications of oxides and OH generation by space weathering: Electron microscopic/spectroscopic study of hydrogen-ion-irradiated Al2O3 査読有り 国際誌

    Igami, Y; Muto, S; Takigawa, A; Ohtsuka, M; Miyake, A; Suzuki, K; Yasuda, K; Tsuchiyama, A

    GEOCHIMICA ET COSMOCHIMICA ACTA   315 巻   頁: 61 - 72   2021年12月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.gca.2021.09.031

    Web of Science

  15. Core-Shell Double Doping of Zn and Ca on β-Ga2O3 Photocatalysts for Remarkable Water Splitting 査読有り 国際誌

    Yamakata, A; Vequizo, JJM; Ogawa, T; Kato, K; Tsuboi, S; Furutani, N; Ohtsuka, M; Muto, S; Kuwabara, A; Sakata, Y

    ACS CATALYSIS   11 巻 ( 4 ) 頁: 1911 - 1919   2021年2月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1021/acscatal.0c05104

    Web of Science

  16. Formation of ultra-thin Ge1-xSnx/Ge1-x-ySixSny quantum heterostructures and their electrical properties for realizing resonant tunneling diode 査読有り 国際誌

    Suwito, GR; Fukuda, M; Suprayoga, E; Ohtsuka, M; Hasdeo, EH; Nugraha, ART; Sakashita, M; Shibayama, S; Nakatsuka, O

    APPLIED PHYSICS LETTERS   117 巻 ( 23 )   2020年12月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1063/5.0024905

    Web of Science

  17. Measurement of nanoscale local stress distribution in phase-separated glass using scanning transmission electron microscopy-cathodoluminescence 査読有り 国際誌

    Yamada, T; Ohtsuka, M; Takahashi, Y; Yoshino, H; Amma, S; Muto, S

    MATERIALIA   9 巻   2020年3月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.mtla.2019.100578

    Web of Science

  18. 電子チャネリング効果を利用した結晶材料分析法の現状 招待有り 査読有り

    大塚 真弘, 武藤 俊介

    まてりあ   58 巻 ( 2 ) 頁: 73 - 76   2019年2月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.2320/materia.58.73

  19. Proposal for Measuring Magnetism with Patterned Apertures in a Transmission Electron Microscope 査読有り 国際共著 国際誌

    Negi, D; Spiegelberg, J; Muto, S; Thersleff, T; Ohtsuka, M; Schönström, L; Tatsumi, K; Rusz, J

    PHYSICAL REVIEW LETTERS   122 巻 ( 3 )   2019年1月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1103/PhysRevLett.122.037201

    Web of Science

    PubMed

  20. Unmixing hyperspectral data by using signal subspace sampling 査読有り 国際共著 国際誌

    Spiegelberg, J; Muto, S; Ohtsuka, M; Pelckmans, K; Rusz, J

    ULTRAMICROSCOPY   182 巻   頁: 205 - 211   2017年11月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.07.009

    Web of Science

    PubMed

  21. Localization of magnetic circular dichroic spectra in transmission electron microscopy experiments with atomic plane resolution 査読有り 国際共著 国際誌

    Rusz, J; Spiegelberg, J; Muto, S; Thersleff, T; Ohtsuka, M; Leifer, K; Oppeneer, PM

    PHYSICAL REVIEW B   95 巻 ( 17 ) 頁: 174412   2017年5月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1103/PhysRevB.95.174412

    Web of Science

  22. Quantitative determination of occupation sites of trace Co substituted for multiple Fe sites in M-type hexagonal ferrite using statistical beam-rocking TEM-EDXS analysis 査読有り

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi, Yoshinori Kobayashi, Tsunehiro Kawata

    Microscopy   65 巻 ( 2 ) 頁: 127-137   2016年4月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1093/jmicro/dfv356

  23. Image formation mechanisms of spherical aberration corrected BF STEM imaging methods 査読有り

    Yasutoshi Kotaka, Takashi Yamazaki, Masahiro Ohtsuka, Kazuto Watanabe

    Ultramicroscopy   136 巻   頁: 119-126   2014年10月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2013.09.005

  24. Bloch wave simulations in the frozen lattice approximation 査読有り

    Takashi Yamazaki, Masahiro Ohtsuka, Yasutoshi Kotaka, Kazuto Watanabe

    Ultramicroscopy   135 巻   頁: 16-23   2013年5月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2013.05.018

  25. Nonlocality in spherical-aberration-corrected HAADF STEM images 査読有り

    Masahiro Ohtsuka, Takashi Yamazaki, Yasutoshi Kotaka, Hironori Fujisawa, Masaru Shimizu, Koichiro Honda, Iwao Hashimoto, Kazuto Watanabe

      69 巻   頁: 289-296   2013年4月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1107/S0108767313005941

  26. Imaging of light and heavy atomic columns by spherical aberration corrected middle-angle bright-field STEM 査読有り

    Masahiro Ohtsuka, Takashi Yamazaki, Yasutoshi Kotaka, Iwao Hashimoto, Kazuto Watanabe

    Ultramicroscopy   120 巻   頁: 48-55   2012年9月

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2012.06.006

  27. Comparison of Interface Characterization between Ag(In,Ga)Se2 and Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells by High-Angle-Annular Dark-Field Scanning Transmission Electron Microscopy 査読有り

    Japanese Journal of Applied Physics   50 巻   頁: 126603   2011年11月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1143/JJAP.50.126603

  28. Effect of convergent beam semiangle on image intensity in HAADF STEM images 査読有り

    Koji Kuramochi, Takashi Yamazaki, Yasutoshi Kotaka, Masahiro Ohtsuka, Iwao Hashimoto, Kazuto Watanabe

    Acta Crystallographica Section A   66 巻   頁: 10-16   2010年

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1107/S0108767309039750

  29. Many-beam dynamical simulation for multilayer structures without a superlattice cell 査読有り

    Masahiro Ohtsuka, Takashi Yamazaki, Iwao Hashimoto, Kazauto Watanabe

    Acta Crystallographica Section A   65 巻   頁: 135-140   2009年

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    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1107/S0108767308043316

  30. Effect of chromatic aberration on atomic-resolved spherical aberration corrected STEM images 査読有り

    Koji Kuramochi, Yasutoshi Kotaka, Takashi Yamazaki, Masahiro Ohtsuka, Iwao Hashimoto, Kazuto Watanabe

    Ultramicroscopy   110 巻   頁: 36-42   2009年

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2009.09.003

  31. Quantitative and easy estimation of a crystal bending effect using low-order CBED patterns 査読有り

    Takashi Yamazaki, Akihiro Kashiwagi, Koji Kuramoshi, Masahiro Ohtsuka, Iwao Hashimoto, Kazuto Watanabe

    Journal of Electron Microscopy   57 巻   頁: 181-187   2008年

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1093/jmicro/dfn019

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講演・口頭発表等 101

  1. 動力学的理論に基づく電子後方散乱回折のシミュレーション手法の開発と鉱物学への応用

    瀬戸雄介, 大塚真弘

    日本鉱物科学会2024年年会・総会  2024年9月14日  一般社団法人日本鉱物科学会

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    開催年月日: 2024年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:名古屋大学 東山キャンパス   国名:日本国  

  2. STEM/HARECXS複合分析によるアルミナ一般粒界におけるLa偏析サイトの決定

    大塚真弘, 植松拓未, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第80回学術講演会  2024年6月3日  公益社団法人日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2024年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:幕張メッセ  

  3. Precipitation behavior in an Al-Mg-Si alloy during low temperature aging by STEM and DSC analysis 国際共著 国際会議

    Genki Saito, Kaito Watanabe, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Kazuya Mizuno, Yamato Sano, Ken Takata, Fabio Iesari, Toshihiro Okajima

    International Conference on Materials and Systems for Sustainability 2023 (ICMaSS2023)  2023年12月 

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    開催年月日: 2023年12月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    国名:日本国  

  4. Burgers vector analysis of dislocation network of cell boundary developed in [1 ̅11] copper single crystals during cyclic deformation with virtual scanning transmission electron microscopy 国際共著 国際会議

    Tomotaka Miyazawa, Bohan Wang, Yuuki Umeda, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Shigeo Arai, Toshiyuki Fujii

