Updated on 2021/11/02

写真a

 
OHTSUKA, Masahiro
 
Organization
Institute of Materials and Systems for Sustainability Advanced Measurement Technology Center (AMTC) Electron Nanoscopy Section Lecturer
Graduate School
Graduate School of Engineering
Title
Lecturer
Contact information
メールアドレス

Degree 3

  1. 博士(理学) ( 2013.3   東京理科大学 ) 

  2. 修士(理学) ( 2009.3   東京理科大学 ) 

  3. 学士(理学) ( 2007.3   東京理科大学 ) 

Research Interests 6

  1. Functional materials

  2. Transmission electron microscopy

  3. Dynamical electron diffraction theory

  4. Electron channeling effect

  5. Nanotechnology

  6. Dopant occupation site analysis

Research Areas 1

  1. Nanotechnology/Materials / Nanomaterials  / Electron microscopy

Current Research Project and SDGs 1

  1. Development of Quantitative Site-Specific Analysis Method for Practical Crystalline Materials Using Electron Channeling Effects

Research History 4

  1. Nagoya University   Electron Nanoscopy Section, Advanced Measurement Technology Center, Institute of Materials and Systems for Sustainability   Lecturer

    2020.4

      More details

    Country:Japan

  2. Nagoya University   Department of Materials Physics, Graduate School of Engineering   Assistant Professor

    2017.4 - 2020.3

      More details

    Country:Japan

  3. Nagoya University   Department of Materials, Physics and Energy Engineering, Graduate School of Engineering   Assistant Professor

    2012.9 - 2017.3

      More details

    Country:Japan

  4. Foundation for Promotion of Material Science and Technology of Japan

    2009.4 - 2011.9

      More details

    Country:Japan

Education 3

  1. Tokyo University of Science   Graduate School, Division of Natural Science

    2010.4 - 2013.3

      More details

    Country: Japan

  2. Tokyo University of Science   Graduate School, Division of Natural Science

    2007.4 - 2009.3

      More details

    Country: Japan

  3. Tokyo University of Science   Faculty of Science

    2003.4 - 2007.3

      More details

    Country: Japan

Professional Memberships 3

  1. 日本顕微鏡学会

  2. 日本物理学会

  3. 日本金属学会

Committee Memberships 1

  1. The Japanese Society of Microscopy   Subcommittee of young scientists for interdisciplinary microscopic researches  

    2020.4   

      More details

    Committee type:Academic society

Awards 5

  1. 公益社団法人日本顕微鏡学会 第77回学術講演会 優秀ポスター賞(一般部門)

    2021.6   日本顕微鏡学会   HARECXS法を用いたBaTiO3におけるドーパント占有サイトの定量解析

    大塚真弘, 忽那真也, 武藤俊介

     More details

    Award type:Award from Japanese society, conference, symposium, etc. 

  2. 公益社団法人日本顕微鏡学会 第74回学術講演会 優秀ポスター賞

    2019.5   日本顕微鏡学会   STEM-CL法によるナノ分相ガラ スのナノスケール応力マッピング

    山田泰希, 大塚真弘, 吉野晴彦, 安間伸一, 武藤俊介

     More details

    Award type:Award from Japanese society, conference, symposium, etc. 

  3. 公益社団法人日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会 優秀ポスター賞

    2014.5   日本顕微鏡学会   層状構造を有するNaイオン電子正極材料の結晶構造解析

    本田善岳, 北野保行, 武藤俊介, 大塚真弘, 巽一厳, 片岡理樹

     More details

    Award type:Award from Japanese society, conference, symposium, etc. 

  4. 公益社団法人日本顕微鏡学会 第69回学術講演会 優秀ポスター賞

    2013.5   日本顕微鏡学会   Bloch波法によるfrozen lattice近似の計算手法

    山崎貴司, 大塚真弘, 小高康稔, 渡辺和人

     More details

    Award type:Award from Japanese society, conference, symposium, etc. 

  5. 公益社団法人日本顕微鏡学会 第68回学術講演会 優秀ポスター賞

    2012.5   日本顕微鏡学会   最適化手法による明視野STEM検出器の精密位置測定

    山崎貴司, 小高康稔, 大塚真弘, 渡辺和人

     More details

    Award type:Award from Japanese society, conference, symposium, etc. 

 

Papers 22

  1. Structural and chemical modifications of oxides and OH generation by space weathering: Electron microscopic/spectroscopic study of hydrogen-ion-irradiated Al2O3 Reviewed

    Yohei Igami, Shunsuke Muto, Aki Takigawa, Masahiro Ohtsuka, Akira Miyake, Kohtaku Suzuki, Keisuke Yasuda, Akira Tsuchiyam

    Geochimica et Cosmochimica Acta   Vol. 315 ( 15 ) page: 61 - 72   2021.12

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: https://doi.org/10.1016/j.gca.2021.09.031

  2. 2D-HARECXS analysis of dopant and oxygen vacancy sites in Al-doped yttrium titanate Reviewed

    M. Ohtsuka, K. Oda, M. Tanaka, S. Kitaoka, and S. Muto

    Journal of the American Ceramic Society   Vol. 104 ( 7 ) page: 3760 - 3769   2021.7

     More details

    Language:Japanese   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1111/jace.17764

    Web of Science

  3. Quantitative Atomic-Site Analysis of Functional Dopants/Point Defects in Crystalline Materials by Electron-Channeling-Enhanced Microanalysis Reviewed

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto

    Journal of Visualized Experiments   Vol. e62015 ( 171 )   2021.5

     More details

    Language:Japanese   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.3791/62015

