所属
未来材料・システム研究所 附属高度計測技術実践センター 電子顕微鏡計測部 教授
大学院担当
大学院工学研究科
職名
教授
ムトウ シユンスケ
武藤 俊介
MUTO, Shunsuke
研究キーワード
研究キーワード 9
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ナノ領域電子状態
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電子エネルギー損失分光（EELS）
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透過電子顕微鏡（TEM）
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第一原理計算
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画像処理
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材料の物性
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インフォマティクス
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ナノテクノロジー
-
インフォマティクス
研究分野
研究分野 3
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その他 / その他 / 工学@材料工学@金属物性
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その他 / その他 / 工学@材料工学@無機材料・物性
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その他 / その他 / 理学@物理学@固体物性Ｉ（光物性・半導体・誘電体）
現在の研究課題とSDGs
現在の研究課題とSDGs 5
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複合電子顕微分光法による機能材料の先端分析法の開発
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電子磁気円二色性によるナノ領域磁気角運動量測定
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インフォマティクス技術応用による化学イメージング法の開発
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電子チャネリング効果を利用したサイト選択的添加元素分析法の開発とその応用
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HVEM-QMSオペランド観測によるナノ粒子触媒の研究
経歴
経歴 6
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未来材料・システム研究所 高度計測技術実践センター 教授
2015年10月 - 現在
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国名：日本国
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名古屋大学 未来材料・システム研究所 附属高度計測技術実践センター 電子顕微鏡計測部 教授
2015年10月 - 現在
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未来材料・システム研究所 高度計測技術実践センター 教授
2015年10月 - 現在
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エコトピア科学研究所 エネルギー科学部門 教授
2013年4月 - 2015年9月
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国名：日本国
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名古屋大学 グリーンモビリティ連携研究センター 研究開発部門 研究員
2011年4月 - 現在
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名古屋大学 研究開発部門 研究員
2011年4月 - 現在
学歴
学歴 2
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大阪大学 基礎工学研究科 物理学
1984年4月 - 1986年3月
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国名： 日本国
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京都大学 理学部 物理学
1980年4月 - 1984年3月
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国名： 日本国
所属学協会
所属学協会 12
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日本原子力学会 代議員
2015年5月 - 2017年3月
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日本金属学会 分科会委員、学会誌編集委員、奨励賞選考委員、功績賞選考委員
2003年4月 - 現在
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European Materials Research Society
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American Electrochemical Society
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日本物理学会
-
日本顕微鏡学会 評議員、和文誌編集委員、欧文誌編集委員、理事、代議員
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日本顕微鏡学会
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日本金属学会
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日本物理学会
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日本原子力学会
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European Materials Research Society
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American Electrochemical Society
委員歴
委員歴 37
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本多記念研究奨励賞受賞候補者選考委員会 委員
2023年12月 - 2024年1月
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公益社団法人日本顕微鏡学会技術功労賞選考委員会 委員長・主査（主査・理論）
2022年12月 - 2023年12月
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本多記念研究奨励賞受賞候補者選考委員会 委員
2022年12月 - 2023年1月
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あいち産業科学技術総合センター 地域計測分析機器情報提供システム連絡会議委員
2020年2月 - 2022年3月
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独立行政法人日本学術振興会「自律型・複合型AI先端計測の新しい価値創造」に関する研究開発専門委員会 委員
2018年4月 - 2021年3月
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独立行政法人日本学術振興会「自律型・複合型AI先端計測の新しい価値創造」に関する研究開発専門委員会 委員
2018年4月 - 2021年3月
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公益社団法人日本顕微鏡学会第75回学術講演会 実行委員長
2017年4月 - 2019年12月
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公益社団法人日本顕微鏡学会第75回学術講演会 実行委員長
2017年4月 - 2019年12月
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公益社団法人日本セラミックス協会学術写真賞選考委員会 委員長
2015年5月 - 2016年3月
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公益社団法人日本金属学会 奨励賞選考委員会 「物性部門」選考委員
2015年4月 - 現在
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公益社団法人日本金属学会 奨励賞選考委員会 「物性部門」選考委員
2015年4月 - 現在
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公益社団法人日本顕微鏡学会電子顕微鏡解析技術分科会 実行委員
2014年 - 現在
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公益社団法人日本顕微鏡学会電子顕微鏡解析技術分科会 実行委員
2014年 - 現在
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独立行政法人日本学術振興会 特別研究員等審査会及び国際事業委員会 専門委員及び書面審査員
2013年8月 - 2014年7月
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セッション責任者
2013年7月 - 2014年9月
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公益社団法人 日本顕微鏡学会理事会 理事
2013年5月 - 現在
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公益社団法人 日本顕微鏡学会理事会 理事
2013年5月 - 現在
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公益社団法人日本顕微鏡学会分科会「SEMの物理学」 幹事
2013年4月 - 現在
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公益社団法人日本顕微鏡学会分科会「SEMの物理学」 幹事
2013年4月 - 現在
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公益社団法人日本金属学会 功績賞選考委員会 「物性部門」選考委員
2013年4月 - 2014年3月
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公益社団法人日本金属学会分科会(第１分科 エネルギー材料） 委員
2013年3月 - 現在
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公益社団法人日本金属学会分科会(第１分科 エネルギー材料） 委員
2013年3月 - 現在
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公益社団法人日本顕微鏡学会学会賞選考委員会(奨励賞） 委員長Ⅲ 物質系応用研究主査
2012年12月 - 2013年11月
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公益社団法人日本金属学会第63回金属組織写真賞委員会 委員
2012年11月
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公益社団法人日本金属学会第63回金属組織写真賞委員会 委員
2012年11月
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公益社団法人日本顕微鏡学会学会賞選考委員会分野C 応用研究（非生物）委員
2011年11月 - 2012年12月
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組織委員
2009年5月 - 2010年7月
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公益社団法人日本金属学会和文誌・欧文誌編集委員会 編集委員
2008年3月 - 2010年3月
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組織委員
2007年12月 - 2008年7月
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最先端の電子顕微鏡と理論計算に関する国際シンポジウム組織委員会 委員
2007年10月 - 2008年6月
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公益社団法人日本顕微鏡学会欧文誌編集委員会 編集委員
2007年2月 - 2013年3月
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原子力研究・教育広域連携懇談会 研究連携WG委員
2005年10月 - 2007年3月
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公益社団法人 日本顕微鏡学会 評議員
2005年6月 - 2007年5月
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公益社団法人日本金属学会分科会 委員
2005年4月 - 現在
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公益社団法人日本金属学会分科会 委員
2005年4月 - 現在
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公益社団法人日本顕微鏡学会和文誌編集委員会 編集委員
2005年4月 - 2011年3月
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第16回国際顕微鏡学会プログラム委員会 委員
2004年8月 - 2006年9月
受賞
受賞 24
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日本顕微鏡学会学会賞（瀬藤賞）
2010年5月 日本顕微鏡学会
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受賞国：日本国
-
日本電子顕微鏡学会2002年第17回論文賞
2002年
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受賞国：日本国
-
2009年論文賞（顕微鏡基礎部門）
2009年5月 日本顕微鏡学会
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受賞国：日本国
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International Metallographic Contest:Class 3, First Place
2001年
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優秀ポスター賞
2024年6月 日本顕微鏡学会 組成相関図を利用したSTEM-EDSおよびSTEM-EELSデータ解析の連携
大藤 久遠，中谷 昂平，武藤 俊介
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受賞区分：国内学会・会議・シンポジウム等の賞 受賞国：日本国
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まてりあ賞
2023年9月 日本金属学会 先端材料開発に向けた，AI先端計測技術の多角的視点からの考察(第1,2回”
岡本和也, 杉山昌章, 武藤俊介, 青柳里果, 冨谷茂隆
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受賞区分：学会誌・学術雑誌による顕彰 受賞国：日本国
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優秀ポスター賞 [一般「顕微鏡技術（装置・手法系）」]
2023年6月 日本顕微鏡学会 電子チャネリングカソードルミネッセンス分光による原子振動情報抽出
大塚 真弘, 久保田 潮, 武藤 俊介
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受賞区分：国内学会・会議・シンポジウム等の賞 受賞国：日本国
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優秀ポスター賞 [学生「材料科学」部門]
2023年6月 日本顕微鏡学会 超高圧 TEM-QMS-GC による ZrO2担持 Rh 微粒子触媒反応機構解析
唐 龍樹, 前出 淳志, 石川 裕之, 田中 展望, 荒井 重勇, 樋口 哲夫, 武藤 俊介
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受賞区分：国内学会・会議・シンポジウム等の賞 受賞国：日本国
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優秀ポスター賞
2023年3月 日本金属学会 超高圧TEM-QMS-GCによるZrO2担持Rh微粒子触 媒反応機構解析
唐龍樹、前出淳志、石川裕之、田中天望、荒井重勇、樋口哲夫、武藤俊介
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受賞区分：国内学会・会議・シンポジウム等の賞 受賞国：日本国
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文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ 令和4年度秀でた利用成果 優秀賞
2023年2月 文部科学省 異種金属添加光触媒ヘマタイトメソ結晶のSTEM分析
立川貴士、戸澤友和、丸山秀夫、武藤俊介
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受賞国：日本国
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優秀ポスター賞 [一般部門]
2021年6月 日本顕微鏡学会 HARECXS法を用いたBaTiO3におけるドーパント占有サイトの定量解析
大塚 真弘, 忽那 真也, 武藤 俊介
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受賞区分：国内学会・会議・シンポジウム等の賞 受賞国：日本国
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優秀ポスター賞
2020年9月 日本金属学会 質量分析計搭載反応科学超高圧電子顕微鏡によるRh/ZrO2系自動車排気ガス浄化モデル触媒のNO還元反応オペランド計測
前出淳志、田中天望、菅沼拓也、荒井重勇、樋口哲夫、武藤俊介
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受賞区分：国内学会・会議・シンポジウム等の賞 受賞国：日本国
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2020年論文賞（非生物系）
2020年7月 日本顕微鏡学会 Twinned/untwinned catalytic gold nanoparticles identified by applying a convolutional neural network to their Hough transformed Z-contrast images
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受賞区分：学会誌・学術雑誌による顕彰 受賞国：日本国
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2020年論文賞（非生物系）
2020年7月 日本顕微鏡学会 Twinned/untwinned catalytic gold nanoparticles identified by applying a convolutional neural network to their Hough transformed Z-contrast images
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受賞区分：学会誌・学術雑誌による顕彰 受賞国：日本国
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文科省 ナノテクノロジープラットフォーム令和元年度「秀でた利用成果」最優秀賞
2020年4月 文科省 ナノテクノロジープラットフォーム事業 ガス環境下における自動車触媒ナノ粒子のオペランドTEM観察
田中 展望，菅沼 拓也，樋口 哲夫，武藤 俊介
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受賞国：日本国
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文科省 ナノテクノロジープラットフォーム令和元年度「秀でた利用成果」最優秀賞
2020年4月 文科省 ナノテクノロジープラットフォーム事業 ガス環境下における自動車触媒ナノ粒子のオペランドTEM観察
田中 展望, 菅沼 拓也, 樋口 哲夫, 武藤 俊介
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受賞国：日本国
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2018年優秀論文賞（応用研究部門；材料系）
2018年5月 日本顕微鏡学会 Quantitative analysis of cation mixing and local valence states in LiNixMn2−xO4 using concurrent HARECXS and HARECES measurements
Yu Yamamoto, Kunimitsu Kataoka, Junji Akimoto, Kazuyoshi Tatsumi, Takashi Kousaka, Jun Ohnishi, Teruo Takahashi, and Shunsuke Muto
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受賞国：日本国
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2018年優秀論文賞（応用研究部門；材料系）
2018年5月 日本顕微鏡学会 Quantitative analysis of cation mixing and local valence states in LiNixMn2−xO4 using concurrent HARECXS and HARECES measurements
Yu Yamamoto, Kunimitsu Kataoka, Junji Akimoto, Kazuyoshi Tatsumi, Takashi Kousaka, Jun Ohnishi, Teruo Takahashi, Shunsuke Muto
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受賞国：日本国
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日本顕微鏡学会第66回学術講演会 優秀ポスター賞（材料部門）
2010年5月 日本顕微鏡学会
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受賞国：日本国
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触媒学会５０周年記念・第１４回国際触媒会議プレシンポジウム 最優秀ポスター賞
2008年7月 日本触媒学会
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受賞国：日本国
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第101回触媒討論会優秀ポスター賞
2008年3月 日本触媒学会
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受賞国：日本国
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金属組織写真賞
2001年
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受賞国：日本国
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International Metallographic Contest
1993年
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金属組識写真賞
1993年
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受賞国：日本国
論文
論文 245
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Magnetic measurements with atomic plane resolution 査読有り
J. Rusz, S. Muto, J. Spiegelberg, R. Adam, K. Tatsumi, D. E. Burgler, P. M. Oppeneer, C. M. Schneider
Nature Communications 7 巻 頁： 12672 2016年8月
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Quantitative characterisation of nanoscale polycrystalline magnets with electron magnetic circular dichroism 査読有り
Shunsuke Muto, Ján Rusz, Kazuyoshi Tatsumi, Roman Adam, Shigeo Arai, Vancho Kocevski, Peter M. Oppeneer, Daniel E. Bürgler & Claus M. Schneider
Nature Communications 5 巻 ( 3138 ) 頁： 1-7 2014年1月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
Electron magnetic circular dichroism (EMCD) allows the quantitative, element-selective determination of spin and orbital magnetic moments, similar to its well-established X-ray counterpart, X-ray magnetic circular dichroism (XMCD). As an advantage over XMCD, EMCD measurements are made using transmission electron microscopes, which are routinely operated at sub-nanometre resolution, thereby potentially allowing nanometre magnetic characterization. However, because of the low intensity of the EMCD signal, it has not yet
been possible to obtain quantitative information from EMCD signals at the nanoscale. Here we demonstrate a new approach to EMCD measurements that considerably enhances the outreach of the technique. The statistical analysis introduced here yields robust quantitative EMCD signals. Moreover, we demonstrate that quantitative magnetic information can be
routinely obtained using electron beams of only a few nanometres in diameter without imposing any restriction regarding the crystalline order of the specimen. -
Spin crossover and iron-rich silicate melt in the Earth's deeep mantle 査読有り
R.Nomura, H.Ozawa, S.Tateno, K.Hirose, J.Hernlund, S.Muto, H.Ishii and N.Hiraoka
NATURE 473 巻 頁： 199-202 2011年5月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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*Novel valence state of cerium in Ce2Zr2O7.5 elucidated by electron energy-loss spectroscopy under electron channeling conditions 査読有り
S. Arai, S. Muto, T. Sasaki, K. Tatsumi, Y. Ukyo, K. Kuroda and H. Saka
Solid State Communications 135 巻 頁： 664-667 2005年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
In the present study, we show, by electron energy loss spectroscopy (EELS) measurements under electron channeling conditions, the existence of a novel valence state for the cerium atoms in Ce2Zr2O7.5, where the valence state is split into two states, with the ions exhibiting a trivalent character (Ce3+) when facing oxygen planes with oxygen vacancies, and a tetravalent character (Ce4+) when facing oxygen planes with no oxygen vacancies. This result should prompt reconsideration of the conventional concept of the valence fluctuation in rare earth compounds.
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*Local electronic structure analysis by site-selective ELNES using electron channeling and first-principles calculations 招待有り 査読有り
K. Tatsumi and S. Muto
J. Phys.: Condens. Matter 21 巻 頁： 104213 (14 pages) 2009年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Site-specific electronic configurations of Fe 3d states by energy loss by channeled electrons 査読有り
K. Tatsumi, S. Muto, I. Nishida and J. Rusz
Applied Physics Letters 96 巻 頁： 201911 (3 pages) 2010年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
Site-specific configurations of Fe 3d electrons in a spinel ferrite were investigated by electron energy loss spectroscopy (EELS) under electron channeling conditions. Site-specific spectra were extracted by applying a multivariate curve resolution (MCR) technique to the data set. An electronic difference in the Fe sites caused by ligand field splitting of trivalent Fe was probed. This demonstrated the promise of site-specific valence and spin state analysis in spintronics applications of spinel ferrites.
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*Spectral restoration and energy resolution improvement of electron energy-loss spectra by Pixon reconstruction: I. Principle and test examples 査読有り
S. Muto, R. C. Puetter and K. Tatsumi
Journal of Electron Microscopy 55 巻 頁： 215-223 2006年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
We applied Pixon deconvolution as introduced in Part I to several practical, examples of low signal-to-noise ratio (SNR), electron energy-loss spectra with a goal toward restoring their fine spectral features and/or improving the energy resolution. We demonstrate that by directly fitting the two-dimensional spectral data recorded on the CCD; the method enables us to reveal fine spectral structures. Consequently, Pixon reconstruction extends the ability to probe electronic states in very spatially localized areas, a capability currently unique to our method.
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Mapping of heterogeneous chemical states of lithium in a LiNiO2-based active material by electron energy-loss spectroscopy 査読有り
S. Muto, K. Tatsumi, T. Sasaki, H. Kondo, T. Ohsuna, K. Horibuchi and Y. Takeuchi
Electrochemical Solid-State Letters 13 巻 ( 8 ) 頁： A115-117 2010年5月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
It is difficult to analyze the local concentrations and chemical states of lithium in lithium-ion secondary battery electrodes by microanalysis techniques based on TEM because the core excitation spectra of transition metals invariably overlap with the absorption/emission spectra of Li-K. We propose a promising analysis method that enables the spatial distribution of lithium with different chemical states from the original phase in a LiNiO2-based positive electrode to be visualized. It employs a suite of spectrum imaging techniques including scanning transmission electron microscopy, electron energy-loss spectroscopy, and multivariate curve resolution. This method is successfully applied to a cross-sectioned positive electrode.
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Detection of hydrogen at localized regions by unoccupied electronic states in iron carbides: towards high spatial resolution mapping of hydrogen distributions 査読有り
K. Tatsumi, S. Muto and T. Yoshida
Journal of Applied Physics 101 巻 頁： 023523-1-7 2007年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
In the present study, we examined the effects of hydrogen on electron energy-loss and x-ray absorption spectra of the iron carbides. The experimentally obtained spectral changes were interpreted on the basis of first principles
calculations for a model structure of the Fe–C–H system. Finally, we demonstrate high spatial resolution imaging of hydrogen distributions in iron-carbon systems by an energy-filtering transmission electron microscopy technique, utilizing the present spectral changes associated with
hydrogen incorporation. -
電子エネルギー損失スペクトル微細構造解析の軽元素分析への応用 招待有り 査読有り
武藤 俊介
顕微鏡 41 巻 ( 1 ) 頁： 26-31 2006年3月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
本論文はエネルギー損失分光法（EELS）の優位性を生かし，ELNES，EXELFSを利用してとりわけ軽元素原子の複合欠陥やその結合状態の分析についての様々な応用例を紹介する．
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Local atomic and electronic structures around Mg and Al dopants in LiNiO2 electrodes studied by XANES and ELNES and first-principles calculations 査読有り
K. Tatsumi, Y. Sasano, S. Muto, T. Yoshida, T. Sasaki, K. Horibuchi, Y. Takeuchi and Y. Ukyo
Physical Review B 78 巻 頁： 045108(1-8) 2008年7月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
We investigated the local atomic and electronic structures around the dopants Mg and Al in a LiNiO2-based cathode material by the combination analysis of their K shell electron energy loss near edge structures (ELNES) and x-ray absorption near edge structures (XANES), and first-principles calculations. The occupation sites of the dopants in initial and cycled samples were examined. On the basis of the atomic structures and chemical bonding states of the models whose theoretical spectra were most consistent with the experimental spectra, we discussed the effects of Al and Mg on Li diffusion and their roles in suppressing the degradation of battery properties.