    International Conference on Materials and Systems for Sustainability 2023 (ICMaSS2023)  2023年12月 

     詳細を見る

    開催年月日: 2023年12月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    国名:日本国  

  5. STEM Analysis of Precipitates Formed during Isothermal Aging in Al-Mg-Si Alloys 国際共著 国際会議

    Genki Saito, Kaito Watanabe, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Kazuya Mizuno, Yamato Sano, Ken Takata, Fabio Iesari, Toshihiro Okajima

    20th International Microscopy Congress (IMC20)  2023年9月14日 

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    開催年月日: 2023年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:Busan, Korea   国名:大韓民国  

  6. Site-Selective Hole-Distribution Analysis of Spin-Ladder Superconducting Materials Using High-Angular Resolution Electron Channeling Electron Spectroscopy 国際共著 国際会議

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Milat Ognjen

    20th International Microscopy Congress (IMC20)  2023年9月14日 

     詳細を見る

    開催年月日: 2023年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:Busan, Korea   国名:大韓民国  

  7. Asymmetric Crystal Field-Enhanced Light Emission Observed in Cathodoluminescence Beam-Rocking Patterns of Eu-doped Ca2SnO4 国際共著 国際会議

    Masahiro Ohtsuka, Ushio Kubota, Shunsuke Muto

    20th International Microscopy Congress (IMC20)  2023年9月14日 

     詳細を見る

    開催年月日: 2023年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:Busan, Korea   国名:大韓民国  

  8. Combined STEM/HARECXS Analysis of Rare-Earth Segregation at Non-Symmetric Generally-Oriented Grain Boundary 国際共著 国際会議

    Takumi Uematsu, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto

    20th International Microscopy Congress (IMC20)  2023年9月14日 

     詳細を見る

    開催年月日: 2023年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:Busan, Korea   国名:大韓民国  

  9. Automating ALCHEMI at the nano-scale using software control 国際共著 国際会議

    Akimitsu Ishizuka, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto

    20th International Microscopy Congress (IMC20)  2023年9月14日 

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    開催年月日: 2023年9月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:Busan, Korea   国名:大韓民国  

  10. 電子チャネリングカソードルミネッセンス分光における強度変調パターン

    大塚真弘, 久保田潮, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第79回学術講演会  2023年6月26日  公益社団法人日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2023年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:くにびきメッセ  

  11. 環状暗視野走査透過電子顕微鏡法における電子ベッセルビームの焦点深度拡大効果

    石田高史, 大塚真弘, 桑原真人, 齋藤晃, 川崎忠寛

    日本顕微鏡学会 第79回学術講演会  2023年6月26日  公益社団法人日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2023年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:くにびきメッセ  

  12. ナノ電子プローブのソフトウェア制御による高角度分解電子チャネリング分光法の高度化

    石塚顕在, 武藤俊介, 大塚真弘

    日本顕微鏡学会 第79回学術講演会  2023年6月26日  公益社団法人日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2023年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:くにびきメッセ  

  13. アルミニウム合金中の時効析出物のHAADF/LAADF-STEM観察

    齊藤元貴, 渡辺海斗, 大塚真弘, 武藤俊介, 水野和也, 佐野大和, 高田健, 岡島敏浩

    日本顕微鏡学会 第79回学術講演会  2023年6月28日  公益社団法人日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2023年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:くにびきメッセ  

  14. 非対称粒界に偏析したドーパントのSTEM/ HARECXS複合分析

    植松拓未, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第79回学術講演会  2023年6月26日  公益社団法人日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2023年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:くにびきメッセ  

  15. 電子チャネリングカソードルミネッセンス分光 による原子振動情報抽出

    大塚真弘, 久保田潮, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第79回学術講演会  2023年6月26日  公益社団法人日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2023年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:くにびきメッセ  

  16. EMCDを用いたFePt合金ナノ構造のスピン磁気モーメントの分析 国際共著

    牧野 仁志, 武藤 俊介, 大塚 真弘, Hermann A. Durr, Jan Rusz, 高橋 有紀子

    日本顕微鏡学会 第78回学術講演会  2022年5月12日  日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2022年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:ビックパレットふくしま   国名:日本国  

  17. STEM-EELS吸収端広域微細構造のスパースモデリングによるD-W因子マッピング

    武藤 俊介, 駒井 心一, 大塚 真弘

    日本顕微鏡学会 第78回学術講演会  2022年5月11日  日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2022年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:ビックパレットふくしま   国名:日本国  

  18. HARECXS及び原子分解能STEMによるBaTiO3中のドーパント占有サイトと原子変位の解析

    大塚 真弘, 武藤 俊介

    日本顕微鏡学会 第78回学術講演会  2022年5月12日  日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2022年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:ビックパレットふくしま   国名:日本国  

  19. エネルギー損失磁気カイラル二色性を用いたFePt合金ナノ構造におけるスピン磁気モーメントの分析 国際共著

    牧野 仁志, Ján Rusz, Hermann A. Dürr, 大塚 真弘, 武藤 俊介

    日本金属学会 2022年春期第170回講演大会  2022年3月16日  日本金属学会

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    開催年月日: 2022年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:オンライン   国名:日本国  

  20. HARECXS法によるBaTiO3中の各種ドーパントの占有サイト解析

    大塚 真弘, 忽那 真也, 武藤 俊介

    日本金属学会 2022年春期第170回講演大会  2022年3月16日  日本金属学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2022年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:オンライン   国名:日本国  

  21. 高エネルギー電子プローブを用いたナノ物性計測法の開発と磁性材料への応用

    武藤 俊介, 大塚 真弘

    日本金属学会 2021年秋期第169回講演大会  2021年9月17日  日本金属学会

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    開催年月日: 2021年9月

    開催地:オンライン   国名:日本国  

  22. 可視光発光分光によるナノ分奏ガラスの局所応力分布測定

    武藤俊介, 大塚真弘, 高橋可昌, 吉野晴彦, 安間伸一

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021年6月14日  日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2021年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:つくば国際会議場  

  23. HARECXS法を用いたBaTiO3におけるドーパント占有サイトの定量解析

    大塚真弘, 忽那真也, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021年6月  日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2021年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:つくば国際会議場  

  24. スパースモデリングによるEXELFS解析

    駒井心一, 武藤俊介, 大塚真弘

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021年6月  日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2021年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:つくば国際会議場  

  25. [-111]銅単結晶の繰り返し変形により形成されたセル境界のVirtual-STEM法による観察

    宮澤知孝, 梅田侑暉, 藤居俊之, 大塚真弘, 荒井重勇, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021年6月16日  日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2021年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:つくば国際会議場  

  26. HARECXS法を用いたAl添加Y2Ti2O7におけるドーパントおよび酸素欠陥サイトの解析

    大塚真弘, 田中誠, 北岡諭, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021年6月15日  日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2021年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:つくば国際会議場  

  27. ビームロッキングEDS法によるCaドープBaTiO3のCa位置の解析

    安住成, 津田健治, 森川大輔, 寺内正己, 大塚真弘, 武藤俊介, 符徳勝, 伊藤満

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021年6月15日  日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2021年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:つくば国際会議場  

  28. 積層セラミックスコンデンサにおけるBaTiO3中のドーパントの占有サイト評価

    忽那真也, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021年6月15日  日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2021年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:つくば国際会議場  

  29. EMCD 測定による FePt ネットワーク薄膜のスピン配列決定

    牧野仁志, Jan Rusz, Herman A. Durr, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第63回シンポジウム  2020年11月  日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2020年11月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

  30. 宇宙風化の理解に向けた水素/ヘリウムイオン照射アルミナのナノ電子線分析

    伊神 洋平, 武藤 俊介, 大塚 真弘, 瀧川 晶, 三宅 亮

    JpGU-AGU Joint Meeting 2020  2020年7月  日本地球惑星科学連合

     詳細を見る

    開催年月日: 2020年7月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

  31. ビームロッキング分析によるドーパント周りの局所格子歪みと酸素欠損サイトの評価

    大塚真弘, 織田健嗣, 田中誠, 北岡諭, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第76回学術講演会  2020年5月  日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2020年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