    Web of Science

  4. Core−Shell Double Doping of Zn and Ca on β-Ga2O3 Photocatalysts for Remarkable Water Splitting Reviewed

    A. Yamakata, J. J. M. Vequizo, T. Ogawa, K. Kato, S. Tsuboi, N. Furutani, M. Ohtsuka, S. Muto, A. Kuwabara, Y. Sakata

    ACS Catalysis   Vol. 11 ( 4 ) page: 1911 - 1919   2021.2

     More details

    Language:Japanese   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1021/acscatal.0c05104

    Web of Science

  5. Formation of ultra-thin Ge1-xSnx/Ge1-x-ySixSny quantum heterostructures and their electrical properties for realizing resonant tunneling diode Reviewed International coauthorship

    Suwito Galih Ramadana, Fukuda Masahiro, Suprayoga Edi, Ohtsuka Masahiro, Hasdeo Eddwi Hesky, Nugraha Ahmad Ridwan Tresna, Sakashita Mitsuo, Shibayama Shigehisa, Nakatsuka Osamu

    Applied Physics Letters   Vol. 117 ( 23 )   2020.12

     More details

    Language:Japanese   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1063/5.0024905

    Web of Science

  6. Measurement of nanoscale local stress distribution in phase-separated glass using scanning transmission electron microscopy-cathodoluminescence

    Yamada Taiki, Ohtsuka Masahiro, Takahashi Yoshimasa, Yoshino Haruhiko, Amma Shin-ichi, Muto Shunsuke

    MATERIALIA   Vol. 9   2020.3

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1016/j.mtla.2019.100578

    Web of Science

  7. 電子チャネリング効果を利用した結晶材料分析法の現状 Invited Reviewed

    大塚 真弘, 武藤 俊介

    まてりあ   Vol. 58 ( 2 ) page: 73 - 76   2019.2

     More details

    Authorship:Lead author, Corresponding author   Language:Japanese   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.2320/materia.58.73

  8. Proposal for Measuring Magnetism with Patterned Apertures in a Transmission Electron Microscope

    Negi Devendra, Spiegelberg Jakob, Muto Shunsuke, Thersleff Thomas, Ohtsuka Masahiro, Schonstrom Linus, Tatsumi Kazuyoshi, Rusz Jan

    PHYSICAL REVIEW LETTERS   Vol. 122 ( 3 )   2019.1

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1103/PhysRevLett.122.037201

    Web of Science

  9. Cation mixing in LiNi0.8Co0.15Al0.05O2 positive electrode material studied using high angular resolution electron channeling X-ray spectroscopy

    Yamamoto Yu, Ohtsuka Masahiro, Azuma Yosuke, Takahashi Teruo, Muto Shunsuke

    JOURNAL OF POWER SOURCES   Vol. 401   page: 263-270   2018.10

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1016/j.jpowsour.2018.08.100

    Web of Science

  10. Unmixing hyperspectral data by using signal subspace sampling Reviewed

    Jakob Spiegelberg, Shunsuke Muto, Masahiro Ohtsuka, Kristiaan Pelckmans, Ján Rusz

    Ultramicroscopy   Vol. 182   page: 205 - 211   2017.11

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.07.009

    Web of Science

  11. High-precision quantitative atomic-site-analysis of functional dopants in crystalline materials by electron-channelling-enhanced microanalysis

    Muto Shunsuke, Ohtsuka Masahiro

    PROGRESS IN CRYSTAL GROWTH AND CHARACTERIZATION OF MATERIALS   Vol. 63 ( 2 ) page: 40-61   2017.6

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1016/j.pcrysgrow.2017.02.001

    Web of Science

  12. Localization of magnetic circular dichroic spectra in transmission electron microscopy experiments with atomic plane resolution Reviewed

    Ján Rusz, Jakob Spiegelberg, Shunsuke Muto, Thomas Thersleff, Masahiro Ohtsuka, Klaus Leifer, and Peter M. Oppeneer

    Physical Review B   Vol. 95 ( 17 ) page: 174412   2017.5

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1103/PhysRevB.95.174412

    Web of Science

  13. Quantitative determination of occupation sites of trace Co substituted for multiple Fe sites in M-type hexagonal ferrite using statistical beam-rocking TEM-EDXS analysis Reviewed

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi, Yoshinori Kobayashi, Tsunehiro Kawata

    Microscopy   Vol. 65 ( 2 ) page: 127-137   2016.4

     More details

    Authorship:Lead author   Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1093/jmicro/dfv356

  14. Image formation mechanisms of spherical aberration corrected BF STEM imaging methods Reviewed

    Yasutoshi Kotaka, Takashi Yamazaki, Masahiro Ohtsuka, Kazuto Watanabe

    Ultramicroscopy   Vol. 136   page: 119-126   2014.10

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2013.09.005

  15. Bloch wave simulations in the frozen lattice approximation Reviewed

    Takashi Yamazaki, Masahiro Ohtsuka, Yasutoshi Kotaka, Kazuto Watanabe

    Ultramicroscopy   Vol. 135   page: 16-23   2013.5

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2013.05.018

  16. Nonlocality in spherical-aberration-corrected HAADF STEM images Reviewed

    Masahiro Ohtsuka, Takashi Yamazaki, Yasutoshi Kotaka, Hironori Fujisawa, Masaru Shimizu, Koichiro Honda, Iwao Hashimoto, Kazuto Watanabe

      Vol. 69   page: 289-296   2013.4

     More details

    Authorship:Lead author   Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1107/S0108767313005941

  17. Imaging of light and heavy atomic columns by spherical aberration corrected middle-angle bright-field STEM Reviewed

    Masahiro Ohtsuka, Takashi Yamazaki, Yasutoshi Kotaka, Iwao Hashimoto, Kazuto Watanabe

    Ultramicroscopy   Vol. 120   page: 48-55   2012.9

     More details

    Authorship:Lead author   Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2012.06.006