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Hydrogen trapping state associated with the low temperature thermal desorption spectroscopy peak in hydrogenated nanostructured graphite 査読有り
Y. Miyabe, T. Yoshida, S. Muto, T. Kiyobayashi and H. Wasada
Journal of Applied Physics 104 巻 頁： 044311 2008年4月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Quantitative determination of site occupancy of multi-rare-earth elements doped into Ca2SnO4 phosphor by electron channeling microanalysis 査読有り
Y. Fujimichi, S. Muto, K. Tatsumi, T. Kawano and H. Yamane
journal of Solid State Chemistry 183 巻 頁： 2127-2132 2010年8月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Capacity fading mechanism of LiNiO2-based lithium ion batteries: II. Diagnostic analysis by electron microscopy and spectroscopy 査読有り
S. Muto, Y. Sasano, K. Tatsumi, T. Sasaki, K. Horibuchi, Y. Takeuchi and Y. Ukyo
J. Electrochem. Soc. 156 巻 頁： A371-A377 2009年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Grazing-incidence electron microscopy of surface blisters in single- and polycrystalline tungsten formed by H+, D+ and He+ irradiation 査読有り
N. Enomoto, S. Muto, T. Tanabe, J. W. Davis and A. A. Haasz
J. Nucl. Mater. 385 巻 頁： 606-614 2009年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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A study on the relationship of magnetic moments orientation in L10 FePt network nanostructured film by electron energy-loss magnetic chiral dichroism using semi-core excitation spectra 査読有り 国際共著
H. Makino, J. Rusz, J. Wang, D. Turenne, M. Ohtsuka, Y. K. Takahashi, H. A. Dürr, S. Muto
Journal of Magnetism and Magnetic Materials 558 巻 頁： 169522 2022年9月
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Makino, H; Rusz, J; Wang, J; Turenne, D; Ohtsuka, M; Takahashi, YK; Dürr, HA; Muto, S
JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS 558 巻 2022年9月
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Anode Properties of NaTi2(PO4)(3) Prepared by Adding Excess Na2CO3 for Aqueous Sodium-Ion Batteries
Kitajou Ayuko, Yamashita Maho, Kobayashi Wataru, Okada Masaki, Nanami Takuma, Muto Shunsuke
ACS APPLIED ENERGY MATERIALS 5 巻 ( 8 ) 頁： 9587 - 9594 2022年8月
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Automating ALCHEMI at the nano-scale using software compatible with PC-controlled transmission electron microscopy
Ishizuka Akimitsu, Ohtsuka Masahiro, Muto Shunsuke
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY 55 巻 頁： 551 - 557 2022年6月
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Binary dopant segregation enables hematite-based heterostructures for highly efficient solar H2O2 synthesis
Zhang Zhujun, Tsuchimochi Takashi, Ina Toshiaki, Kumabe Yoshitaka, Muto Shunsuke, Ohara Koji, Yamada Hiroki, Ten-no Seiichiro L., Tachikawa Takashi
NATURE COMMUNICATIONS 13 巻 ( 1 ) 2022年3月
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STEM-EELS Spectrum Imaging of an Aerosol-Deposited NASICON-Type LATP Solid Electrolyte and LCO Cathode Interface
Muto Shunsuke, Yamamoto Yuta, Sakakura Miyuki, Tian Hong-Kang, Tateyama Yoshitaka, Iriyama Yasutoshi
ACS APPLIED ENERGY MATERIALS 5 巻 ( 1 ) 頁： 98 - 107 2022年1月
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Structural and chemical modifications of oxides and OH generation by space weathering: Electron microscopic/spectroscopic study of hydrogen-ion-irradiated Al2O3
Igami Yohei, Muto Shunsuke, Takigawa Aki, Ohtsuka Masahiro, Miyake Akira, Suzuki Kohtaku, Yasuda Keisuke, Tsuchiyama Akira
GEOCHIMICA ET COSMOCHIMICA ACTA 315 巻 頁： 61 - 72 2021年12月
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Dynamics of Rh nanoparticle surface structure during NO reduction revealed by operando transmission electron microscopy
Tanaka Hiromochi, Orita Koji, Maede Atsushi, Ishikawa Hiroyuki, Miura Masahide, Arai Shigeo, Higuchi Tetsuo, Ohta Shigemasa, Muto Shunsuke
APPLIED CATALYSIS A-GENERAL 626 巻 2021年9月
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2D-HARECXS analysis of dopant and oxygen vacancy sites in Al-doped yttrium titanate 査読有り
Ohtsuka, M; Oda, K; Tanaka, M; Kitaoka, S; Muto, S
JOURNAL OF THE AMERICAN CERAMIC SOCIETY 104 巻 ( 7 ) 頁： 3760 - 3769 2021年7月
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Quantitative Atomic-Site Analysis of Functional Dopants/Point Defects in Crystalline Materials by Electron-Channeling-Enhanced Microanalysis 査読有り
Ohtsuka Masahiro, Muto Shunsuke
JOVE-JOURNAL OF VISUALIZED EXPERIMENTS ( 171 ) 2021年5月
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Twinned/untwinned catalytic gold nanoparticles identified by applying a convolutional neural network to their Hough transformed Z-contrast images (vol 67, pg 321, 2018) 査読有り
Yamamoto Yuta, Hattori Mizuki, Ohyama Junya, Satsuma Atsushi, Tanaka Nobuo, Muto Shunsuke
MICROSCOPY 68 巻 ( 2 ) 頁： 194 - 194 2019年4月
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Control of surface potential and hydroxyapatite formation on TiO2 scales containing nitrogen-related defects 査読有り
Hashimoto Masami, Ogawa Takafumi, Kitaoka Satoshi, Muto Shunsuke, Furuya Maiko, Kanetaka Hiroyasu, Abe Masayuki, Yamashita Hayato
ACTA MATERIALIA 155 巻 頁： 379 - 385 2018年8月
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EPR Study of Porous Si:C and SiO2:C Layers
Savchenko Dariya, Vasin Andrii, Muto Shunsuke, Kalabukhova Ekaterina, Nazarov Alexei
PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS 255 巻 ( 6 ) 2018年6月
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Interfacial fracture strength evaluation of Cu/SiN micro-components: applicability of the linear fracture mechanics criterion under a hydrogen environment 査読有り
Takahashi Yoshimasa, Ashida Itaru, Arai Shigeo, Higuchi Kimitaka, Yamamoto Yuta, Muto Shunsuke
INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE 210 巻 ( 1-2 ) 頁： 223 - 231 2018年3月
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Unmixing hyperspectral data by using signal subspace sampling
Spiegelberg Jakob, Muto Shunsuke, Ohtsuka Masahiro, Pelckmans Kristiaan, Rusz Jan
ULTRAMICROSCOPY 182 巻 頁： 205 - 211 2017年11月
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High-precision quantitative atomic-site-analysis of functional dopants in crystalline materials by electron-channelling-enhanced microanalysis
Muto Shunsuke, Ohtsuka Masahiro
PROGRESS IN CRYSTAL GROWTH AND CHARACTERIZATION OF MATERIALS 63 巻 ( 2 ) 頁： 40 - 61 2017年6月
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Localization of magnetic circular dichroic spectra in transmission electron microscopy experiments with atomic plane resolution
Rusz Jan, Spiegelberg Jakob, Muto Shunsuke, Thersleff Thomas, Ohtsuka Masahiro, Leifer Klaus, Oppeneer Peter M.
PHYSICAL REVIEW B 95 巻 ( 17 ) 2017年5月
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Towards sub-nanometer real-space observation of spin and orbital magnetism at the Fe/MgO interface
Thersleff Thomas, Muto Shunsuke, Werwinski Miroslaw, Spiegelberg Jakob, Kvashnin Yaroslav, Hjorvarsson Bjorgvin, Eriksson Olle, Rusz Jan, Leifer Klaus
SCIENTIFIC REPORTS 7 巻 2017年3月
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Microscopic origin of ultra-low friction coefficient between the wear track formed on carbon nitride coating and transfer layer on sliding ball in friction tests under dry N-2
Inoue Hiroshi, Muto Shunsuke, Arai Shigeo, Wasada Hiroaki, Umehara Noritsugu
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY 313 巻 頁： 31 - 39 2017年3月
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Detection of local chemical states of lithium and their spatial mapping by scanning transmission electron microscopy, electron energy-loss spectroscopy and hyperspectral image analysis 査読有り
Muto Shunsuke, Tatsumi Kazuyoshi
MICROSCOPY 66 巻 ( 1 ) 頁： 39 - 49 2017年2月
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Dopant site occupancies and iron valence states in SrZnxFe18-xO27 W-type hexaferrites using site-selective X-ray/electron spectroscopy 査読有り 国際誌
M. Ohtsuka, Y. Anan, S. Muto
Journal of Alloys and Compounds 1005 巻 ( 176028 ) 2024年11月
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Cell structure development during cyclic deformation of near-[001] and near-[011] copper single crystals 査読有り 国際誌
B. Wang, H. Shi, T. Miyazawa, M. Ohtsuka, S. Muto, S. Arai, T. Fujii
Materials Science and Engineering: A ( 147357 ) 2024年10月
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Diamond/graphene (carbon sp3‑sp2) heterojunctions for neuromorphic device applications 査読有り 国際誌
H. Iwane, G. Saito, S. Muto, K. Ueda
Journal of Materials Research 39 巻 ( 15 ) 頁： 2107 - 2114 2024年7月
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High-pressure synthesis, crystal structure and anisotropic thermal/ compressive behaviors of pseudo-ternary (V,Cr,Mo)P4 査読有り 国際誌
C.-C. Chang, T. Sasaki, S. Muto, N. A. Gaida, K. Niwa, M. Hasegawa
Journal of Solid State Chemistry 340 巻 ( 125021 ) 2024年7月
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Development of an integrated high-voltage electron microscope–gas chromatograph–quadrupole mass spectrometer system for the operando analysis of catalytic gas reactions 査読有り 国際誌
L. Tang, T. Higuchi, S. Arai, H. Tanaka, S. Muto
Microscopy 73 巻 ( 4 ) 頁： 358 - 366 2024年2月
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Cathode properties of controlled crystallinity nano-Li1.2Cr0.4Mn0.4O2 cathode for lithium ion batteries 査読有り 国際誌
A. Kitajou, S. Matsuda, K. Ohara, K. Ikeda, S. Muto
RSC Mechanochemistry 2024年
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担当区分：最終著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Al-Zn-Mg合金の微細組織形成に及ぼす焼き入れ速度の影響 査読有り 国際誌
愛須優輝, 一谷幸司, 田中宏樹, 齊藤元貴, 武藤俊介, 岡島敏浩
「軽金属」 73 巻 ( 12 ) 頁： 616 - 621 2023年12月
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Formation mechanism of dislocation network of cell structure in cyclically deformed near-[-1 1 1 ]copper single crystals 査読有り 国際誌
B. Wang, Y. Umeda, T. Miyazawa, M. Ohtsuka, S. Muto, S. Arai, T. Fujii
Materials Science & Engineering A 879 巻 ( 145287 ) 2023年10月
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Stain-free mapping of polymer-blend morphologies via application of high-voltage STEM-EELS hyperspectral imaging to low-loss spectra 査読有り 国際誌
Umemoto Hiroki, Arai Shigeo, Otobe Hirohide, Muto Shunsuke
POLYMER JOURNAL 55 巻 ( 9 ) 頁： 997 - 1006 2023年9月
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Cathode Properties of xLiF-LiCrO2 Composites (x=0-1.5) Prepared by Dry Ball-Milling Method for Lithium Ion Batteries 査読有り 国際誌
Kitajou Ayuko, Hiroi Satoshi, Ohara Koji, Ikeda Kazutaka, Nanami Takuma, Muto Shunsuke
JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C 127 巻 ( 6 ) 頁： 2866 - 2874 2023年2月
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Cathode properties of xLiF-LiCrO2 composites (x = 0-1.5) prepared by dry ball-milling method for lithium ion batteries 査読有り
A. Kitajou, S. Hiroi, K. Ohara, K. Ikeda, T. Nanami, S. Muto
J. Phys. Chem. C 127 巻 頁： 2866 - 2874 2023年
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Formation mechanism of dislocation network of cell structure in cyclically deformed near-[1¯11] copper single crystals 査読有り 国際共著
B. Wang, Y. Umeda, T. Miyazawa, M. Ohtsuka, S. Muto, S. Arai, T. Fujii
Materials Science and Engineering: A 879 巻 頁： 145287 2023年
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Anode Properties of NaTi2(PO4)3 Prepared by Adding Excess Na2CO3 for Aqueous Sodium-Ion Batteries 査読有り
Ayuko Kitajou*Ayuko Kitajou Graduate School of Sciences and Technology for Innovation, Yamaguchi University, 2-16-1 Tokiwadai, Ube 755-8611, Yamaguchi, Japan *Email: kitajou@yamaguchi-u.ac.jp More by Ayuko Kitajou Orcidhttps://orcid.org/0000-0002-7639-2990 , Maho Yamashita, Wataru Kobayashi, Masaki Okada, Takuma Nanami, and Shunsuke Muto
ACS Applied Energy Materials 5 巻 ( 8 ) 頁： 9587 - 9594 2022年8月
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先端材料開発に向けた，AI先端計測技術の多角的視点からの考察(第1回) 査読有り
岡本和也, 杉山昌章, 武藤俊介, 青柳里果, 冨谷茂隆
日本金属学会会報「まてりあ」 61 巻 ( 8 ) 頁： 470 - 478 2022年
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担当区分：責任著者 記述言語：日本語
本論文はエネルギー損失分光法（EELS）の優位性を生かし，ELNES，EXELFSを利用してとりわけ軽元素原子の複合欠陥やその結合状態の分析についての様々な応用例を紹介する．
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低カウントのスペクトラムイメージ解析のための機械学習法 査読有り
志賀元紀, 武藤俊介
顕微鏡 57 巻 ( 2 ) 頁： 65 - 69 2022年
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担当区分：責任著者 記述言語：日本語
本論文はエネルギー損失分光法（EELS）の優位性を生かし，ELNES，EXELFSを利用してとりわけ軽元素原子の複合欠陥やその結合状態の分析についての様々な応用例を紹介する．
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先端材料開発に向けた，AI先端計測技術の多角的視点からの考察(第2回) 査読有り
岡本和也, 杉山昌章, 武藤俊介, 青柳里果, 冨谷茂隆
日本金属学会会報「まてりあ」 61 巻 ( 9 ) 頁： 579 - 587 2022年
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担当区分：責任著者 記述言語：日本語
本論文はエネルギー損失分光法（EELS）の優位性を生かし，ELNES，EXELFSを利用してとりわけ軽元素原子の複合欠陥やその結合状態の分析についての様々な応用例を紹介する．
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Structural and chemical modifications of oxides and OH generation by space weathering: Electron microscopic/spectroscopic study of hydrogen-ion-irradiated Al2O3 査読有り
Y. Igami, S. Muto, A. Takigawa, M. Ohtsuka, A. Miyake, K. Suzuki, K. Yasuda, A. Tsuchiyama
Geochimica et Cosmochimica Acta 2021年12月
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Dynamics of Rh Nanoparticle Surface Structure during NO Reduction Revealed by Operando Transmission Electron Microscopy 査読有り
H. Tanaka, K. Orita, A. Maede, H. Ishikawa, M. Miura, S. Arai, T. Higuchi, S. Ohta, S. Muto
Applied Catalysis A: General 2021年9月
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Preparation of silver-decorated Soluplus (R) nanoparticles and antibacterial activity towards S. epidermidis biofilms as characterized by STEM-CL spectroscopy 査読有り
Takahashi Chisato, Yamada Tomomi, Yagi Shinya, Murai Takaaki, Muto Shunsuke
MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING C-MATERIALS FOR BIOLOGICAL APPLICATIONS 121 巻 頁： 111718 2021年2月
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次元削減法とそのスペクトル解析への応用 査読有り
武藤俊介, 志賀元紀
日本鉄鋼協会「ふぇらむ」 26 巻 ( 7 ) 頁： 32-40 2021年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
本論文はエネルギー損失分光法（EELS）の優位性を生かし，ELNES，EXELFSを利用してとりわけ軽元素原子の複合欠陥やその結合状態の分析についての様々な応用例を紹介する．
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Electron and Ion Transfer across Interfaces of the NASICON-Type LATP Solid Electrolyte with Electrodes in All-Solid-State Batteries: A Density Functional Theory Study via an Explicit Interface Model 査読有り 国際共著 国際誌
Tian Hong-Kang, Jalem Randy, Gao Bo, Yamamoto Yuta, Muto Shunsuke, Sakakura Miyuki, Iriyama Yasutoshi, Tateyama Yoshitaka
ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES 12 巻 ( 49 ) 頁： 54752 - 54762 2020年12月
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Core–Shell Double Doping of Zn and Ca on β-Ga 2 O 3 Photocatalysts for Remarkable Water Splitting 査読有り
11 巻 頁： 1911 - 1919 2020年12月
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スペクトラムイメージデータのノイズ処理と信号抽出の最近の進展 招待有り 査読有り
武藤俊介, 志賀元紀
顕微鏡 55 巻 ( 2 ) 頁： 60 - 64 2020年8月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
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Application of machine learning techniques to electron microscopic/spectroscopic image data analysis 招待有り 査読有り
Muto Shunsuke, Shiga Motoki
MICROSCOPY 69 巻 ( 2 ) 頁： 110 - 122 2020年4月
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Evolution from UV emission of phenyl groups to visible emission of pyrolytic nanocarbons dispersed in fumed silica: Alternative insight into photoluminescence of carbon nanodots
Vasin A. V., Muto S., Ishikawa Y., Kysil D. V, Sevostianov S. V, Isaieva O. F., Rudko G. Yu, Yatskiv R., Starik S., Tertykh V. A., Nazarov A. N., Lysenko V. S.
JOURNAL OF LUMINESCENCE 219 巻 頁： 116926 - 116926 2020年3月
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Measurement of nanoscale local stress distribution in phase-separated glass using scanning transmission electron microscopy-cathodoluminescence
Yamada Taiki, Ohtsuka Masahiro, Takahashi Yoshimasa, Yoshino Haruhiko, Amma Shin-ichi, Muto Shunsuke
MATERIALIA 9 巻 2020年3月
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Methods for Calibration of Specimen Temperature During In Situ Transmission Electron Microscopy Experiments
Gaulandris Fabrizio, Simonsen Soren B., Wagner Jakob B., Molhave Kristian, Muto Shun, Kuhn Luise T.
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 26 巻 ( 1 ) 頁： 3 - 17 2020年2月
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STEM-EELS analysis of the interface structures of composite ASS-LIB electrodes fabricated via aerosol deposition
Yamamoto Yuta, Iriyama Yasutoshi, Muto Shunsuke
JOURNAL OF THE AMERICAN CERAMIC SOCIETY 103 巻 ( 2 ) 頁： 1454 - 1462 2020年2月
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Single-pass STEM-EMCD on a zone axis using a patterned aperture: progress in experimental and data treatment methods
Thersleff Thomas, Schonstrom Linus, Tai Cheuk-Wai, Adam Roman, Burgler Daniel E., Schneider Claus M., Muto Shunsuke, Rusz Jan
SCIENTIFIC REPORTS 9 巻 2019年12月
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Interfacial oxygen vacancies yielding long-lived holes in hematite mesocrystal-based photoanodes 国際誌
Zhang Zhujun, Karimata Izuru, Nagashima Hiroki, Muto Shunsuke, Ohara Koji, Sugimoto Kunihisa, Tachikawa Takashi
NATURE COMMUNICATIONS 10 巻 ( 1 ) 頁： 4832 - 4832 2019年10月
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Non-negative Matrix Factorization and Its Extensions for Spectral Image Data Analysis
Shiga Motoki, Muto Shunsuke
E-JOURNAL OF SURFACE SCIENCE AND NANOTECHNOLOGY 17 巻 頁： 148 - 154 2019年9月
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Environmental high-voltage S/TEM combined with a quadrupole mass spectrometer for concurrent in situ structural characterization and detection of product gas molecules associated with chemical reactions 査読有り
Muto Shunsuke, Arai Shigeo, Higuchi Tetsuo, Orita Koji, Ohta Shigemasa, Tanaka Hiromochi, Suganuma Takuya, Ibe Masaya, Hirata Hirohito
MICROSCOPY 68 巻 ( 2 ) 頁： 185 - 188 2019年4月
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Proposal for Measuring Magnetism with Patterned Apertures in a Transmission Electron Microscope 査読有り
Negi Devendra, Spiegelberg Jakob, Muto Shunsuke, Thersleff Thomas, Ohtsuka Masahiro, Schonstrom Linus, Tatsumi Kazuyoshi, Rusz Jan
PHYSICAL REVIEW LETTERS 122 巻 ( 3 ) 頁： 037201 2019年1月
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Oguni, K; Sato, K; Ishii, Y; Ishikawa, Y; Kawasaki, S; Vasin, A; Muto, S
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS 439 巻 頁： 22 - 33 2019年1月
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Twinned/untwinned catalytic gold nanoparticles identified by applying a convolutional neural network to their Hough transformed Z-contrast images 査読有り
Yamamoto Yuta, Hattori Mizuki, Ohyama Junya, Satsuma Atsushi, Tanaka Nobuo, Muto Shunsuke
MICROSCOPY 67 巻 ( 6 ) 頁： 321 - 330 2018年12月
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MC3T3-E1 Cellular Response and Protein Detection on Surface Potential-Controlled TiO2 Scale in Serum-Containing Medium 査読有り
M. Hashimoto, T. Ogawa, S. Kitaoka, S. Muto, M. Furuya, H. Kanetaka, M. Abe, H. Yamashita
Key Engineering Materials 782 巻 頁： 218-223 2018年10月
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Cation mixing in LiNi0.8Co0.15Al0.05O2 positive electrode material studied using high angular resolution electron channeling X-ray spectroscopy 査読有り
Yamamoto Yu, Ohtsuka Masahiro, Azuma Yosuke, Takahashi Teruo, Muto Shunsuke
JOURNAL OF POWER SOURCES 401 巻 頁： 263 - 270 2018年10月
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Progress in nanoinformatics and informational materials science 招待有り 査読有り
Seko Atsuto, Toyoura Kazuaki, Muto Shunsuke, Mizoguchi Teruyasu, Broderick Scott
MRS BULLETIN 43 巻 ( 9 ) 頁： 690 - 695 2018年9月
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Evaluation of delamination strength of bonded micro-components: a nano-indenter technique combined with environmental microscopy
Takahashi Yoshimasa, Kishimoto Kaname, Higuchi Kimitaka, Yamamoto Yuta, Arai Shigeo, Muto Shunsuke
2018 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MICRO-NANOMECHATRONICS AND HUMAN SCIENCE (MHS) 頁： . 2018年
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A microscopy method for scanning transmission electron microscopy imaging of the antibacterial activity of polymeric nanoparticles on a biofilm with an ionic liquid
Takahashi Chisato, Muto Shunsuke, Yamamoto Hiromitsu
JOURNAL OF BIOMEDICAL MATERIALS RESEARCH PART B-APPLIED BIOMATERIALS 105 巻 ( 6 ) 頁： 1432 - 1437 2017年8月
