2021/03/30 更新

写真a

ムトウ シユンスケ
武藤 俊介
MUTO, Shunsuke
所属
名古屋大学 未来材料・システム研究所 附属高度計測技術実践センター 電子顕微鏡計測部 教授
職名
教授

学位 1

  1. 博士(工学) ( 1989年5月   大阪大学 ) 

研究キーワード 9

  1. インフォマティクス

  2. ナノ領域電子状態

  3. 電子エネルギー損失分光(EELS)

  4. 透過電子顕微鏡(TEM)

  5. 第一原理計算

  6. 画像処理

  7. 材料の物性

  8. インフォマティクス

  9. ナノテクノロジー

研究分野 3

  1. その他 / その他  / 工学@材料工学@金属物性

  2. その他 / その他  / 工学@材料工学@無機材料・物性

  3. その他 / その他  / 理学@物理学@固体物性I(光物性・半導体・誘電体)

現在の研究課題とSDGs 5

  1. 複合電子顕微分光法による機能材料の先端分析法の開発

  2. 電子磁気円二色性によるナノ領域磁気角運動量測定

  3. インフォマティクス技術応用による化学イメージング法の開発

  4. 電子チャネリング効果を利用したサイト選択的添加元素分析法の開発とその応用

  5. HVEM-QMSオペランド観測によるナノ粒子触媒の研究

経歴 6

  1. 未来材料・システム研究所 高度計測技術実践センター 教授

    2015年10月 - 現在

      詳細を見る

    国名:日本国

  2. 名古屋大学   未来材料・システム研究所 附属高度計測技術実践センター 電子顕微鏡計測部   教授

    2015年10月 - 現在

  3. 未来材料・システム研究所 高度計測技術実践センター 教授

    2015年10月 - 現在

  4. エコトピア科学研究所 エネルギー科学部門 教授

    2013年4月 - 2015年9月

      詳細を見る

    国名:日本国

  5. 名古屋大学   グリーンモビリティ連携研究センター 研究開発部門   研究員

    2011年4月 - 現在

  6. 名古屋大学   研究開発部門   研究員

    2011年4月 - 現在

▼全件表示

学歴 2

  1. 大阪大学   基礎工学研究科   物理学

    1984年4月 - 1986年3月

      詳細を見る

    国名: 日本国

  2. 京都大学   理学部   物理学

    1980年4月 - 1984年3月

      詳細を見る

    国名: 日本国

所属学協会 12

  1. 日本原子力学会   代議員

    2015年5月 - 2017年3月

  2. 日本金属学会   分科会委員、学会誌編集委員、奨励賞選考委員、功績賞選考委員

    2003年4月 - 現在

  3. 日本顕微鏡学会   評議員、和文誌編集委員、欧文誌編集委員、理事、代議員

  4. European Materials Research Society

  5. American Electrochemical Society

  6. 日本物理学会

  7. 日本顕微鏡学会

  8. 日本金属学会

  9. 日本物理学会

  10. 日本原子力学会

  11. European Materials Research Society

  12. American Electrochemical Society

▼全件表示

委員歴 25

  1. 独立行政法人日本学術振興会「自律型・複合型AI先端計測の新しい価値創造」に関する研究開発専門委員会    委員  

    2018年4月 - 2021年3月   

  2. 公益社団法人日本顕微鏡学会第75回学術講演会   実行委員長  

    2017年4月 - 2019年12月   

  3. 公益社団法人日本セラミックス協会学術写真賞選考委員会   委員長  

    2015年5月 - 2016年3月   

  4. 公益社団法人日本金属学会 奨励賞選考委員会   「物性部門」選考委員  

    2015年4月 - 現在   

  5. 公益社団法人日本金属学会 奨励賞選考委員会   「物性部門」選考委員  

    2015年4月 - 現在   

  6. 公益社団法人日本顕微鏡学会電子顕微鏡解析技術分科会   実行委員  

    2014年 - 現在   

  7. 独立行政法人日本学術振興会 特別研究員等審査会及び国際事業委員会   専門委員及び書面審査員  

    2013年8月 - 2014年7月   

  8. セッション責任者  

    2013年7月 - 2014年9月   

  9. 公益社団法人 日本顕微鏡学会理事会   理事  

    2013年5月 - 現在   

  10. 公益社団法人日本顕微鏡学会分科会「SEMの物理学」   幹事  

    2013年4月 - 現在   

  11. 公益社団法人日本金属学会 功績賞選考委員会   「物性部門」選考委員  

    2013年4月 - 2014年3月   

  12. 公益社団法人日本金属学会分科会(第1分科 エネルギー材料)   委員  

    2013年3月 - 現在   

  13. 公益社団法人日本顕微鏡学会学会賞選考委員会(奨励賞)   委員長Ⅲ 物質系応用研究主査  

    2012年12月 - 2013年11月   

  14. 公益社団法人日本金属学会第63回金属組織写真賞委員会   委員  

    2012年11月   

  15. 公益社団法人日本顕微鏡学会学会賞選考委員会分野C   応用研究(非生物)委員  

    2011年11月 - 2012年12月   

  16. 組織委員  

    2009年5月 - 2010年7月   

  17. 公益社団法人日本金属学会和文誌・欧文誌編集委員会   編集委員  

    2008年3月 - 2010年3月   

  18. 組織委員  

    2007年12月 - 2008年7月   

  19. 最先端の電子顕微鏡と理論計算に関する国際シンポジウム組織委員会   委員  

    2007年10月 - 2008年6月   

  20. 公益社団法人日本顕微鏡学会欧文誌編集委員会   編集委員  

    2007年2月 - 2013年3月   

  21. 原子力研究・教育広域連携懇談会   研究連携WG委員  

    2005年10月 - 2007年3月   

  22. 公益社団法人 日本顕微鏡学会   評議員  

    2005年6月 - 2007年5月   

  23. 公益社団法人日本金属学会分科会   委員  

    2005年4月 - 現在   

  24. 公益社団法人日本顕微鏡学会和文誌編集委員会   編集委員  

    2005年4月 - 2011年3月   

  25. 第16回国際顕微鏡学会プログラム委員会   委員  

    2004年8月 - 2006年9月   

▼全件表示

受賞 17

  1. 日本顕微鏡学会学会賞(瀬藤賞)

    2010年5月   日本顕微鏡学会  

     詳細を見る

    受賞国:日本国

  2. 日本電子顕微鏡学会2002年第17回論文賞

    2002年  

     詳細を見る

    受賞国:日本国

  3. 2009年論文賞(顕微鏡基礎部門)

    2009年5月   日本顕微鏡学会  

     詳細を見る

    受賞国:日本国

  4. International Metallographic Contest:Class 3, First Place

    2001年  

  5. 優秀ポスター賞

    2020年9月   日本金属学会   質量分析計搭載反応科学超高圧電子顕微鏡によるRh/ZrO2系自動車排気ガス浄化モデル触媒のNO還元反応オペランド計測

    前出淳志、田中天望、菅沼拓也、荒井重勇、樋口哲夫、武藤俊介

     詳細を見る

    受賞区分:国内学会・会議・シンポジウム等の賞  受賞国:日本国

  6. 2020年論文賞(非生物系)

    2020年7月   日本顕微鏡学会   Twinned/untwinned catalytic gold nanoparticles identified by applying a convolutional neural network to their Hough transformed Z-contrast images

     詳細を見る

    受賞区分:学会誌・学術雑誌による顕彰  受賞国:日本国

  7. 2020年論文賞(非生物系)

    2020年7月   日本顕微鏡学会   Twinned/untwinned catalytic gold nanoparticles identified by applying a convolutional neural network to their Hough transformed Z-contrast images