  18. Comparison of Interface Characterization between Ag(In,Ga)Se2 and Cu(In,Ga)Se2 Solar Cells by High-Angle-Annular Dark-Field Scanning Transmission Electron Microscopy Reviewed

    Zhang Xianfeng, Tsuyoshi Kobayashi, Yasuyoshi Kurokawa, Yoshiyuki Tashiro, Masahiro Ohtsuka, Tomoyuki Yamada, Akira Yamada

    Japanese Journal of Applied Physics   Vol. 50   page: 126603   2011.11

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1143/JJAP.50.126603

  19. Effect of convergent beam semiangle on image intensity in HAADF STEM images Reviewed

    Koji Kuramochi, Takashi Yamazaki, Yasutoshi Kotaka, Masahiro Ohtsuka, Iwao Hashimoto, Kazuto Watanabe

    Acta Crystallographica Section A   Vol. 66   page: 10-16   2010

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1107/S0108767309039750

  20. Effect of chromatic aberration on atomic-resolved spherical aberration corrected STEM images Reviewed

    Koji Kuramochi, Yasutoshi Kotaka, Takashi Yamazaki, Masahiro Ohtsuka, Iwao Hashimoto, Kazuto Watanabe

    Ultramicroscopy   Vol. 110   page: 36-42   2009

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2009.09.003

  21. Many-beam dynamical simulation for multilayer structures without a superlattice cell Reviewed

    Masahiro Ohtsuka, Takashi Yamazaki, Iwao Hashimoto, Kazauto Watanabe

    Acta Crystallographica Section A   Vol. 65   page: 135-140   2009

     More details

    Authorship:Lead author   Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1107/S0108767308043316

  22. Quantitative and easy estimation of a crystal bending effect using low-order CBED patterns Reviewed

    Takashi Yamazaki, Akihiro Kashiwagi, Koji Kuramoshi, Masahiro Ohtsuka, Iwao Hashimoto, Kazuto Watanabe

    Journal of Electron Microscopy   Vol. 57   page: 181-187   2008

     More details

    Language:English   Publishing type:Research paper (scientific journal)  

    DOI: 10.1093/jmicro/dfn019

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Presentations 81

  1. 高エネルギー電子プローブを用いたナノ物性計測法の開発と磁性材料への応用

    武藤 俊介, 大塚 真弘

    日本金属学会 2021年秋期第169回講演大会  2021.9.17  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2021.9

    Venue:オンライン   Country:Japan  

  2. [-111]銅単結晶の繰り返し変形により形成されたセル境界のVirtual-STEM法による観察

    宮澤知孝, 梅田侑暉, 藤居俊之, 大塚真弘, 荒井重勇, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021.6.16  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2021.6

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:つくば国際会議場  

  3. 積層セラミックスコンデンサにおけるBaTiO3中のドーパントの占有サイト評価

    忽那真也, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021.6.15  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2021.6

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:つくば国際会議場  

  4. HARECXS法を用いたAl添加Y2Ti2O7におけるドーパントおよび酸素欠陥サイトの解析

    大塚真弘, 田中誠, 北岡諭, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021.6.15  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2021.6

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:つくば国際会議場  

  5. ビームロッキングEDS法によるCaドープBaTiO3のCa位置の解析

    安住成, 津田健治, 森川大輔, 寺内正己, 大塚真弘, 武藤俊介, 符徳勝, 伊藤満

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021.6.15  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2021.6

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:つくば国際会議場  

  6. 可視光発光分光によるナノ分奏ガラスの局所応力分布測定

    武藤俊介, 大塚真弘, 高橋可昌, 吉野晴彦, 安間伸一

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021.6.14  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2021.6

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:つくば国際会議場  

  7. スパースモデリングによるEXELFS解析

    駒井心一, 武藤俊介, 大塚真弘

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021.6  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2021.6

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:つくば国際会議場  

  8. HARECXS法を用いたBaTiO3におけるドーパント占有サイトの定量解析

    大塚真弘, 忽那真也, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第77回学術講演会  2021.6  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2021.6

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:つくば国際会議場  

  9. EMCD 測定による FePt ネットワーク薄膜のスピン配列決定

    牧野仁志, Jan Rusz, Herman A. Durr, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第63回シンポジウム  2020.11  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2020.11

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

  10. 宇宙風化の理解に向けた水素/ヘリウムイオン照射アルミナのナノ電子線分析

    伊神 洋平, 武藤 俊介, 大塚 真弘, 瀧川 晶, 三宅 亮

    JpGU-AGU Joint Meeting 2020  2020.7  日本地球惑星科学連合

     More details

    Event date: 2020.7

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

  11. ビームロッキング分析によるドーパント周りの局所格子歪みと酸素欠損サイトの評価

    大塚真弘, 織田健嗣, 田中誠, 北岡諭, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第76回学術講演会  2020.5  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2020.5

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

  12. STEM-CL によるナノ分相ガラスの局所応力分布測定

    武藤俊介, 山田泰希, 大塚真弘, 高橋可昌, 吉野晴彦, 安間伸一

    日本顕微鏡学会 第76回学術講演会  2020.5  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2020.5

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

  13. EMCD 測定による FePt ネットワーク薄膜のスピン配列決定

    牧野仁志, Herman A. Durr, Jan Rusz, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第76回学術講演会  2020.5  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2020.5

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

  14. 電子チャネリング効果(動力学的回折)を活用したサイト選択的結晶材料分析 Invited

    大塚 真弘

    第9回極限物質科学研究会  2019.9.30  ポスト「京」萌芽的課題 1-1 サブ課題サブ課題C「地球惑星深部物質の構造と物性」「地球惑星深部物質の構造と物性」

     More details

    Event date: 2019.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (invited, special)  