  32. STEM-CL によるナノ分相ガラスの局所応力分布測定

    武藤俊介, 山田泰希, 大塚真弘, 高橋可昌, 吉野晴彦, 安間伸一

    日本顕微鏡学会 第76回学術講演会  2020年5月  日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2020年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

  33. EMCD 測定による FePt ネットワーク薄膜のスピン配列決定

    牧野仁志, Herman A. Durr, Jan Rusz, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第76回学術講演会  2020年5月  日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2020年5月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

  34. 電子チャネリング効果(動力学的回折)を活用したサイト選択的結晶材料分析 招待有り

    大塚 真弘

    第9回極限物質科学研究会  2019年9月30日  ポスト「京」萌芽的課題 1-1 サブ課題サブ課題C「地球惑星深部物質の構造と物性」「地球惑星深部物質の構造と物性」

     詳細を見る

    開催年月日: 2019年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:TKP東京駅日本橋カンファレンスセンター ミーティングルーム305  

  35. 宇宙風化を模擬した水素イオン照射コランダムのナノオーダー化学状態分析

    伊神 洋平, 武藤 俊介, 大塚 真弘, 山本 悠太, 瀧川 晶, 三宅 亮

    日本鉱物学科学会2019年年会・総会  2019年9月20日  日本鉱物科学会

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    開催年月日: 2019年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:九州大学伊都キャンパス  

  36. 動力学効果を考慮した電子回折パターンの方位解析

    瀬戸 雄介, 大塚 真弘, 伊神 洋平, 三宅 亮

    日本鉱物学科学会2019年年会・総会  2019年9月22日  日本鉱物科学会

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    開催年月日: 2019年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:九州大学伊都キャンパス  

  37. Precession electron diffraction法の鉱物への適用と評価

    三宅 亮, 瀬戸 雄介, 伊神 洋平, 大塚 真弘

    日本鉱物学科学会2019年年会・総会  2019年9月22日  日本鉱物科学会

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    開催年月日: 2019年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:九州大学伊都キャンパス  

  38. ビームロッキングEDS/EELS分析: 電子チャネリング効果を活用したサイト選択的定量組成・電子状態評価 招待有り

    大塚 真弘

    第35回分析電子顕微鏡討論会  2019年9月4日  日本顕微鏡学会 分析電子顕微鏡討論会

     詳細を見る

    開催年月日: 2019年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:幕張メッセ 国際会議場2階 国際会議室  

  39. 電子チャネリング効果を利用した梯子型超伝導物質Sr14Cu24O41におけるホール分布評価

    大塚 真弘, 武藤 俊介, Ognjen Milat

    日本顕微鏡学会 第75回学術講演会  2019年6月17日  日本顕微鏡学会

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    開催年月日: 2019年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:名古屋国際会議場  

  40. 星間塵の変成を模擬した水素イオン照射アルミナの組織観察・化学状態分析

    伊神 洋平, 武藤 俊介, 瀧川 晶, 大塚 真弘, 山本 悠太, 三宅 亮

    日本顕微鏡学会 第75回学術講演会  2019年  日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2019年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:名古屋国際会議場  

  41. 電子回折解析のためのGUIソフトウェアの開発

    瀬戸 雄介, 大塚 真弘, 伊神 洋平, 三宅 亮

    日本顕微鏡学会 第75回学術講演会  2019年  日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2019年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:名古屋国際会議場  

  42. Hole Distribution Analysis of Spin-Ladder Superconducting Materialsusing High-Angular Resolution Electron Channeling Electron Spectroscopy 国際共著 国際会議

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto and Ognjen Milat

    The 6th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC6)   2019年6月 

     詳細を見る

    開催年月日: 2019年6月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:WINK AICHI, Nagoya   国名:日本国  

  43. 電子チャネリング効果を利用したW型フェライトSrFe18-xZnxO27のサイト選択的電子状態分析

    大塚 真弘, 柳原 颯太, 武藤 俊介, 阿南 義弘

    日本金属学会 2019年春期(第164回)講演大会  2019年3月22日  日本金属学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2019年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:東京電機大学 東京千住キャンパス  

  44. 汎用分析電子顕微鏡による電子チャネリング効果を活用した結晶材料定量分析の進展 招待有り

    大塚 真弘

    環境調和材料研究会  2019年3月19日  名古屋工業大学エネルギー材料設計研究室

     詳細を見る

    開催年月日: 2019年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:名古屋工業大学 1号館1階0113(K2)講義室  

  45. Multiway hyperspectral data analysis of trace element/valence-state in W-type ferrite magnet by concurrent high-angular resolution electron channeling X-ray/electron spectroscopy 国際共著 国際会議

    Masahiro Ohtsuka, Souta Yanagihara, Jakob Spiegelberg, Ján Rusz, Shunsuke Muto

    19th International Microscopy Congress (IMC19)  2018年9月 

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    開催年月日: 2018年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:International Convention Centre, Sydney   国名:オーストラリア連邦  

  46. Trace dopant/oxygen vacancy site determination in Al-doped Y2T2O7 by 2D electron channeling EDX analysis 国際共著 国際会議

    Kenji Oda, Masahiro Ohtsuka, Makoto Tanaka, Satoshi Kitaoka, Shunsuke Muto

    19th International Microscopy Congress (IMC19)  2018年9月 

     詳細を見る

    開催年月日: 2018年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:International Convention Centre, Sydney   国名:オーストラリア連邦  

  47. Multiway site/element selective chemical analysis of combined X-ray emission/electron energy-loss hyperspectral data using incident electron beam-rocking method 国際共著

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Jakob Spiegelburg, Yoshihiro Anan and Yoshinori Kobayashi

    11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’17 (ALC ’17)  2017年12月 

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    開催年月日: 2017年12月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:Aqua Kauai Beach Resort, Kauai, Hawaii   国名:アメリカ合衆国  

  48. Quantitative atomic-site-analysis of functional dopants by electron-channeling-enhanced microanalysis 国際会議

    Masahiro Ohtsuka and Shunsuke Muto

    International Conference on Materials and Systems for Sustainability (ICMaSS) 2017  2017年9月 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年9月 - 2017年10月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

  49. 原子面分解能EMCD測定における信号の局在化と情報抽出-局在磁気モーメントの原子サイト毎の定量測定へ-

    武藤俊介, 大塚真弘, Jan Rusz, Jakob Spiegelburg

    日本金属学会 2017年秋期(第161回)講演大会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:北海道大学   国名:日本国  

  50. ビームロッキング複合電子顕微分光ハイパースペクトルデータのマルチウェイ解析 国際会議

    大塚真弘, 武藤俊介

    日本金属学会 2017年秋期(第161回)講演大会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年9月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:北海道大学   国名:日本国  

  51. 原子面分解能EMCDによる鉄の結晶粒界における磁気モーメント変化の検出 国際会議

    武藤俊介, 大塚真弘, 成瀬大介, Jan Rusz, Jakob Spiegelburg

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

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    開催年月日: 2017年5月 - 2017年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:札幌コンベンションセンター   国名:日本国  

  52. 拡張統計アルケミ法によるW型フェライト磁石中の添加Zn置換サイト計測 国際会議

    阿南義弘, 小林義徳, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年5月 - 2017年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:札幌コンベンションセンター   国名:日本国  

  53. 原子面分解能電子磁気円二色性を用いた定量的ナノ磁性測定の試み

    成瀬太介, 武藤俊介, 大塚真弘, Ján Rusz

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年5月 - 2017年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:札幌コンベンションセンター   国名:日本国  

  54. 統計的ALCHEMI法を用いたK1-xNaxNbO3系無鉛圧電材料の添加元素置換サイト解析

    大塚真弘, 山田嗣人, 大林和重, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

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    開催年月日: 2017年5月 - 2017年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:札幌コンベンションセンター   国名:日本国  

  55. サイト選択的EELS分析による梯子型超伝導体のホール分布評価の試み

    粂野紘希, 大塚真弘, 武藤俊介, Ognjen Milat

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

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    開催年月日: 2017年5月 - 2017年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:札幌コンベンションセンター   国名:日本国  