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High-precision quantitative atomic-site-analysis of functional dopants in crystalline materials by electron-channelling-enhanced microanalysis 査読有り
S. Muto, M. Ohtsuka
Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials 63 巻 頁： 40-61 2017年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Localization of magnetic circular dichroic spectra in transmission electron microscopy experiments with atomic plane resolution 査読有り
J. Rusz, J. Spiegelberg, S. Muto, T. Thersleff, M. Ohtsuka, K. Leifer, P. M. Oppeneer
PHYSICAL REVIEW B 95 巻 頁： 174412 2017年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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In situ TEM analysis of a symmetric solid oxide cell in oxygen and vacuum-cation diffusion observations 査読有り
F. Gualandris, S. B. Simonsen, J. B. Wagner, S. Sanna, S. Muto, L. Theil Kuhn
ECS Transactions 75 巻 頁： 123-133 2017年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Microscopic origin of ultra-low friction coefficient between the wear track formed on carbon nitride coating and transfer layer on sliding ball in friction tests under dry N2 査読有り
H. Inoue, S. Muto, S. Arai, H. Wasada, N. Umehara
Surface &Coating Technology 313 巻 頁： 31-39 2017年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Towards sub-nanometer real-space observation of spin and orbital magnetism at the Fe/MgO interface 査読有り
T. Thersleff, S. Muto, M. Werwinski, J. Spiegelberg, Y. Kvashnin, B. Hjorvarsson, O. Eriksson, J. Rusz, K. Leifer
SCIENTIFIC REPORTS 7 巻 頁： 44802 2017年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Unmixing hyperspectral data by using signal subspace sampling 査読有り
J. Spiegelberg, S. Muto, M. Ohtsuka, K. Pelckmans, J. Rusz
Ultramicroscopy 182 巻 頁： 205-211 2017年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Control of HAp Formation and Osteoconductivity on Nitrogen-Doped TiO2 Scale Formed by Oxynitridation of Ti 査読有り
M. Hashimoto, S. Kitaoka, Y. Obata, S. Muto, T. Ogawa, M. Furuya, H. Kanetaka
Key Engineering Materials 758 巻 頁： 86-89 2017年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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In situ TEM analysis of a symmetric solid oxide cell in oxygen and vacuum cation diffusion observations
Gualandris F., Simonsen S. B., Wagner J. B., Sanna S., Muto S., Kuhn L. Theil
SOLID STATE IONIC DEVICES 11 75 巻 ( 42 ) 頁： 123-133 2017年
詳細を見る
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High-precision quantitative atomic-site-analysis of functional dopants in crystalline materials by electron-channelling-enhanced microanalysis 査読有り
S. Muto, M. Ohtsuka
Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials 63 巻 頁： 40-61 2017年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Control of HAp Formation and Osteoconductivity on Nitrogen-Doped TiO2 Scale Formed by Oxynitridation of Ti 査読有り
M. Hashimoto, S. Kitaoka, Y. Obata, S. Muto, T. Ogawa, M. Furuya, H. Kanetaka
Key Engineering Materials 758 巻 頁： 86-89 2017年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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In situ TEM analysis of a symmetric solid oxide cell in oxygen and vacuum-cation diffusion observations 査読有り
F. Gualandris, S. B. Simonsen, J. B. Wagner, S. Sanna, S. Muto, L. Theil Kuhn
ECS Transactions 75 巻 頁： 123-133 2017年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Unmixing hyperspectral data by using signal subspace sampling 査読有り
J. Spiegelberg, S. Muto, M. Ohtsuka, K. Pelckmans, J. Rusz
Ultramicroscopy 182 巻 頁： 205-211 2017年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Towards sub-nanometer real-space observation of spin and orbital magnetism at the Fe/MgO interface 査読有り
T. Thersleff, S. Muto, M. Werwinski, J. Spiegelberg, Y. Kvashnin, B. Hjorvarsson, O. Eriksson, J. Rusz, K. Leifer
SCIENTIFIC REPORTS 7 巻 頁： 44802 2017年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Microscopic origin of ultra-low friction coefficient between the wear track formed on carbon nitride coating and transfer layer on sliding ball in friction tests under dry N2 査読有り
H. Inoue, S. Muto, S. Arai, H. Wasada, N. Umehara
Surface &Coating Technology 313 巻 頁： 31-39 2017年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Localization of magnetic circular dichroic spectra in transmission electron microscopy experiments with atomic plane resolution 査読有り
J. Rusz, J. Spiegelberg, S. Muto, T. Thersleff, M. Ohtsuka, K. Leifer, P. M. Oppene
PHYSICAL REVIEW B 95 巻 頁： 174412 2017年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Sparse modeling of EELS and EDX spectral imaging data by nonnegative matrix factorization 査読有り
M. Shiga, K. Tatsumi, S. Muto, K. Tsuda, Y. Yamamoto, T. Mori, T. Tanji
Ultramicroscopy 170 巻 頁： 43-59 2016年8月
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Structure analysis of topmost Layer of CNx after repeated sliding using scanning transmission electron microscopy electron energy-loss spectroscopy 査読有り
H. Inoue, S. Muto, X. Deng, S. Arai, N. Umehara
Thin Solid Films 616 巻 頁： 134-140 2016年
詳細を見る
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A microscopy method for scanning transmission electron microscopy imaging of the antibacterial activity of polymeric nanoparticles on a biofilm with an ionic liquid 査読有り
C. Takahashi, S. Muto, H. Yamamoto
Journal of Biomedical Materials Research Part B:Applied Biomaterials 500 巻 2016年
詳細を見る
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Quantitative analysis of cation mixing and local valence states in LiNixMn2-xO4 using concurrent HARECXS and HARECES measurements 査読有り
Y. Yamamoto, K. Kataoka, J. Akimoto, K. Tatsumi, T. Kousaka, J. Ohnishi, T. Takahashi, S. Muto
Microscopy 65 巻 頁： 253-262 2016年
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Multicomponent A-site ordered perovskite BiMn3(Fe0.25Ti0.75)4O12 : High-pressure synthesis, crystal Chemistry and magnetic behavior 査読有り
G. Shimura, K.Nowa, Y. Shirako, S. Muto, K. Kusaba, M. Hasegawa
Solid State Communications 234-235 巻 頁： 40-44 2016年
詳細を見る
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The microstructure of scale formed by oxynitriding of Ti and exhibiting significant apatite-forming ability 査読有り
M. Hashimoto, S. Kitaoka, S. Muto, K. Kazuyoshi, Y. Obata
Journal of Materials Research 31 巻 頁： 1004-1011 2016年
詳細を見る
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Union operation image processing of data cubes separately processed by different objective filters and its application to void analysis in an all-solid-state lithium-ion battery 査読有り
Y. Yamamoto, Y. Iriyama, S. Muto
Microscopy 65 巻 頁： 191-198 2016年
詳細を見る
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M.Ohtsuka, S. Muto, K. Tatsumi, Y. Kobayashi, T. Kawata
Microscopy 65 巻 頁： 127-137 2016年
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Interfacial fracture strength of micro-scale Si/Cu components with different free-edge shape 査読有り
Y. Takahashi, H. Kondo, K. Aihara, M. Takuma, K. Saitoh, S. Arai, S. Muto, Y. Yamamoto, K. Higuchi, N. Tanaka
Key Engineering Materials 665 巻 頁： 169-172 2016年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Matrix Factorization for Automatic Chemical Mapping from Electron Microscopic Spectral Imaging Datasets 査読有り
M. Shiga, S. Muto, K. Tatsumi, K. Tsuda
Transactions of the Materials Research Society of Japan 41 巻 頁： 333-336 2016年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Change in Relative Density of Natural Rock Minerals Due to Electron Irradiation 査読有り
I. Maruyama, S. Muto
Journal of Advanced Concrete Technology 14 巻 頁： 706-716 2016年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Evaluation of interfacial fracture strength in micro-components with different free-edge shape 査読有り
Y. Takahashi, K. Aihara, I. Ashida, K. Higuchi, Y. Yamamoto, S. Arai, S. Muto, N. Tanaka
Mechanical Engineering Journal 3 巻 頁： 1-10 2016年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Effects of nitrogen-related defects on visible light photocatalytic response in N+ implanted TiO2: A first-principles study 査読有り
Junya Senga, Kazuyoshi Tatsumi, Shunsuke Muto, Tomoko Yoshida
Journal of Applied Physics 118 巻 頁： 115702-1-6 2015年9月
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Yoshitake Honda, Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi, Hiroki Kondo, Kayo Horibuchi, Tetsuro Kobayashi, Tsuyoshi Sasaki
Journal of Power Sources 291 巻 頁： 85-94 2015年4月
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Evalution of Interfacial Fracture Strength in Micro-Scale Components Combined with High-Voltage Environmental Electron Microscopy 査読有り
Y. Takahashi, S. Arai, Y. Yamamoto, K. Higuchi, H. Kondo, Y. Kitagawa, S. Muto, N. Tanaka
Experimental Mechanics 55 巻 頁： 1047-1056 2015年
詳細を見る
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High-pressure synthesis and Sn valence state analysis of BaTiO3-SnO solid solution 査読有り
Shoichiro Suzuki, Ken Niwa, Atsushi Honda, Shunsuke Muto, Akira Ando, Masashi Hasegawa
Journal of Materials Society 29 巻 2014年12月
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Depth distribution of dopant effective for visible-light response in nitrogen-doped TiO2 photocatalyst 査読有り
T. Yoshida, E. Kuda, S. Muto
Surface and Interface Analysis 2014年
詳細を見る
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Growth of rectangular hollow tube crystals with rutile-type structure in supercritical fluids 査読有り
K. Niwa, H. Ikegaya, T. Taguchi, S. Muto, T. Tokunaga and M. Hasegawa
J. Physics: Conf.Ser. 500 巻 2014年
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Signal enhancement of electron magnetic circular dichroism by ultra-high-voltage TEM, toward quantitative nano-magnetism measurements 査読有り
K. Tatsumi, S. Muto, J. Rusz, T. Kudo, S. Arai
Microscopy 63 巻 頁： 243-247 2014年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Discovery of the Last Remaining Binary Platinum-Group Pernitride RuN2 査読有り
K. Niwa, K. Suzuki, S. Muto, K. Tatsumi, K. Soda, T. Kikegawa, M. Hasegawa
Chemistry - A European Journal 20 巻 頁： 1-5 2014年
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In Situ Transmission Electron Microscopy of Ionic Conductivity and Reaction Mechanisms in Ultrathin Solid Oxide Fuel Cells 査読有り
A. H. Tavabi, S. Arai, S. Muto, T. Tanji, R. E. Dunin-Borkowski
Microscopy and Microanalysis 20 巻 頁： 1817 2014年
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Development of an environmental high voltage electron microscope and its application to nano and bio-materials 査読有り
N. Tanaka, J. Usukura, M. Kusunoki, Y. Saito, K. Sasaki, T. Tanji, S. Muto, S. Arai
Journal of Physics: Conference Series 522 巻 頁： 12008 2014年
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Energy Loss by Channeled Electrons: A Quantitative Study on Transition Metal Oxides 査読有り
K.Tatsumi, S.Muto, and J.Rusz
Microscopy and Microanalysis 頁： 1-9 2013年8月
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Development of an environmental high-voltage electron microscope for reaction science 査読有り
N.Tanaka, J.Usukura, M.Kusunoki, Y.Saito, K.Sasaki, T.Tanji, S. Muto, S.Arai
Microscopy 62 巻 頁： 205-215 2013年3月
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New algorithm for efficient Bloch-waves calculations of orientation-sensitive ELNES 査読有り
J. Rusz, S. Muto, K. Tatsumi
Ultramicroscopy 125 巻 頁： 81-88 2013年2月
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Parameter-free extraction of EMCD from an energy-filtered diffraction datacube using multivariate curve resolution 査読有り
S. Muto, K. Tatsumi, J. Rusz
Ultramicroscopy 125 巻 頁： 89-96 2013年2月
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White light emission from amorphous silicon-oxycarbide materials 査読有り
Y. Ishikawa , K. Sato, S. Kawasaki, Y. Ishii, A. Matsumura and S. Muto
Physica Status Solidi A 209 巻 ( 6 ) 頁： 1022-1025 2012年6月
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Effect of Mg-doping on the degradation of LiNiO2-based cathode materials by combined spectroscopic methods 査読有り
S. Muto, K. Tatsumi, Y. Kojima, H. Oka, H. Kondo, K. Horibuchi and Y. Ukyo
Journal of Power Sources 205 巻 頁： 449-455 2012年5月
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Chemical Bonding of AlH3 Hydride by Al-L2,3 Electron Energy-Loss Spectra and First-Principles Calculations 査読有り
K. Tatsumi, S. Muto, K. Ikeda and S. Orimo
Materials 5 巻 頁： 566-574 2012年3月
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電子顕微鏡分光と第一原理計算によるリチウム電池正極の機能元素電子状態解析 査読有り
巽一厳、武藤俊介、近藤広規、佐々木厳、右京良雄
日本セラミックス協会「セラミックス」 47 巻 ( 7 ) 頁： 528-533 2012年
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記述言語：日本語
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Spin-filter tunnel junction with matched Fermi surfaces 査読有り
T. Harada, I. Ohkubo, M. Lippmaa, Y. Sakurai, Y. Matsumoto, S. Muto, H. Koinuma, and M. Oshima
Phys. Rev. Lett. 109 巻 頁： 076602-1-5 2012年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Effect of Synthesis Process on Luminescence Properties and Structure of Mesoporous Carbon-Silica Nanocomposite 査読有り
K. Sato, Y. Ishikawa, Y. Ishii, S. Kawasaki, S. Muto and Y. Yamamoto
Jpn. J. Appl. Phys. 51 巻 頁： 082402-1-5 2012年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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STEM-EELS多変量解析を用いたLi化学状態マッピング 招待有り 査読有り
武藤俊介，巽一厳，近藤広規，堀渕嘉代，右京良雄介
顕微鏡 47 巻 頁： 印刷中 2012年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
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多変量スペクトル解析によるナノ物性マッピング 招待有り 査読有り
武藤俊介
日本金属学会会報「まてりあ」 51 巻 ( 9 ) 頁： 415-422 2012年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
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最先端ナノ電子分光データの統計処理による物性画像診断 招待有り 査読有り
武藤俊介
SCANS NEWS 2012-Ⅰ 35 巻 頁： 3-6 2012年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
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Large Tunnel Magnetoresistance in Epitaxial Oxide Spin-Filter Tunnel Junctions 査読有り
T.Harada, I. Ohakubo, M.Lippmaa, Y.Sakurai, Y.Matsumoto, S. Muto, H.Koinuma, M.Oshima
ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS 21 巻 頁： 4471-4475 2012年
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反応科学超高圧電子顕微鏡の開発 査読有り
田中信夫、臼倉治郎、楠美智子、斎藤弥八、佐々木勝寛、丹治敬義、武藤俊介、荒井重勇
顕微鏡 46 巻 頁： 156-159 2011年9月
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記述言語：日本語
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Site occupancy determination of Eu/Y doped in Ca2SnO4 phosphor by electron channeling microanalysis 査読有り
S. Muto, Y. Fujimichi, K. Tatsumi, H. Yamane and T. Kawano
Optical Materials 33 巻 頁： 1015-1018 2011年5月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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各種信号処理・統計的手法の電子顕微鏡データへの応用-Application of Signal Processing and Statistical Processing to Electron Microscopic Datasets- 査読有り
武藤俊介
顕微鏡 46 巻 頁： 24-29 2011年3月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
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The growth of carbon coating layers on iron particles and the effect of alloying the iron with silicon 査読有り
H. Tokoro, S. Fujii, Y. Kobayashi and S. Muto
Journal of Alloys and Compounds 509 巻 頁： 1378-1383 2011年1月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Comparative study of annealing and oxidation effects in a SiC:H and a-SiC thin films deposited by radio-frequency magnetron sputtering 査読有り
A.V. Vasin, S. Muto, Y. Ishikawa, A.V. Rusavsky, V.S. Lysenko and A.N.Nazarov
Thin Solid Films 519 巻 頁： 2218-2224 2011年1月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Growth and structure of an ultrathin tin oxide film on Rh(111) 査読有り
J. Yuhara, D. Tajima, T. Matsui, K. Tatsumi, S. Muto, M. Schmid and P. Varga
J. Appl. Phys. 109 巻 ( 2 ) 頁： 024903(5pages) 2011年1月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Attribution of white-light emitting centers with carbonized surface in nano-structured SiO2:C layers 査読有り
A.V.vasin, S.Muto, Y.Ishikawa, J. Salonen, A.N.nazarov, V.S.Lysenko
Thin Solid Films 519 巻 頁： 4008-4011 2011年1月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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アルミニウム水素化物の合成および原子配置と水素放出特性 査読有り
池田一貴，大友季哉，武藤俊介，折茂慎一
Ceramics Japan 46 巻 頁： 174-177 2011年
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記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Degradation analysis of a Ni-based layered positive-electrode active material cycled at elevated temperatures studied by scanning transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy 査読有り
Y.Kojima, S.Muto, K.Tatsumi, H.Kondo, H.Oka, K.Horibuchi and Y.Ukyo
Journal of Power Sources 196 巻 頁： 7721-7727 2011年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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放射光・電子分光法融合による触媒活性種の化学状態解析 査読有り
吉田朋子、武藤俊介
触媒 53 巻 ( 4 ) 頁： 228-234 2011年
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記述言語：日本語
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The valence state and partitioning of iron in the Earth's lowermost mantle 査読有り
R. Sinmyo, K. Hirose, S. Muto, Y. Ohishi and A. Yasuhara
Jornal of Geophysical Research 116 巻 頁： B07205-1-9 2011年
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Microstructures and Reaction Mechanism of Aluminum Hydride 査読有り
S. Muto
Highlights of Collaborated Research 46 巻 頁： 47 2010年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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種々の電子状態評価技法の比較― ELNES に基づく化学結合性の議論― 招待有り 査読有り
武藤俊介，巽 一厳
顕微鏡 44 巻 ( 3 ) 頁： 191-198 2009年10月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
電子エネルギー損失分光法（EELS）における内殻励起スペクトル（ELNES）の解釈のためには，第一原理計算に基づく理論予測ス
ペクトルとの比較が必要になる．近年，この目的のためにいくつかのプログラムコードが公開されており，比較的手軽にスペクト
ル予測が可能となってきた．本稿では，ELNES の理論計算のための基礎知識を簡単に説明した後，一般に公開されている代表的な
プログラムの特徴と使用上の注意を比較してまとめ，ELNES から化学結合状態を議論するための手順について紹介する．最後にケーススタディとして，異なる酸素配位環境にある金属酸化物の理論ELNES を本稿で紹介したいくつかの方法で実際に計算して，それぞれの化学結合状態に関して具体的に比較検討する． -
Clustering of germanium atoms in silica glass responsible for the 3.1 eV emission band studied by optical absorption and X-ray absorption fine structure analysis 査読有り
T. Yoshida, S. Muto, L. Yuliati, H. Yoshida and Y. Inada
J. Nucl. Mater. 386-388 巻 頁： 1010-1013 2009年9月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Thermoelectric properties of Ba3Co2O6(Co3)0.7 containing one-dimensional CoO6 octahedral columns 査読有り
K. Iwasaki, T. Yamamoto, H. Yamane, T. Takeda, S. Arai, H. Miyazaki, K. Tatsumi, M. Yoshino, T. Ito, Y. Arita, S. Muto, T. Nagasaki and T. Matsui
J. Appl. Phys. 106 巻 ( 3 ) 頁： 034905(5pages) 2009年8月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Dehydriding process of a-AlH3 observed by transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy 査読有り
S. Muto, K. Tatsumi, K. Ikeda and S. Orimo
Journal of Applied Physics 105 巻 頁： 123514 (4pages) 2009年6月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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複合電子分光による機能元素分析と物性画像診断 招待有り 査読有り
武藤俊介，吉田朋子，巽一厳
日本金属学会会報「まてりあ」 48 巻 ( 6 ) 頁： 290-293 2009年6月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
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*Diagnostic nano-analysis of materials properties by multivariate curve resolution applied to spectrum images by S/TEM-EELS 査読有り
S. Muto, T. Yoshida and K. Tatsumi
Materials Transactions 50 巻 頁： 964-969 2009年5月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Local electronic and atomic structures of Ce3+-containing fluoride/oxide by TEM-EELS and first principles calculations 査読有り
I. Nishida, K. Tatsumi and S. Muto
Materials Transactions 50 巻 ( 5 ) 頁： 952-958 2009年5月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Capacity fading mechanism of LiNiO2-based lithium ion batteries: I. Analysis by electrochemical and spectroscopic examination 査読有り
T. Sasaki, T. Nonaka, H. Oka, C. Okuda, Y. Itou, Y. Kondo, Y. Takeuchi, Y. Ukyo, K. Tatsumi and S. Muto
J. Electrochem. Soc. 156 巻 頁： A289-A293 2009年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Dehydriding reaction of AlH3: in-situ microscopic observations combined with thermal and surface analyses 査読有り
K. Ikeda, S. Muto, K. Tatsumi, M. Menjo, S. Kato, M. Bielmann, A. Zuttel, C. M. Jensen and S Orimo
Nanotechnology 20 巻 頁： 204004 (4 pages) 2009年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Chemical state analysis of implanted nitrogen in visible-light response TiO2 photo-catalyst 招待有り 査読有り
T. Yoshida and S. Muto
Transaction of Materials Research Society Japan 33 巻 ( 2 ) 頁： 339-344 2008年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Color Control of White Photoluminescence from Carbon Incorporated Silicon Oxide 査読有り
Y. Ishikawa, A.V. Vasin, J. Salonen, S. Muto, V.S. Lysenko, A.N. Nazarov, N. Shibata, and V.-P. Lehto, J. Appl. Phys. 104 (2008) 083522.