    Venue:TKP東京駅日本橋カンファレンスセンター ミーティングルーム305  

  15. Precession electron diffraction法の鉱物への適用と評価

    三宅 亮, 瀬戸 雄介, 伊神 洋平, 大塚 真弘

    日本鉱物学科学会2019年年会・総会  2019.9.22  日本鉱物科学会

     More details

    Event date: 2019.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:九州大学伊都キャンパス  

  16. 動力学効果を考慮した電子回折パターンの方位解析

    瀬戸 雄介, 大塚 真弘, 伊神 洋平, 三宅 亮

    日本鉱物学科学会2019年年会・総会  2019.9.22  日本鉱物科学会

     More details

    Event date: 2019.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:九州大学伊都キャンパス  

  17. 宇宙風化を模擬した水素イオン照射コランダムのナノオーダー化学状態分析

    伊神 洋平, 武藤 俊介, 大塚 真弘, 山本 悠太, 瀧川 晶, 三宅 亮

    日本鉱物学科学会2019年年会・総会  2019.9.20  日本鉱物科学会

     More details

    Event date: 2019.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:九州大学伊都キャンパス  

  18. ビームロッキングEDS/EELS分析: 電子チャネリング効果を活用したサイト選択的定量組成・電子状態評価 Invited

    大塚 真弘

    第35回分析電子顕微鏡討論会  2019.9.4  日本顕微鏡学会 分析電子顕微鏡討論会

     More details

    Event date: 2019.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (invited, special)  

    Venue:幕張メッセ 国際会議場2階 国際会議室  

  19. 電子チャネリング効果を利用した梯子型超伝導物質Sr14Cu24O41におけるホール分布評価

    大塚 真弘, 武藤 俊介, Ognjen Milat

    日本顕微鏡学会 第75回学術講演会  2019.6.17  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2019.6

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:名古屋国際会議場  

  20. 電子回折解析のためのGUIソフトウェアの開発

    瀬戸 雄介, 大塚 真弘, 伊神 洋平, 三宅 亮

    日本顕微鏡学会 第75回学術講演会  2019  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2019.6

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:名古屋国際会議場  

  21. 星間塵の変成を模擬した水素イオン照射アルミナの組織観察・化学状態分析

    伊神 洋平, 武藤 俊介, 瀧川 晶, 大塚 真弘, 山本 悠太, 三宅 亮

    日本顕微鏡学会 第75回学術講演会  2019  日本顕微鏡学会

     More details

    Event date: 2019.6

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:名古屋国際会議場  

  22. Hole Distribution Analysis of Spin-Ladder Superconducting Materialsusing High-Angular Resolution Electron Channeling Electron Spectroscopy International coauthorship International conference

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto and Ognjen Milat

    The 6th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC6)   2019.6 

     More details

    Event date: 2019.6

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:WINK AICHI, Nagoya   Country:Japan  

  23. 電子チャネリング効果を利用したW型フェライトSrFe18-xZnxO27のサイト選択的電子状態分析

    大塚 真弘, 柳原 颯太, 武藤 俊介, 阿南 義弘

    日本金属学会 2019年春期(第164回)講演大会  2019.3.22  日本金属学会

     More details

    Event date: 2019.3

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:東京電機大学 東京千住キャンパス  

  24. 汎用分析電子顕微鏡による電子チャネリング効果を活用した結晶材料定量分析の進展 Invited

    大塚 真弘

    環境調和材料研究会  2019.3.19  名古屋工業大学エネルギー材料設計研究室

     More details

    Event date: 2019.3

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (invited, special)  

    Venue:名古屋工業大学 1号館1階0113(K2)講義室  

  25. Multiway hyperspectral data analysis of trace element/valence-state in W-type ferrite magnet by concurrent high-angular resolution electron channeling X-ray/electron spectroscopy International coauthorship International conference

    Masahiro Ohtsuka, Souta Yanagihara, Jakob Spiegelberg, Ján Rusz, Shunsuke Muto

    19th International Microscopy Congress (IMC19)  2018.9 

     More details

    Event date: 2018.9

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:International Convention Centre, Sydney   Country:Australia  

  26. Trace dopant/oxygen vacancy site determination in Al-doped Y2T2O7 by 2D electron channeling EDX analysis International coauthorship International conference

    Kenji Oda, Masahiro Ohtsuka, Makoto Tanaka, Satoshi Kitaoka, Shunsuke Muto

    19th International Microscopy Congress (IMC19)  2018.9 

     More details

    Event date: 2018.9

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:International Convention Centre, Sydney   Country:Australia  

  27. Multiway site/element selective chemical analysis of combined X-ray emission/electron energy-loss hyperspectral data using incident electron beam-rocking method International coauthorship

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Jakob Spiegelburg, Yoshihiro Anan and Yoshinori Kobayashi

    11th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’17 (ALC ’17)  2017.12 

     More details

    Event date: 2017.12

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:Aqua Kauai Beach Resort, Kauai, Hawaii   Country:United States  

  28. Quantitative atomic-site-analysis of functional dopants by electron-channeling-enhanced microanalysis International conference

    Masahiro Ohtsuka and Shunsuke Muto

    International Conference on Materials and Systems for Sustainability (ICMaSS) 2017  2017.9 

     More details

    Event date: 2017.9 - 2017.10

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

  29. 原子面分解能EMCD測定における信号の局在化と情報抽出-局在磁気モーメントの原子サイト毎の定量測定へ-

    武藤俊介, 大塚真弘, Jan Rusz, Jakob Spiegelburg

    日本金属学会 2017年秋期(第161回)講演大会 

     More details

    Event date: 2017.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:北海道大学   Country:Japan  

  30. ビームロッキング複合電子顕微分光ハイパースペクトルデータのマルチウェイ解析 International conference

    大塚真弘, 武藤俊介

    日本金属学会 2017年秋期(第161回)講演大会 

     More details

    Event date: 2017.9

    Language:English   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:北海道大学   Country:Japan  