  56. 複合電子顕微分光によるSr系W型フェライトのMultiway微量元素分析

    大塚真弘, 武藤俊介, Jakob Spiegelburg, 阿南義弘, 小林義徳

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年5月 - 2017年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:札幌コンベンションセンター   国名:日本国  

  57. ビームロッキングTEM-EDX分析を用いた耐環境保護膜中の微量添加物占有サイト及び酸素欠損サイトの同定

    織田健嗣, 大塚真弘, 武藤俊介, 田中誠, 北岡諭

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

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    開催年月日: 2017年5月 - 2017年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:札幌コンベンションセンター   国名:日本国  

  58. 高角度分解能電子チャンネリング法によるLiNi0.8Co0.15Al0.05O2劣化状態解析 国際会議

    山本悠, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年5月 - 2017年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:札幌コンベンションセンター   国名:日本国  

  59. Application of statistical beam-rocking TEM-EDX analysis to quantitative occupation site determination of Zn substituted for multiple Fe sites in W-type hexagonal ferrite 国際会議

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Yoshihiro Anan, Yoshinori Kobayashi

    The 16th European Microscopy Congress 

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    開催年月日: 2016年8月 - 2016年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:Lyon Convention Center   国名:フランス共和国  

  60. Identification of occupation site of Al doped in Y2Ti2O7 based by ab initio calculation and statistical high-angular resolution electron channeling X-ray spectroscopy 国際会議

    Yoshihiro Obata, Kenji Oda, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Makoto Tanaka, Satoshi Kitaoka

    The 16th European Microscopy Congress 

     詳細を見る

    開催年月日: 2016年8月 - 2016年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:Lyon Convention Center   国名:フランス共和国  

  61. 統計的ALCHEMI法を用いたSrZn2-W型フェライトにおけるZn占有サイトの定量解析 国際会議

    大塚真弘, 武藤俊介, 阿南義弘, 小林義徳

    日本顕微鏡学会 第72回学術講演会 

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    開催年月日: 2016年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:仙台国際センター   国名:日本国  

  62. HARECXSによる珪線石のAl/Si秩序度測定 国際会議

    伊神洋平, 武藤俊介, 大塚真弘, 三宅亮

    日本顕微鏡学会 第72回学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2016年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:仙台国際センター   国名:日本国  

  63. 電子顕微鏡によるオリビン中Mサイトの Mg/Fe元素比推定 国際会議

    三宅亮, 藤昇一, 福永啓一, 栗林貴弘, 武藤俊介, 大塚真弘, 伊神洋平

    日本顕微鏡学会 第72回学術講演会 

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    開催年月日: 2016年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:仙台国際センター   国名:日本国  

  64. 統計的ALCHEMI法を利用した耐環境保護膜中の軽元素添加物占有サイトの決定 国際会議

    織田健嗣, 小幡佳弘, 大塚真弘, 武藤俊介, 田中誠, 北岡諭

    日本顕微鏡学会 第72回学術講演会 

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    開催年月日: 2016年6月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:仙台国際センター   国名:日本国  

  65. Application of Statistical High-Angular Resolution Electron Channeling X-ray Spectroscopy to Quantitaive Occupation Site Analysis of a Light Element Dopant 国際会議

    Masahiro Ohtsuka, Kenji Oda, Yoshihiro Obata, Shunsuke Muto, Makoto Tanaka, Satoshi Kitaoka

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    開催年月日: 2016年5月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:Wink Aichi   国名:日本国  

  66. 統計的ALCHEMI/HARECXS法を用いたZn添加W型フェライト中のZn占有サイト解析

    大塚真弘, 武藤俊介, 阿南義弘, 小林義徳

    日本金属学会 2015年春期(第158回)講演大会 

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    開催年月日: 2016年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:東京理科大学葛飾キャンパス   国名:日本国  

  67. ビームロッキングEDXを用いたドーパント占有サイト評価

    大塚真弘, 武藤俊介

    日本金属学会 2015年秋期講演大会 

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    開催年月日: 2015年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:九州大学   国名:日本国  

  68. Site occupancy determination of a dopant substituting for multiple sites using beam-rocking TEM-EDX and statistical analysis 国際会議

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi

    Microscopy Conference 2015 

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    開催年月日: 2015年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    国名:ドイツ連邦共和国  

  69. 統計的ALCHEMI法/動力学計算を用いた磁性材料中の添加元素占有サイト評価

    大塚真弘, 武藤俊介, 巽一厳

    日本顕微鏡学会 第71回学術講演会 

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    開催年月日: 2015年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:京都   国名:日本国  

  70. 統計的ALCHEMI法を用いた占有サイト評価における各種実験条件の依存性

    大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第71回学術講演会 

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    開催年月日: 2015年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:京都   国名:日本国  

  71. 統計的ALCHEMI法と動力学計算を組み合わせた添加元素占有サイトの定量評価

    大塚真弘, 武藤俊介, 市川貴浩, 巽一厳

    日本金属学会 2014年度秋期講演大会 

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    開催年月日: 2014年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:名古屋   国名:日本国  

  72. ビームロッキング法によるSi-doped GaAsの欠陥構造解析

    市川貴浩, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本金属学会 2014年度秋期講演大会 

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    開催年月日: 2014年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:名古屋   国名:日本国  

  73. Planer defect structure analysis based on electron channeling phenomena 国際会議

    Takahiro Ichikawa, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto

    18th International Microscopy Congress 

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    開催年月日: 2014年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    国名:日本国  

  74. Element/Site-Selective Local Ligand Analysis using High-Angular Resolution Electron Channeled Fluorescent Spectroscopy 国際会議

    S. Muto, M. Ohtsuka, K. Tatsumi, M. Bosman, H. Yamane

    18th International Microscopy Congress 

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    開催年月日: 2014年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    国名:日本国  

  75. Slice-by-slice simulations of absorption potential for high-angular resolution electron channeled X-ray spectroscopy 国際会議

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto

    18th International Microscopy Congress 

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    開催年月日: 2014年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    国名:日本国  

  76. 高角度分解能電子チャネリングX線分光パターンのマルチスライス計算手法

    大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会 

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    開催年月日: 2014年5月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:幕張   国名:日本国  

  77. 層状構造を有するNaイオン電池正極材料の結晶構造解析 国際会議

    本田善岳, 北野 保行, 武藤 俊介, 大塚 真弘, 巽一厳, 片岡理樹, 境哲男

    日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会 

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    開催年月日: 2014年5月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:幕張   国名:日本国  

  78. 高角度分解能電子チャネリングX線分光法を用いた欠陥構造解析に関する理論的検討

    市川貴浩, 大塚真弘, 武藤俊介, 巽一厳

    日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会 

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    開催年月日: 2014年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:幕張   国名:日本国  

  79. 高角度分解能電子チャネリングX線分光法を用いた欠陥構造解析の試み

    大塚真弘, 市川貴浩, 武藤俊介, 巽一厳

    日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会 

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    開催年月日: 2014年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:幕張   国名:日本国  

  80. Slice-by-Slice Dynamical Simulation Scheme for High-Angular Resolution Electron Channeled X-ray Spectroscopy 国際会議

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto

    The 4th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations 

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    開催年月日: 2014年5月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    国名:日本国  

  81. Application of HARECXS to Planar Defect Structure Analysis 国際会議

    Takahiro Ichikawa, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi

    The 4th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations 

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    開催年月日: 2014年5月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    国名:日本国  

  82. Element/Site Selective Analysis by Beam Rocking EELS/EDX Based on Electron Channeling Effect 国際会議

    Takahiro Ichikawa, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi

    International Symposium on EcoTopia Science '13 

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    開催年月日: 2013年12月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    国名:日本国  

  83. 二次元ビームロッキングによる逆空間走査型サイト選択的分析

    大塚真弘, 市川貴浩, 武藤俊介, 巽一厳

    日本顕微鏡学会 第57回シンポジウム 

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    開催年月日: 2013年11月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:愛知県産業労働センター(ウインクあいち)   国名:日本国  

  84. 実空間・ 逆空間走査によるサイト選択的測定

    市川貴浩, 大塚真弘, 武藤俊介, 巽一厳

    日本金属学会秋期講演大会(2013) 

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    開催年月日: 2013年9月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:金沢   国名:日本国  