     詳細を見る

    受賞区分:学会誌・学術雑誌による顕彰  受賞国:日本国

  8. 文科省 ナノテクノロジープラットフォーム令和元年度「秀でた利用成果」最優秀賞

    2020年4月   文科省 ナノテクノロジープラットフォーム事業   ガス環境下における自動車触媒ナノ粒子のオペランドTEM観察

    田中 展望,菅沼 拓也,樋口 哲夫,武藤 俊介

     詳細を見る

    受賞国:日本国

  9. 文科省 ナノテクノロジープラットフォーム令和元年度「秀でた利用成果」最優秀賞

    2020年4月   文科省 ナノテクノロジープラットフォーム事業   ガス環境下における自動車触媒ナノ粒子のオペランドTEM観察

    田中 展望, 菅沼 拓也, 樋口 哲夫, 武藤 俊介

     詳細を見る

    受賞国:日本国

  10. 2018年優秀論文賞(応用研究部門;材料系)

    2018年5月   日本顕微鏡学会   Quantitative analysis of cation mixing and local valence states in LiNixMn2−xO4 using concurrent HARECXS and HARECES measurements

    Yu Yamamoto, Kunimitsu Kataoka, Junji Akimoto, Kazuyoshi Tatsumi, Takashi Kousaka, Jun Ohnishi, Teruo Takahashi, Shunsuke Muto

     詳細を見る

    受賞国:日本国

  11. 2018年優秀論文賞(応用研究部門;材料系)

    2018年5月   日本顕微鏡学会   Quantitative analysis of cation mixing and local valence states in LiNixMn2−xO4 using concurrent HARECXS and HARECES measurements

    Yu Yamamoto, Kunimitsu Kataoka, Junji Akimoto, Kazuyoshi Tatsumi, Takashi Kousaka, Jun Ohnishi, Teruo Takahashi, and Shunsuke Muto

     詳細を見る

    受賞国:日本国

  12. 日本顕微鏡学会第66回学術講演会 優秀ポスター賞(材料部門)

    2010年5月   日本顕微鏡学会  

     詳細を見る

    受賞国:日本国

  13. 触媒学会50周年記念・第14回国際触媒会議プレシンポジウム 最優秀ポスター賞

    2008年7月   日本触媒学会  

     詳細を見る

    受賞国:日本国

  14. 第101回触媒討論会優秀ポスター賞

    2008年3月   日本触媒学会  

     詳細を見る

    受賞国:日本国

  15. 金属組織写真賞

    2001年  

     詳細を見る

    受賞国:日本国

  16. International Metallographic Contest

    1993年  

  17. 金属組識写真賞

    1993年  

     詳細を見る

    受賞国:日本国

▼全件表示

 

論文 217

  1. Magnetic measurements with atomic plane resolution 査読有り

    J. Rusz, S. Muto, J. Spiegelberg, R. Adam, K. Tatsumi, D. E. Burgler, P. M. Oppeneer, C. M. Schneider

    Nature Communications   7 巻   頁: 12672   2016年8月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1038/ncomms12672

  2. Quantitative characterisation of nanoscale polycrystalline magnets with electron magnetic circular dichroism 査読有り

    Shunsuke Muto, Ján Rusz, Kazuyoshi Tatsumi, Roman Adam, Shigeo Arai, Vancho Kocevski, Peter M. Oppeneer, Daniel E. Bürgler & Claus M. Schneider

    Nature Communications   5 巻 ( 3138 ) 頁: 1-7   2014年1月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    Electron magnetic circular dichroism (EMCD) allows the quantitative, element-selective determination of spin and orbital magnetic moments, similar to its well-established X-ray counterpart, X-ray magnetic circular dichroism (XMCD). As an advantage over XMCD, EMCD measurements are made using transmission electron microscopes, which are routinely operated at sub-nanometre resolution, thereby potentially allowing nanometre magnetic characterization. However, because of the low intensity of the EMCD signal, it has not yet
    been possible to obtain quantitative information from EMCD signals at the nanoscale. Here we demonstrate a new approach to EMCD measurements that considerably enhances the outreach of the technique. The statistical analysis introduced here yields robust quantitative EMCD signals. Moreover, we demonstrate that quantitative magnetic information can be
    routinely obtained using electron beams of only a few nanometres in diameter without imposing any restriction regarding the crystalline order of the specimen.

    DOI: DOI: 10.1038/ncomms4138

  3. Spin crossover and iron-rich silicate melt in the Earth's deeep mantle 査読有り

    R.Nomura, H.Ozawa, S.Tateno, K.Hirose, J.Hernlund, S.Muto, H.Ishii and N.Hiraoka

    NATURE   473 巻   頁: 199-202   2011年5月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  4. *Novel valence state of cerium in Ce2Zr2O7.5 elucidated by electron energy-loss spectroscopy under electron channeling conditions 査読有り

    S. Arai, S. Muto, T. Sasaki, K. Tatsumi, Y. Ukyo, K. Kuroda and H. Saka

    Solid State Communications   135 巻   頁: 664-667   2005年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    In the present study, we show, by electron energy loss spectroscopy (EELS) measurements under electron channeling conditions, the existence of a novel valence state for the cerium atoms in Ce2Zr2O7.5, where the valence state is split into two states, with the ions exhibiting a trivalent character (Ce3+) when facing oxygen planes with oxygen vacancies, and a tetravalent character (Ce4+) when facing oxygen planes with no oxygen vacancies. This result should prompt reconsideration of the conventional concept of the valence fluctuation in rare earth compounds.

  5. *Local electronic structure analysis by site-selective ELNES using electron channeling and first-principles calculations 招待有り 査読有り

    K. Tatsumi and S. Muto

    J. Phys.: Condens. Matter   21 巻   頁: 104213 (14 pages)   2009年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  6. Site-specific electronic configurations of Fe 3d states by energy loss by channeled electrons 査読有り

    K. Tatsumi, S. Muto, I. Nishida and J. Rusz

    Applied Physics Letters   96 巻   頁: 201911 (3 pages)   2010年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    Site-specific configurations of Fe 3d electrons in a spinel ferrite were investigated by electron energy loss spectroscopy (EELS) under electron channeling conditions. Site-specific spectra were extracted by applying a multivariate curve resolution (MCR) technique to the data set. An electronic difference in the Fe sites caused by ligand field splitting of trivalent Fe was probed. This demonstrated the promise of site-specific valence and spin state analysis in spintronics applications of spinel ferrites.

  7. *Spectral restoration and energy resolution improvement of electron energy-loss spectra by Pixon reconstruction: I. Principle and test examples 査読有り

    S. Muto, R. C. Puetter and K. Tatsumi

    Journal of Electron Microscopy   55 巻   頁: 215-223   2006年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    We applied Pixon deconvolution as introduced in Part I to several practical, examples of low signal-to-noise ratio (SNR), electron energy-loss spectra with a goal toward restoring their fine spectral features and/or improving the energy resolution. We demonstrate that by directly fitting the two-dimensional spectral data recorded on the CCD; the method enables us to reveal fine spectral structures. Consequently, Pixon reconstruction extends the ability to probe electronic states in very spatially localized areas, a capability currently unique to our method.