J. Appl. Phys. 104 巻 頁： 083522 2008年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Energy drifts correction of electron energy-loss spectra for prolonged data accumulation of low SNR signals 査読有り
Y. Sasano and S. Muto
Journal of Electron Microscopy 57 巻 頁： 149-158 2008年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Site-selective electronic structure of aluminum in oxide ceramics obtained by TEM-EELS analysis using the electron standing-wave method 査読有り
Y. Yamamoto, K. Tatsumi and S. Muto
Materials Transaction 48 巻 頁： 2590-2594 2007年12月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Depth-resolved EELS and chemical state mapping of N+-implanted TiO2 photocatalyst 査読有り
T. Yoshida, S. Muto and J. Wakabayashi
Materials Transaction 48 巻 頁： 2580-2584 2007年12月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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位置選択的電子エネルギー損失分光法によるナノ表面・界面電子状態測定とその空間分布の可視化 招待有り
武藤俊介，吉田朋子
表面 45 巻 ( 2 ) 頁： 27-38 2007年2月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
TEM分析において特に発展著しい電子エネルギー損失分光法（EELS）による局所領域の化学結合分析に焦点を絞り，最近の二次元位置敏感検出器の特性を活かして電子を小さく絞らずにナノメートル領域の分析を行う手法とその応用を紹介
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Nano-Order Structural Analysis of White Light-Emitting Silicon Oxide Prepared by Successive Thermal Carbonization/Oxidation of the Porous Silicon 査読有り
S. Muto, A. V. Vasin, Y. Ishikawa, N. Shibata, J. Salonen, and V-P. Lehto
Materials Science Forum 561-565 巻 頁： 1127-1130 2007年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Site-by-site Electronic Structure Analysis of Al-containing Complex Compounds Using Channeling EELS and First Principles Calculations 査読有り
K. Tatsumi, Y Yamamoto and S. Muto
Materials Science Forum 561-565 巻 頁： 2091-2094 2007年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Hydrogen Quasi-Chemically Trapped Between Defective Graphene Layers in Nanostructured Graphite 査読有り
Y. Miyabe, T. Yoshida, S, Muto and T. Kiyobayashi
Materials Science Forum 561-565 巻 頁： 1585-1588 2007年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Depth selective electronic state analysis of implanted nitrogen in visible-light response TiO2 photocatalyst 査読有り
T. Yoshida, S. Muto and J. Wakabayashi
Materials Sciencd Forum 561-565 巻 頁： 567-570 2007年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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In situ observation of reversible oxygen absorption/release of ceria-zirconia solid solution with Pt particles by TEM and EELS 査読有り
S. Arai, S. Muto, T. Sasaki, Y. Ukyo, K. Kuroda, H. Saka
Electrochem. Solid-State Lett. 9 巻 頁： E1-E3 2006年4月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Spectral restoration and energy resolution improvement of electron energy-loss spectra by Pixon reconstruction: I.Principle and test examples 査読有り
S. Muto, R. C. Puetter and K. Tatsumi
Journal of Electron Microscopy 54 巻 ( 4 ) 頁： 215-223 2006年4月
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Fe-Co and Fe-Ni magnetic fine particles encapsulated by graphite carbon 査読有り
H. Tokoro, S. Fujii, S. Muto and S. Nasu
J. Appl. Phys. 99 巻 頁： 08Q512 2006年4月
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Intercalated hydrogen in nanostructured graphite studied by electron energy-loss spectroscopy and molecular orbital calculation 査読有り
T. Kimura, S. Muto, K. Tatsumi, T. Tanabe and T. Kiyobayashi
Journal of Alloys and Compounds 413 巻 ( 1-2 ) 頁： 150-154 2006年3月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
Hydrogen loosely trapped between graphitic basal planes in hydrogenated nanostructured graphite was detected by the change in the relative intensity ratio of the π * and σ* peaks of the C K-edge in electron energy-loss spectroscopy (EELS). The experimental spectral change was explained by model calculations of intercalated hydrogen in graphitic sheets, using an ab initio molecular orbital (DV-X
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Change in mechanical properties of ion-irradiated ceramics by nanoindentation method 査読有り
S. Nakano, S. Muto and T. Tanabe
Materials Transactions 47 巻 ( 1 ) 頁： 112-121 2006年1月
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
Changes in hardness of several representative ceramics and semiconductors associated with ion irradiation were systematically studied using a combination of nanoindentation and finite element analysis. We established a new method for obtaining the precise hardness of the embedded damaged layer of ion-irradiated samples. The method was applied to silicon carbide,
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Site-specific electronic structure analysis by channeling EELS and first principles calculations 査読有り
K. Tatsumi, S. Muto, Y. Yamamoto, H. Ikeno, S. Yoshioka and I. Tanaka
Ultramicroscopy 106 巻 頁： 1019-1023 2006年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Local Oxidation Induced by Inhomogeneous Stress on Blistered Si Surface 査読有り
S. Igarashi, A. N. Itakura, M. Kitajima, S. Nakano, S. Muto, T. Tanabe, H. Yamamoto and K. Hojou
Jpn. J. Appl. Phys. 45 巻 頁： 4179-4182 2006年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Substructures of gas-ion-irradiation induced surface blisters in Si studied with cross-sectional transmission electron microscopy 査読有り
46 巻 ( 10 ) 頁： 2117-2124 2005年10月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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微小押し込み試験法によるセラミック材料のイオン照射に伴う力学特性変化 査読有り
中野伸祐，武藤俊介，田辺哲朗
日本金属学会誌 69 巻 ( 9 ) 頁： 815-824 2005年9月
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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非金属材料におけるヘリウム照射損傷について 招待有り 査読有り
武藤俊介
プラズマ・核融合学会誌 81 巻 ( 1 ) 頁： 41-45 2005年1月
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
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Mechanism of nanoblister formation in Ga+ self-ion implanted GaN nanowires 査読有り
S. Dahra, A. Datta, S. Muto, C.T. Wu, K.H. Chen, Y. L. Wang, T. Tanabe, C.H. Shen, C.W.Hsu, L.C. Chen and T. Maruyama
Appllied Physics Letters 86 巻 頁： 203119-1-3 2005年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Irradiation-induced hardening/softening in SiO2 studied with instrumented indentation 査読有り
S. Nakano, S. Muto and T. Tanabe
Materials Science and Engineering A 400-401 巻 頁： 382-385 2005年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Structure of Oxygen-Related Defect Centers in of Ge1-xSix Alloys Studied by Extended Energy-Loss Fine Structure Analysis 査読有り
S. Muto, H. Sugiyama, I. Yonenaga and T. Tanabe
Japanese Journal of Applied Physics 44 巻 頁： 1892-1896 2005年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
-
Atomistic structure and strain relaxation in Czochralski-grown SixGe1-x bulk alloys 査読有り
16 巻 頁： 429-432 2005年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
-
Transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy analysis of hydrogenated nanostructured graphite prepared by mechanical milling 査読有り
S. Muto, T. Kimuta, T. Kiyobayashi, T. Tanabe and T. Maruyama
Japanese Journal of Applied Physics 44 巻 頁： 2061-2068 2005年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
Hydrogen trapping sites in hydrogenated nanostructured graphite (HNG) prepared by mechanical milling under hydrogen atmosphere were intensively studied with transmission electron microscopy (TEM) and electron energy-loss spectroscopy (EELS). Measurements of
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複合電子顕微分光への展望とその応用の可能性 招待有り 査読有り
武藤俊介、巽一厳
日本セラミックス協会「セラミックス」 11 巻 頁： 928-931 2005年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
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TEM-EXELFS法の特徴とその応用の現状と展望 招待有り 査読有り
武藤俊介
日本結晶学会誌 471 巻 頁： 61-66 2005年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
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Formation and in-situ dynamics of metallic nanoblisters in Ga+ implanted GaN nanowires 査読有り
A. Datta, S. Dhara, S. Muto, C. W. Hsu, C. T. Wu, C. H. Shen, T. Tanabe, T. Maruyama, K. H. Chen, L. C. Chen and Y. L. Wang
Nanotechnology 16 巻 頁： 2764-2769 2005年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Maximum entropy spectral analysis of extended energy-loss fine structure and its application to time-resolved measurement 査読有り
S. Muto
Philosophical Magazine 84 巻 頁： 2793-2808 2004年9月
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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EXELFS analysis of oxygen in Si-Ge alloys 査読有り
S. Muto, H. Sugiyama, I. Yonenaga and T. Tanabe
Proc. 8th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference (APEM-8) 頁： 483-484 2004年6月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語
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Evidence of spatial valence fluctuation in Ce2Zr2O7.5 detected with electron channeling EELS: Janus state of Cerium 査読有り
S. Arai, S. Muto, T. Sasaki, Y. Ukyo, K. Kuroda and H. Saka
Proc. 8th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference (APEM-8) 頁： 142-143 2004年6月
詳細を見る
記述言語：英語
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FT-IR study on the effect of OH content on the damaging process in silica irradiated by hydrogen 査読有り
T. Yoshida, T. Tanabe, M. Hirano and S. Muto
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 218 巻 頁： 202-208 2004年6月
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Characterization of nanodome on GaN nanowires formed with Ga Ion irradiation 査読有り
S. Muto, S. Dhara, A. Datta, C.-W. Hsu, C.-T. Wu, C.-H. Shen, L.-C. Chen, K.-H. Chen, Y.-L. Wang, T. Tanabe, T. Maruyama, H.-M. Lin and C.-C. Chen
Materials Transactions 45 巻 ( 2 ) 頁： 435-439 2004年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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シリコン表面の水素イオン照射誘起ブリスターの非破壊構造解析と内部ガス圧評価 査読有り
中野伸祐、榎本成晟、武藤俊介、田辺哲朗
日本金属学会会報「まてりあ」 43 巻 ( 12 ) 頁： 1008 2004年4月
詳細を見る
記述言語：日本語
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Synthesis of boron nitride nanolayers encapsulating iron fine particles and boron nitride nanotubes 査読有り
H. Tokoro, S. Fujii, T. Oku and S. Muto
Materials Research Society Symposium Proceedings 789 巻 頁： N3.34-39 2004年
詳細を見る
記述言語：英語
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ブリスタリングによる応力変調を利用した局所シリコン酸化の観察 査読有り
五十嵐慎一、板倉明子、北島正弘、中野伸祐、武藤俊介、田辺哲朗、山本博之、北條喜一
表面科学 25 巻 頁： 562-567 2004年
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記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Crystal Structure of Ce2Zr2O7 and β-Ce2Zr2O7.5 査読有り
T. Sasaki, Y. Ukyo, K. Kuroda, S. Arai, S. Muto and H. Saka
Journal of ceramics society of Japan 112 巻 ( 8 ) 頁： 440-444 2004年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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電子エネルギー損失分光法によるセリア－ジルコニア固溶体の規則相の解析 査読有り
荒井重勇、武藤俊介、村井盾哉、佐々木厳、右京良雄、黒田光太郎、坂公恭
日本金属学会誌 68 巻 ( 5 ) 頁： 264-268 2004年
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記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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EXELFS/ELNES study of electron irradiation induced oxidation of α-SiC 査読有り
S. Muto, H. Sugiyama, T. Kimura, T. Tanabe and T. Maruyama
218C 巻 頁： 117-122 2004年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Structure of an Oxygen-Related Defect Complex in SiC Studied with Electron Energy-Loss Spectroscopy 査読有り
S. Muto, H. Sugiyama, T. Kimura and T. Tanabe
Japanese Journal of Applied Physics 43 巻 頁： 1076-1080 2004年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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TEM analysis of blisters on Si surface formed by hydrogen ion irradiation 査読有り
S. Muto, T. Tanabe and S. Igarashi
Physica Scripta T108 巻 頁： 19-22 2004年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Valence Change of Cerium Ion associated with Redox reactions of Ceria-Zirconia Solid Solution by Electron Energy-Loss Spectroscopy 査読有り
S. Arai, S. Muto, J. Murai, T. Sasaki, Y. Ukyo, K. Kuroda and H. Saka
Mater.Trans. 45 巻 頁： 2951-2955 2004年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Reverse Monte Carlo analysis of extended energy-loss fine structure for disordered structures of tetrahedrally co-ordinated materials: its applicability 査読有り
S. Muto and T. Tanabe
Journal of Electron Microscopy 52 巻 頁： 125-132 2003年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Cross sectional TEM observation of gas-ion-irradiation induced surface blisters and their precursors in SiC 査読有り
S. Muto, T. Tanabe and T. Maruyama
Materials Transactions 44 巻 ( 12 ) 頁： 2599-2604 2003年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Experimental and full multiple scattering approaches to energy-loss near-edge structures for c-Si, a-Si and a-Si:H 査読有り
K. Hayakawa, T. Fujikawa and S. Muto
Chemical Physics Letters 371 巻 頁： 498-503 2003年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Local structures and damage processes of electron irradiated α-SiC studied with transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy 査読有り
S. Muto and T. Tanabe
Journal of Applied Physics 93 巻 頁： 3765-3775 2003年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Damaging process of α-SiC under electron irradiation studied with electron microscopy and spectroscopy 査読有り
S. Muto, T. Tanabe, T. Shibayama, and H. Takahashi
Nuclear Instruments and Methods for Physics Research B 191 巻 頁： 519-523 2002年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Development of new TEM specimen holder for cathodoluminescence detection 査読有り
T. Tanabe, S. Muto and S. Tohtake
Journal of Electron Microscopy 51 巻 頁： 311-313 2002年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Surface Blistering of Ion Irradiated SiC studied by Grazing Incidence Electron Microscopy 査読有り
S. Igarashi, S. Muto T. Tanabe and T. Maruyama
Journal of Nuclear Materials 307-311 巻 頁： 1126-1129 2002年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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TEM and EELS characterization of carbon dust and co-deposited layers from the TEXTOR tokamak 査読有り
Journal of Nuclear Materials 307-311 巻 頁： 1289-1293 2002年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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In-situ Observation of Surface Blistering in Silicon by Deuterium and Helium Ion Irradiation 査読有り
S. Igarashi, S. Muto, T. Tanabe, J. Aihara and K. Hojou
Surface and Coatings Technology 158-159C 巻 頁： 421-425 2002年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Chemical effects of hydrogen on surface damaging process in gas-ion irradiated alumina 査読有り
J. Asami, S. Muto and T. Tanabe
Surface and Coatings Technology 158-159C 巻 頁： 518-521 2002年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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RHEED study of irradiation-induced surface damage processes in Si and α-Al2O3 査読有り
S. Muto, J. Asami and T. Tanabe
Nuclear Instruments and Methods for Physics Research B 196 巻 頁： 324-332 2002年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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透過電子エネルギー損失分光における内殻励起スペクトルを利用した軽元素材料の局所領域構造解析 査読有り
武藤俊介、田辺哲朗
表面科学 23 巻 頁： 381-388 2002年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
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Formation of Si clusters in electron-irradiated SiC studied by electron energy-loss spectroscopy 査読有り
N. Asaoka, S. Muto and T. Tanabe
Diamond and Related Materials 10 巻 頁： 1247-1250 2001年4月
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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低角度入射電子顕微鏡法による表面微小構造体の非破壊分析 査読有り
五十嵐慎一、武藤俊介、田辺哲朗
日本金属学会誌「分析電子顕微鏡法による材料評価」 65 巻 ( 5 ) 頁： 423-426 2001年
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記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Energy-Filtered Image of Surface Blisters by Grazing Incidence Electron Microscopy 査読有り
S. Igarashi, S. Muto, T. Tanabe and T. Maruyama
Materials Transactions 42 巻 ( 10 ) 頁： 2131-2132 2001年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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TEM-EXELFS法の効用：EXAFSとの対比 招待有り
武藤俊介
電子顕微鏡 36 巻 ( 1 ) 頁： 65-67 2001年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語
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エネルギー損失広域微細構造による短距離構造相関の解析―二体分布から多体分布導出へ―
武藤俊介、田辺哲朗
日本金属学会誌「分析電子顕微鏡法による材料評価」 65 巻 ( 5 ) 頁： 332-337 2001年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Detailed Structure Analysis of Deposit Layer in TEXTOR by Means of TEM Techniques 査読有り
S. Muto, N. Yokoya and T. Tanabe
Journal of Nuclear Materials 290-293 巻 頁： 295-298 2001年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Non-Destructive Structural Analysis of Surface Blistering by TEM and EELS in a Reflection Configuration 査読有り
S. Muto, T. Matsui and T. Tanabe
Journal of Nuclear Materials 290-293 巻 頁： 131-134 2001年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Observation of Surface Blistering by Grazing Incidence Electron Microscopy
S. Muto, T. Matsui and T. Tanabe
Japanese Journal of Applied Physics 39 巻 ( 6A ) 頁： 3555-3556 2000年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Application of spline wavelet transformation to the analysis of extended energy-loss fine structure 査読有り
S. Muto
Journal of Electron Microscopy 49 巻 頁： 525-529 2000年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
We propose a new analysis method of the extended energy-loss fine structure (EXELFS), applying the multi-resolution analysis (MRA) in the wavelet transformation. We select the cardinal spline wavelet where the rank-4 cardinal spline function is used as a scaling function to construct the mother wavelet. In contrast with the conventional analysis method, the present method is efficient in filtering out the high-frequency noise and low-frequency components introduced by the numerical analysis process without distorting the original signal components, which promises quantitative analyses with less uncertainties.
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Temperature effect of electron-irradiation-induced structural modification in graphite 査読有り
S. Muto and T. Tanabe
Journal of Nuclear Materials 283-287 巻 頁： 917-921 2000年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Extraction of three-body distribution in amorphous silicon by wavelet analysis of EXELFS
S. Muto, K. M. Yu, W. Walukiewicz, H-C. Jin and J. R. Abelson
Proceedings of 12th European Congress on Electron Microscopy, EUREM-2000 1 巻 頁： 319-320 2000年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語
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TEM study on deuterium irradiation-induced defects in tungsten and molybdenum 査読有り
T. Matsui, S. Muto and T. Tanabe
Journal of Nuclear Materials 283-287 巻 頁： 1139-1143 2000年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Wavelet analysis of extended energy-loss fine structure
S. Muto
Proceedings 12th European Congress on Electron Microscopy, EUREM-2000 1 巻 頁： 321-322 2000年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語
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Structural Change in Graphite under Electron Irradiation at Low Temperatures
Journal of Nuclear Materials 271&272 巻 頁： 280-284 1999年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Local structures of Ga atoms in amorphous silicon and hydrogenated amorphous silicon before and after synchrotron X-ray irradiation
K. M. Yu, W. Walukiewicz, S. Muto, H.-G. Jin, J. R. Abelson, C. Clerc, C. J. Glover and M. C. Ridgway
Applied Physics Letters 75 巻 ( 21 ) 頁： 3282-3284 1999年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Fragmentation of graphite crystals by electron irradiation at elevated temperatures
S. Muto and T. Tanabe
Journal of Electron Microscopy 48 巻 ( 5 ) 頁： 519-523 1999年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Local structural order in electron-irradiated graphite studied by high-resolution high-voltage electron microscopy
S. Muto, S. Horibuchi and T. Tanabe
Journal of Electron Microscopy 48 巻 ( 6 ) 頁： 767-776 1999年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Change in Chemical Bonding States in Electron-Irrodiated Graphite(共著)
Japanese Journal of Applied Physics Part(]G0001[) 38 巻 ( 3A ) 頁： 1514-1515 1999年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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On EXELFS data analysis for obtaining reliable structural parameters
Y. Kobayashi, S. Muto, C. J. Echer and T. Tanabe
Journal of Electron Microscopy 48 巻 ( 5 ) 頁： 525-529 1999年
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記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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The effects of X-ray induced structural changes on the microstructure of a-Si after thermal crystallization
K. M. Yu, W. Walukiewicz, S. Muto, H-C. Jin and J. R. Abelson
Applied Physics Letters 75 巻 ( 14 ) 頁： 2032-2034 1999年
詳細を見る
記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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TEM Analysis of Surface Ridge Network in an Ion-Irradiated Graphite Thin Film
S. Muto, T. Tanabe, M. Takeuchi, Y. Kobayashi, S. Furuno and K. Hojou
Journal of Nuclear Materials 271&272 巻 頁： 285-289 1999年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Molecular Dynamics Study on Local Atomic Displacements Associated with Point Defects and Displacive Phase Transformations(共著)
Materials Transactions, JIM 40 巻 ( 6 ) 頁： 514-521 1999年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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The Influence of X-ray Irradiation on Structural Relaxation and Crystallization of Amorphous Silicon films
S. Muto, Y. Kobayashi, K.-M. Yu, W. Walukiewicz, C.J. Echer, S. McCormick and J.R. Abelson
Japanese Journal of Applied Physics 37 巻 ( 11 ) 頁： 5890-5893 1998年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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HREM-EELS Study of Structural Changes in Electron Irradiated Graphite (共著)
Proceedings of 14th International Congress on Electron Microscopy 頁： 119 1998年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語
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Lacal Atom Displacements Around Crystal Lattice Defects Inducing Phase Transformation Studies by Molecular Dynamics Simulation (共著)
Proceedings of Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing 頁： 1461 1998年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語
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Spatial and Structural Modification in Graphite by High-Energy Electron Irradiation (共著)
Proceedings of 5-th NIRIM International Symposium on Advanced Materials 頁： 129 1998年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語
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TEM-EELS法による黒鉛の電子照射誘起構造変化 招待有り 査読有り
まてりあ 37 巻 ( 10 ) 頁： 873-879 1998年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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A New Microscopic Model of Electron Irradiation Damage in Graphite
S. Muto, M. Takeuchi and T. Tanabe
Journal of Surface Analysis 3 巻 ( 2 ) 頁： 420-425 1997年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Damage Process in Electron-Irradiated Graphite Studied by Transmission Electron Microscopy. II. Analysis of Extended Energy-Loss Fine Structure of Highyly Oriented Pyrolytic Graphite
M. Takeuchi, S. Muto, T. Tanabe, S. Arai and T. Kuroyanagi
Philosophical Magazine A 76 巻 ( 3 ) 頁： 691-700 1997年4月
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Damage Process in Electron-Irradiated Graphite by Transmission Electron Microscopy. I. High Resolution Observation of Highly Graphitized Carbon Fibre
S. Muto and T. Tanabe
Philosophical Magazine A 76 巻 ( 3 ) 頁： 679-690 1997年4月
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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計算材料設計システムMASPHYCによる分子動力学シミュレーション(共著)
名古屋大学大型計算機センターニュース 27 巻 ( 4 ) 頁： 305 1996年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：日本語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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New Stable Structure on the (001) Plane in Germanium Formed by Deutron Irradiation(共著)
Philosophical Magazine Letters 72 巻 ( 2 ) 頁： 99 1995年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Extended Defect Formation in Silicon and Germanium Induced by Light Gas Ion Irradiation Studied with Transmission Electron Microscopy(共著)
Materials Science Forum 196-201 巻 頁： 1171 1995年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Structure of Hydrogen Induced Platelet Studied by Transmission Electron Microscopy
Philosophical Magazine A 72 巻 ( 4 ) 頁： 1057 1995年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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A New Type of Extended Defect on the (100) Plane in Germanium Produced by Deuteron Bombardment (共著)
Proceedings of International Congress on Electron Microscopy II 巻 頁： 565 1994年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語
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Structural Study of Hydrogen Induced Platelet in Si and Ge by Transmission Electron Microscopy (共著)
Materials Science Forum 143-147 巻 頁： 897 1994年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
-
電子顕微鏡法によるω相変態に付随する格子変位の研究
電子顕微鏡 29 巻 ( 1 ) 頁： 2 1994年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
-
In-situ HREM Observation of Electron-Irradiation-Induced Martensitic Transformation in a N63Al37 Alloy (共著)
Journal of Alloys and Compounds 199 巻 頁： 1 1993年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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High Resolution Electron Microscopy of Structural Defects in Crystalline C60 and C70 (共著)
Philosophical Magazine B 67 巻 ( 4 ) 頁： 443 1993年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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High-Resolution Electron Microscopy and Electron Diffraction Study of the Displacive Transformation of the Ni2Al Phase in Ni65Al35 Alloy and Associated Martensitic Transformation (共著)
Acta Metallurgica et Materialia 41 巻 ( 8 ) 頁： 2377 1993年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Displacive-Replacive Phase Transformation in a N62.5Al37.5-β2 Phase by Transmission Electron Microscopy and Diffraction (共著)
Philosophical Magazine B 67 巻 ( 5 ) 頁： 673 1993年
詳細を見る
担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Structures and Phase Transitions in C60 and C70 Fullerites (共著)
Ultramicroscopy 51 巻 頁： 168 1993年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
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Displacive and Diffusive Components in the Formation of the Ni2Al Structure Studied by HREM, SAED and Micro-ED
Proceedings of International Conference on Martensitic Trausformations, ICOMAT-92 頁： 101 1993年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語
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Structure of Si Aggregates in Heavily Si-Doped GaAs (共著)
Philosophical Magazine A 66 巻 ( 2 ) 頁： 257 1992年
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担当区分：筆頭著者 記述言語：英語 掲載種別：研究論文（学術雑誌）
書籍等出版物
書籍等出版物 11
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Energy Storage Materials Characterization
S. Muto（ 範囲: Structural/Chemical Characterization of Alkali-ion Battery Materials Using Electron Energy-loss Spectroscopy Coupled with Transmission Electron Microscopy）
Wiley 2025年3月 （ ISBN:978-3-527-34966-1 ）
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記述言語：英語
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Interface Ionics
S. Muto（ 範囲: Spectral Profile Unfolding and Chemical Mapping from Scanning Transmission Electron Microscopy–Spectral Imaging Datasets for All-Solid-State Lithium-Ion Battery Materials Analysis）
Springer Singapore 2024年11月
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記述言語：英語
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Nanoinformatics
M. Shiga, S. Muto（ 担当： 共著）
Springer 2018年1月
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記述言語：日本語
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ライフサイエンス顕微鏡学ハンドブック
著者多数（ 担当： 分担執筆）
朝倉書店 2017年1月
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記述言語：日本語
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金属学会セミナーテキスト「機能元素のナノ材料科学」
著者多数（ 担当： 分担執筆）
日本金属学会 2009年7月
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記述言語：日本語
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21世紀の格子欠陥研究に残された課題
西谷滋人、青木正人、武藤俊介（共編）（ 担当： 共著）
吉岡書店 2003年7月
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記述言語：日本語
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Science, Technology and Education of Microscopy: an Overview
（ 担当： 共著）
FORMATEX 2003年
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記述言語：英語
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電子顕微鏡法の実践と応用写真集
著者多数（ 担当： 共著）
日本鉄鋼協会・日本金属学会共同出版委員会 2002年3月
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記述言語：日本語
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分子動力学
武藤俊介、竹内宗孝（分担執筆）（ 担当： 共著）
金属学会セミナー「パソコンで学ぶ材料力学」 2001年11月
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記述言語：日本語
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EXELFSによる無秩序構造の解析(単著)
電子顕微鏡基礎技術と応用1998「極微構造解明の新展開」 1998年
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記述言語：日本語
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Effects of Synchrotron X-rays on PVD-Deposited And Ion-Implanted a-Si (共著)
Materials Research Society Symposium Proceedings 1997年
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記述言語：英語
MISC
MISC 17
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Control of surface potential and hydroxyapatite formation on TiO2 scales containing nitrogen-related defects
Masami Hashimoto, Takafumi Ogawa, Satoshi Kitaoka, Shunsuke Muto, Maiko Furuya, Hiroyasu Kanetaka, Masayuki Abe, Hayato Yamashita
Acta Materialia155 巻 頁： 379 - 385 2018年8月
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌） 出版者・発行元：Acta Materialia Inc
The hydroxyapatite (HAp) formation ability and related surface potentials of rutile-type TiO2 scales formed on Ti are controlled by varying the Ti heat treatment conditions in a N2 atmosphere containing a trace amount of O2. The zeta potentials of the samples heated at 873 and 973 K for 1 h are large negative and positive values, respectively, where HAp formation on the surface is enhanced in both cases. Upon longer heat treatment at those temperatures, the HAp forming ability diminishes and the zeta potential becomes more neutral. Kelvin probe force microscopy indicates that, under dry conditions, the surface charges on the TiO2 scales formed at 873 and 973 K in 1 h are positive and negative, respectively, opposite to the signs of the zeta potentials measured under wet conditions. Scanning transmission electron microscopy, electron energy loss spectroscopy, and calculations of defect formation energies reveal that nitrogen atoms incorporated into TiO2 during scale formation produce the charged defects (NO)O −1 and (N2)O +2 for the scales formed in 1 h at 873 and 973 K, respectively. In the case of longer treatments, nitrogen-related defects presumably transform into more stable states, such as N2 gas, in voids, resulting in a neutral surface. The present findings lead to physical models of surface charge distributions that elucidate the relationship between nitrogen-related defects, charged surfaces, and HAp formation mechanisms.