  85. 2次元ALCHEMIパターンの理論計算を用いた定量解析に関する検討

    大塚真弘, 武藤俊介, 巽一厳, 市川貴浩

    日本金属学会秋期講演大会(2013) 

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    開催年月日: 2013年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:金沢   国名:日本国  

  86. Bloch波法によるfrozen lattice近似の計算手法

    山崎貴司, 大塚真弘, 小高康稔, 渡辺和人

    日本顕微鏡学会 第69回学術講演会 

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    開催年月日: 2013年5月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:大阪   国名:日本国  

  87. Bloch波法によるFrozen lattice計算とその応用

    大塚真弘, 山崎貴司, 小高康稔, 橋本巖, 渡辺和人

    日本物理学会 2012年秋季大会 

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    開催年月日: 2012年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:横浜国立大学   国名:日本国  

  88. Contrast formation mechanism of spherical aberration corrected bright-field STEM images using a middle collection angle 国際会議

    Masahiro Ohtsuka, Takashi Yamazaki, Yasutoshi Kotaka, Iwao Hashimoto, Kazuto Watanabe

    The 15th European Microscopy Congress 

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    開催年月日: 2012年9月

    記述言語:英語   会議種別:ポスター発表  

    国名:グレートブリテン・北アイルランド連合王国(英国)  

  89. 明視野走査透過電子顕微鏡による原子像 国際会議

    大塚真弘, 山崎貴司, 小高康稔, 橋本巖, 渡辺和人

    日本顕微鏡学会 第68回学術講演会 

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    開催年月日: 2012年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:筑波   国名:日本国  

  90. 最適化手法による明視野STEM 検出器の精密位置測定

    山崎貴司, 小高康稔, 大塚真弘, 渡辺和人

    日本顕微鏡学会 第68回学術講演会 

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    開催年月日: 2012年5月

    記述言語:日本語   会議種別:ポスター発表  

    開催地:筑波   国名:日本国  

  91. 高角度明視野走査透過電子顕微鏡の検出器位置の精密測定とその影響

    山崎貴司, 小高康稔, 大塚真弘, 渡辺和人

    日本物理学会 第67回年次大会 

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    開催年月日: 2012年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:大阪   国名:日本国  

  92. 高分解能明視野STEM像のBloch波による解析

    大塚真弘, 山崎貴司, 小高康稔, 橋本巖, 渡辺和人

    日本物理学会 第67回年次大会 

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    開催年月日: 2012年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:大阪   国名:日本国  

  93. HAADF STEM像計算における非局所吸収ポテンシャルの重要性

    大塚真弘, 橋本巖, 渡辺和人,

    日本物理学会 秋季大会 

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    開催年月日: 2011年9月 - 2012年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:富山   国名:日本国  

  94. チタン酸バリウムの構造観察

    岡義人, 高松広輝, 大塚真弘, 加藤大樹, 橋本巖

    日本物理学会 秋季大会 

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    開催年月日: 2011年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    国名:日本国  

  95. BaTiO3の構造と欠陥評価

    岡義人, 高松広輝, 大塚真弘, 加藤大樹, 橋本巖

    日本物理学会 第66回年次大会 

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    開催年月日: 2011年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:新潟   国名:日本国  

  96. 高分解能HAADF STEM像による定量解析における熱散漫散乱の非局在効果

    大塚真弘, 渡辺和人, 橋本巖

    日本物理学会 第66回年次大会 

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    開催年月日: 2011年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:新潟   国名:日本国  

  97. CIGS薄膜太陽電池Zn(S, O, OH)バッファ層および接合界面の構造評価

    田代好之, 大塚真弘, 澁谷一成, 山崎亨, 舩木雅之, 日高悠樹弥, 山田明, 小長井誠

    日本応用物理学会 第57回 春季大会 

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    開催年月日: 2010年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:神奈川   国名:日本国  

  98. 多層構造の高分解能plan-view HAADF STEM像の計算

    大塚真弘, 橋本巖, 渡辺和人

    日本物理学会 第64回年次大会 

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    開催年月日: 2009年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:東京   国名:日本国  

  99. Layer-by-layer法を用いた非整合多層膜の動力学計算Ⅱ

    大塚真弘, 倉持幸治, 橋本巖, 渡辺和人

    日本物理学会 秋季大会 

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    開催年月日: 2008年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:盛岡   国名:日本国  

  100. Layer-by-Layer法を用いた非整合多層膜の動力学計算 国際会議

    大塚真弘, 倉持幸治, 山崎貴司, 渡辺和人, 橋本巖

    日本物理学会 第63回年次大会 

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    開催年月日: 2008年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:大阪   国名:日本国  

  101. 高分解能共焦点STEM像の結像理論とその可能性

    大塚真弘, 倉持幸治, 山崎貴司, 三石和貴, 竹口雅樹, 橋本巖, 渡辺和人

    日本物理学会 第62回年次大会 

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    開催年月日: 2007年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:札幌   国名:日本国  

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科研費 13

  1. ビームロッキング電子顕微分光による界面偏析したドーパント周辺環境の解明

    研究課題/研究課題番号:23K17816  2023年6月 - 2025年3月

    科学研究費助成事業  挑戦的研究(萌芽)

    大塚 真弘

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    担当区分:研究代表者 

    配分額:6370000円 ( 直接経費:4900000円 、 間接経費:1470000円 )

    本研究では,結晶方位関係に制約されずに結晶粒界や異相界面に偏析した異種元素ドーパントの占有位置やその周辺構造を統計的に可視化するため,透過電子顕微鏡において,異なる視点(結晶方位)から観測する複数の蛍光X線のイオン化チャネリング図形からドーパント原子位置,周囲の立体原子配列を定量的・統計的に推定する方法を構築する.実用多結晶材料に存在する結晶粒界面の多くは,綺麗な結晶方位関係をとらないランダム粒界であり,本研究はこのような界面に偏析したドーパントを計測する新しい方法を提唱するものである.これにより,ランダム粒界の界面構造やドーパント偏析の物理を解明することが最終目標である.
    本研究では,結晶方位関係に制約されずに結晶粒界や異相界面に偏析した異種元素ドーパントの占有位置やその周辺構造を「統計的」に可視化するため,透過電子顕微鏡(TEM)において,異なる視点(結晶方位)から観測する複数の蛍光X線のイオン化チャネリング図形(ICP)からドーパント原子位置,周囲の立体原子配列を定量的・統計的に推定する方法を構築することを目指している.
    これまで,粒界に異種元素が偏析した試料としてLa添加Al2O3多結晶セラミックスを作製し,粒界部分からICPを取得する計測法の最適化を行った.当初はICPのみから粒界偏析ドーパントの位置やその配位環境を計測することを狙っていたが、原子分解能走査透過電子顕微鏡(STEM)像とICPを複合的に解析する方法をとった.これにより構築した粒界構造モデルを使って原子分解能STEM像を理論計算した結果,実験像を定性的によく再現した.
    当初計画では,2023年度内に多結晶セラミックス中の一般粒界に偏析したドーパントのX線ICPを取得し,ここからいくつかの仮定をおいて界面モデルを構築することを検証し,これに加えてICP像から逆問題を解くように構造モデルを一義的に推定する方法を構築する予定であった.しかしながら,後者については,それに用いるICP理論計算コードの拡張が未完了であるため,未達である.しかしながら,前者において実験結果から得られた構造モデルはSTEM像を非常によく再現しており,本研究で開発を進めている計測法の妥当性は十分に確認できつつある.
    最終年度(2024年度)には,2023年度に未達であったICP像から結晶構造モデルを逆推定するアルゴリズムの構築を進めると共に,実験としても異なるバリエーションの一般粒界での計測をすすめ,本手法の妥当性の検証進めていく予定である.