  8. Mapping of heterogeneous chemical states of lithium in a LiNiO2-based active material by electron energy-loss spectroscopy 査読有り

    S. Muto, K. Tatsumi, T. Sasaki, H. Kondo, T. Ohsuna, K. Horibuchi and Y. Takeuchi

    Electrochemical Solid-State Letters   13 巻 ( 8 ) 頁: A115-117   2010年5月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    It is difficult to analyze the local concentrations and chemical states of lithium in lithium-ion secondary battery electrodes by microanalysis techniques based on TEM because the core excitation spectra of transition metals invariably overlap with the absorption/emission spectra of Li-K. We propose a promising analysis method that enables the spatial distribution of lithium with different chemical states from the original phase in a LiNiO2-based positive electrode to be visualized. It employs a suite of spectrum imaging techniques including scanning transmission electron microscopy, electron energy-loss spectroscopy, and multivariate curve resolution. This method is successfully applied to a cross-sectioned positive electrode.

  9. Detection of hydrogen at localized regions by unoccupied electronic states in iron carbides: towards high spatial resolution mapping of hydrogen distributions 査読有り

    K. Tatsumi, S. Muto and T. Yoshida

    Journal of Applied Physics   101 巻   頁: 023523-1-7   2007年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    In the present study, we examined the effects of hydrogen on electron energy-loss and x-ray absorption spectra of the iron carbides. The experimentally obtained spectral changes were interpreted on the basis of first principles
    calculations for a model structure of the Fe–C–H system. Finally, we demonstrate high spatial resolution imaging of hydrogen distributions in iron-carbon systems by an energy-filtering transmission electron microscopy technique, utilizing the present spectral changes associated with
    hydrogen incorporation.

  10. 電子エネルギー損失スペクトル微細構造解析の軽元素分析への応用 招待有り 査読有り

    武藤 俊介

    顕微鏡   41 巻 ( 1 ) 頁: 26-31   2006年3月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

    本論文はエネルギー損失分光法(EELS)の優位性を生かし,ELNES,EXELFSを利用してとりわけ軽元素原子の複合欠陥やその結合状態の分析についての様々な応用例を紹介する.

  11. Local atomic and electronic structures around Mg and Al dopants in LiNiO2 electrodes studied by XANES and ELNES and first-principles calculations 査読有り

    K. Tatsumi, Y. Sasano, S. Muto, T. Yoshida, T. Sasaki, K. Horibuchi, Y. Takeuchi and Y. Ukyo

    Physical Review B   78 巻   頁: 045108(1-8)   2008年7月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    We investigated the local atomic and electronic structures around the dopants Mg and Al in a LiNiO2-based cathode material by the combination analysis of their K shell electron energy loss near edge structures (ELNES) and x-ray absorption near edge structures (XANES), and first-principles calculations. The occupation sites of the dopants in initial and cycled samples were examined. On the basis of the atomic structures and chemical bonding states of the models whose theoretical spectra were most consistent with the experimental spectra, we discussed the effects of Al and Mg on Li diffusion and their roles in suppressing the degradation of battery properties.

  12. Hydrogen trapping state associated with the low temperature thermal desorption spectroscopy peak in hydrogenated nanostructured graphite 査読有り

    Y. Miyabe, T. Yoshida, S. Muto, T. Kiyobayashi and H. Wasada

    Journal of Applied Physics   104 巻   頁: 044311   2008年4月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  13. Quantitative determination of site occupancy of multi-rare-earth elements doped into Ca2SnO4 phosphor by electron channeling microanalysis 査読有り

    Y. Fujimichi, S. Muto, K. Tatsumi, T. Kawano and H. Yamane

    journal of Solid State Chemistry   183 巻   頁: 2127-2132   2010年8月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  14. Capacity fading mechanism of LiNiO2-based lithium ion batteries: II. Diagnostic analysis by electron microscopy and spectroscopy 査読有り

    S. Muto, Y. Sasano, K. Tatsumi, T. Sasaki, K. Horibuchi, Y. Takeuchi and Y. Ukyo

    J. Electrochem. Soc.   156 巻   頁: A371-A377   2009年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  15. Grazing-incidence electron microscopy of surface blisters in single- and polycrystalline tungsten formed by H+, D+ and He+ irradiation 査読有り

    N. Enomoto, S. Muto, T. Tanabe, J. W. Davis and A. A. Haasz

    J. Nucl. Mater.   385 巻   頁: 606-614   2009年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  16. 2D-HARECXS analysis of dopant and oxygen vacancy sites in Al-doped yttrium titanate 査読有り

    M. Ohtsuka, K. Oda, M. Tanaka, S. Kitaoka, S. Muto

    Journal of the American Ceramic Society     2021年3月

     詳細を見る

    担当区分:最終著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1111/jace.17764

  17. Preparation of silver-decorated Soluplus (R) nanoparticles and antibacterial activity towards S. epidermidis biofilms as characterized by STEM-CL spectroscopy 査読有り

    Takahashi Chisato, Yamada Tomomi, Yagi Shinya, Murai Takaaki, Muto Shunsuke

    MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING C-MATERIALS FOR BIOLOGICAL APPLICATIONS   119 巻   頁: 111718   2021年2月

     詳細を見る

    担当区分:最終著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.msec.2020.111718

    Web of Science

  18. Electron and Ion Transfer across Interfaces of the NASICON-Type LATP Solid Electrolyte with Electrodes in All-Solid-State Batteries: A Density Functional Theory Study via an Explicit Interface Model 査読有り

    Tian Hong-Kang, Jalem Randy, Gao Bo, Yamamoto Yuta, Muto Shunsuke, Sakakura Miyuki, Iriyama Yasutoshi, Tateyama Yoshitaka

    ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES   12 巻 ( 49 ) 頁: 54752 - 54762   2020年12月

     詳細を見る

    掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1021/acsami.0c16463

    Web of Science

  19. Core–Shell Double Doping of Zn and Ca on β-Ga 2 O 3 Photocatalysts for Remarkable Water Splitting 査読有り

      11 巻   頁: 1911 - 1919   2020年12月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1021/acscatal.0c05104

  20. スペクトラムイメージデータのノイズ処理と信号抽出の最近の進展 招待有り 査読有り

    武藤俊介, 志賀元紀

    顕微鏡   55 巻 ( 2 ) 頁: 60 - 64   2020年8月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

  21. Application of machine learning techniques to electron microscopic/spectroscopic image data analysis 招待有り 査読有り

    Muto Shunsuke, Shiga Motoki

    MICROSCOPY   69 巻 ( 2 ) 頁: 110 - 122   2020年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者, 責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1093/jmicro/dfz036

    Web of Science

  22. Evolution from UV emission of phenyl groups to visible emission of pyrolytic nanocarbons dispersed in fumed silica: Alternative insight into photoluminescence of carbon nanodots

    Vasin A. V., Muto S., Ishikawa Y., Kysil D. V, Sevostianov S. V, Isaieva O. F., Rudko G. Yu, Yatskiv R., Starik S., Tertykh V. A., Nazarov A. N., Lysenko V. S.

    JOURNAL OF LUMINESCENCE   219 巻   2020年3月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.jlumin.2019.116926

    Web of Science

  23. Measurement of nanoscale local stress distribution in phase-separated glass using scanning transmission electron microscopy-cathodoluminescence

    Yamada Taiki, Ohtsuka Masahiro, Takahashi Yoshimasa, Yoshino Haruhiko, Amma Shin-ichi, Muto Shunsuke

    MATERIALIA   9 巻   2020年3月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.mtla.2019.100578

    Web of Science

  24. Methods for Calibration of Specimen Temperature During In Situ Transmission Electron Microscopy Experiments

    Gaulandris Fabrizio, Simonsen Soren B., Wagner Jakob B., Molhave Kristian, Muto Shun, Kuhn Luise T.