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EPR Study of Porous Si:C and SiO2:C Layers
Dariya Savchenko, Andrii Vasin, Shunsuke Muto, Ekaterina Kalabukhova, Alexei Nazarov
Physica Status Solidi (B) Basic Research255 巻 ( 6 ) 2018年6月
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌） 出版者・発行元：Wiley-VCH Verlag
Initial porous silicon (por-Si), carbonized porous silicon (por-Si:C), and carbon-incorporated porous silicon oxide (por-SiO2:C) layers are studied by electron paramagnetic resonance (EPR) at T = 10–13 K. Scanning transmission electron microscopy and electron energy loss (EEL) spectroscopy show that por-Si:C and por-SiO2:C layers have a highly disordered structure with mixing sp2 and sp3 CC bonds. In the por-SiO2:C layers, the peak of the oxygen bonded to carbon in the form of hydroxyl groups is found in the EEL spectrum of the C K-edge region. Low-intensity signals of Lorentzian lineshape are detected in the EPR spectrum of por-Si, por-Si:C, por-SiO2:C layers. One of them is attributed to the Pb0 defect at the Si/SiO2 interface of nanocrystalline grain and the second to the silicon dangling bonds (SiDB) localized in nanocrystalline Si. The carbonization of por-Si layers and subsequent oxidation of por-Si:C gives rise to the appearance of additional EPR signals of high intensity at g = 2.0035(3) in por-Si:C and at g = 2.0030(3) in por-SiO2:C, which are assigned to carbon-related defects (CRD) and carbon clusters, correspondingly. It was found that predominant defect types in por-Si:C and por-SiO2:C layers are CRD and carbon clusters, respectively, while the spin concentration of Pb0 interface defects and SiDB is low.
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Interfacial fracture strength evaluation of Cu/SiN micro-components: applicability of the linear fracture mechanics criterion under a hydrogen environment
Yoshimasa Takahashi, Itaru Ashida, Shigeo Arai, Kimitaka Higuchi, Yuta Yamamoto, Shunsuke Muto
International Journal of Fracture210 巻 ( 1-2 ) 頁： 223 - 231 2018年3月
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌） 出版者・発行元：Springer Netherlands
The strength against fracture initiation from an interface free-edge of bonded copper (Cu) and silicon nitride (SiN) micro-components is studied. Quantitative fracture tests are conducted either in a vacuum environment or in a gaseous hydrogen (H2) environment. By using two kinds of specimens, Types I and II, having the same free-edge geometry (135∘/135∘) but different outer shape, the validity of the linear fracture mechanics criterion is critically evaluated. For specimens tested in vacuum, fracture initiation strength represented by the elastic stress intensity factor of the near-edge normal stress component is found to be the same irrespective of the specimen type, indicating that the fracture mechanics criterion holds. For specimens tested in H2 gas, the strength of both types is reduced and, interestingly, Type II strength shows greater reduction than Type I. In other words, the fracture mechanics criterion does not hold in H2 gas. Such a difference may be attributable to the difference of local plasticity in each specimen type.
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Unmixing hyperspectral data by using signal subspace sampling
Jakob Spiegelberg, Shunsuke Muto, Masahiro Ohtsuka, Kristiaan Pelckmans, Jan Rusz
ULTRAMICROSCOPY182 巻 頁： 205 - 211 2017年11月
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌） 出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE BV
This paper demonstrates how Signal Subspace Sampling (SSS) is an effective pre-processing step for Non-negative Matrix Factorization (NMF) or Vertex Component Analysis (VCA). The approach allows to uniquely extract non-negative source signals which are orthogonal in at least one observation channel, respectively. It is thus well suited for processing hyperspectral images from X-ray microscopy, or other emission spectroscopies, into its non-negative source components. The key idea is to resample the given data so as to satisfy better the necessity and sufficiency conditions for the subsequent NMF or VCA. Results obtained both on an artificial simulation study as well as based on experimental data from electronmicroscopy are reported. (C) 2017 Elsevier B.V. All rights reserved.
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A microscopy method for scanning transmission electron microscopy imaging of the antibacterial activity of polymeric nanoparticles on a biofilm with an ionic liquid
Chisato Takahashi, Shunsuke Muto, Hiromitsu Yamamoto
JOURNAL OF BIOMEDICAL MATERIALS RESEARCH PART B-APPLIED BIOMATERIALS105 巻 ( 6 ) 頁： 1432 - 1437 2017年8月
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌） 出版者・発行元：WILEY
In this study, we developed a scanning transmission electron microscopy (STEM) method for imaging the antibacterial activity of organic polymeric nanoparticles (NPs) toward biofilms formed by Staphylococcus epidermidis bacterial cells, for optimizing NPs to treat biofilm infections. The combination of sample preparation method using a hydrophilic ionic liquid (IL) and STEM observation using the cooling holder eliminates the need for specialized equipment and techniques for biological sample preparation. The annular dark-field STEM results indicated that the two types of biodegradable poly-(DL-lactide-co-glycolide) (PLGA) NPs: PLGA modified with chitosan (CS), and clarithromycin (CAM)loaded+CS-modified PLGA, prepared by emulsion solvent diffusion exhibited different antibacterial activities in nanoscale. To confirm damage to the sample during STEM obser-vation, we observed the PLGA NPs and the biofilm treated with PLGA NPs by both the conventional method and the newly developed method. The optimized method allows microstructure of the biofilm treated with PLGA NPs to be maintained for 25 min at a current flow of 40 pA. The developed simple sample preparation method would be helpful to understand the interaction of drugs with target materials. In addition, this technique could contribute to the visualization of other deformable composite materials at the nanoscale level. (C) 2016 Wiley Periodicals, Inc.
DOI： 10.1002/jbm.b.33680
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High-precision quantitative atomic-site-analysis of functional dopants in crystalline materials by electron-channelling-enhanced microanalysis
Shunsuke Muto, Masahiro Ohtsuka
PROGRESS IN CRYSTAL GROWTH AND CHARACTERIZATION OF MATERIALS63 巻 ( 2 ) 頁： 40 - 61 2017年6月
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記述言語：英語 掲載種別：書評論文，書評，文献紹介等 出版者・発行元：PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
Knowledge of the location and concentration of impurity atoms doped into a synthesized material is of great interest to investigate the effect of doping. This would usually be investigated using X-ray or neutron diffraction methods in combination with Rietveld analysis. However, this technique requires a large-scale facility such as a synchrotron radiation source and nuclear reactor, and can sometimes fail to produce the desired results, depending on the constituent elements and the crystallographic conditions that are being analysed. Thus, it would be preferable to use an element-selective spectroscopy technique that is applicable to any combination of elements. We have established a quantitative method to deduce the occupation sites and their occupancies, as well as the site-dependent chemical states of the doped elements, using a combination of transmission electron microscopy (TEM), energy-dispersive X-ray (EDX) spectroscopy, and electron energy-loss spectroscopy (EELS). The method is based on electron channelling phenomena where the symmetries of the Bloch waves excited in a crystal are dependent on the diffraction condition or incident beam direction with respect to the crystal axes. By rocking the incident electron beam with a fixed pivot point on the sample surface, a set of EDX/EELS spectra are obtained as a function of the beam direction. This is followed by a statistical treatment to extract the atom-site-dependent spectra, thereby quantitatively enabling the estimation of the site occupancies and chemical states of the dopants. This is an extension of the 'ALCHEMI' (Atom Location by Channelling Enhanced Microanalysis) method or 'HARECXS/HARECES' (High Angular Resolution Channelled X-ray/Electron Spectroscopy), and we further extended the method to be applicable to cases where the crystal of interest contains multiple inequivalent atomic sites for a particular element, applying the precise spectral predictions based on electron elastic/inelastic dynamical scattering theory. After introduction of conceptual aspects of the method, we describe the extension of the method together with the development of the theoretical calculation method. We then demonstrate several useful applications of the method, including luminescent, ferrite, and battery materials. We discuss the advantages and drawbacks of the present method, compared with those of the recently developed atomic column-by-column analysis using aberration-corrected scanning TEM and high-efficiency X-ray detectors. (C) 2017 Elsevier Ltd. All rights reserved
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Localization of magnetic circular dichroic spectra in transmission electron microscopy experiments with atomic plane resolution
Jan Rusz, Jakob Spiegelberg, Shunsuke Muto, Thomas Thersleff, Masahiro Ohtsuka, Klaus Leifer, Peter M. Oppeneer
PHYSICAL REVIEW B95 巻 ( 17 ) 2017年5月
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌） 出版者・発行元：AMER PHYSICAL SOC
Inelastic electron scattering is a consequence of mostly Coulomb interaction between electrons in the sample and electron beam and, as such, it is a nonlocal event. In atomic resolution experiments, it thus opens the following question: How far is the origin of the inelastic scattering signal that is observed when the electron beam is passing nearby an atomic column or plane? We analyze computationally the delocalization of the magnetic signal in electron magnetic circular dichroism (EMCD) experiments in the so-called three-beam orientation, allowing one to image individual atomic planes. We compare the classical EMCD setup using the double-difference procedure (DD-EMCD) to a recently introduced atomic plane resolution EMCD (APR-EMCD) geometry, assuming the same probe size. We observe a strong localization of the EMCD signal to the closest atomic plane, confirming the potential of EMCD to study an evolution of magnetic properties near surfaces or interfaces with atomic plane resolution. The localization of the EMCD signal is remarkably higher than the localization of the nonmagnetic component of the inelastic scattering cross section. We also analyze double-channeling effects and find them particularly strong for the DD-EMCD method, while for APR-EMCD they appear to be minor. The DD-EMCD signal, on the other hand, appears to be more robust with respect to sample thickness than that of the APR-EMCD.
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Microscopic origin of ultra-low friction coefficient between the wear track formed on carbon nitride coating and transfer layer on sliding ball in friction tests under dry N-2
Hiroshi Inoue, Shunsuke Muto, Shigeo Arai, Hiroaki Wasada, Noritsugu Umehara
SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY313 巻 頁： 31 - 39 2017年3月
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌） 出版者・発行元：ELSEVIER SCIENCE SA
Carbon nitride (CN) coatings have been found to exhibit an ultra-low friction coefficient (less than 0.01) after repeated sliding against a silicon nitride (Si3N4) ball in a dry nitrogen gas (N-2) atmosphere. However, the mechanism for this has not yet been fully elucidated with respect to analyzing changes in the space structure of CNN. In the present study, we examined the microscopic structural changes in the near-surface structural transition layers of the wear track in the CN, coating and the transfer layer of the Si3N4 ball, using scanning transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy. We investigated the nitrogen concentration, density, and curvature of fragmented graphitic planes in the structural transition layers of both the CN,, coating and the transfer layer of the Si3N4 ball by analyzing the plasmon peak and carbon K-edge. In addition, we theoretically examined the chemical bonding states of nitrogen doping in various model clusters using an ab initio molecular orbital method to clarify the role of nitrogen in the ultra -low friction behavior. The mechanism behind the ultra low friction behavior is explained by nano-graphitization of the fragmented carbon structure with optimal nitrogen concentration passivating the contacting counter surfaces of the coating and ball formed during sliding. (C) 2017 Elsevier B.V. All rights reserved.
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Towards sub-nanometer real-space observation of spin and orbital magnetism at the Fe/MgO interface
Thomas Thersleff, Shunsuke Muto, Miroslaw Werwinski, Jakob Spiegelberg, Yaroslav Kvashnin, Bjorgvin Hjorvarsson, Olle Eriksson, Jan Rusz, Klaus Leifer
SCIENTIFIC REPORTS7 巻 2017年3月
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌） 出版者・発行元：NATURE PUBLISHING GROUP
While the performance of magnetic tunnel junctions based on metal/oxide interfaces is determined by hybridization, charge transfer, and magnetic properties at the interface, there are currently only limited experimental techniques with sufficient spatial resolution to directly observe these effects simultaneously in real-space. In this letter, we demonstrate an experimental method based on Electron Magnetic Circular Dichroism (EMCD) that will allow researchers to simultaneously map magnetic transitions and valency in real-space over interfacial cross-sections with sub-nanometer spatial resolution. We apply this method to an Fe/MgO bilayer system, observing a significant enhancement in the orbital to spin moment ratio that is strongly localized to the interfacial region. Through the use of first-principles calculations, multivariate statistical analysis, and Electron Energy-Loss Spectroscopy (EELS), we explore the extent to which this enhancement can be attributed to emergent magnetism due to structural confinement at the interface. We conclude that this method has the potential to directly visualize spin and orbital moments at buried interfaces in magnetic systems with unprecedented spatial resolution.
DOI： 10.1038/srep44802
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Detection of local chemical states of lithium and their spatial mapping by scanning transmission electron microscopy, electron energy-loss spectroscopy and hyperspectral image analysis 招待有り 査読有り 国際誌
Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi
MICROSCOPY66 巻 ( 1 ) 頁： 39 - 49 2017年2月
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担当区分：筆頭著者, 責任著者 記述言語：英語 掲載種別：記事・総説・解説・論説等（学術雑誌） 出版者・発行元：OXFORD UNIV PRESS
Advancements in the field of renewable energy resources have led to a growing demand for the analysis of light elements at the nanometer scale. Detection of lithium is one of the key issues to be resolved for providing guiding principles for the synthesis of cathode active materials, and degradation analysis after repeated use of those materials. We have reviewed the different techniques currently used for the characterization of light elements such as high-resolution transmission electron microscopy, scanning transmission electron microscopy ( STEM) and electron energy-loss spectroscopy (EELS). In the present study, we have introduced a methodology to detect lithium in solid materials, particularly for cathode active materials used in lithium-ion battery. The chemical states of lithium were isolated and analyzed from the overlapping multiple spectral profiles, using a suite of STEM, EELS and hyperspectral image analysis. The method was successfully applied in the chemical state analyses of hetero-phases near the surface and grain boundary regions of the active material particles formed by chemical reactions between the electrolyte and the active materials.
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Control of HAp Formation and Osteoconductivity on Nitrogen-Doped TiO2 Scale Formed by Oxynitridation of Ti 査読有り
M. Hashimoto, S. Kitaoka, Y. Obata, S. Muto, T. Ogawa, M. Furuya, H. Kanetaka
Key Engineering Materials758 巻 頁： 86-89 2017年
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌）
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High-precision quantitative atomic-site-analysis of functional dopants in crystalline materials by electron-channelling-enhanced microanalysis 査読有り
S. Muto, M. Ohtsuka
Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials63 巻 頁： 40-61 2017年
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌）
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In situ TEM analysis of a symmetric solid oxide cell in oxygen and vacuum-cation diffusion observations 査読有り
F. Gualandris, S. B. Simonsen, J. B. Wagner, S. Sanna, S. Muto, L. Theil Kuhn
ECS Transactions75 巻 頁： 123-133 2017年
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌）
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Unmixing hyperspectral data by using signal subspace sampling 査読有り
J. Spiegelberg, S. Muto, M. Ohtsuka, K. Pelckmans, J. Rusz
Ultramicroscopy182 巻 頁： 205-211 2017年
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌）
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Towards sub-nanometer real-space observation of spin and orbital magnetism at the Fe/MgO interface 査読有り
T. Thersleff, S. Muto, M. Werwinski, J. Spiegelberg, Y. Kvashnin, B. Hjorvarsson, O. Eriksson, J. Rusz, K. Leifer
SCIENTIFIC REPORTS7 巻 頁： 44802 2017年
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌）
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Microscopic origin of ultra-low friction coefficient between the wear track formed on carbon nitride coating and transfer layer on sliding ball in friction tests under dry N2 査読有り
H. Inoue, S. Muto, S. Arai, H. Wasada, N. Umehara
Surface &Coating Technology313 巻 頁： 31-39 2017年
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌）
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Localization of magnetic circular dichroic spectra in transmission electron microscopy experiments with atomic plane resolution 査読有り
J. Rusz, J. Spiegelberg, S. Muto, T. Thersleff, M. Ohtsuka, K. Leifer, P. M. Oppene
PHYSICAL REVIEW B95 巻 頁： 174412 2017年
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記述言語：英語 掲載種別：速報，短報，研究ノート等（学術雑誌）
講演・口頭発表等
講演・口頭発表等 138
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Operando TEM/GC-QMS System for Simultaneous Observation of Atomic Structural Changes and Catalytic Reaction Kinetics 国際会議
S.Muto
18th International Congress on Catalysis
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開催年月日： 2024年7月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：Lyon, France 国名：フランス共和国
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質量分析計搭載反応科学超高圧電子顕微鏡による 金属微粒子触媒のオペランド計測とキネティクス解析 招待有り
武藤俊介
触媒学会第 33 回キャラクタリゼーション講習会 触媒学会
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開催年月日： 2023年12月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：名古屋大学 国名：日本国
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Seeking True Collaboration between Electron Microscopy and X-ray Spectroscopy by Materials Informatics 国際会議
S.Muto
Mini-Symposium on Innovative Visualization for Materials Science
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開催年月日： 2023年12月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：Nagiya University, Nagoya, Japan 国名：日本国
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ガスクロマトグラフィー質量分析計搭載反応科学超高圧電子顕微鏡が語る 化学反応その場観察／計測 招待有り
武藤俊介
日本顕微鏡学会2023年研究討論会 日本顕微鏡学会
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開催年月日： 2023年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：大阪大学 産業科学研究所 ＋オンライン, 大阪府 国名：日本国
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Development of ultra-high voltage S/TEM-GC-QMS for operand observation/measurement of catalytic gas reactions 国際会議
S.Muto
The 20th International Microscopy Congress
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開催年月日： 2023年9月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：BEXCO, Busan, Korea 国名：大韓民国
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反応科学超高圧電子顕微鏡によるガス中反応観察の進展 招待有り
武藤俊介
日本顕微鏡学会第79回学術講演会 日本顕微鏡学会
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開催年月日： 2023年6月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：くにびきメッセ, 島根県 国名：日本国
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STEM-EELS吸収端広域微細構造のスパースモデリングによるD-W因子マッピング
武藤俊介
日本顕微鏡学会第78回学術講演会 日本顕微鏡学会
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開催年月日： 2022年5月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：ビッグパレットふくしま, 福島県 国名：日本国
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超高圧TEM-QMS-GCによるRh微粒子触媒反応のオペランド計測と反応機構解析
武藤俊介
日本顕微鏡学会第78回学術講演会 日本顕微鏡学会
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開催年月日： 2022年5月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：ビッグパレットふくしま, 福島県 国名：日本国
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計測インフォマティクスの誘惑とその功罪・私的展望
武藤俊介
CREST-さきがけ複合領域「情報計測」令和３年度材料分野における情報計測クラスタ会議