  2. 動力学計算と機械学習を組み合わせた新しいEBSD解析手法の開発

    研究課題/研究課題番号:23H01276  2023年4月 - 2027年3月

    科学研究費助成事業  基盤研究(B)

    瀬戸 雄介

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    担当区分:研究分担者 

    動力学的電子回折理論による精密な電子後方散乱回折(EBSD)像計算と機械学習に基づくパターンマッチング法を組み合わせ、高精度な岩石組織解析法を新規開発する。EBSD法は結晶質試料の解析手法として幅広い分野で応用されているが、現状の手法は正確な散乱過程を再現しておらず、表面ダメージ層の影響も考慮していないことから、特に地質試料の分析において重大な問題となっている。そこで本研究では、動力学理論に基づく精密なリファレンスパターンの生成、画質悪化要素の抽出と評価、機械学習によるパターンマッチング法などの開発を行い、地質試料に対するEBSD解析精度の飛躍的な向上を目指す。

  3. マルチモーダル電子ビーム制御による原子サイト選択的物性値定量マッピング

    研究課題/研究課題番号:23H01682  2023年4月 - 2027年3月

    科学研究費助成事業  基盤研究(B)

    大塚 真弘

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    担当区分:研究代表者 

    配分額:18200000円 ( 直接経費:14000000円 、 間接経費:4200000円 )

    本研究の目的は,電子顕微鏡において結晶試料に入射した電子の波動関数制御によって特定のブロッホ固有状態(電子定在波)を選択励起させながらナノ電子ビームの位置走査を行うことで,薄片試料に限らずバルク試料における原子レベルの結晶構造パラメータをナノ分解能で定量計測・可視化(マッピング)する方法を構築することである.従来手法のいくつかのボトルネックを解消し,電子ビームのロッキングによって変化する電子定在波を利用した各元素のサイト占有率,欠陥の存在,化学状態の原子レベルかつ定量的なマッピングを実現する.これにより機能性結晶のマクロ物性と原子レベル物性を定量的に橋渡しするナノ計測手法を確立する.

  4. マルチモーダル電子ビーム制御による原子サイト選択的物性値定量マッピング

    研究課題/研究課題番号:23K26375  2023年4月 - 2027年3月

    科学研究費助成事業  基盤研究(B)

    大塚 真弘, 伊神 洋平

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    担当区分:研究代表者 

    配分額:18200000円 ( 直接経費:14000000円 、 間接経費:4200000円 )

    本研究の目的は,電子顕微鏡において結晶試料に入射した電子の波動関数制御によって特定のブロッホ固有状態(電子定在波)を選択励起させながらナノ電子ビームの位置走査を行うことで,薄片試料に限らずバルク試料における原子レベルの結晶構造パラメータをナノ分解能で定量計測・可視化(マッピング)する方法を構築することである.従来手法のいくつかのボトルネックを解消し,電子ビームのロッキングによって変化する電子定在波を利用した各元素のサイト占有率,欠陥の存在,化学状態の原子レベルかつ定量的なマッピングを実現する.これにより機能性結晶のマクロ物性と原子レベル物性を定量的に橋渡しするナノ計測手法を確立する.
    電子顕微鏡(透過電子顕微鏡(TEM)や走査電子顕微鏡(SEM))において,結晶試料に入射した電子の波動関数制御によって特定のブロッホ固有状態(電子定在波)を選択励起させながらナノ電子ビームの位置走査を行うことで,薄片試料に限らずバルク試料における原子レベルの結晶構造パラメータ(ドーパント占有率や化学状態,格子振動)をナノ分解能で定量計測・可視化(マッピング)する方法を構築することが本研究の目的である.
    本研究で取り組むサイト選択的計測法において局所領域を狙った計測を行う場合,電子ビームや検出器のソフトウェア制御による計測時間のボトルネックが課題として挙げられる.2023年度には,測定時間短縮のためにサンプリング点数を削減し,効率的な計測を行う方法の開発に取り組んだ.その結果,いくつかの結晶構造(ペロブスカイト構造や閃亜鉛鉱型構造など)に対して計測時間を向上させるサンプリング点削減指標の構築ができた.
    また,SEMによるバルク試料に対して電子ビームロッキングを行った場合に電子チャネリング効果に基づくサイト選択的分析が実現可能か否かに関する検討も進めた.その結果,バルク試料の場合,蛍光X線によるイオン化チャネリング図形(ICP)に大きなバックグラウンド信号が含まれ,例えばサイト占有率解析などの際にノイズなどが問題になりえることがわかった.今後は試料厚みの条件やデータ解析の方法についてより詳細な検討の必要性が見込まれる.
    2023年度には,主に局所領域を狙ったX線イオン化チャネリング図形(ICP)計測の高速化のためにサンプリング点数を削減する方法の構築を目指した検討を進めた.その結果,ペロブスカイト構造や閃亜鉛鉱型構造などに対して,従来よりも高速な計測が可能となる点数削減法を構築できた.汎用的な削減基準の構築は未達成であるが,本成果は計画通りの進捗状況である.
    今後は2023年度に開発を進めたICP測定の高速化法の汎用化を進めると共に,走査電子顕微鏡を用いたバルク試料におけるALCHEMI計測の実現可能性の検討を行う.また,これらを進めると共に電子チャネリング効果を利用したマルチモーダルな電子ビーム制御(ビーム傾斜角度と位置の同時制御)によるサイト選択的物性マッピングを透過/走査電子顕微鏡で実現する方法の構築を進めていく予定である.

  5. 動力学計算と機械学習を組み合わせた新しいEBSD解析手法の開発

    研究課題/研究課題番号:23K25972  2023年4月 - 2027年3月

    科学研究費助成事業  基盤研究(B)

    瀬戸 雄介, 大塚 真弘

      詳細を見る

    担当区分:研究分担者 

    動力学的電子回折理論による精密な電子後方散乱回折(EBSD)像計算と機械学習に基づくパターンマッチング法を組み合わせ、高精度な岩石組織解析法を新規開発する。EBSD法は結晶質試料の解析手法として幅広い分野で応用されているが、現状の手法は正確な散乱過程を再現しておらず、表面ダメージ層の影響も考慮していないことから、特に地質試料の分析において重大な問題となっている。本研究では、動力学理論に基づく精密なリファレンスパターンの生成、画質悪化要素の抽出と評価、機械学習によるパターンマッチング法などの開発を行い、地質試料に対するEBSD解析精度の飛躍的な向上を目指す。
    EBSD法は結晶試料の相同定および方位解析手法として地質学・材料科学・金属学などの幅広い分野で応用されているが、現状のEBSD解析ではリファレンスパターンを構築する際に多重散乱(動力学的回折)の影響を考慮しておらず、解析精度の悪化を招いている。また対称性の低い結晶や研磨・電子線による表面ダメージが避けられない場合は回折パターンが不鮮明になることがあり、特に地質試料の分析において重大な問題となっている。そのため本研究では、電子の多重散乱過程をブロッホ波法で精密に記述することによって正確なEBSDパターンを再現し、さらに試料の表面状態を反映した画像悪化要素の抽出を目指している。2023年度はEBSDパターンのシミュレーション手法の開発とコード化、および本科研費で購入した試料表面解析システムのセットアップを行った。ブロッホ波の導出過程では複素非対称密行列の固有値・ベクトルを高精度で求める必要があり、これが計算コスト上のネックとなる。そこで本研究では行列サイズに応じて固有値・ベクトル解を得るアルゴリズムを変化させ、さらに圧縮センシングを利用した計算点の補完(方位空間を等間隔ではなくスパースなサンプリングを行い圧縮センシングで補完)することによって計算効率の向上を図った。また正確な原子散乱因子を計算するため、広く用いられている5-ガウシアン近似パラメータを拡張し、9-ガウシアン近似パラメータを導入した。2023年度の作業によって計算コードの基幹部分はほぼ完成しており、成果の一部はオープンソースソフトウェアとしてGitHub上で公開している(https://github.com/seto77/recipro)。試料表面解析システムの一部については2024年3月に導入・セットアップが完了し、本研究に必要な性能要件(空間分解能や電流安定性)を満たしていることを確認した。
    EBSDパターンを再現するためのコード構築はおおむね順調に進捗しており、すでにその成果の一部はGitHub上で公開している。現在はさらなる計算速度の向上を目指して、GPUを用いた超並列化計算のコード開発を行っている。またユーザーインターフェースについても次年度以降の完成を目指して設計を行っている段階である。試料表面解析システムに用いる走査型電子顕微鏡については、選定及びセットアップ作業は特に問題なく順調であった。本研究に必要な性能要件(空間分解能や電流安定性)を満たしていることを確認しており、引き続き次年度以降にEBSD検出器のセットアップを行う予定である。以上のことを総合的に判断して、おおむね順調に進展していると判断した。
    本年度の前半では、昨年度に導入した試料表面解析システムについて、引き続きセットアップと検出器のキャリブレーション作業を行う。具体的にはEBSD検出器と試料との幾何学的配置(電子線と試料表面の角度、試料表面と検出器面の角度、試料と検出記の距離など)の最適条件を決定する。後半では、金属や単純な酸化物を対象として実際のEBSDパターンを取得する。EBSDパターンは、試料の表面粗さや非晶質層によって大きく影響をうけるため、本年度の段階ではなるべくダメージの少ない試料を調整することに注力し、その表面粗さや非晶質層厚みは事前に透過電子顕微鏡で評価しておく。
    上述の内容と平行して、引き続きEBSDパターンの動力学的シミュレーション手法の開発も行う。本年度は、方位空間を細かく(100万~1000万)分割し、それら全てについての固有値・固有ベクトルをデータベース化する方法を構築する。さらに、GPUを用いた超並列化計算、圧縮センシングを利用した計算点の補間、および得られた固有値・固有ベクトルのマップをゼルニケ多項式で展開することで次元削減(圧縮)しデータ量を低減するなどの工夫によって計算コストをさらに軽減し、任意の表面方向に対する正確な回折パターンを生成する方法論の確立を目指す。