    MICROSCOPY AND MICROANALYSIS   26 巻 ( 1 ) 頁: 3 - 17   2020年2月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1017/S1431927619015344

    Web of Science

  25. STEM-EELS analysis of the interface structures of composite ASS-LIB electrodes fabricated via aerosol deposition

    Yamamoto Yuta, Iriyama Yasutoshi, Muto Shunsuke

    JOURNAL OF THE AMERICAN CERAMIC SOCIETY   103 巻 ( 2 ) 頁: 1454 - 1462   2020年2月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1111/jace.16813

    Web of Science

  26. Single-pass STEM-EMCD on a zone axis using a patterned aperture: progress in experimental and data treatment methods

    Thersleff Thomas, Schonstrom Linus, Tai Cheuk-Wai, Adam Roman, Burgler Daniel E., Schneider Claus M., Muto Shunsuke, Rusz Jan

    SCIENTIFIC REPORTS   9 巻   2019年12月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1038/s41598-019-53373-1

    Web of Science

  27. Interfacial oxygen vacancies yielding long-lived holes in hematite mesocrystal-based photoanodes

    Zhang Zhujun, Karimata Izuru, Nagashima Hiroki, Muto Shunsuke, Ohara Koji, Sugimoto Kunihisa, Tachikawa Takashi

    NATURE COMMUNICATIONS   10 巻   2019年10月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1038/s41467-019-12581-z

    Web of Science

  28. Non-negative Matrix Factorization and Its Extensions for Spectral Image Data Analysis

    Shiga Motoki, Muto Shunsuke

    E-JOURNAL OF SURFACE SCIENCE AND NANOTECHNOLOGY   17 巻   頁: 148 - 154   2019年9月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1380/ejssnt.2019.148

    Web of Science

  29. Environmental high-voltage S/TEM combined with a quadrupole mass spectrometer for concurrent in situ structural characterization and detection of product gas molecules associated with chemical reactions 査読有り

    Muto Shunsuke, Arai Shigeo, Higuchi Tetsuo, Orita Koji, Ohta Shigemasa, Tanaka Hiromochi, Suganuma Takuya, Ibe Masaya, Hirata Hirohito

    MICROSCOPY   68 巻 ( 2 ) 頁: 185 - 188   2019年4月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1093/jmicro/dfy141

    Web of Science

  30. Twinned/untwinned catalytic gold nanoparticles identified by applying a convolutional neural network to their Hough transformed Z-contrast images (vol 67, pg 321, 2018) 査読有り

    Yamamoto Yuta, Hattori Mizuki, Ohyama Junya, Satsuma Atsushi, Tanaka Nobuo, Muto Shunsuke

    MICROSCOPY   68 巻 ( 2 ) 頁: 194 - 194   2019年4月

     詳細を見る

    掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1093/jmicro/dfz008

    Web of Science

  31. Proposal for Measuring Magnetism with Patterned Apertures in a Transmission Electron Microscope 査読有り

    Negi Devendra, Spiegelberg Jakob, Muto Shunsuke, Thersleff Thomas, Ohtsuka Masahiro, Schonstrom Linus, Tatsumi Kazuyoshi, Rusz Jan

    PHYSICAL REVIEW LETTERS   122 巻 ( 3 ) 頁: 037201   2019年1月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1103/PhysRevLett.122.037201

    Web of Science

  32. Analysis of evolution of electron-radiation-induced defects in white-luminescent, carbonized, mesoporous silica nanocomposite using transmission electron microscopy/cathodoluminescence 査読有り

    Oguni Kazuki, Sato Koji, Ishii Yosuke, Ishikawa Yukari, Kawasaki Shinji, Vasin Andrii, Muto Shunsuke

    NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS   439 巻   頁: 22 - 33   2019年1月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.nimb.2018.11.007

    Web of Science

  33. Twinned/untwinned catalytic gold nanoparticles identified by applying a convolutional neural network to their Hough transformed Z-contrast images 査読有り

    Yamamoto Yuta, Hattori Mizuki, Ohyama Junya, Satsuma Atsushi, Tanaka Nobuo, Muto Shunsuke

    MICROSCOPY   67 巻 ( 6 ) 頁: 321 - 330   2018年12月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1093/jmicro/dfy036

    Web of Science

  34. MC3T3-E1 Cellular Response and Protein Detection on Surface Potential-Controlled TiO2 Scale in Serum-Containing Medium 査読有り

    M. Hashimoto, T. Ogawa, S. Kitaoka, S. Muto, M. Furuya, H. Kanetaka, M. Abe, H. Yamashita

    Key Engineering Materials   782 巻   頁: 218-223   2018年10月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.4028/www.scientific.net/KEM.782.218

  35. Cation mixing in LiNi0.8Co0.15Al0.05O2 positive electrode material studied using high angular resolution electron channeling X-ray spectroscopy 査読有り

    Yamamoto Yu, Ohtsuka Masahiro, Azuma Yosuke, Takahashi Teruo, Muto Shunsuke

    JOURNAL OF POWER SOURCES   401 巻   頁: 263 - 270   2018年10月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.jpowsour.2018.08.100

    Web of Science

  36. Progress in nanoinformatics and informational materials science 招待有り 査読有り

    Seko Atsuto, Toyoura Kazuaki, Muto Shunsuke, Mizoguchi Teruyasu, Broderick Scott

    MRS BULLETIN   43 巻 ( 9 ) 頁: 690 - 695   2018年9月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1557/mrs.2018.206

    Web of Science

  37. Control of surface potential and hydroxyapatite formation on TiO2 scales containing nitrogen-related defects 査読有り

    Hashimoto Masami, Ogawa Takafumi, Kitaoka Satoshi, Muto Shunsuke, Furuya Maiko, Kanetaka Hiroyasu, Abe Masayuki, Yamashita Hayato

    ACTA MATERIALIA   155 巻   頁: 379 - 385   2018年8月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.actamat.2018.05.072

    Web of Science

    Scopus

  38. EPR Study of Porous Si:C and SiO2:C Layers

    Savchenko Dariya, Vasin Andrii, Muto Shunsuke, Kalabukhova Ekaterina, Nazarov Alexei

    PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS   255 巻 ( 6 )   2018年6月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1002/pssb.201700559

    Web of Science

    Scopus

  39. Interfacial fracture strength evaluation of Cu/SiN micro-components: applicability of the linear fracture mechanics criterion under a hydrogen environment 査読有り

    Takahashi Yoshimasa, Ashida Itaru, Arai Shigeo, Higuchi Kimitaka, Yamamoto Yuta, Muto Shunsuke

    INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE   210 巻 ( 1-2 ) 頁: 223 - 231   2018年3月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1007/s10704-018-0269-8

    Web of Science

    Scopus

  40. Evaluation of delamination strength of bonded micro-components: a nano-indenter technique combined with environmental microscopy

    Takahashi Yoshimasa, Kishimoto Kaname, Higuchi Kimitaka, Yamamoto Yuta, Arai Shigeo, Muto Shunsuke

    2018 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MICRO-NANOMECHATRONICS AND HUMAN SCIENCE (MHS)     頁: .   2018年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    Web of Science

  41. Unmixing hyperspectral data by using signal subspace sampling

    Spiegelberg Jakob, Muto Shunsuke, Ohtsuka Masahiro, Pelckmans Kristiaan, Rusz Jan

    ULTRAMICROSCOPY   182 巻   頁: 205 - 211   2017年11月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.07.009

    Web of Science

  42. A microscopy method for scanning transmission electron microscopy imaging of the antibacterial activity of polymeric nanoparticles on a biofilm with an ionic liquid

    Takahashi Chisato, Muto Shunsuke, Yamamoto Hiromitsu

    JOURNAL OF BIOMEDICAL MATERIALS RESEARCH PART B-APPLIED BIOMATERIALS   105 巻 ( 6 ) 頁: 1432 - 1437   2017年8月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1002/jbm.b.33680

    Web of Science

  43. High-precision quantitative atomic-site-analysis of functional dopants in crystalline materials by electron-channelling-enhanced microanalysis

    Muto Shunsuke, Ohtsuka Masahiro

    PROGRESS IN CRYSTAL GROWTH AND CHARACTERIZATION OF MATERIALS   63 巻 ( 2 ) 頁: 40 - 61   2017年6月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.pcrysgrow.2017.02.001

    Web of Science

  44. Localization of magnetic circular dichroic spectra in transmission electron microscopy experiments with atomic plane resolution

    Rusz Jan, Spiegelberg Jakob, Muto Shunsuke, Thersleff Thomas, Ohtsuka Masahiro, Leifer Klaus, Oppeneer Peter M.