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開催年月日： 2022年3月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：オンライン開催 国名：日本国
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高エネルギー電子プローブを用いたナノ物性計測法の開発と磁性材料への応用
武藤俊介
日本金属学会2021年秋期第169回講演大会 日本金属学会
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開催年月日： 2021年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：オンライン開催 国名：日本国
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ポリマーブレンドのナノスケール化学イメージング
武藤俊介
第70回高分子討論会 高分子学会
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開催年月日： 2021年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：オンライン開催 国名：大韓民国
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可視光発光分光によるナノ分相ガラスの局所応力分布定量測定
武藤俊介
日本顕微鏡学会第77回学術講演会 日本顕微鏡学会
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開催年月日： 2021年6月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：つくば国際会議場, 茨城県, ハイブリッド開催 国名：日本国
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超高圧STEM-EELS-HSI法によるポリマーブレンドの無染色化学イメージング
武藤俊介
日本顕微鏡学会第77回学術講演会 日本顕微鏡学会
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開催年月日： 2021年6月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：つくば国際会議場, 茨城県, ハイブリッド開催 国名：日本国
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全固体電池におけるLATP/LCO界面で何が起こっているか－断面STEM-EELS解析でここまでわかる－ 招待有り
武藤俊介
日本化学会第101春季年会（2021）新学術領域研究「蓄電固体界面科学」成果報告会 2021年3月20日 日本化学会 新学術領域研究「蓄電固体界面科学」
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開催年月日： 2021年3月
記述言語：日本語 会議種別：シンポジウム・ワークショップ パネル（指名）
開催地：オンライン開催 国名：日本国
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反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡の最前線 招待有り
武藤俊介
ナノプローブテクノロジー第167委員会第94回研究会 2020年9月14日 日本学術振興会第167委員会
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開催年月日： 2020年9月
記述言語：日本語 会議種別：シンポジウム・ワークショップ パネル（指名）
開催地：オンライン開催 国名：日本国
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実験データ解析に機械学習は本当に有効か？ 招待有り
武藤俊介
日本顕微鏡学会第76回学術講演会 日本顕微鏡学会
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開催年月日： 2020年5月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：大阪 国名：日本国
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名古屋大学反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡の新展開 招待有り
武藤俊介
日本顕微鏡学会第76回学術講演会 日本顕微鏡学会
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開催年月日： 2020年5月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：大阪 国名：日本国
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電子チャネリングを利用した元素／サイト選択的化学分析
武藤俊介, 大塚真弘
日本顕微鏡学会第75回学術講演会
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開催年月日： 2019年6月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：名古屋国際会議場 国名：日本国
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STEM-EELSハイパースペクトル像解析による無染色ポリマーイメージング
武藤俊介
日本顕微鏡学会第75回学術講演会
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開催年月日： 2019年6月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：名古屋国際会議場 国名：日本国
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テンソル分解法によるハイパースペクトル像解析の進展
武藤俊介
人工知能学会第２種研究会 計測インフォマティクス研究会
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開催年月日： 2019年3月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：物質・材料研究機構 国名：日本国
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今EELS分析をどう考えるか
武藤俊介
Gatan製品技術セミナー2019
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開催年月日： 2019年2月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：品川シーズンテラスカンファレンス 国名：日本国
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Operando study of catalytic reactions by environmental HVEM equipped with Q-mass spectrometry 国際会議
S.Muto
EM CHINA 2018
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開催年月日： 2018年10月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：CHENGDU XIYUE HOTEL, Chengdu, China 国名：中華人民共和国
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Application of Machine Learning Techniques to Electron Microscopy/Spectroscopy Image Data 国際会議
S.Muto
ACSIN-14&ICSPM26
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開催年月日： 2018年10月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：Sendai International Center, Japan 国名：日本国
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分光スペクトルデータへのインフォマティクス応用とその課題
武藤俊介
日本セラミックス協会第31回秋季シンポジウム
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開催年月日： 2018年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：名古屋工業大学 国名：日本国
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Development of new environmental high-voltage transmission electron microscope equipped with quadrupole mass spectrometer for observing catalytic reactions 国際会議
S.Muto
International conference on Mass Spectrometry and Proteomics 2018
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開催年月日： 2018年6月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：Finnstown Castle Hotel, Dublin, Ireland 国名：アイルランド
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構造化データ融合法によるテンソル分解を適用したハイパー顕微分光データから
武藤俊介
日本顕微鏡学会高分解能分科会
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開催年月日： 2018年2月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（基調）
開催地：マホロバ・マインズ三浦 国名：日本国
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ハイパー分光像データからの情報抽出法開発の現状
武藤俊介
日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会第171回研究会
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開催年月日： 2018年2月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：東京理科大学森戸記念館 国名：日本国
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未来社会を支えるエネルギーとマテリアル研究に超高圧電子顕微鏡の果たす役割
武藤俊介
第7回エネルギー・マテリアル融合領域シンポジウム
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開催年月日： 2018年1月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：北海道大学 国名：日本国
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ナノ電子顕微分光への情報処理技法の応用
武藤俊介
第46回薄膜・表面物理基礎講座2017
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開催年月日： 2017年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：名古屋大学VBLホール 国名：日本国
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In situ observation of catalytic reactions under gas atmosphere by reaction science high-voltage scanning transmission electron microscope equipped with quadrupole mass spectrometer 国際会議
S.Muto
The 3rdEast-Asia Microscopy Conference (EAMC3)
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開催年月日： 2017年11月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：BEXCO in Busan, Korea 国名：大韓民国
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ハイパー分光スペクトルイメージデータによる化学イメージング－情報統計学によるデータ処理を正しく使うために－
武藤俊介
第7回CSJ化学フェスタ2017
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開催年月日： 2017年10月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：タワーホール船堀 国名：日本国
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情報統計処理による信号抽出法の基礎
武藤俊介
第33回分析電子顕微鏡討論会
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開催年月日： 2017年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：幕張メッセ国際会議場 国名：日本国
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Signal mining for chemical imaging from hyperspectral image data 国際会議
S.Muto
3rd International Workshop on TEM Spectroscopy in Materials Science
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開催年月日： 2017年6月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：S. Muto 国名：スウェーデン王国
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Hyperspectral Image Analysis of Spatially/Spectrally Overlapped Datasets for Chemical Imaging 国際会議
S.Muto
The 19th Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions(SISS19)
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開催年月日： 2017年5月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：Miyako Messe, Kyoto 国名：日本国
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Multi-Way Hyperspectral Image Analysis Based on Scanning Transmission Electron Microscopy and Associated Spectroscopic Methods 国際会議
S.Muto
2017MRS Spring Meeting & Exhibit
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開催年月日： 2017年4月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：Phonix Convention Center and Sheraton Grand Phoenix 国名：アメリカ合衆国
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ビッグデータ時代の微細構造解析支援－トップサイエンスと実材料分析－
武藤俊介
共用・計測合同シンポジウム2017 先端計測けんきゅうと共用推進による材料イノベーション
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開催年月日： 2017年3月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：物質・材料研究機構 国名：日本国
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新しい情報・統計理論に基づくスペクトル分解―化学イメージング法の開発
武藤俊介
Spring-8材料構造の解析に役立つ計算科学研究会（第3回）/第10回Spring-8先端利用技術ワークショップ
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開催年月日： 2017年2月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：㈱ニチイ学館神戸ポートアイランドセンター 国名：日本国
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ナノ電子顕微分光への情報処理技法の応用
武藤俊介
「先端計測インフォマティクス 大量データ時代の情報活用」ワークショップ
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開催年月日： 2017年1月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：物質・材料研究機構 国名：日本国
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複合電子顕微分光と情報統計処理による機能元素／物性定量分析－Two-wayからMulti-way解析へ、ナノ材料から宇宙へ－
武藤俊介
日本金属学会2016年秋期（第159回）講演大会
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開催年月日： 2016年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（基調）
開催地：大阪大学豊中キャンパス 国名：日本国
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Mechanical and spatial/electronic structural changes of lonic bonded materials associated with particle irradiation damage 国際会議
S.Muto
Workshop on Experimental Cosmochemistry 2016
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開催年月日： 2016年6月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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ナノ電子分光への情報処理技法の応用
武藤俊介
第二回元素プロジェクト＜研究拠点形成型＞／大型研究施設連携シンポジウム「局所構造制御で物質から材料へ
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開催年月日： 2016年1月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：東京大学伊藤国際学術研究センター 国名：日本国
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Current progress in nanometric magnetic moment measurements based on electron magnetic circular dichroism 国際会議
S.Muto, J. Rusz, K. Tatsumi, T. Thersleff, K. Leiffer
Magnetics and Optics Research International Symposium 2015 (MORIS2015)
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開催年月日： 2015年11月 - 2015年12月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：マレーシア
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Current progress in a data mining technique applying to digital spectral image datasets 国際会議
S. Muto, M. Shiga, K. Tatsumi, K. Tsuda
ALC'15
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開催年月日： 2015年10月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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Mind the Noise: Mining Hidden Information from Spectroscopic datasets 国際会議
S. Muto
NIMS Conference 2015
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開催年月日： 2015年7月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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Application of EDX Spectroscopy 国際会議
S. Muto
The 2th Uppsala TEM spectroscopy workshop (HMK2015)
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開催年月日： 2015年5月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：スウェーデン王国
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Recent development of EMCD technique: toward spin nanoscopy using STEM-EELS 国際会議
S. Muto
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開催年月日： 2015年4月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：クロアチア共和国
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Quantitative element/site-selective microanalysis using high-angular resolution electron channeled X-ray/electron spectroscopy 国際会議
The 3th Croatian Microscopy Congress (HMK2015)
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開催年月日： 2015年4月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：the Hotel Adriana 国名：クロアチア共和国
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複合電子顕微分光法の開発と実材料分析への応用の現状
武藤俊介
新学術領域研究第2回公開シンポジウム
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開催年月日： 2015年3月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：名古屋大学環境総合館レクチャーホール 国名：日本国
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エネルギー関連機能材料のナノオーダー解析－電池・触媒のSTEM分光マッピングを中心に－
武藤俊介
2014JEOL先端材料解析ソリューションセミナー
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開催年月日： 2014年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：グランドティアラ名古屋駅前 国名：日本国
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ナノ電子状態解析のフロンティア開拓と実材料分析への応用
武藤俊介
日本金属学会2014年度秋期講演大会
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開催年月日： 2014年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（基調）
開催地：名古屋大学東山キャンパス 国名：日本国
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STEM spectroscopic analysis of white-luminescent nano structures 国際会議
セミナー
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開催年月日： 2014年9月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：ストックホルム大学 国名：スウェーデン王国
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電子磁気円二色性に基づくナノ領域磁気角運動量定量測定
武藤俊介
第30回分析電顕討論会
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開催年月日： 2014年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：幕張メッセ国際会議場 国名：日本国
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Digital Micrograph スクリプティング事始め
武藤俊介
2014年夏の電子顕微鏡解析技術フォーラム
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開催年月日： 2014年8月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（一般）
開催地：時之栖 国名：日本国
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超高圧電子顕微鏡による新たなナノ物性測定の可能性
武藤俊介
日本顕微鏡学会第70回記念学術講演会
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開催年月日： 2014年5月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：幕張メッセ国際会議場 国名：日本国
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Recent development of EMCD technique:toward spin nanoscopy using STEM-EELS
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開催年月日： 2014年4月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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超高圧STEMによるナノ磁性材料の電子磁気円二色性定量測定
武藤俊介, 巽一厳, Jan Rusz, 荒井重勇
第74回応用物理学会秋季学術講演会
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開催年月日： 2013年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：同志社大学京田辺キャンパス 国名：日本国
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Element/Site-Selective Microanalysis UsingHigh-Angular Resolution Electron Channeled X-ray/Electron/Light Spectroscopy 国際会議
The 4th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations(AMTC)
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開催年月日： 2013年7月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：ACT CITY HAMAMATSU Congress Center 国名：日本国
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電子顕微鏡による炭素系非晶質膜のミクロ構造と結合状態のキャラクタリゼーション
武藤俊介
第93回東海トライボロジー研究会
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開催年月日： 2013年6月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：名城大学 国名：日本国
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グリーンビーグル材料の特性と局所電子状態可視化
武藤俊介
第152回日本金属学会2013年春期大会
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開催年月日： 2013年3月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（基調）
開催地：東京理科大学 国名：日本国
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SEM反射電子像コントラストの動力学的電子回析理論による解釈の試み
武藤俊介
日本顕微鏡学会第69回学術講演会
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開催年月日： 2013年3月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：ホテル阪急エキスポパーク 国名：日本国
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電子顕微鏡による電池材料分析への取り組みについて
武藤俊介
日本学術振興会材料の微細組織と機能性第133委員会第217回研究会
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開催年月日： 2013年3月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：東京理科大学 国名：日本国
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多変量スペクトル分解法のスペクトラムイメージングへの応用
武藤俊介
平成24年度日本表面科学会関西支部セミナー
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開催年月日： 2013年2月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：産総研関西センター 国名：日本国
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S/TEMにおける分析の極意－電子遷移の過程を知ろう－
武藤俊介
2013年新春電子顕微鏡解析技術フォーラム
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開催年月日： 2013年1月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：日本電子株式会社大手町野村ビル 国名：日本国
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高分解能電子エネルギー損失分光法
武藤俊介
第16回VBLシンポジウム
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開催年月日： 2012年12月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：名古屋大学フロンティアプラザ ベンチャーホール 国名：日本国
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複合電子分光S/TEMで探る不均一触媒の局所電子状態マッピング
武藤俊介 他
日本顕微鏡学会第56回シンポジウム「ソフト・ハードマターの多様性を観る」
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開催年月日： 2012年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：北海道大学学術交流会館 国名：日本国
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動力学回折理論の基礎とSEMへの適用
武藤俊介
「SEMの物理科学」研究部会 合宿幹事会
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開催年月日： 2012年10月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：日本電子 山中湖保養所ジュラク荘 国名：日本国
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酸化物の定量解析
武藤 俊介
電子顕微鏡解析技術フォーラム
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開催年月日： 2012年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：琵琶湖リゾートクラブ 国名：日本国
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A new method for extracting EMCD signals from spectrum diffraction datacube using a multivariate curve resolution technique 国際会議
武藤 俊介
Workshop on EELS in Materials Science
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開催年月日： 2012年6月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：Uppsala University 国名：スウェーデン王国
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Extraction of Electron Magnetic Circular Dichroism from Energy-Filtered Nano-Diffraction by Multivariate Curve Resolution Technique 国際会議
武藤 俊介
The 3rd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations(AMTC3)
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開催年月日： 2012年5月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：Nagaragawa Convention Center 国名：日本国
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複合電子分光による物性画像診断とそのリチウム電池材料への応用
武藤 俊介
高分子分析研究懇談会第362回例会
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開催年月日： 2012年4月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：ゆうぽうと 国名：日本国
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TEM-EELSによるパラメータフリー磁気円二色性測定法の開発
武藤 俊介
日本金属学会2012年度春期講演大会
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開催年月日： 2012年3月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（基調）
開催地：横浜国立大学 国名：日本国
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エネルギー・環境材料と格子欠陥－分光TEMによる展開－
武藤 俊介
日本物理学会第67回年次大会
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開催年月日： 2012年3月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：関西学院大学 国名：日本国
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Diagnostic STEM-EELS Analysis of Cathodes in Lithium-Ion Secondary Batteries 国際会議
Shunsuke MUTO
International Symposium on Role of Electron Microscopy in Industry-Toward genuine collaboration between academia and industry-
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開催年月日： 2012年1月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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サブナノ領域分光イメージング－最新TEM分析技術
武藤 俊介
金属学会鉄鋼協会東海支部若手材料研究会 第60回研究会「最新の分析評価技術」
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開催年月日： 2011年12月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：東レ総合研修センター 国名：日本国
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今S/TEM-EELSの分析をどのように考えるべきか
武藤 俊介
学振141委員会研修セミナー「SEM,TEMにおける分光分析技術」
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開催年月日： 2011年12月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：東レ総合研修センター 国名：日本国
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複合電子分光による機能元素電子状態解析
武藤 俊介
日本金属学会秋期大会（沖縄） S1：機能元素のナノ材料科学
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開催年月日： 2011年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（基調）
開催地：沖縄コンベンションセンター 国名：日本国
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TEMを用いた分光法によるナノ機能評価の現状と今後
武藤俊介
東北大学金属材料研究所ワークショップ「分野融合型格子欠陥研究の発展にむけて」
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開催年月日： 2011年10月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：東北大学金属材料研究所 国名：日本国
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TEM法による蓄電池材料解析技術
武藤俊介
第２１回格子欠陥フォーラム
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開催年月日： 2011年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：立山国際ホテル 国名：日本国
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化学状態から探るリチウムイオン二次電池正極の相分布マッピング
武藤俊介
分析電子顕微鏡討論会
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開催年月日： 2011年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：幕張メッセ 国名：日本国
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Diagnostic STEM-EELS Analysis of Cathodes Degradation in Lithium-Ion Secondary Batteries 国際会議
Shunsuke MUTO
Microscopy & Microanalysis 2011
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開催年月日： 2011年8月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：アメリカ合衆国
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EELS データへの統計処理の応用‐化学状態分析の新しい展開
武藤俊介
日本顕微鏡学会関西支部特別企画講演会「産業基盤を支える顕微鏡」
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開催年月日： 2010年12月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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S/TEM分析データへの多変量解析の応用
第三回日本電子TEMユーザーズミーティング
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開催年月日： 2010年12月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
武藤俊介
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S/TEM像・分析データの信号処理による情報抽出
武藤俊介
日本顕微鏡学会・第54回シンポジウム，瀬藤賞受賞講演
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開催年月日： 2010年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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Statistical signal processing of S/TEM-EELS datasets–Extraction of information without reference– 国際会議
Max Planck Institute, STEM group seminar