  6. ナノ電子プローブ実・逆空間走査による統合データ駆動型材料物性解析

    研究課題/研究課題番号:21H04616  2021年4月 - 2025年3月

    科学研究費助成事業  基盤研究(A)

    武藤 俊介, 齊藤 元貴, 志賀 元紀, 岡島 敏浩, 大塚 真弘

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    担当区分:研究分担者  資金種別:競争的資金

    本研究の目的は,透過電子顕微鏡法(TEM)の持つ本来の強みを生かした独自の複合電子顕微分光法(Integrated Electron Microscopic Spectrometry: IEMS)による材料中の様々な格子欠陥の構造及び基礎物性をナノメートルスケールで(しかし強く電子ビームを絞らずに)高精度定量計測する新機軸ロバスト手法を確立・検証そして応用することである.また放射光分光との連携によってマルチスケール・マルチモーダルなデータ駆動統合型計測の枠組みを構築し,広く世界に発信する.
    1.超高圧電子顕微鏡施設では,ガス環境下でTEM観察可能な世界唯一の超高圧走査透過電子顕微鏡を有する。2018年に四重極質量分析計(QMS)を設置し,微粒子金属触媒反応の構造変化観察と反応ガス検出に成功している。特に自動車排気ガス浄化触媒,水素吸蔵合金,カーボンニュートラルを目指したメタネーション反応などのメカニズムを新たな視点で明らかにしつつある。令和5年度には,新たにガスクロマトグラフ(GC)を従来のQMSシステムに接続するシステム拡張を行い,NOx浄化における副反応で重要なN2O(CO2と等質量)及びCO(N2と等質量)の分離検出が可能となった。
    2.当グループではビームロッキング法によるサイト選択的な不純物・ドーパント・点欠陥などの定量的状態分析法の開発応用を進めている。本手法のボトルネックとなっているプローブ径のナノ化およびサンプリング点の効率化によって測定時間を二桁短縮するなどさらなる広範囲の分野への実用化に向けた手法改良に成功した。
    3.主としてMg,Siを微量に含んだアルミニウム合金は100℃という低温での時効で機械特性が大きく変わることが知られている。我々は,あいちSR,大同大学,東京理科大学と共同で,熱測定,X線小角散乱及び高分解能STEMを併用したマルチスケール測定した結果を物理法則を考慮した機械学習スキームでマルチモーダル解析するプロジェクトを開始した。ミクロ及びマクロな多くの測定データの統計的な取り扱いによって,S/TEM技術では観測不可能であった析出物クラスターを定量的に検出・可視化する手法を開発し,さらにマクロな測定と結び付けて機械特性などのマクロな物理量とミクロな組織変化を結び付け,定量化する新しいデータ駆動科学を構築しつつある。
    1.当グループが開発したHVEM-QMS-GCオペランド計測システムによって、ガス中での化学反応に伴う材料の構想変化と反応生成物である各種ガスの消費・生成が同時にかつ半定量的に検出できるのみならず、GCによって質量の同じガス種の分離検出も可能となった。ガス環境TEMにおいてGCの搭載は世界初めての成功例である。
    2.従来セラミックスの機能改善のために添加する微量希土類元素が粒界偏析する現象について,対象粒界しか取り扱うことのできなかったTEM分析技術であるが,ビームロッキング法と原子レベルSTEM観察を組み合わせ、結晶粒方位のランダムな一般粒界についても希土類周囲の配位環境の指導原理を明らかにしたことは特筆に値する.
    3.コンピュータ制御されたSTEM分光などによって生み出されるビッグデータと放射光分光などのマクロな計測データを統合する新しいデータ科学の手法の確立を進め、ようやく具体的な成果としてAl合金の低温時効効果における析出物の観察において従来の空間分解能の限界を突破しつつある。
    以上の様に当研究によって従来では見えない、測れない物性を観察・測定する新たな手法を編み出し,実材料に適用することを次々と進めていることからも順調に進捗していると言って差し支えないと考えている.
    今後の研究推進方策として以下のような方針を立てている:
    1.ビームロッキングモードによるサイト選択的測定では,本年度末に導入された高速カメラの応用で4D-STEMが可能となった。最終年度はこのシステムを利用して、nm程度の積層間隔を持つ多層膜中のサイト選択的元素分析を行う。
    2.特に次年度は最終年度であるため、これまでの成果をハイインパクトなジャーナルへの投稿、および国際会議などへの積極的参加による成果発信に努めたい.
    以上の項目以外にも,これまで開発した様々な異種分光法を組み合わせて情報抽出するための物理情報を取り入れたインフォマティクス応用のスキーム構築について具体的な系への応用への展開を図ってこの研究テーマを完遂したい。
    特に大きな計画変更を行う予定はなく、問題点も見当たらない。

  7. ビームロッキング電子顕微鏡分光によるドーパント周辺環境分析法の開発

    研究課題/研究課題番号:20K05088  2020年4月 - 2023年3月

    独立行政法人日本学術振興会  科学研究費助成事業  基盤研究(C)

    大塚 真弘

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    担当区分:研究代表者  資金種別:競争的資金

    配分額:4290000円 ( 直接経費:3300000円 、 間接経費:990000円 )

    機能材料におけるドーパントの微量添加はその物性を制御する常套手段の一つであり,その占有サイトや周辺原子配列,化学状態を定量的に知ることは材料機能発現を理解する上で重要である.そこで本研究では,透過電子顕微鏡における電子ビームのロッキングに対して得るX線や電子分光スペクトル,電子回折像の変動を利用し,機能材料中のドーパントの位置及び周辺環境を可視化・精密化する定量解析手法を確立することを目指す.動力学的弾性/非弾性電子散乱理論や機械学習(多変量スペクトル分解)を効果的に援用してこれらを達成することにより,各種機能材料におけるドーパント添加の学理を拡げる.
    本研究の目的は,透過電子顕微鏡において電子ビームをロッキングさせることで顕在化する電子チャネリング効果とそれに伴う各種分光スペクトルデータの変調パターンを利用し,機能材料に微量添加されたドーパントのサイト占有率だけでなくその微小変位や周辺構造(周辺原子配列)を可視化・定量化する方法を確立することである.
    局所領域を狙ったビームロッキング計測を可能とする計測システムの最適化や動力学的弾性/非弾性電子散乱理論に基づく理論計算コードの拡張により,酸化物セラミックス中におけるドーパントの微小変位や周辺原子の変位,酸素空孔の存在サイトの解析などを実現した.
    ドーパント添加は,材料機能を制御する常套手段の一つである.それ故,不純物元素がどこを占有しているか,周囲の原子配列や化学状態がどのようになっているのかを定量的に知ることは材料機能発現を理解する上で極めて重要である.しかし,微量ドーパント近傍の母結晶の並進対称構造から外れた局所的な構造・状態変調は,回折結晶学的手法や近年発展目覚まして原子分解能走査透過電子顕微鏡分析でも容易ではない.本研究では,いくつかの実用セラミックス材料において,このようなドーパント自身やその周囲の僅かな母結晶構造からの変調を捉えることができた.いくつかの課題は残るが,本手法の発展は多くの実用機能材料分析へと寄与し得る.