    PHYSICAL REVIEW B   95 巻 ( 17 )   2017年5月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1103/PhysRevB.95.174412

    Web of Science

  45. Microscopic origin of ultra-low friction coefficient between the wear track formed on carbon nitride coating and transfer layer on sliding ball in friction tests under dry N-2

    Inoue Hiroshi, Muto Shunsuke, Arai Shigeo, Wasada Hiroaki, Umehara Noritsugu

    SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY   313 巻   頁: 31 - 39   2017年3月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.surfcoat.2017.01.048

    Web of Science

  46. Towards sub-nanometer real-space observation of spin and orbital magnetism at the Fe/MgO interface

    Thersleff Thomas, Muto Shunsuke, Werwinski Miroslaw, Spiegelberg Jakob, Kvashnin Yaroslav, Hjorvarsson Bjorgvin, Eriksson Olle, Rusz Jan, Leifer Klaus

    SCIENTIFIC REPORTS   7 巻   2017年3月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1038/srep44802

    Web of Science

  47. Detection of local chemical states of lithium and their spatial mapping by scanning transmission electron microscopy, electron energy-loss spectroscopy and hyperspectral image analysis 査読有り

    Muto Shunsuke, Tatsumi Kazuyoshi

    MICROSCOPY   66 巻 ( 1 ) 頁: 39 - 49   2017年2月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1093/jmicro/dfw038

    Web of Science

  48. High-precision quantitative atomic-site-analysis of functional dopants in crystalline materials by electron-channelling-enhanced microanalysis 査読有り

    S. Muto, M. Ohtsuka

    Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials   63 巻   頁: 40-61   2017年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  49. Localization of magnetic circular dichroic spectra in transmission electron microscopy experiments with atomic plane resolution 査読有り

    J. Rusz, J. Spiegelberg, S. Muto, T. Thersleff, M. Ohtsuka, K. Leifer, P. M. Oppeneer

    PHYSICAL REVIEW B   95 巻   頁: 174412   2017年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  50. In situ TEM analysis of a symmetric solid oxide cell in oxygen and vacuum-cation diffusion observations 査読有り

    F. Gualandris, S. B. Simonsen, J. B. Wagner, S. Sanna, S. Muto, L. Theil Kuhn

    ECS Transactions   75 巻   頁: 123-133   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  51. Microscopic origin of ultra-low friction coefficient between the wear track formed on carbon nitride coating and transfer layer on sliding ball in friction tests under dry N2 査読有り

    H. Inoue, S. Muto, S. Arai, H. Wasada, N. Umehara

    Surface &Coating Technology   313 巻   頁: 31-39   2017年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  52. Towards sub-nanometer real-space observation of spin and orbital magnetism at the Fe/MgO interface 査読有り

    T. Thersleff, S. Muto, M. Werwinski, J. Spiegelberg, Y. Kvashnin, B. Hjorvarsson, O. Eriksson, J. Rusz, K. Leifer

    SCIENTIFIC REPORTS   7 巻   頁: 44802   2017年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  53. Unmixing hyperspectral data by using signal subspace sampling 査読有り

    J. Spiegelberg, S. Muto, M. Ohtsuka, K. Pelckmans, J. Rusz

    Ultramicroscopy   182 巻   頁: 205-211   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  54. Control of HAp Formation and Osteoconductivity on Nitrogen-Doped TiO2 Scale Formed by Oxynitridation of Ti 査読有り

    M. Hashimoto, S. Kitaoka, Y. Obata, S. Muto, T. Ogawa, M. Furuya, H. Kanetaka

    Key Engineering Materials   758 巻   頁: 86-89   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  55. In situ TEM analysis of a symmetric solid oxide cell in oxygen and vacuum cation diffusion observations

    Gualandris F., Simonsen S. B., Wagner J. B., Sanna S., Muto S., Kuhn L. Theil

    SOLID STATE IONIC DEVICES 11   75 巻 ( 42 ) 頁: 123-133   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1149/07542.0123ecst

    Web of Science

  56. Control of HAp Formation and Osteoconductivity on Nitrogen-Doped TiO2 Scale Formed by Oxynitridation of Ti 査読有り

    M. Hashimoto, S. Kitaoka, Y. Obata, S. Muto, T. Ogawa, M. Furuya, H. Kanetaka

    Key Engineering Materials   758 巻   頁: 86-89   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  57. Unmixing hyperspectral data by using signal subspace sampling 査読有り

    J. Spiegelberg, S. Muto, M. Ohtsuka, K. Pelckmans, J. Rusz

    Ultramicroscopy   182 巻   頁: 205-211   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  58. Towards sub-nanometer real-space observation of spin and orbital magnetism at the Fe/MgO interface 査読有り

    T. Thersleff, S. Muto, M. Werwinski, J. Spiegelberg, Y. Kvashnin, B. Hjorvarsson, O. Eriksson, J. Rusz, K. Leifer

    SCIENTIFIC REPORTS   7 巻   頁: 44802   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  59. Microscopic origin of ultra-low friction coefficient between the wear track formed on carbon nitride coating and transfer layer on sliding ball in friction tests under dry N2 査読有り

    H. Inoue, S. Muto, S. Arai, H. Wasada, N. Umehara

    Surface &Coating Technology   313 巻   頁: 31-39   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  60. Localization of magnetic circular dichroic spectra in transmission electron microscopy experiments with atomic plane resolution 査読有り

    J. Rusz, J. Spiegelberg, S. Muto, T. Thersleff, M. Ohtsuka, K. Leifer, P. M. Oppene

    PHYSICAL REVIEW B   95 巻   頁: 174412   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  61. In situ TEM analysis of a symmetric solid oxide cell in oxygen and vacuum-cation diffusion observations 査読有り

    F. Gualandris, S. B. Simonsen, J. B. Wagner, S. Sanna, S. Muto, L. Theil Kuhn

    ECS Transactions   75 巻   頁: 123-133   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  62. High-precision quantitative atomic-site-analysis of functional dopants in crystalline materials by electron-channelling-enhanced microanalysis 査読有り

    S. Muto, M. Ohtsuka

    Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials   63 巻   頁: 40-61   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  63. Sparse modeling of EELS and EDX spectral imaging data by nonnegative matrix factorization 査読有り

    M. Shiga, K. Tatsumi, S. Muto, K. Tsuda, Y. Yamamoto, T. Mori, T. Tanji

    Ultramicroscopy   170 巻   頁: 43-59   2016年8月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2016.08.006

  64. Structure analysis of topmost Layer of CNx after repeated sliding using scanning transmission electron microscopy electron energy-loss spectroscopy 査読有り

    H. Inoue, S. Muto, X. Deng, S. Arai, N. Umehara

    Thin Solid Films   616 巻   頁: 134-140   2016年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.tsf.2016.08.014

  65. A microscopy method for scanning transmission electron microscopy imaging of the antibacterial activity of polymeric nanoparticles on a biofilm with an ionic liquid 査読有り

    C. Takahashi, S. Muto, H. Yamamoto

    Journal of Biomedical Materials Research Part B:Applied Biomaterials   500 巻   2016年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1002/jbm.b.33680.