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開催年月日： 2010年9月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
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リチウム電池正極のSTEM-EELSイメージングによるナノ劣化解析とリチウム状態分析
日本金属学会分科会シンポジウム
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開催年月日： 2010年7月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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スペクトラムイメージによるリチウムイオン二次電池正極の劣化解析
武藤俊介
日本顕微鏡学会第66回学術講演会
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開催年月日： 2010年5月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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最先端電子顕微分光法の周辺－水素を見ることができるか－
第３回「環境調和型水素製造システムにおける生成と吸蔵貯蔵の一体化研究会」
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開催年月日： 2009年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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多変量スペクトル分解法によるSTEM-EELS化学結合マップ
日本顕微鏡学会第53回シンポジウム
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開催年月日： 2009年10月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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Diagnostic analysis of Li ion secondary batteries by STEM-EELS/SI-MCR 国際会議
Electrochemical laboratory seminar
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開催年月日： 2009年10月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
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S/TEM-EELSデータの統計処理による先端材料ナノ物性解析
日本学術振興会 マイクロビームアナリシス第141委員会 09年度研究会
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開催年月日： 2009年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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多変量スペクトル分解法の基礎とスペクトラムイメージングへの応用
第25回分析電子顕微鏡討論会
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開催年月日： 2009年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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Diagnostic analysis of ion-beam induced nanostructures by S/TEM-EELS 国際会議
XVIII International Materials Research Congress: Symposium 20:Beams and Materials: Ion Beams
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開催年月日： 2009年8月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
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TEM関連スペクトロスコピーによる情報抽出法
武藤俊介
金属学会セミナー「機能元素のナノ材料科学｝
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開催年月日： 2009年7月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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複合電子分光によるナノテク実材料のナノ領域特性画像診断
武藤俊介
第56回応用物理学関係連合講演会
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開催年月日： 2009年3月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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複合電子分光による機能元素分析
武藤俊介
日本金属学会第143回秋期大会 基調講演
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開催年月日： 2008年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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Combined Electron Spectroscopy and Imaging Associated with (S)TEM Application of Multivariate Curve Resolution
The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
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開催年月日： 2008年6月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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電子顕微鏡におけるX線マイクロアナリシスへの期待
武藤 俊介
島津製作所第25回記念マイクロアナリシス研究懇談会
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開催年月日： 2007年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
-
Electronic state analysis of implanted nitrogen in visible-light response TiO2 photocatalyst by TEM-EELS
Lattice Defects Forum, The Doyama Symposium on Advanced Materials, “Materials to Save Humankind: The Dream, Creativity, and Working Toward its Realization"
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開催年月日： 2007年9月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
-
複合電子分光TEMによる局所領域電子状態解析の最近の進展
武藤 俊介
豊田中研講演会「微細(界面)構造観察から計算科学へ」
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開催年月日： 2007年8月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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電子定在波を利用した原子位置選択的電子状態測定
武藤俊介、巽 一厳
日本顕微鏡学会第63回学術講演会
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開催年月日： 2007年5月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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EELS微細構造の先端解析とその材料科学への応用
武藤俊介
日本顕微鏡学会関西支部平成18年度特別講演会
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開催年月日： 2006年7月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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ナノ計測と電子状態評価
武藤俊介
日本金属学会春期（第138回）大会 基調講演
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開催年月日： 2006年3月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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ナノグラファイトの構造・機能評価－秩序と無秩序の間
武藤 俊介
日本物理学会第61回年次大会
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開催年月日： 2006年3月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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セラミックス関連材料のTEM-EELSによる先端解析
武藤俊介
学振先進セラミックス第124委員会
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開催年月日： 2006年1月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
-
計算科学による材料科学研究－変形，局所振動モード，同位体効果－
武藤俊介，巽一厳
富士通分子動力学ソフト新バージョン発表セミナー
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開催年月日： 2006年1月
記述言語：日本語
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透過電子顕微鏡に付随した電子分光法で何ができるか
武藤俊介
新しい触媒・素材開発のためのin-situ計測・分析技術・第一回講演
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開催年月日： 2005年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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内殻励起吸収端微細構造を利用した実・逆空間構造解析
武藤 俊介
日本顕微鏡学会第50回シンポジウム
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開催年月日： 2005年11月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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TEM-EELS法による材料中の水素検出法の開発
武藤俊介
第15回格子欠陥フォーラム
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開催年月日： 2005年9月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
-
電子チャネリングEELSによる原子サイト選択的電子状態分析
武藤俊介
第21回分析電子顕微鏡討論会
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開催年月日： 2005年8月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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TEM-EELS structural analysis of oxygen-related defect complexes in semiconductors surfaces 国際会議
2005 Symposium on Materials & Systems for Energy Conversion, “Development and Microstructural Analysis for Energy Related Materials"
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開催年月日： 2005年3月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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Detection of hydrogen states in hydrogenated nanostructured graphite with EELS 国際会議
8th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference (APEM-8)
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開催年月日： 2004年6月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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Hydrogen State in Hydrogenated Nanostructured Grphite Studied with TEM-EELS 国際会議
5th KIM-JIM Symposium on Recent Advances in Energy Materials and Nano-Characterization
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開催年月日： 2003年10月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
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EELS with Green Sauce 国際会議
Annual Meeting of Belgian Electron Microscopy Society
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開催年月日： 2003年5月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
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EELS Characterization of defect structures in light element materials
First Kyoto Int'l Symp. on Computational Materials Science
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開催年月日： 2003年3月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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Maximum entropy spectral analysis of extended energy-loss fine structure and its application to time-resolved measurements
Int'l Symp. on In-Situ Electron Microscopy
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開催年月日： 2003年1月
記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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構造相変態における格子振動モードと点欠陥
武藤 俊介
ＷｉｎＭＡＳＰＨＹＣフォーラム
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開催年月日： 2002年12月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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高エネルギー粒子線照射による共有結合性非晶質のEELSによる構造解析
武藤 俊介
日本電子顕微鏡学会第58回学術講演会
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開催年月日： 2002年5月
記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
国名：日本国
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電子チャネリングを利用した元素／サイト選択的化学分析 国際会議
武藤俊介, 大塚真弘
日本顕微鏡学会第75回学術講演会 2019年6月16日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：名古屋国際会議場
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構造化データ融合法によるテンソル分解を適用したハイパー顕微分光データから 国際会議
武藤俊介
日本顕微鏡学会高分解能分科会 2018年2月23日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（基調）
開催地：マホロバ・マインズ三浦
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未来社会を支えるエネルギーとマテリアル研究に超高圧電子顕微鏡の果たす役割 国際会議
武藤俊介
第7回エネルギー・マテリアル融合領域シンポジウム 2018年1月11日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：北海道大学
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新しい情報・統計理論に基づくスペクトル分解―化学イメージング法の開発 国際会議
武藤俊介
Spring-8材料構造の解析に役立つ計算科学研究会（第3回）/第10回Spring-8先端利用技術ワークショップ 2017年2月27日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：㈱ニチイ学館神戸ポートアイランドセンター
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情報統計処理による信号抽出法の基礎 国際会議
武藤俊介
第33回分析電子顕微鏡討論会 2017年9月5日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：幕張メッセ国際会議場
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分光スペクトルデータへのインフォマティクス応用とその課題 国際会議
武藤俊介
日本セラミックス協会第31回秋季シンポジウム 2018年9月5日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：名古屋工業大学
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今EELS分析をどう考えるか 国際会議
武藤俊介
Gatan製品技術セミナー2019 2019年2月22日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：品川シーズンテラスカンファレンス
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ビッグデータ時代の微細構造解析支援－トップサイエンスと実材料分析－ 国際会議
武藤俊介
共用・計測合同シンポジウム2017 先端計測けんきゅうと共用推進による材料イノベーション 2017年3月9日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：物質・材料研究機構
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ハイパー分光像データからの情報抽出法開発の現状 国際会議
武藤俊介
日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会第171回研究会 2018年2月22日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：東京理科大学森戸記念館
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ハイパー分光スペクトルイメージデータによる化学イメージング－情報統計学によるデータ処理を正しく使うために－ 国際会議
武藤俊介
第7回CSJ化学フェスタ2017 2017年10月17日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：タワーホール船堀
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ナノ電子顕微分光への情報処理技法の応用 国際会議
武藤俊介
第46回薄膜・表面物理基礎講座2017 2017年11月17日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：名古屋大学VBLホール
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ナノ電子顕微分光への情報処理技法の応用 国際会議
武藤俊介
「先端計測インフォマティクス 大量データ時代の情報活用」ワークショップ 2017年1月19日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：物質・材料研究機構
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テンソル分解法によるハイパースペクトル像解析の進展 国際会議
武藤俊介
人工知能学会第２種研究会 計測インフォマティクス研究会 2019年3月6日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：物質・材料研究機構
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STEM-EELSハイパースペクトル像解析による無染色ポリマーイメージング 国際会議
武藤俊介
日本顕微鏡学会第75回学術講演会 2019年6月16日
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記述言語：日本語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：名古屋国際会議場
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Signal mining for chemical imaging from hyperspectral image data
S.Muto
3rd International Workshop on TEM Spectroscopy in Materials Science 2017年6月19日
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記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：S. Muto
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Operando study of catalytic reactions by environmental HVEM equipped with Q-mass spectrometry
S.Muto
EM CHINA 2018 2018年10月23日
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記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：CHENGDU XIYUE HOTEL, Chengdu, China
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Multi-Way Hyperspectral Image Analysis Based on Scanning Transmission Electron Microscopy and Associated Spectroscopic Methods
S.Muto
2017MRS Spring Meeting & Exhibit 2017年4月17日
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記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：Phonix Convention Center and Sheraton Grand Phoenix
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In situ observation of catalytic reactions under gas atmosphere by reaction science high-voltage scanning transmission electron microscope equipped with quadrupole mass spectrometer
S.Muto
The 3rdEast-Asia Microscopy Conference (EAMC3) 2017年11月7日
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記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：BEXCO in Busan, Korea
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Hyperspectral Image Analysis of Spatially/Spectrally Overlapped Datasets for Chemical Imaging
S.Muto
The 19th Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions(SISS19) 2017年5月11日
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記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：Miyako Messe, Kyoto
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Development of new environmental high-voltage transmission electron microscope equipped with quadrupole mass spectrometer for observing catalytic reactions
S.Muto
International conference on Mass Spectrometry and Proteomics 2018 2018年6月25日
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記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：Finnstown Castle Hotel, Dublin, Ireland
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Application of Machine Learning Techniques to Electron Microscopy/Spectroscopy Image Data
S.Muto
ACSIN-14&ICSPM26 2018年10月21日
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記述言語：英語 会議種別：口頭発表（招待・特別）
開催地：Sendai International Center, Japan
共同研究・競争的資金等の研究課題
共同研究・競争的資金等の研究課題 30
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反応ガス中触媒活性サイトのオペランドTEM解析③
2021年7月 - 2022年4月
国内共同研究
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ポリマー材料の無染色解析技術開発
2021年7月 - 2022年3月
国内共同研究
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電子顕微鏡を用いた分光法のための新解析システムの開発
2020年10月 - 2022年3月
国内共同研究
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反応ガス中触媒活性サイトのオペランドTEM解析②
2020年7月 - 2021年5月
国内共同研究
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地域先端計測基盤とAIの統合による機能材料探索の新展開
2020年4月 - 2022年3月
国内共同研究
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担当区分：研究分担者
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反応ガス中触媒活性サイトの環境TEM解析
2019年7月 - 2020年4月
国内共同研究
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透過電子顕微鏡によるサイト占有率測定技術の伝授
2018年11月 - 2020年3月
企業からの受託研究
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反応ガス中触媒活性サイトの環境TEM解析
2018年7月 - 2019年5月
国内共同研究
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情報科学活用による電子・磁気状態の定量評価手法の開発
2018年7月 - 2019年3月
企業からの受託研究
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電子顕微鏡を用いた分光法のための新解析システムの開発
2018年6月 - 2019年3月
国内共同研究
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情報科学活用による電子・磁気状態の定量評価手法の開発
2018年5月 - 2019年3月
国内共同研究
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STEM-EELSによる材料の状態マッピング技術の開発
2018年4月 - 2019年3月
国内共同研究
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機能性材料の微量元素置換サイト計測に関する研究
2017年5月 - 2018年3月
国内共同研究
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コンピュータ演算による原子レベル構造解析技術の高度化
2017年4月 - 2019年3月
国内共同研究
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電子顕微鏡及びそれに付随した分光法とそれぞれを用いた材料評価技術
2016年4月 - 2018年5月
国際共同研究
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磁石材料の微量元素置換サイト計測に関する研究
2015年7月 - 2017年3月
国内共同研究
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Research on Advanced EELS analysis and simulation technique using high energy resolution TEM
2012年12月 - 2014年11月
International Cooperative Research
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数値処理によるEELSスペクトルの解析技術
2010年4月 - 現在
企業からの受託研究
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固体構造の評価手法および解析手法の開発
2010年4月 - 現在
企業からの受託研究
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分析機能を有する電子顕微鏡を用いた固体構造解析に関する技術指導
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電子顕微鏡及びそれに付随した分光法とそれを用いた材料評価技術の研究
2010年4月 - 現在
企業からの受託研究
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STEM-EELS及び新規信号処理技術を用いた次世代電池材料の解析
2009年4月 - 2011年3月
企業からの受託研究
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アルミニウム系水素化物における微細構造と反応機構
2009年4月 - 2010年3月
国内共同研究
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ベイナイト変態及び析出に関する基礎研究
2008年10月 - 2011年3月
企業からの受託研究
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鉄鋼中の炭化物や酸化物、或いはその他元素分析のための新しい電子顕微鏡Ｘ線分光 法技術の開発研究、並びに関連する電子顕微鏡用のソフト開発研究。
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ＴＥＭ－ＷＤＳ/EELSを用いた局所活性点の状態解析
2007年5月 - 現在
企業からの受託研究
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化学反応を促進させる触媒として酸化物セラミックスに担持した貴金属微粒子は排気ガス浄化などの産業的に重要な役割を担っている。一方これらの触媒開発は試行錯誤の域を出ておらず、その触媒活性発現に特有な化学結合状態を解析することが喫緊の課題である。実触媒では活性点である貴金属は様々な状態分布を持っており、これらの状態分布を解析し、分布領域毎の貴金属活性を調査することは、将来の触媒研究／材料設計にとって重要である。しかし、既存の解析手法では平均的な情報は得られるが局所的な情報を得ることが困難である。本研究では、TEM-WDS/EELSを用いて局所的な構造を解析する技術を確立し、自動車触媒への応用を研究する。
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電子顕微鏡データ解析技術に関する研究
2007年5月 - 2008年3月
企業からの受託研究
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電子顕微鏡で観察した原子配列画像や電子線エネルギー損失分光データに対し、ベイズ定理に基づく画像復元法（PIXON法）を使ってノイズや歪みを低減して画像やスペクトルを復元する。この技術を非晶質材料の局所状態解析やナノ構造合金材料の表面電子状態解析に適用することでその機能発現メカニズムを明らかにする。
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微細組織及び遷移金属価数解析に関する研究
2007年4月 - 2010年3月
企業からの受託研究
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PZT薄膜圧電素子の通電による特性劣化メカニズム解析
2006年10月 - 2012年3月
企業からの受託研究
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金属中の水素イメージング法の開発とその鉄鋼材料における水素脆性個所直接診断への応用
2006年4月 - 2008年3月
企業からの受託研究
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電子チャネリングを利用した元素・原子位置選択的電子状態計測法の開発と応用
2005年10月 - 2007年3月
大幸財団
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資金種別：競争的資金
本研究は、ナノサイズ電子ビームを用いて固体中のブロッホ波を選択的に励起すること（電子チャネリング）によって、局所領域で特定の原子面上の特定の元素の電子状態を高エネルギー電子分光法で計測するという独自のものである。
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新しい統計的手法（ウェーブレット変換法）を導入した電子エネルギー損失広域微細構造解析による非品質（ガラス）局所構造の決定
2000年4月 - 2001年3月
中部電力基礎技術研究所
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資金種別：競争的資金
科研費
科研費 28
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逆空間走査多元分光による局在機能欠陥の高分解能立体構造／状態分析
2014年4月 - 2018年3月
科学研究費補助金 基盤研究(A)
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担当区分：研究代表者
本研究の目的は，ナノ電子プローブを用いたビームロッキング下での複数電子分光（EELS, EDX,WDX, CL）に基づく新しい「立体的かつ定量」ナノ領域スペクトロスコピーを確立し，表面・界面を含む様々な格子欠陥の局所構造・機能解析に応用することである．本手法は，本来電子顕微鏡が持つ高い角度分解能を利用して，逆空間座標に依存する蛍光／吸収スペクトル情報を収集・解析するため，元素／原子サイト選択的であり，従来の二次元実空間結像／マッピングに比べ高精度の定量性を持つ．また周期構造から逸脱した格子特異点の選択的分析によって機能性材料分析への応用の道を拓く．特にナノ領域発光によるイオン化チャネリングパターン（ICP）解析に力点を置き，STEM分光法の三次元・空間／エネルギー分解能の飛躍的向上を目指す．
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ナノ電子状態解析のフロンティア開拓
2013年6月 - 2018年3月
科学研究費補助金 新学術領域研究（領域提案型） 計画班
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担当区分：研究代表者
ナノ電子プローブを用いた分光法，すなわち電子エネルギー損失分光（EELS：伝導帯DOS），カソードルミネッセンス（CL：バンド間遷移）と軟X線発光分光（SXES：価電子帯DOS）を集約し，動力学的回折条件によるブロッホ波の対称性を利用して，ナノ構造を内包する試料の電子状態・光学的性質・磁性を，「ナノ分解能で，同じ場所から同時に，かつ元素・サイト選択的に」測定する．そして得られたデータをA01(ア)およびA02(エ)と共同で統計処理することで多角的な情報抽出を行い，共通の分光的特徴を持つ領域の空間分布の可視化を通じて「高角度分解能・多元電子分光」という新たな格子特異点の定量分析法を開拓する．
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複合電子分光顕微鏡による金属酸化物中のサブナノメートル欠陥の性質と構造
2002年4月 - 2005年3月
科学研究費補助金 基盤研究（Ｂ），課題番号：14350340
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担当区分：研究代表者
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軟X線領域複合電子分光が拓く高空間・エネルギー分解能物性診断
2005年4月 - 2009年3月
科学研究費補助金 基盤研究（Ａ），課題番号：17206063
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担当区分：研究代表者
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複合電子分光による機能元素電子状態解析
2007年8月 - 2012年3月
科学研究費補助金 特定領域研究 19053004
武藤 俊介
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担当区分：研究代表者
高エネルギー電子をプローブとして、ナノサイズ格子特異点領域に配置した機能元素における電子状態を定量的に計測・評価そして可視化する.
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多元スペクトラムイメージによるナノ光学材料分析法の開発と応用
2009年4月 - 2012年3月
科学研究費補助金 基盤研究(B)
武藤俊介
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担当区分：研究代表者
本研究の目的は，高エネルギーナノ電子プローブによって試料各点から得られる二種類以上かつ多数のスペクトルに対して統計学的処理による情報抽出を行い，ヘテロ構造を持つ機能材料の光学物性を1ナノメートルの空間分解能で可視化する技術を確立し，実用光学材料解析に応用することである．これまで基盤研究等による助成によって段階的に確立してきた「複合電子分光による画像物性診断」の要素技術開発の最終段階に当たり，ナノ領域発光測定と三（四）元解析法の開発がその主眼である．
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ポリマーブレンド構成成分の無染色三次元イメージング技術の開発
研究課題/研究課題番号：21K18816 2021年7月 - 2023年3月
科学研究費助成事業 挑戦的研究(萌芽)
武藤 俊介
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担当区分：研究代表者
配分額：6370000円 （ 直接経費：4900000円 、 間接経費：1470000円 ）
軽量で可塑性のあるポリマーを混合したポリマーブレンド／アロイは，様々なニーズに対応する機械／熱／電気特性を持つ新しい素材を無限に生む可能性を持つ．アロイ化された材料の成分のポリマーがどのような形態・構造で混錬しているか確認することは，その後の材料開発の重要な情報を与える．軽元素から成る高分子材料は，互いに密度や組成が似通っており，無染色で，かつ電子照射で容易に変質する．そこで本研究では、走査透過電子顕微鏡と電子エネルギー損失分光法に最新画像情報処理を組み合わせてポリマーアロイの各成分相をその化学状態とともにナノメートル分解能でイメージングする手法開発を行う．
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ナノ電子プローブ実・逆空間走査による統合データ駆動型材料物性解析
研究課題/研究課題番号：21H04616 2021年4月 - 2025年3月
科学研究費助成事業 基盤研究(A)
武藤 俊介, 大塚 真弘, 齊藤 元貴, 志賀 元紀, 岡島 敏浩
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担当区分：研究代表者
配分額：41990000円 （ 直接経費：32300000円 、 間接経費：9690000円 ）
本研究の目的は，透過電子顕微鏡法（TEM）の持つ本来の強みを生かした独自の複合電子顕微分光法（Integrated Electron Microscopic Spectrometry: IEMS）による材料中の様々な格子欠陥の構造及び基礎物性をナノメートルスケールで（しかし強く電子ビームを絞らずに）高精度定量計測する新機軸ロバスト手法を確立・検証そして応用することである．また放射光分光との連携によってマルチスケール・マルチモーダルなデータ駆動統合型計測の枠組みを構築し，広く世界に発信する．