  8. 電子チャネリングX線分光と電子回折マッピングによる不純物占有サイト解析法の拡張

    研究課題/研究課題番号:18K13991  2018年4月 - 2020年3月

    独立行政法人日本学術振興会  科学研究費補助金  若手研究

    大塚 真弘

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    担当区分:研究代表者  資金種別:競争的資金

    配分額:4160000円 ( 直接経費:3200000円 、 間接経費:960000円 )

    本研究では,透過電子顕微鏡分析において高エネルギー電子が結晶材料中の特定の結晶学的サイトに偏って伝播する電子チャネリング効果を利用してサイト毎の物性状態を計測する分析手法を発展させ,局所領域測定や複数の分光/像信号の同時分析による微量状態分析を実現させることを目的とした.先ず,電子顕微鏡をスクリプト制御するプラグインの改良により,局所領域を狙って各種信号を自動で同時取得できるシステムを構築した.また,理論計算アルゴリズムの拡張や高精度化により,多層膜材料や酸化物セラミックス材料中の酸素空孔の占有サイト解析などが可能となった.
    不純物元素の微量添加は材料物性を制御する常套手段の一つであり,不純物元素がどこを占有しているかを知ることは材料機能発現を理解する上で重要である.このような添加不純物元素の占有サイトの評価においては,X線や中性子による回折結晶学的手法が標準的ツールであり,近年では走査透過電子顕微鏡による原子分解能での元素マッピングが現実的になりつつあるが,複雑かつあまり綺麗ではない実用材料の分析においてはいくつかの問題が生じる場合がある.本研究を通して開発を進めている分析手法は,企業で取り扱われるような実用材料分析へと応用しやすく,既にいくつかの共同研究に展開している.

  9. ナノ電子ビーム分光によるセラミックス一般粒界偏析機能元素の定量分析法開発

    研究課題/研究課題番号:17K19101  2017年6月 - 2019年3月

    独立行政法人日本学術振興会  科学研究費補助金  挑戦的研究(萌芽)

    武藤 俊介

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    担当区分:研究分担者  資金種別:競争的資金

    本研究は、電子ビームロッキングによる結晶中不純物の占有サイト分析法と高度スペクトルイメージング法を組み合わせて,任意の方位を持った結晶粒界に偏析する機能性ドーパントの規則配列構造及びそれに伴う特有の電子状態を抽出し定量解析するロバストな手法開発の試みである.
    収差補正機能を付加するためのビーム制御スクリプトを開発し、ビーム径を100nm以下にまで小さくした条件で平行照射することが可能となった。実際SrTiO3の結晶粒界に適用したところ、粒界偏析したYによるチャネリング図形が得られ、Yが特定の原子コラム上に存在していることが示唆された。これらの成果は日本金属学会学会報のレビューにまとめられた。
    機能材料において、構成元素の正確なサイト占有率や微量ドーパントの占有サイトを定量的に正確に知ることは、材料設計上きわめて重要である。多くの場合、X線回折データにリートベルト解析を適用することが標準的であるが、ナノ構造を持っている場合、原子番号の近接した元素を含む場合など、この手法が適用できない場合も多い。本研究で開発した手法はこのような制限を一切必要とせず、さらに組成変化に伴う原子位置の変位や、電気的中性条件のために導入される陰イオン空孔の解析へと拡張可能である。実際現在最も民間からの分析依頼が多い手法となっている。

  10. 多元的電子顕微鏡分光と非弾性散乱計算による熱電材料結晶の局所原子・電子構造解析

    研究課題/研究課題番号:15K14108  2015年4月 - 2017年3月

    独立行政法人日本学術振興会  科学研究費補助金  挑戦的萌芽研究

    巽 一厳

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    担当区分:研究分担者  資金種別:競争的資金

    配分額:3900000円 ( 直接経費:3000000円 、 間接経費:900000円 )

  11. 逆空間走査多元分光による局在機能欠陥の高分解能立体構造/状態分析

    研究課題/研究課題番号:26249096  2014年4月 - 2018年3月

    独立行政法人日本学術振興会  科学研究費補助金  基盤研究(A)

    武藤 俊介

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    担当区分:研究分担者  資金種別:競争的資金

    本研究では,走査透過型電子顕微鏡に付随する様々な分光法を組み合わせ,同じ場所から同時に他種類のスペクトルを取得し,更にこの大量データを統計的に処理することによって,機能材料のナノ領域の物性分析及び化学イメージングのための手法を開発した.またこの手法を応用して,環境材料,エネルギー材料,磁性材料,生体材料などの実材料中の添加元素の占有サイト,占有率,化学結合状態を明らかにした.これらの成果は従来の回折的手法及び電子顕微鏡の技術ではなしえなかったものである.

  12. 電子チャネリングによって捉える発光する原子/空孔の姿

    研究課題/研究課題番号:26870271  2014年4月 - 2016年3月

    科学研究費補助金  若手研究(B)

    大塚 真弘

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    担当区分:研究代表者  資金種別:競争的資金

    配分額:3900000円 ( 直接経費:3000000円 、 間接経費:900000円 )

  13. ナノ電子状態解析のフロンティア開拓

    研究課題/研究課題番号:25106004  2013年6月 - 2018年3月

    文部科学省  科学研究費補助金  新学術領域研究(研究領域提案型)

    武藤 俊介

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    担当区分:連携研究者 

    本研究では、透過型電子顕微鏡を主軸にした各種付随分光法を駆使して固体材料の微小な局所領域の化学状態を分析、可視化する新たな手法を開発し、実用材料への適用にまで止揚することを目的とした。
    特に細く絞ったナノ電子プローブを試料上で走査、またはロッキングする事によって分光スペクトルを場所または回折条件の関数として多数収集し、得られたいわゆる「ビッグデータ」に機械学習(インフォマティクス)の手法を適用し、異なる化学状態毎に状態解析と同時にその空間分布を可視化する技術を確立するに至った。

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担当経験のある科目 (本学) 19

  1. 基礎セミナー

    2022

  2. 物理工学序論

    2022

  3. 計算機プログラミング

    2022

  4. 基礎セミナーA

    2021

  5. 計算機プログラミング

    2021

  6. 物理工学実験第三

    2020

  7. 物理工学実験第二

    2020

  8. 物理工学実験第一

    2020

  9. 物理工学実験第一

    2019

  10. 物理工学実験第三

    2019

  11. 物理工学実験第二

    2019

  12. 物理工学実験第一

    2018

  13. 量子エネルギー工学学生実験第二

    2017

  14. 量子エネルギー工学学生実験第一

    2016

  15. 量子エネルギー工学学生実験第二

    2016

  16. 量子エネルギー工学学生実験第一

    2015

  17. 量子エネルギー工学学生実験第二

    2015

  18. 量子エネルギー工学学生実験第二

    2014

  19. 量子エネルギー工学学生実験第二

    2013

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社会貢献活動 1

  1. 電子を使って物質の性質を探る-電子顕微鏡で見るナノの世界

    役割:講師

    豊田西高等学校  豊西総合大学講座2023  2023年11月

メディア報道 3

  1. 酸化物セラ添加のドーパント 透過電顕で精密に位置を計測 名大、隣り合う酸素空孔も解明 新聞・雑誌

    株式会社科学新聞社  科学新聞  2021年4月

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    執筆者:本人 

  2. 微量異種イオン精密計測 隣り合う酸素空孔も 新聞・雑誌

    株式会社化学工業日報社  化学工業日報  2021年4月

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    執筆者:本人以外 

  3. 物質移動を支配する欠陥の原子レベル構造を決定 ~微量異種イオンと隣り合う酸素の抜け孔が見えた!~ インターネットメディア

    株式会社バイオインパクト  日本の研究.com  https://research-er.jp/articles/view/97979  2021年3月