  66. Quantitative analysis of cation mixing and local valence states in LiNixMn2-xO4 using concurrent HARECXS and HARECES measurements 査読有り

    Y. Yamamoto, K. Kataoka, J. Akimoto, K. Tatsumi, T. Kousaka, J. Ohnishi, T. Takahashi, S. Muto

    Microscopy   65 巻   頁: 253-262   2016年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: doi:0.1093/jmicro/dfw008

  67. Multicomponent A-site ordered perovskite BiMn3(Fe0.25Ti0.75)4O12 : High-pressure synthesis, crystal Chemistry and magnetic behavior 査読有り

    G. Shimura, K.Nowa, Y. Shirako, S. Muto, K. Kusaba, M. Hasegawa

    Solid State Communications   234-235 巻   頁: 40-44   2016年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: Solid State Communications

  68. The microstructure of scale formed by oxynitriding of Ti and exhibiting significant apatite-forming ability 査読有り

    M. Hashimoto, S. Kitaoka, S. Muto, K. Kazuyoshi, Y. Obata

    Journal of Materials Research   31 巻   頁: 1004-1011   2016年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: DOI: 10.1557/jmr.2016.79

  69. Union operation image processing of data cubes separately processed by different objective filters and its application to void analysis in an all-solid-state lithium-ion battery 査読有り

    Y. Yamamoto, Y. Iriyama, S. Muto

    Microscopy   65 巻   頁: 191-198   2016年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: DOI:10.1093/jmicro/dfv373

  70. Quantitative determination of occupation sites trace CO substituted for multiple Fe sites in M-type hexagonal ferrite using statistical beam-rocking TEM-EDXS analysis 査読有り

    M.Ohtsuka, S. Muto, K. Tatsumi, Y. Kobayashi, T. Kawata

    Microscopy   65 巻   頁: 127-137   2016年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1007/s11340-015-0008-2

  71. Interfacial fracture strength of micro-scale Si/Cu components with different free-edge shape 査読有り

    Y. Takahashi, H. Kondo, K. Aihara, M. Takuma, K. Saitoh, S. Arai, S. Muto, Y. Yamamoto, K. Higuchi, N. Tanaka

    Key Engineering Materials   665 巻   頁: 169-172   2016年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  72. Matrix Factorization for Automatic Chemical Mapping from Electron Microscopic Spectral Imaging Datasets 査読有り

    M. Shiga, S. Muto, K. Tatsumi, K. Tsuda

    Transactions of the Materials Research Society of Japan   41 巻   頁: 333-336   2016年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  73. Change in Relative Density of Natural Rock Minerals Due to Electron Irradiation 査読有り

    I. Maruyama, S. Muto

    Journal of Advanced Concrete Technology   14 巻   頁: 706-716   2016年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  74. Evaluation of interfacial fracture strength in micro-components with different free-edge shape 査読有り

    Y. Takahashi, K. Aihara, I. Ashida, K. Higuchi, Y. Yamamoto, S. Arai, S. Muto, N. Tanaka

    Mechanical Engineering Journal   3 巻   頁: 1-10   2016年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  75. Effects of nitrogen-related defects on visible light photocatalytic response in N+ implanted TiO2: A first-principles study 査読有り

    Junya Senga, Kazuyoshi Tatsumi, Shunsuke Muto, Tomoko Yoshida

    Journal of Applied Physics   118 巻   頁: 115702-1-6   2015年9月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: doi: 10.1063/1.4930811

  76. Microscopic mechanism of path-dependence on charge-discharge history in lithium iron phosphate cathode analysis using scanning transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy spectral imaging 査読有り

    Yoshitake Honda, Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi, Hiroki Kondo, Kayo Horibuchi, Tetsuro Kobayashi, Tsuyoshi Sasaki

    Journal of Power Sources   291 巻   頁: 85-94   2015年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.jpowsour.2015.04.183

  77. Evalution of Interfacial Fracture Strength in Micro-Scale Components Combined with High-Voltage Environmental Electron Microscopy 査読有り

    Y. Takahashi, S. Arai, Y. Yamamoto, K. Higuchi, H. Kondo, Y. Kitagawa, S. Muto, N. Tanaka

    Experimental Mechanics   55 巻   頁: 1047-1056   2015年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: doi:10.1007/s11340-015-0008-2

  78. High-pressure synthesis and Sn valence state analysis of BaTiO3-SnO solid solution 査読有り

    Shoichiro Suzuki, Ken Niwa, Atsushi Honda, Shunsuke Muto, Akira Ando, Masashi Hasegawa

    Journal of Materials Society   29 巻   2014年12月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: DOI: 10.1557/jmr.2014.293

  79. Depth distribution of dopant effective for visible-light response in nitrogen-doped TiO2 photocatalyst 査読有り

    T. Yoshida, E. Kuda, S. Muto

    Surface and Interface Analysis     2014年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: DOI: 10.1002/sia.5542

  80. Growth of rectangular hollow tube crystals with rutile-type structure in supercritical fluids 査読有り

    K. Niwa, H. Ikegaya, T. Taguchi, S. Muto, T. Tokunaga and M. Hasegawa

    J. Physics: Conf.Ser.   500 巻   2014年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: doi:10.1088/1742-6596/500/2/022007

  81. Signal enhancement of electron magnetic circular dichroism by ultra-high-voltage TEM, toward quantitative nano-magnetism measurements 査読有り

    K. Tatsumi, S. Muto, J. Rusz, T. Kudo, S. Arai

    Microscopy   63 巻   頁: 243-247   2014年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  82. Discovery of the Last Remaining Binary Platinum-Group Pernitride RuN2 査読有り

    K. Niwa, K. Suzuki, S. Muto, K. Tatsumi, K. Soda, T. Kikegawa, M. Hasegawa

    Chemistry - A European Journal   20 巻   頁: 1-5   2014年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: DOI: 10.1002/chem.201

  83. In Situ Transmission Electron Microscopy of Ionic Conductivity and Reaction Mechanisms in Ultrathin Solid Oxide Fuel Cells 査読有り

    A. H. Tavabi, S. Arai, S. Muto, T. Tanji, R. E. Dunin-Borkowski

    Microscopy and Microanalysis   20 巻   頁: 1817   2014年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1017/S143192761401349X

  84. Development of an environmental high voltage electron microscope and its application to nano and bio-materials 査読有り

    N. Tanaka, J. Usukura, M. Kusunoki, Y. Saito, K. Sasaki, T. Tanji, S. Muto, S. Arai

    Journal of Physics: Conference Series   522 巻   頁: 12008   2014年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: DOI:10.1088/1742-6596/522/1/

  85. Energy Loss by Channeled Electrons: A Quantitative Study on Transition Metal Oxides 査読有り

    K.Tatsumi, S.Muto, and J.Rusz

    Microscopy and Microanalysis     頁: 1-9   2013年8月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1017/S1431927613013214

  86. Development of an environmental high-voltage electron microscope for reaction science 査読有り

    N.Tanaka, J.Usukura, M.Kusunoki, Y.Saito, K.Sasaki, T.Tanji, S. Muto, S.Arai

    Microscopy   62 巻   頁: 205-215   2013年3月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1093/jmicro/dfs095