  31. 原子面分解能EMCDによる鉄の結晶粒界における磁気モーメント変化の検出 International conference

    武藤俊介, 大塚真弘, 成瀬大介, Jan Rusz, Jakob Spiegelburg

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

     More details

    Event date: 2017.5 - 2017.6

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:札幌コンベンションセンター   Country:Japan  

  32. 拡張統計アルケミ法によるW型フェライト磁石中の添加Zn置換サイト計測 International conference

    阿南義弘, 小林義徳, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

     More details

    Event date: 2017.5 - 2017.6

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:札幌コンベンションセンター   Country:Japan  

  33. 原子面分解能電子磁気円二色性を用いた定量的ナノ磁性測定の試み

    成瀬太介, 武藤俊介, 大塚真弘, Ján Rusz

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

     More details

    Event date: 2017.5 - 2017.6

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:札幌コンベンションセンター   Country:Japan  

  34. 統計的ALCHEMI法を用いたK1-xNaxNbO3系無鉛圧電材料の添加元素置換サイト解析

    大塚真弘, 山田嗣人, 大林和重, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

     More details

    Event date: 2017.5 - 2017.6

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:札幌コンベンションセンター   Country:Japan  

  35. サイト選択的EELS分析による梯子型超伝導体のホール分布評価の試み

    粂野紘希, 大塚真弘, 武藤俊介, Ognjen Milat

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

     More details

    Event date: 2017.5 - 2017.6

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:札幌コンベンションセンター   Country:Japan  

  36. 複合電子顕微分光によるSr系W型フェライトのMultiway微量元素分析

    大塚真弘, 武藤俊介, Jakob Spiegelburg, 阿南義弘, 小林義徳

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

     More details

    Event date: 2017.5 - 2017.6

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:札幌コンベンションセンター   Country:Japan  

  37. ビームロッキングTEM-EDX分析を用いた耐環境保護膜中の微量添加物占有サイト及び酸素欠損サイトの同定

    織田健嗣, 大塚真弘, 武藤俊介, 田中誠, 北岡諭

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

     More details

    Event date: 2017.5 - 2017.6

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:札幌コンベンションセンター   Country:Japan  

  38. 高角度分解能電子チャンネリング法によるLiNi0.8Co0.15Al0.05O2劣化状態解析 International conference

    山本悠, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第73回学術講演会 

     More details

    Event date: 2017.5 - 2017.6

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:札幌コンベンションセンター   Country:Japan  

  39. Application of statistical beam-rocking TEM-EDX analysis to quantitative occupation site determination of Zn substituted for multiple Fe sites in W-type hexagonal ferrite International conference

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Yoshihiro Anan, Yoshinori Kobayashi

    The 16th European Microscopy Congress 

     More details

    Event date: 2016.8 - 2016.9

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:Lyon Convention Center   Country:France  

  40. Identification of occupation site of Al doped in Y2Ti2O7 based by ab initio calculation and statistical high-angular resolution electron channeling X-ray spectroscopy International conference

    Yoshihiro Obata, Kenji Oda, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Makoto Tanaka, Satoshi Kitaoka

    The 16th European Microscopy Congress 

     More details

    Event date: 2016.8 - 2016.9

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:Lyon Convention Center   Country:France  

  41. 統計的ALCHEMI法を用いたSrZn2-W型フェライトにおけるZn占有サイトの定量解析 International conference

    大塚真弘, 武藤俊介, 阿南義弘, 小林義徳

    日本顕微鏡学会 第72回学術講演会 

     More details

    Event date: 2016.6

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:仙台国際センター   Country:Japan  

  42. HARECXSによる珪線石のAl/Si秩序度測定 International conference

    伊神洋平, 武藤俊介, 大塚真弘, 三宅亮

    日本顕微鏡学会 第72回学術講演会 

     More details

    Event date: 2016.6

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:仙台国際センター   Country:Japan  

  43. 電子顕微鏡によるオリビン中Mサイトの Mg/Fe元素比推定 International conference

    三宅亮, 藤昇一, 福永啓一, 栗林貴弘, 武藤俊介, 大塚真弘, 伊神洋平

    日本顕微鏡学会 第72回学術講演会 

     More details

    Event date: 2016.6

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:仙台国際センター   Country:Japan  

  44. 統計的ALCHEMI法を利用した耐環境保護膜中の軽元素添加物占有サイトの決定 International conference

    織田健嗣, 小幡佳弘, 大塚真弘, 武藤俊介, 田中誠, 北岡諭

    日本顕微鏡学会 第72回学術講演会 

     More details

    Event date: 2016.6

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:仙台国際センター   Country:Japan  

  45. Application of Statistical High-Angular Resolution Electron Channeling X-ray Spectroscopy to Quantitaive Occupation Site Analysis of a Light Element Dopant International conference

    Masahiro Ohtsuka, Kenji Oda, Yoshihiro Obata, Shunsuke Muto, Makoto Tanaka, Satoshi Kitaoka

     More details

    Event date: 2016.5

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:Wink Aichi   Country:Japan  

  46. 統計的ALCHEMI/HARECXS法を用いたZn添加W型フェライト中のZn占有サイト解析

    大塚真弘, 武藤俊介, 阿南義弘, 小林義徳

    日本金属学会 2015年春期(第158回)講演大会 

     More details

    Event date: 2016.3

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:東京理科大学葛飾キャンパス   Country:Japan  

  47. ビームロッキングEDXを用いたドーパント占有サイト評価

    大塚真弘, 武藤俊介

    日本金属学会 2015年秋期講演大会 

     More details

    Event date: 2015.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:九州大学   Country:Japan  

  48. Site occupancy determination of a dopant substituting for multiple sites using beam-rocking TEM-EDX and statistical analysis International conference