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理論・計算・データ科学による蓄電固体界面イオンダイナミクスの機構解明 国際共著
研究課題/研究課題番号：JP19H05815 2019年7月 - 2024年3月
日本学術振興会 科学研究費補助金 新学術領域研究（研究領域提案型）
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担当区分：研究分担者
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質量分析機ー反応科学TEMによる新しい原子レベル触媒反応オペランド測定法の開発
2019年7月 - 2021年3月
科学研究費補助金 研究成果公開促進費 (研究成果公開発表)
武藤 俊介
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担当区分：研究代表者
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質量分析機ー反応科学TEMによる新しい原子レベル触媒反応オペランド測定法の開発
2019年7月 - 2021年3月
科学研究費助成事業 挑戦的研究（萌芽）
武藤 俊介
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担当区分：研究代表者 資金種別：競争的資金
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理論・計算・データ科学による蓄電固体界面イオンダイナミクスの機構解明
研究課題/研究課題番号：19H05815 2019年6月 - 2024年3月
科学研究費助成事業 新学術領域研究(研究領域提案型)
館山 佳尚, 中山 将伸, 武藤 俊介, 井上 元, DAM HieuChi
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担当区分：研究分担者
蓄電固体材料内の界面では、しばしば特異的なイオンの振舞い（輸送や蓄積）が観測されている。これらは界面付近の電子状態、構造および可動イオン状態の変調が絡み合って生じると予想されるが、既存の電気化学・半導体物理の理論ではこのような複雑な相関を扱うことは未だ難しく、そのメカニズムはわかっていない。本研究では、ナノスケール第一原理計算、高精度メソスケール計算、サブミクロンスケール実験データに関するデータ駆動型AI解析を有機的に組み合わせることでイオンの振舞いをマルチスケールで明らかにする。さらに得られた知見をもとに、電子状態・イオンダイナミクスの相関をより高度に扱える界面理論の構築に取り組む。
蓄電固体界面のイオン変調に関して、多様なスケールの先端的計算科学・データ科学解析アプローチを開拓し、さらに実験研究と緊密な連携の下、界面付近のイオン状態・移動に関する新規な知見を多数獲得した。
第一原理・古典力場計算のアプローチでは、これまで開発してきた界面構造高効率探索手法をLi/LATP/LCO界面などの電極ー固体電解質界面に適用し、界面安定構造に加えて、電子移動・イオン移動及びその温度効果に関する計算予測を試み、実験により予測性に関して一定の評価を得た。またNASICON系固体電解質材料などの粒界イオン伝導に着目し、界面構造の特徴量としてイオンの結合長・結合角分布、ボロノイ図形を採用し機械学習解析を行った結果、粒界構造とイオン伝導間に相関があることが確認され、特に界面中の空隙構造に最適値があることが明らかになった。メソスケール計算では、弾塑性変形を考慮した三次元離散要素法のモデル構築を行い、実際の複雑構造内を対象に固体接触界面での反応輸送現象に強く影響する応力場の計算を包含した、電気化学反応と連成させた新規計算モデルの構築に成功した。本計算によりヤング率等の材料力学物性が充放電特性に及ぼす影響を検証した。データ科学系では、LATP/LCOモデル界面のSTEM-EELSスペクトラムイメージデータに対して、従来の非負スペクトル分解法における課題を回避する対数尤度最大化法を新たに開発し、適用した。これにより、界面抵抗の温度変化の起源を明らかにし、さらに計算から予測された界面イオン移動を実験的に検証した。またLiCoO2正極の充電放電過程におけるLi分布の３次元画像に対して分布の重要な特徴を自動的に発見できるAI解析手法の開発や、LNMO正極の硬X線分光タイコグラフィ法によるX線吸収微細構造（XAFS）2次元画像に対して、AI解析を行いLNMO粒子中の結晶相の特定に成功した。
計画研究A03では、蓄電固体界面の構造および電子・イオン状態の（１）計算科学解析、（２）計測データ等と連動したデータ駆動型AI 解析、その上で（３）蓄電固体界面イオニクスの学理構築を目標としている。
（１）に関しては、複雑な電極ー固体電解質、固体電解質粒界界面の高精度高効率サンプリング手法を複数開発し、界面近辺におけるイオン変調（空間電荷層）・イオン移動に関する計算解析および機械学習解析アプローチの確立に大いに近づいた。メソスケール計算に関しては固体間接触とその応力効果を考慮した計算モデルを新たに構築し、応力効果・塑性変形・体積膨張収縮を考慮したイオン輸送・電気化学反応解析が可能となった。（２）については、TEM薄片試料加工法やSTEM-EELS/EDX分析条件のノイズの取扱い最適化によるデータ処理技術がほぼ確立し、深さ分解XAFSデータの解析法の開発を進めている。さらに計測２次元、３次元画像に包含されているイオン変調の特徴を自動的に発見できるAI解析手法の開発を行った。これらの開発・確立した手法をもとに、（３）の学理構築に向けて、界面近辺におけるイオン分布・イオン状態変化、イオン移動・拡散に関して、様々な新規原理を提案してきた。さらにこれらを統一的に取り扱う電気化学ポテンシャル・化学ポテンシャル理論の再構築まで進んでいる。本研究課題開始時に比して、格段に界面イオニクスに関する新しい知見が増加しており、研究は順調に進展している。
実験研究と連携をさらに深化させ、蓄電固体界面の構造・イオン変調・電子状態に関する計算科学・データ科学研究をさらに加速させる。これまで主に扱ってきた電子的・化学的因子に加えて、力学因子・電気化学因子等の解析も深掘りし、界面イオニクスの学理構築に取り組むと共に、界面イオン輸送・イオン蓄積を促進する材料提案も目指す。
具体的には、これまでの計算研究から得られてきた、イオン・電子の電気化学ポテンシャルの描像を実験とより整合性の取れた形にすることで、界面イオン輸送の解析手法を確立する。さらに界面応力とイオン伝導パスの局所構造やネットワーク度の変化をも取り込んだイオン輸送の原理拡張を目指す。これらの微視的な理論解析に加えて、界面反応記述の基礎となる電気化学反応速度式の再考察も進める。さらに電極層構造など実用環境を想定したダイナミクスを対象に、充放電特性が予測可能なメソスケール計算モデルを構築する。
データ駆動型AI 解析側では、これまで開発してきたスペクトル分解法をさらに充放電後のモデル界面分析に適用し、界面層のナノレベルでのイオン移動、界面抵抗変化について詳細な解析を進めるとともに、微分位相コントラスト法による界面ポテンシャルの可視化技術、およびスパースモデリングによるEXELFS解析法の開発を進め、局所構造と電池特性の関連を明らかにしていく。さらに充放電過程における計測２次元、３次元画像に対して電気化学因子等を考慮した画像データ特徴の自動抽出AI解析手法の確立にも取り組み、界面付近でイオン移動描像のさらなる深化を目指す。
最終的に、蓄電固体界面科学の教科書を作成できるよう理論的な準備を今後も進めていく。 -
質量分析機－反応科学TEMによる新しい原子レベル触媒反応オペランド測定法の開発
研究課題/研究課題番号：19K22102 2019年6月 - 2021年3月
科学研究費助成事業 挑戦的研究(萌芽)
武藤 俊介
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担当区分：研究代表者
配分額：6370000円 （ 直接経費：4900000円 、 間接経費：1470000円 ）
本研究は，ガス化学反応をリアルタイム原子レベル観察でその場観察すると同時に反応に関与する供給ガス及び生成ガスを検出する新たなオペランド測定システムを構築し，触媒反応研究における議論の中心の一つである反応活性点の特定とそのダイナミクスの解明を目指すものである．触媒反応の観察に実績を持つ名古屋大学超高圧電子顕微鏡施設所有の反応科学超高圧走査透過型電子顕微鏡（RS-HVSTEM）に高感度四重極質量分析計を装着して原子分解能で触媒粒子を観察すると同時にガス分子を検出するのみならず，電子エネルギー損失分光データにインフォマティクス技法応用によって表面ガス吸着分子のイメージングを行う．
本研究の目的は，ガス化学反応をリアルタイム原子レベル観察でその場観察すると同時に反応に関与する供給ガス及び生成ガスを検出する新たなオペランド測定システムを構築し，反応活性点の特定とそのダイナミクスの解明を目指すものである．
反応科学超高圧電子顕微鏡のガス環境セル排気ラインに四重極質量分析計およびガスクロマトグラフシステムを設置した．具体的応用事例として、自動車排気ガス浄化でも困難とされている窒素酸化物還元のためのモデル触媒であるZrO2担持Rh微粒子を用い，温度上昇に伴う微粒子表面の原子分解能TEM観察と酸化還元反応生成ガスの検出が実際に可能なことを示し、その詳細な過程の解析に成功した．
現在，S/TEM観察技術において最もホットな分野の一つが実際のデバイスの実動作条件を電子顕微鏡（TEM）内で再現して高空間分解能でそのダイナミクスを捉える「オペランド測定」である．TEM技術は，実空間での高い空間分解能において材料科学分野の他の実験手法を圧倒するが，標準分析装置の元素分析感度は1原子%程度である．そこで，ガス環境セルを設置した本学反応科学超高圧TEMに質量分析装置を設置し，実際に原子レベルでの構造変化観察と同時に微量反応生成ガスの検出に成功した．おそらく世界で初めて自動車排気ガス浄化触媒反応のダイナミクスを画像とスペクトルで同時に捉えることができ、反応機構の解明に寄与した． -
ナノ電子ビーム分光によるセラミックス一般粒界偏析機能元素の定量分析法開発
研究課題/研究課題番号：17K19101 2017年6月 - 2019年3月
科学研究費助成事業 挑戦的研究(萌芽)
武藤 俊介, 大塚 真弘, 伊神 洋平
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担当区分：研究代表者
配分額：6370000円 （ 直接経費：4900000円 、 間接経費：1470000円 ）
本研究は、電子ビームロッキングによる結晶中不純物の占有サイト分析法と高度スペクトルイメージング法を組み合わせて，任意の方位を持った結晶粒界に偏析する機能性ドーパントの規則配列構造及びそれに伴う特有の電子状態を抽出し定量解析するロバストな手法開発の試みである．
収差補正機能を付加するためのビーム制御スクリプトを開発し、ビーム径を100nm以下にまで小さくした条件で平行照射することが可能となった。実際SrTiO3の結晶粒界に適用したところ、粒界偏析したYによるチャネリング図形が得られ、Yが特定の原子コラム上に存在していることが示唆された。これらの成果は日本金属学会学会報のレビューにまとめられた。
機能材料において、構成元素の正確なサイト占有率や微量ドーパントの占有サイトを定量的に正確に知ることは、材料設計上きわめて重要である。多くの場合、X線回折データにリートベルト解析を適用することが標準的であるが、ナノ構造を持っている場合、原子番号の近接した元素を含む場合など、この手法が適用できない場合も多い。本研究で開発した手法はこのような制限を一切必要とせず、さらに組成変化に伴う原子位置の変位や、電気的中性条件のために導入される陰イオン空孔の解析へと拡張可能である。実際現在最も民間からの分析依頼が多い手法となっている。 -
ナノ構造情報のフロンティア開拓－材料科学の新展開（国際活動支援）
研究課題/研究課題番号：15K21748 2015年11月 - 2018年3月
科学研究費助成事業 新学術領域研究(研究領域提案型)
田中 功, 柴田 直哉, 太田 裕道, 松永 克志, 武藤 俊介, 谷口 尚, 北岡 諭, 菅野 了次, 高草木 達, 津田 宏治
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担当区分：連携研究者
本国際活動支援班では，国内外での国際会議，シンポジウム，ワークショップなどの機会に，領域メンバーやポスドク研究者，大学院生などが積極的に成果発表を行うことで，国際的な研究ネットワークの構築，その場への若手研究者の参加促進と，国際的な研究のリーダーシップを取ることに努めた．また，領域での成果をまとめた英文での書籍と雑誌特集号の出版および大学院生および若手研究者の海外派遣を行った．
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非弾性電子散乱における電子回折効果を顕在化したスピンモーメントナノイメージング
研究課題/研究課題番号：15H04115 2015年4月 - 2018年3月
科学研究費助成事業 基盤研究(B)
巽 一厳, 武藤 俊介, Rusz Jan, Spiegelberg Jakob
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担当区分：連携研究者
本研究の目的は、わずか10 nmの結晶サイズで足る、物質中のスピン状態の新しい元素選択的計測法を構築し、スピントロニクス材料のナノスピンイメージングに応用することである。
電子磁気直線二色性信号(EMLD)は，スピンモーメントの大きなスピネル酸化物で有意な差スペクトルを計測した．特型EELS絞りを用いた電子磁気円二色性(EMCD)は，装置の不安定性により望みの信号を得られていない．鉄のL2,3端EELSを計測しそのデータを統計解析することで，理論予測された原子面分解能EMCDを実証した．これは，条件付きではあるが，目標に掲げた10nmの結晶サイズでのスピン状態の分析法を達成したと言える． -
ベンチレータ型絞りによる逆空間選択的位相干渉スピンナノスコピーの試み
2015年4月 - 2017年3月
科学研究費補助金
武藤俊介
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本研究の目的は，磁性材料を通過した高エネルギー電子の回折面上の特定領域における位相干渉効果（電子磁気円二色性：EMCD）を利用して，実材料への応用を意識した軌道／スピン角運動量の定量的高空間分解能分布像を得るための試みである．特に従来のEMCD測定と異なり，強く絞った収束電子を使用することにより，既に確立している円偏光放射光によるXMCDと同等のS/N比を実現し，測定時間も一桁以上短縮されることが期待される．元素戦略の一つの柱である希土類フリー磁石開発には微細構造制御がその鍵となっているが，磁性発現の基礎的理解のためには結晶粒界，微小析出物などにおけるナノ領域での磁気物性測定実用化が不可欠である．本研究はこの目標に直につながる簡便かつ効果的な測定法を世界に先駆けて提案したい．
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ベンチレータ型絞りによる逆空間選択的位相干渉スピンナノスコピーの試み
2015年4月 - 2017年3月
日本学術振興会 科学研究費助成事業 萌芽研究
武藤俊介, 巽 一厳, Jan Rusz
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担当区分：研究代表者 資金種別：競争的資金
本研究の目的は，磁性材料を通過した高エネルギー電子の回折面上の特定領域における位相干渉効果（電子磁気円二色性：EMCD）を利用して，実材料への応用を意識した軌道／スピン角運動量の定量的高空間分解能分布像を得るための試みである．特に従来のEMCD測定と異なり，強く絞った収束電子を使用することにより，既に確立している円偏光放射光によるXMCDと同等のS/N比を実現し，測定時間も一桁以上短縮されることが期待される．元素戦略の一つの柱である希土類フリー磁石開発には微細構造制御がその鍵となっているが，磁性発現の基礎的理解のためには結晶粒界，微小析出物などにおけるナノ領域での磁気物性測定実用化が不可欠である．本研究はこの目標に直につながる簡便かつ効果的な測定法を世界に先駆けて提案したい．
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環境超高圧電子顕微鏡を用いた実装電池反応の原子レベルその場観察
研究課題/研究課題番号：26246006 2014年6月 - 2018年3月
科学研究費助成事業 基盤研究(A)
田中 信夫, 菊田 浩一, 武藤 俊介, 齋藤 晃, 荒井 重勇, 吉田 要
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担当区分：研究分担者
本研究では反応科学超高圧電子顕微鏡を用いて、①リチウム電池関連材料を酸化しない状態で電子顕微鏡観察する装置を開発した。②電池材料を加熱したり、電圧印加したり、雰囲気を変化させたりしてその場観察し、その劣化過程機構を原子レベルで研究した。③各種電池材料を走査透過電子顕微鏡を用いた電子エネルギー損失分光法で組成分布を、電子回折法で薄膜界面の歪解析を行った。
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電子磁気二色性による局所スピンモーメント測定技術の開発
2014年6月 - 2016年5月
科学研究費補助金 二国間交流事業共同研究
武藤俊介
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担当区分：研究代表者
本研究の目的は，日－典（スウェーデン）協力による磁性元素の磁気モーメントの「定量的」ナノメートル分解能マッピングを可能にするためのナノ電子プローブを用いた磁気円二色性（EMCD）測定法を確立することである．2014年1月23日に本テーマに関するスウェーデングループとの共同研究論文がNature Communications誌（doi:10.1038/ncomms4138）に掲載され，特定の条件下でのEMCD定量測定に道筋をつけることができた．この論文発表を契機に「元素戦略－磁性材料研究拠点」からのアプローチがあった．そこで26年度からは，さらにこれを推し進め，数nmの空間分解能によって磁気モーメントの大きさの分布マップを作ることを目標とし，今年度はfeasibilityについて以下の二つの検討を行う：
①高密度磁気記録のための強磁性ビットマップパターンにおける磁気モーメントマッピングの試み：
Nature Communications誌に発表した新しい技術の応用を図る．理想的な系として，同じ磁気パターンの繰り返すビットパターン薄膜について，およそ数十ナノメートル四方の各ビットのエッジ部分の磁気モーメントマッピングを試みる．このためには名古屋大学の超高圧走査透過電子顕微鏡システムが必要である．同じエコトピア科学研究所の微細加工グループによって試料の作製・提供がなされる予定である．同じ試料について，ウプサラ大学の中加速電圧マシンでも測定を試みる．またエッジ部分の磁性予測のための理論計算は，ウプサラ大学側で実行される．
②ベンチレータ型絞りによる新しいナノ領域EMCD測定の試み：
すでにウプサラ大学Rusz博士による理論的な検 討によって，信号強度を飛躍的に向上させる試みが提案さ れている．図1(a)は，鉄の100晶帯入射条件における回折面上のEMCD信号分布である．これから予測されることは，図1(b)に示すようなベンチレータ型の絞りを回折面上に挿入することで，異なる符号のEMCD信号を選択的に測定することが可能となる．この手法はナノ電子ビーム走査と親和性が良く，STEMモードによるEMCDマッピング技術へと発展させることが期待される．絞りの挿入位置として対物レンズ絞り位置とEELS検出器絞りの二通りが考えられ，それぞれについて実際に実施することでそれぞれの特徴を詳細に検討する．
以上について主として名古屋大学側が実験を，ウプサラ大学側が理論を受け持ち，双方の若手研究者の交換を行うことで進めていく． -
逆空間走査多元分光による局在機能欠陥の高分解能立体構造／状態分析
研究課題/研究課題番号：26249096 2014年4月 - 2018年3月
日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(A)
武藤 俊介, 大塚 真弘, 巽 一厳,
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担当区分：研究代表者 資金種別：競争的資金
配分額：41730000円 （ 直接経費：32100000円 、 間接経費：9630000円 ）
本研究では，走査透過型電子顕微鏡に付随する様々な分光法を組み合わせ，同じ場所から同時に他種類のスペクトルを取得し，更にこの大量データを統計的に処理することによって，機能材料のナノ領域の物性分析及び化学イメージングのための手法を開発した．またこの手法を応用して，環境材料，エネルギー材料，磁性材料，生体材料などの実材料中の添加元素の占有サイト，占有率，化学結合状態を明らかにした．これらの成果は従来の回折的手法及び電子顕微鏡の技術ではなしえなかったものである．
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研究課題/研究課題番号：25106001 2013年6月 - 2018年3月
科学研究費助成事業 新学術領域研究(研究領域提案型)
田中 功, 松永 克志, 柴田 直哉, 武藤 俊介, 谷口 尚, 太田 裕道, 北岡 諭, 菅野 了次, 高草木 達, 津田 宏治, 足立 裕彦, 佐久間 健人, 髙野 幹夫, 森 博太郎, 樋口 知之
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担当区分：連携研究者
総括班では，領域の全体的な研究方針の策定，企画調整，研究成果の適正評価，研究連携の円滑化・促進，公募による新テーマ発掘，若手育成プログラムの推進，公開講演会・シンポジウム等の企画・実行，海外のトップグループとの情報交換・協力体制構築，国民との科学・技術対話推進，産業界への情報発信などを行った．
また，個別の成果を統合し，新しい学術基盤の創成に貢献するために，領域代表者を編集者として，書籍"Nanoinfomatics"を出版した. -
研究課題/研究課題番号：25106004 2013年6月 - 2018年3月
科学研究費助成事業 新学術領域研究(研究領域提案型)
武藤 俊介, 山本 剛久, 大塚 真弘,
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担当区分：研究代表者 資金種別：競争的資金
配分額：150930000円 （ 直接経費：116100000円 、 間接経費：34830000円 ）
本研究では、透過型電子顕微鏡を主軸にした各種付随分光法を駆使して固体材料の微小な局所領域の化学状態を分析、可視化する新たな手法を開発し、実用材料への適用にまで止揚することを目的とした。
特に細く絞ったナノ電子プローブを試料上で走査、またはロッキングする事によって分光スペクトルを場所または回折条件の関数として多数収集し、得られたいわゆる「ビッグデータ」に機械学習（インフォマティクス）の手法を適用し、異なる化学状態毎に状態解析と同時にその空間分布を可視化する技術を確立するに至った。 -
エネルギーフィルタ環境TEM による触媒表面ガス吸着／反応可視化
2013年4月 - 2015年2月
科学研究費補助金
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担当区分：研究代表者
本研究の目的は，名古屋大学の反応科学超高圧走査透過型電子顕微鏡（RS-HVSTEM）を用いて金属触媒表面のガス反応（吸着，解離など）のナノメートルレベルでのその場可視化を試みることである．次項以下に示すように100Pa 程度のガス圧下で軽元素ガス分子の電子エネルギー損失スペクトル（EELS）は5-20eV の領域に特徴的な微細構造を示すことを我々は見いだした．この大きな強度を持つスペクトルを使ったエネルギーフィルター像によってガス分子を可視化する事を着想した．これまで環境TEM における触媒反応のミクロ可視化としてまさしく待ち望まれてき，
反応活性点の明快な特定とそのダイナミックな可視化という課題に切り込む． -
ナノプローブを用いたＳ／ＴＥＭ内インターカレーション過程その場観察の試み
2011年4月 - 2013年3月
科学研究費補助金
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担当区分：研究代表者
本研究の目的は、TEM用STM測定試料ホルダーを改良し、インターカーレーション反応過程をナノスケールでその場観察・化学状態測定を行うことを試みるものである。その具体的かつ喫緊の要求が高い応用例として次世代リチウムイオン電池正極活物質として期待されているLiFePO4の充放電過程におけるリチウムイオンの移動とそれに伴う構造相転移を透過型電子顕微鏡（TEM）と電子エネルギー損失分光（EELS）によってその場観察し、そのための試料マニピュレ-ションシステムを開発することにある。
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局在水素の電子分光間接イメージング法の開発
2008年4月 - 2010年3月
科学研究費補助金 挑戦的萌芽研究
武藤俊介
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担当区分：研究代表者
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Pixon型信号処理による微量軽元素の電子状態分析法の開発
2006年4月 - 2008年3月
科学研究費補助金 萌芽研究，課題番号：17656204
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担当区分：研究代表者
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高エネルギー電子ビームによるチェレンコフ発光を用いた新しいサブナノ領域分析
2003年4月 - 2005年3月
科学研究費補助金 萌芽研究，課題番号：15656153
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担当区分：研究代表者
担当経験のある科目 (本学)
担当経験のある科目 (本学) 42
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物理工学演習２ａ
2020
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熱力学
2020
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高エネルギー電子分光特論
2020
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物質科学特別輪講（ナノ顕微分光物質科学）A,B
2019
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熱力学
2019
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ナノ顕微分光物質科学特別実験及び演習
2019
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ナノ顕微分光物質科学セミナー
2019
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ナノ顕微分光物質科学特別実験及び演習
2018
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ナノ顕微分光物質科学セミナー
2018
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高エネルギー電子分光特論
2018
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物質科学特別輪講（ナノ顕微分光物質科学）A,B
2018
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熱力学
2018
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熱力学
2017
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電磁気学解析
2017
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
2017
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量子エネルギー工学セミナーAB
2017
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熱力学
2016
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高エネルギー電子分光特論
2016
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
2016
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量子エネルギー工学セミナーAB
2016
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電磁気学解析
2016
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熱力学
2015
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
2015
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量子エネルギー工学セミナーAB
2015
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電磁気学解析
2015
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熱力学
2014
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
2014
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高エネルギー電子分光特論
2014
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量子エネルギー工学セミナーAB
2014
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熱力学
2014
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数学2および演習（G30）
2014
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
2014
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高エネルギー電子分光特論
2014
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量子エネルギー工学セミナーAB
2014
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Mathematical Physics I
2012
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英語
2012
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電子分光法
2012
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熱力学
2012
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力学Ⅰ
2011
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エネルギー材料物性
2004
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量子材料物理
2001
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統計力学A
2001
担当経験のある科目 (本学以外)
担当経験のある科目 (本学以外) 40
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電子エネルギー損失分光法による化学結合解析
2010年4月 - 2011年3月 （大阪大学）
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電子エネルギー損失分光法による化学結合解析
2009年4月 - 2010年3月 （大阪大学）
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電子エネルギー損失分光法による化学結合解析
2008年4月 - 2009年3月 （大阪大学）
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エネルギー科学特別講義IX
2005年4月 - 2006年3月 （九州大学）
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数学2および演習（G30）
（名古屋大学）
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高エネルギー電子分光特論
（名古屋大学）
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高エネルギー電子分光特論
（名古屋大学）
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電磁気学解析
（名古屋大学）
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量子エネルギー工学セミナーAB
（名古屋大学）
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量子エネルギー工学セミナーAB
（名古屋大学）
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量子エネルギー工学セミナーAB
（名古屋大学）
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熱力学
（名古屋大学）
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熱力学
（名古屋大学）
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熱力学
（名古屋大学）
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
（名古屋大学）
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
（名古屋大学）
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
（名古屋大学）
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高エネルギー電子分光特論
（名古屋大学）
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
（名古屋大学）
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
（名古屋大学）
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
（名古屋大学）
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
（名古屋大学）
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
（名古屋大学）
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
（名古屋大学）
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ナノ顕微分光物質科学特別実験及び演習
（名古屋大学）
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ナノ顕微分光物質科学特別実験及び演習
（名古屋大学）
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ナノ顕微分光物質科学セミナー
（名古屋大学）
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ナノ顕微分光物質科学セミナー
（名古屋大学）
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極限環境エネルギー材料科学セミナー
（名古屋大学）
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熱力学
（名古屋大学）
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熱力学
（名古屋大学）
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熱力学
（名古屋大学）
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熱力学
（名古屋大学）
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物質科学特別輪講（ナノ顕微分光物質科学）A,B
（名古屋大学）
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物質科学特別輪講（ナノ顕微分光物質科学）A,B
（名古屋大学）
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量子エネルギー工学セミナーAB
（名古屋大学）
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量子エネルギー工学セミナーAB
（名古屋大学）
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電磁気学解析
（名古屋大学）
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電磁気学解析
（名古屋大学）
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高エネルギー電子分光特論
（名古屋大学）
社会貢献活動
社会貢献活動 13
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電子エネルギー損失分光の基本的な考え方－分光測定とはどういうことか－
役割：講師
日本顕微鏡学会 第33回電子顕微鏡大学 東京大学本郷キャンパス山上会館 2023年11月
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対象： 大学院生, 研究者, 企業
種別：セミナー・ワークショップ
本講義では一般の分析電子顕微鏡に関する教科書や成書・解説に書かれていることの他に，そもそも「EELS測定」を考えるうえで基本となる考え方の一端を提示します．すなわち個別の必要情報に紐づけされたスペクトル測定のノウハウではなく，場合に応じた適切な測定法をその場で結果を見て自ら考えながらフィードバックして，臨機応変に測定機器のパラメータを調節できることを目指します．
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断面STEM-EELS解析による全固体電池LATP/LCO 界面評価
役割：講師
株式会社技術情報協会 全固体電池の評価技術～劣化解析、サイクル特性評価 2023年8月
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電子エネルギー損失分光入門
役割：講師
日本顕微鏡学会 電子顕微鏡大学 2022年11月
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豊西総合大学講座
役割：講師
愛知県立豊田西高等学校 2017年11月
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対象： 高校生
種別：出前授業
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名古屋大学オープンレクチャー2017
役割：講師
名古屋大学産官連携推進本部 2017年3月
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対象： 高校生, 社会人・一般
種別：セミナー・ワークショップ
「物質からのミクロな暗号を読み解くはなし」
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第3回Spring-8材料構造の解析に役立つ計算科学研究会 第10回Spring-8先端利用技術ワークショップ
役割：講師
（公財）高輝度光科学研究センター(JASRI） SPring-8 利用推進協議会 研究開発委員会 2017年2月
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対象： 研究者, 企業
種別：セミナー・ワークショップ
理論・実験・計算科学と情報科学が融合したマテリアルズ・インフォマティクスの基盤となる方法論の原理とそれらの適用例、および情報統合型物質・材料開発イニシアティブ（MI2I:“Materials research by Information Integration” Initiative）の活動内容を紹介し、データ駆動型(情報統合型)の新しい科学が加速する新物質・新材料研究や、放射光計測における変革を展望する。
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機器分析講座「材料の微細組織の観察」
役割：講師
静岡理工科大学 2016年3月
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対象： 大学生, 教育関係者, 研究者, 企業
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先端計測インフォマティクス大量データ時代の情報活用ワークショップ
役割：講師
物質・材料研究機構 2016年1月
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対象： 研究者, 企業
種別：セミナー・ワークショップ
以下の技術をNIMS内外の実験系・理論系・情報系研究者が共有することで、測定装置には手を加えず、埋蔵データをリソースとして活用できるシステムを構築することを目的とする。
(1) NIMSが得意とする計測技術を使った、大量データの取得と解析
(2) 大量データから信頼性の高い定量値を引き出す機械学習と、そのパッケージ化
(3) 蓄積されてきた実験データを掘り起し、情報科学の俎上に載せるデータベース化技術 -
電池・エネルギー材料解析セミナー
2014年11月
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昨今の革新的なエネルギー技術の開発から導入・普及に向けた不可欠な手段として、効果的・効率的にナノレベルで制御された高度な材料開発が注目を集めておりますが、このような材料開発を加速するためには、透過電子顕微鏡(TEM)、核磁気共鳴装置(NMR)をはじめとする複数の計測・分析機器を総合的、有機的に組み合わせ、解析していく事が必要とされています。
本セミナーでは、これらの最新の分析技術をご紹介すると共に、次世代の革新電池・エネルギーに関する先端技術・材料開発の一助となるソリューションのご提供をさせていただきます。 -
セミナー「分光スペクトルの統計処理ーノイズ処理と多変量スペクトル分解法」㈱情報機構
役割：講師
2014年5月
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対象： 研究者, 企業
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セミナー「EELSの基本原理とスペクトル解釈・評価ノウハウ」㈱情報機構
2013年11月
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春日井高等学校出前講義「原子の世界から見るナノテクノロジー」
役割：講師
春日井高等学校 2013年11月
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対象： 高校生
種別：出前授業
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透過電子顕微鏡および電子エネルギー損失分光法による材料解析・評価技術（(株)情報機構）
2011年8月
メディア報道
メディア報道 1
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ガス環境下における自動車触媒ナノ粒子のオペランドTEM観察 ～触媒開発に大きく貢献する研究開発手法～ インターネットメディア
文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム NanotechJapan Bulletin ＜2020年秀でた利用成果-1＞ 2020年4月
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執筆者：本人以外
学術貢献活動
学術貢献活動 2
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さきがけ研究領域「計測・解析プロセス革新のための基盤の構築」領域アドバイザー
役割：査読
国立研究開発法人科学技術振興機構 2023年5月 - 2025年3月
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種別：審査・学術的助言
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戦略的創造研究推進事業（CREST）研究領域「社会課題問題を志向した革新的計測・解析システムの創出」領域アドバイザー
役割：査読
国立研究開発法人科学技術振興機構 2022年5月 - 2026年3月
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種別：審査・学術的助言