  87. New algorithm for efficient Bloch-waves calculations of orientation-sensitive ELNES 査読有り

    J. Rusz, S. Muto, K. Tatsumi

    Ultramicroscopy   125 巻   頁: 81-88   2013年2月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2012.09.009

  88. Parameter-free extraction of EMCD from an energy-filtered diffraction datacube using multivariate curve resolution 査読有り

    S. Muto, K. Tatsumi, J. Rusz

    Ultramicroscopy   125 巻   頁: 89-96   2013年2月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2012.09.008

  89. White light emission from amorphous silicon-oxycarbide materials 査読有り

    Y. Ishikawa , K. Sato, S. Kawasaki, Y. Ishii, A. Matsumura and S. Muto

    Physica Status Solidi A   209 巻 ( 6 ) 頁: 1022-1025   2012年6月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1002/pssa.201100816

  90. Effect of Mg-doping on the degradation of LiNiO2-based cathode materials by combined spectroscopic methods 査読有り

    S. Muto, K. Tatsumi, Y. Kojima, H. Oka, H. Kondo, K. Horibuchi and Y. Ukyo

    Journal of Power Sources   205 巻   頁: 449-455   2012年5月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.jpowsour.2012.01.071

  91. Chemical Bonding of AlH3 Hydride by Al-L2,3 Electron Energy-Loss Spectra and First-Principles Calculations 査読有り

    K. Tatsumi, S. Muto, K. Ikeda and S. Orimo

    Materials   5 巻   頁: 566-574   2012年3月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.3390/ma5040566

  92. 電子顕微鏡分光と第一原理計算によるリチウム電池正極の機能元素電子状態解析 査読有り

    巽一厳、武藤俊介、近藤広規、佐々木厳、右京良雄

    日本セラミックス協会「セラミックス」   47 巻 ( 7 ) 頁: 528-533   2012年

     詳細を見る

    記述言語:日本語  

  93. Spin-filter tunnel junction with matched Fermi surfaces 査読有り

    T. Harada, I. Ohkubo, M. Lippmaa, Y. Sakurai, Y. Matsumoto, S. Muto, H. Koinuma, and M. Oshima

    Phys. Rev. Lett.   109 巻   頁: 076602-1-5   2012年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  94. Effect of Synthesis Process on Luminescence Properties and Structure of Mesoporous Carbon-Silica Nanocomposite 査読有り

    K. Sato, Y. Ishikawa, Y. Ishii, S. Kawasaki, S. Muto and Y. Yamamoto

    Jpn. J. Appl. Phys.   51 巻   頁: 082402-1-5   2012年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  95. STEM-EELS多変量解析を用いたLi化学状態マッピング 招待有り 査読有り

    武藤俊介,巽一厳,近藤広規,堀渕嘉代,右京良雄介

    顕微鏡   47 巻   頁: 印刷中   2012年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

  96. 多変量スペクトル解析によるナノ物性マッピング 招待有り 査読有り

    武藤俊介

    日本金属学会会報「まてりあ」   51 巻 ( 9 ) 頁: 415-422   2012年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

  97. 最先端ナノ電子分光データの統計処理による物性画像診断 招待有り 査読有り

    武藤俊介

    SCANS NEWS 2012-Ⅰ   35 巻   頁: 3-6   2012年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

  98. Large Tunnel Magnetoresistance in Epitaxial Oxide Spin-Filter Tunnel Junctions 査読有り

    T.Harada, I. Ohakubo, M.Lippmaa, Y.Sakurai, Y.Matsumoto, S. Muto, H.Koinuma, M.Oshima

    ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS   21 巻   頁: 4471-4475   2012年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1002/adfm.201200985

  99. 反応科学超高圧電子顕微鏡の開発 査読有り

    田中信夫、臼倉治郎、楠美智子、斎藤弥八、佐々木勝寛、丹治敬義、武藤俊介、荒井重勇

    顕微鏡   46 巻   頁: 156-159   2011年9月

     詳細を見る

    記述言語:日本語  

  100. Site occupancy determination of Eu/Y doped in Ca2SnO4 phosphor by electron channeling microanalysis 査読有り

    S. Muto, Y. Fujimichi, K. Tatsumi, H. Yamane and T. Kawano

    Optical Materials   33 巻   頁: 1015-1018   2011年5月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  101. 各種信号処理・統計的手法の電子顕微鏡データへの応用-Application of Signal Processing and Statistical Processing to Electron Microscopic Datasets- 査読有り

    武藤俊介

    顕微鏡   46 巻   頁: 24-29   2011年3月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

  102. The growth of carbon coating layers on iron particles and the effect of alloying the iron with silicon 査読有り

    H. Tokoro, S. Fujii, Y. Kobayashi and S. Muto

    Journal of Alloys and Compounds   509 巻   頁: 1378-1383   2011年1月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  103. Comparative study of annealing and oxidation effects in a SiC:H and a-SiC thin films deposited by radio-frequency magnetron sputtering 査読有り

    A.V. Vasin, S. Muto, Y. Ishikawa, A.V. Rusavsky, V.S. Lysenko and A.N.Nazarov

    Thin Solid Films   519 巻   頁: 2218-2224   2011年1月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  104. Growth and structure of an ultrathin tin oxide film on Rh(111) 査読有り

    J. Yuhara, D. Tajima, T. Matsui, K. Tatsumi, S. Muto, M. Schmid and P. Varga

    J. Appl. Phys.   109 巻 ( 2 ) 頁: 024903(5pages)   2011年1月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  105. Attribution of white-light emitting centers with carbonized surface in nano-structured SiO2:C layers 査読有り

    A.V.vasin, S.Muto, Y.Ishikawa, J. Salonen, A.N.nazarov, V.S.Lysenko

    Thin Solid Films   519 巻   頁: 4008-4011   2011年1月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  106. アルミニウム水素化物の合成および原子配置と水素放出特性 査読有り

    池田一貴,大友季哉,武藤俊介,折茂慎一

    Ceramics Japan   46 巻   頁: 174-177   2011年

     詳細を見る

    記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  107. 放射光・電子分光法融合による触媒活性種の化学状態解析 査読有り

    吉田朋子、武藤俊介

    触媒   53 巻 ( 4 ) 頁: 228-234   2011年

     詳細を見る

    記述言語:日本語  

  108. Degradation analysis of a Ni-based layered positive-electrode active material cycled at elevated temperatures studied by scanning transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy 査読有り

    Y.Kojima, S.Muto, K.Tatsumi, H.Kondo, H.Oka, K.Horibuchi and Y.Ukyo

    Journal of Power Sources   196 巻   頁: 7721-7727   2011年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  109. The valence state and partitioning of iron in the Earth's lowermost mantle 査読有り

    R. Sinmyo, K. Hirose, S. Muto, Y. Ohishi and A. Yasuhara

    Jornal of Geophysical Research   116 巻   頁: B07205-1-9   2011年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1029/2010JB008179

  110. Microstructures and Reaction Mechanism of Aluminum Hydride 査読有り

    S. Muto

    Highlights of Collaborated Research   46 巻   頁: 47   2010年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  111. 種々の電子状態評価技法の比較― ELNES に基づく化学結合性の議論― 招待有り 査読有り

    武藤俊介,巽 一厳

    顕微鏡   44 巻 ( 3 ) 頁: 191-198   2009年10月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

    電子エネルギー損失分光法(EELS)における内殻励起スペクトル(ELNES)の解釈のためには,第一原理計算に基づく理論予測ス
    ペクトルとの比較が必要になる.近年,この目的のためにいくつかのプログラムコードが公開されており,比較的手軽にスペクト
    ル予測が可能となってきた.本稿では,ELNES の理論計算のための基礎知識を簡単に説明した後,一般に公開されている代表的な
    プログラムの特徴と使用上の注意を比較してまとめ,ELNES から化学結合状態を議論するための手順について紹介する.最後にケーススタディとして,異なる酸素配位環境にある金属酸化物の理論ELNES を本稿で紹介したいくつかの方法で実際に計算して,それぞれの化学結合状態に関して具体的に比較検討する.