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi

    Microscopy Conference 2015 

     More details

    Event date: 2015.9

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Country:Germany  

  49. 統計的ALCHEMI法/動力学計算を用いた磁性材料中の添加元素占有サイト評価

    大塚真弘, 武藤俊介, 巽一厳

    日本顕微鏡学会 第71回学術講演会 

     More details

    Event date: 2015.5

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:京都   Country:Japan  

  50. 統計的ALCHEMI法を用いた占有サイト評価における各種実験条件の依存性

    大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第71回学術講演会 

     More details

    Event date: 2015.5

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:京都   Country:Japan  

  51. 統計的ALCHEMI法と動力学計算を組み合わせた添加元素占有サイトの定量評価

    大塚真弘, 武藤俊介, 市川貴浩, 巽一厳

    日本金属学会 2014年度秋期講演大会 

     More details

    Event date: 2014.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:名古屋   Country:Japan  

  52. ビームロッキング法によるSi-doped GaAsの欠陥構造解析

    市川貴浩, 大塚真弘, 武藤俊介

    日本金属学会 2014年度秋期講演大会 

     More details

    Event date: 2014.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:名古屋   Country:Japan  

  53. Planer defect structure analysis based on electron channeling phenomena International conference

    Takahiro Ichikawa, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto

    18th International Microscopy Congress 

     More details

    Event date: 2014.9

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Country:Japan  

  54. Element/Site-Selective Local Ligand Analysis using High-Angular Resolution Electron Channeled Fluorescent Spectroscopy International conference

    S. Muto, M. Ohtsuka, K. Tatsumi, M. Bosman, H. Yamane

    18th International Microscopy Congress 

     More details

    Event date: 2014.9

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Country:Japan  

  55. Slice-by-slice simulations of absorption potential for high-angular resolution electron channeled X-ray spectroscopy International conference

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto

    18th International Microscopy Congress 

     More details

    Event date: 2014.9

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Country:Japan  

  56. 高角度分解能電子チャネリングX線分光パターンのマルチスライス計算手法

    大塚真弘, 武藤俊介

    日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会 

     More details

    Event date: 2014.5

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:幕張   Country:Japan  

  57. 高角度分解能電子チャネリングX線分光法を用いた欠陥構造解析に関する理論的検討

    市川貴浩, 大塚真弘, 武藤俊介, 巽一厳

    日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会 

     More details

    Event date: 2014.5

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:幕張   Country:Japan  

  58. 高角度分解能電子チャネリングX線分光法を用いた欠陥構造解析の試み

    大塚真弘, 市川貴浩, 武藤俊介, 巽一厳

    日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会 

     More details

    Event date: 2014.5

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:幕張   Country:Japan  

  59. 層状構造を有するNaイオン電池正極材料の結晶構造解析 International conference

    本田善岳, 北野 保行, 武藤 俊介, 大塚 真弘, 巽一厳, 片岡理樹, 境哲男

    日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会 

     More details

    Event date: 2014.5

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:幕張   Country:Japan  

  60. Slice-by-Slice Dynamical Simulation Scheme for High-Angular Resolution Electron Channeled X-ray Spectroscopy International conference

    Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto

    The 4th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations 

     More details

    Event date: 2014.5

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Country:Japan  

  61. Application of HARECXS to Planar Defect Structure Analysis International conference

    Takahiro Ichikawa, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi

    The 4th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations 

     More details

    Event date: 2014.5

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Country:Japan  

  62. Element/Site Selective Analysis by Beam Rocking EELS/EDX Based on Electron Channeling Effect International conference

    Takahiro Ichikawa, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi

    International Symposium on EcoTopia Science '13 

     More details

    Event date: 2013.12

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Country:Japan  

  63. 二次元ビームロッキングによる逆空間走査型サイト選択的分析

    大塚真弘, 市川貴浩, 武藤俊介, 巽一厳

    日本顕微鏡学会 第57回シンポジウム 

     More details

    Event date: 2013.11

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:愛知県産業労働センター(ウインクあいち)   Country:Japan  

  64. 実空間・ 逆空間走査によるサイト選択的測定

    市川貴浩, 大塚真弘, 武藤俊介, 巽一厳

    日本金属学会秋期講演大会(2013) 

     More details

    Event date: 2013.9

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:金沢   Country:Japan  

  65. 2次元ALCHEMIパターンの理論計算を用いた定量解析に関する検討

    大塚真弘, 武藤俊介, 巽一厳, 市川貴浩

    日本金属学会秋期講演大会(2013) 

     More details

    Event date: 2013.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:金沢   Country:Japan  

  66. Bloch波法によるfrozen lattice近似の計算手法

    山崎貴司, 大塚真弘, 小高康稔, 渡辺和人

    日本顕微鏡学会 第69回学術講演会 

     More details

    Event date: 2013.5

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:大阪   Country:Japan  

  67. Bloch波法によるFrozen lattice計算とその応用

    大塚真弘, 山崎貴司, 小高康稔, 橋本巖, 渡辺和人

    日本物理学会 2012年秋季大会 

     More details

    Event date: 2012.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:横浜国立大学   Country:Japan  

  68. Contrast formation mechanism of spherical aberration corrected bright-field STEM images using a middle collection angle International conference

    Masahiro Ohtsuka, Takashi Yamazaki, Yasutoshi Kotaka, Iwao Hashimoto, Kazuto Watanabe

    The 15th European Microscopy Congress 

     More details

    Event date: 2012.9

    Language:English   Presentation type:Poster presentation  

    Country:United Kingdom  

  69. 明視野走査透過電子顕微鏡による原子像 International conference

    大塚真弘, 山崎貴司, 小高康稔, 橋本巖, 渡辺和人

    日本顕微鏡学会 第68回学術講演会 

     More details

    Event date: 2012.5

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:筑波   Country:Japan  

  70. 最適化手法による明視野STEM 検出器の精密位置測定

    山崎貴司, 小高康稔, 大塚真弘, 渡辺和人

    日本顕微鏡学会 第68回学術講演会 

     More details

    Event date: 2012.5

    Language:Japanese   Presentation type:Poster presentation  

    Venue:筑波   Country:Japan  

  71. 高角度明視野走査透過電子顕微鏡の検出器位置の精密測定とその影響

    山崎貴司, 小高康稔, 大塚真弘, 渡辺和人

    日本物理学会 第67回年次大会 

     More details

    Event date: 2012.3

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:大阪   Country:Japan  

  72. 高分解能明視野STEM像のBloch波による解析

    大塚真弘, 山崎貴司, 小高康稔, 橋本巖, 渡辺和人

    日本物理学会 第67回年次大会 

     More details

    Event date: 2012.3

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:大阪   Country:Japan  

  73. HAADF STEM像計算における非局所吸収ポテンシャルの重要性

    大塚真弘, 橋本巖, 渡辺和人,

    日本物理学会 秋季大会 

     More details

    Event date: 2011.9 - 2012.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:富山   Country:Japan  

  74. チタン酸バリウムの構造観察

    岡義人, 高松広輝, 大塚真弘, 加藤大樹, 橋本巖

    日本物理学会 秋季大会 

     More details

    Event date: 2011.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Country:Japan  

  75. BaTiO3の構造と欠陥評価

    岡義人, 高松広輝, 大塚真弘, 加藤大樹, 橋本巖

    日本物理学会 第66回年次大会 

     More details

    Event date: 2011.3

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:新潟   Country:Japan  

  76. 高分解能HAADF STEM像による定量解析における熱散漫散乱の非局在効果

    大塚真弘, 渡辺和人, 橋本巖

    日本物理学会 第66回年次大会 

     More details

    Event date: 2011.3

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:新潟   Country:Japan  

  77. CIGS薄膜太陽電池Zn(S, O, OH)バッファ層および接合界面の構造評価

    田代好之, 大塚真弘, 澁谷一成, 山崎亨, 舩木雅之, 日高悠樹弥, 山田明, 小長井誠

    日本応用物理学会 第57回 春季大会 

     More details

    Event date: 2010.3

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:神奈川   Country:Japan  

  78. 多層構造の高分解能plan-view HAADF STEM像の計算

    大塚真弘, 橋本巖, 渡辺和人

    日本物理学会 第64回年次大会 

     More details

    Event date: 2009.3

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:東京   Country:Japan  

  79. Layer-by-layer法を用いた非整合多層膜の動力学計算Ⅱ

    大塚真弘, 倉持幸治, 橋本巖, 渡辺和人

    日本物理学会 秋季大会 

     More details

    Event date: 2008.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:盛岡   Country:Japan  

  80. Layer-by-Layer法を用いた非整合多層膜の動力学計算 International conference

    大塚真弘, 倉持幸治, 山崎貴司, 渡辺和人, 橋本巖

    日本物理学会 第63回年次大会 

     More details

    Event date: 2008.3

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:大阪   Country:Japan  

  81. 高分解能共焦点STEM像の結像理論とその可能性

    大塚真弘, 倉持幸治, 山崎貴司, 三石和貴, 竹口雅樹, 橋本巖, 渡辺和人

    日本物理学会 第62回年次大会 

     More details

    Event date: 2007.9

    Language:Japanese   Presentation type:Oral presentation (general)  

    Venue:札幌   Country:Japan  

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KAKENHI (Grants-in-Aid for Scientific Research) 8

  1. ナノ電子プローブ実・逆空間走査による統合データ駆動型材料物性解析

    Grant number:21H04616  2021.4 - 2025.3

    科学研究費補助金  

    武藤 俊介

      More details

    Authorship:Coinvestigator(s)  Grant type:Competitive

    本研究の目的は,透過電子顕微鏡法(TEM)の持つ本来の強みを生かした独自の複合電子顕微分光法(Integrated Electron Microscopic Spectrometry: IEMS)による材料中の様々な格子欠陥の構造及び基礎物性をナノメートルスケールで(しかし強く電子ビームを絞らずに)高精度定量計測する新機軸ロバスト手法を確立・検証そして応用することである.また放射光分光との連携によってマルチスケール・マルチモーダルなデータ駆動統合型計測の枠組みを構築し,広く世界に発信する.

  2. Development of dopant environment analysis method using beam-rocking transmission electron microscopy

    Grant number:20K05088  2020.4 - 2023.3

    Japan Society for the Promotion of Science  Grant-in-Aid for Scientific Research  Grant-in-Aid for Scientific Research(C)

    Masahiro Ohtsuka

      More details

    Authorship:Principal investigator  Grant type:Competitive

    Grant amount:\4290000 ( Direct Cost: \3300000 、 Indirect Cost:\990000 )

  3. Extension of dopant occupation site analysis by electron channeling X-ray spectroscopy and electron diffraction mapping

    Grant number:18K13991  2018.4 - 2020.3

    Japan Society for the Promotion of Science  Grant-in-Aid for Scientific Research  Grant-in-Aid for Early-Career Scientists

    Ohtsuka Masahiro

      More details

    Authorship:Principal investigator  Grant type:Competitive

    Grant amount:\4160000 ( Direct Cost: \3200000 、 Indirect Cost:\960000 )

    This study aims to extend the site-selective chemical analysis based on the electron channeling effect, in which incident high-energy electrons are localized along a particular crystallographic site inside a crystalline specimen, by achieving such as a local area analysis and a trace chemical state analysis. By improving an existing beam controlling software, we have developed a measurement system which can fix the electron probe position within a few tens nanometers area, and perform a synchronized acquisition of various spectroscopic and image signals. This analysis method has achieved to analyze multilayer structures by our extension of theoretical calculation algorithm; and it also became possible to determine trace oxygen vacancy sites.

  4. Quantitative analysis of functional elements segregated in general ceramics grain boundaries using nano-electron probe spectroscopy

    Grant number:17K19101  2017.6 - 2019.3

    Japan Society for the Promotion of Science  Grant-in-Aid for Scientific Research  Grant-in-Aid for Challenging Research (Exploratory)

    Shunsuke Muto

      More details

    Authorship:Coinvestigator(s)  Grant type:Competitive

    This study aims to develop a robust scheme to identify the crystallographic sites where functional dopants segregated in general randomly-oriented grain boundaries occupy and their associated chemical states there by combining the dopant analysis using electron beam rocking and advanced spectral imaging techniques.
    we developed a beam controlling software to correct the aberrations of electromagnetic lens of TEM, which enables the incident electron beam to illuminate a sample with parallelly foucued on a area smaller than 100 nm in diameter.
    The present method applied to a Y-doped SrTiO3 grain boundary, and we successfully obtained the X-ray channeling signal from Y, suggesting that Y occupies particular atomic columns and also associated oxygen vacancies are introduced to compensate for the charge imbalance at the position next to the doped Y. The present results are summarized as a review report in the annual bulletin of Japan Institute of Metals.

  5. Local atomic and electronic structure analysis by STEM-EELS/EDX for thermoelectric materials

    Grant number:15K14108  2015.4 - 2017.3

    Japan Society for the Promotion of Science  Grant-in-Aid for Scientific Research  Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research

    Kazuyoshi Tatsumi

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    Authorship:Coinvestigator(s)  Grant type:Competitive

    Grant amount:\3900000 ( Direct Cost: \3000000 、 Indirect Cost:\900000 )

  6. High-resolution integrated spatial/electronic structure analysis of localized functional defects by multi-dimensional spectroscopy with reciprocal space scanning

    Grant number:26249096  2014.4 - 2018.3

    Japan Society for the Promotion of Science  Grant-in-Aid for Scientific Research  Grant-in-Aid for Scientific Research(A)

    Shunsuke Muto

      More details

    Authorship:Coinvestigator(s)  Grant type:Competitive

    In this study we developed state-of-the-art methods that enable physical properties analysis and thier chemical imaging of functional materials at nanometer scale by combining multiple electron spectroscopic methods associated with scanning transmission electron microscopy. The method involves information/statistical methods to process the obtained big size datasets. The methods applied to analyses of environmental, energy, magnetic and biological materials, thereby clarifying the site occupancies and chemical states of dopant elements in manners that the conventional diffraction and microscopic methods have never accessed.

  7. Site-selective analysis of cathodoluminescence of atoms/vacancies by using electron channeling effect

    Grant number:26870271  2014.4 - 2016.3

    Grant-in-Aid for Scientific Research  Grant-in-Aid for Young Scientists(B)

    Masahiro Ohtsuka

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    Authorship:Principal investigator  Grant type:Competitive

    Grant amount:\3900000 ( Direct Cost: \3000000 、 Indirect Cost:\900000 )

  8. Development of nanometer scale electronic state analysis methods

    Grant number:25106004  2013.6 - 2018.3

    Ministry of Education, Culture, Sports, Science and Technology   Grant-in-Aid for Scientific Research  Grant-in-Aid for Scientific Research on Innovative Areas (Research in a proposed research area)

    MUTO SHUNSUKE

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    Authorship:Collaborating Investigator(s) (not designated on Grant-in-Aid) 

    In the present study we aimed to develop novel methods that enable us to analyze and visualize the localized chemical states, thereby applying them to real materials analysis, using transmission electron microscopy and associated spectroscopic methods.
    In particular, we have established the scheme where a large size of datasets are collected as a function of spatial coordinates or diffraction condition by scanning/rocking a fine-focused electron beam on a sample, followed by applying machine learning techniques to the so-called 'big data' obtained to allows us to extract the embedded chemical states.

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Teaching Experience (On-campus) 21

  1. ナノ顕微分光物質科学特別実験及び演習B

    2020

  2. ナノ顕微分光物質科学特別実験及び演習A

    2020

  3. ナノ顕微分光物質科学セミナー1B

    2020

  4. ナノ顕微分光物質科学セミナー1A

    2020

  5. 物質科学特別輪講(ナノ顕微分光物質科学)B

    2020

  6. 物質科学特別輪講(ナノ顕微分光物質科学)A

    2020

  7. 高エネルギー電子分光特論

    2020

  8. 物理工学実験第三

    2020

  9. 物理工学実験第二

    2020

  10. 物理工学実験第一

    2020

  11. 物理工学実験第一

    2019

  12. 物理工学実験第三

    2019

  13. 物理工学実験第二

    2019

  14. 物理工学実験第一

    2018

  15. 量子エネルギー工学学生実験第二

    2017

  16. 量子エネルギー工学学生実験第一

    2016

  17. 量子エネルギー工学学生実験第二

    2016

  18. 量子エネルギー工学学生実験第一

    2015

  19. 量子エネルギー工学学生実験第二

    2015

  20. 量子エネルギー工学学生実験第二

    2014

  21. 量子エネルギー工学学生実験第二

    2013

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Media Coverage 2

  1. 微量異種イオン精密計測 隣り合う酸素空孔も Newspaper, magazine

    株式会社化学工業日報社  化学工業日報  2021.4

     More details

    Author:Other 

  2. 物質移動を支配する欠陥の原子レベル構造を決定 ~微量異種イオンと隣り合う酸素の抜け孔が見えた!~ Internet

    株式会社バイオインパクト  日本の研究.com  https://research-er.jp/articles/view/97979  2021.3