  112. Clustering of germanium atoms in silica glass responsible for the 3.1 eV emission band studied by optical absorption and X-ray absorption fine structure analysis 査読有り

    T. Yoshida, S. Muto, L. Yuliati, H. Yoshida and Y. Inada

    J. Nucl. Mater.   386-388 巻   頁: 1010-1013   2009年9月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  113. Thermoelectric properties of Ba3Co2O6(Co3)0.7 containing one-dimensional CoO6 octahedral columns 査読有り

    K. Iwasaki, T. Yamamoto, H. Yamane, T. Takeda, S. Arai, H. Miyazaki, K. Tatsumi, M. Yoshino, T. Ito, Y. Arita, S. Muto, T. Nagasaki and T. Matsui

    J. Appl. Phys.   106 巻 ( 3 ) 頁: 034905(5pages)   2009年8月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  114. Dehydriding process of a-AlH3 observed by transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy 査読有り

    S. Muto, K. Tatsumi, K. Ikeda and S. Orimo

    Journal of Applied Physics   105 巻   頁: 123514 (4pages)   2009年6月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  115. 複合電子分光による機能元素分析と物性画像診断 招待有り 査読有り

    武藤俊介,吉田朋子,巽一厳

    日本金属学会会報「まてりあ」   48 巻 ( 6 ) 頁: 290-293   2009年6月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

  116. *Diagnostic nano-analysis of materials properties by multivariate curve resolution applied to spectrum images by S/TEM-EELS 査読有り

    S. Muto, T. Yoshida and K. Tatsumi

    Materials Transactions   50 巻   頁: 964-969   2009年5月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  117. Local electronic and atomic structures of Ce3+-containing fluoride/oxide by TEM-EELS and first principles calculations 査読有り

    I. Nishida, K. Tatsumi and S. Muto

    Materials Transactions   50 巻 ( 5 ) 頁: 952-958   2009年5月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  118. Capacity fading mechanism of LiNiO2-based lithium ion batteries: I. Analysis by electrochemical and spectroscopic examination 査読有り

    T. Sasaki, T. Nonaka, H. Oka, C. Okuda, Y. Itou, Y. Kondo, Y. Takeuchi, Y. Ukyo, K. Tatsumi and S. Muto

    J. Electrochem. Soc.   156 巻   頁: A289-A293   2009年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  119. Dehydriding reaction of AlH3: in-situ microscopic observations combined with thermal and surface analyses 査読有り

    K. Ikeda, S. Muto, K. Tatsumi, M. Menjo, S. Kato, M. Bielmann, A. Zuttel, C. M. Jensen and S Orimo

    Nanotechnology   20 巻   頁: 204004 (4 pages)   2009年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  120. Chemical state analysis of implanted nitrogen in visible-light response TiO2 photo-catalyst 招待有り 査読有り

    T. Yoshida and S. Muto

    Transaction of Materials Research Society Japan   33 巻 ( 2 ) 頁: 339-344   2008年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  121. Color Control of White Photoluminescence from Carbon Incorporated Silicon Oxide 査読有り

    Y. Ishikawa, A.V. Vasin, J. Salonen, S. Muto, V.S. Lysenko, A.N. Nazarov, N. Shibata, and V.-P. Lehto, J. Appl. Phys. 104 (2008) 083522.

    J. Appl. Phys.   104 巻   頁: 083522   2008年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  122. Energy drifts correction of electron energy-loss spectra for prolonged data accumulation of low SNR signals 査読有り

    Y. Sasano and S. Muto

    Journal of Electron Microscopy   57 巻   頁: 149-158   2008年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  123. Site-selective electronic structure of aluminum in oxide ceramics obtained by TEM-EELS analysis using the electron standing-wave method 査読有り

    Y. Yamamoto, K. Tatsumi and S. Muto

    Materials Transaction   48 巻   頁: 2590-2594   2007年12月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  124. Depth-resolved EELS and chemical state mapping of N+-implanted TiO2 photocatalyst 査読有り

    T. Yoshida, S. Muto and J. Wakabayashi

    Materials Transaction   48 巻   頁: 2580-2584   2007年12月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  125. 位置選択的電子エネルギー損失分光法によるナノ表面・界面電子状態測定とその空間分布の可視化 招待有り

    武藤俊介,吉田朋子

    表面   45 巻 ( 2 ) 頁: 27-38   2007年2月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

    TEM分析において特に発展著しい電子エネルギー損失分光法(EELS)による局所領域の化学結合分析に焦点を絞り,最近の二次元位置敏感検出器の特性を活かして電子を小さく絞らずにナノメートル領域の分析を行う手法とその応用を紹介

  126. Nano-Order Structural Analysis of White Light-Emitting Silicon Oxide Prepared by Successive Thermal Carbonization/Oxidation of the Porous Silicon 査読有り

    S. Muto, A. V. Vasin, Y. Ishikawa, N. Shibata, J. Salonen, and V-P. Lehto

    Materials Science Forum   561-565 巻   頁: 1127-1130   2007年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  127. Hydrogen Quasi-Chemically Trapped Between Defective Graphene Layers in Nanostructured Graphite 査読有り

    Y. Miyabe, T. Yoshida, S, Muto and T. Kiyobayashi

    Materials Science Forum   561-565 巻   頁: 1585-1588   2007年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  128. Depth selective electronic state analysis of implanted nitrogen in visible-light response TiO2 photocatalyst 査読有り

    T. Yoshida, S. Muto and J. Wakabayashi

    Materials Sciencd Forum   561-565 巻   頁: 567-570   2007年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  129. Site-by-site Electronic Structure Analysis of Al-containing Complex Compounds Using Channeling EELS and First Principles Calculations 査読有り

    K. Tatsumi, Y Yamamoto and S. Muto

    Materials Science Forum   561-565 巻   頁: 2091-2094   2007年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  130. In situ observation of reversible oxygen absorption/release of ceria-zirconia solid solution with Pt particles by TEM and EELS 査読有り

    S. Arai, S. Muto, T. Sasaki, Y. Ukyo, K. Kuroda, H. Saka

    Electrochem. Solid-State Lett.   9 巻   頁: E1-E3   2006年4月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  131. Spectral restoration and energy resolution improvement of electron energy-loss spectra by Pixon reconstruction: I.Principle and test examples 査読有り

    S. Muto, R. C. Puetter and K. Tatsumi

    Journal of Electron Microscopy   54 巻 ( 4 ) 頁: 215-223   2006年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  132. Fe-Co and Fe-Ni magnetic fine particles encapsulated by graphite carbon 査読有り

    H. Tokoro, S. Fujii, S. Muto and S. Nasu

    J. Appl. Phys.   99 巻   頁: 08Q512   2006年4月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  133. Intercalated hydrogen in nanostructured graphite studied by electron energy-loss spectroscopy and molecular orbital calculation 査読有り

    T. Kimura, S. Muto, K. Tatsumi, T. Tanabe and T. Kiyobayashi

    Journal of Alloys and Compounds   413 巻 ( 1-2 ) 頁: 150-154   2006年3月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    Hydrogen loosely trapped between graphitic basal planes in hydrogenated nanostructured graphite was detected by the change in the relative intensity ratio of the π * and σ* peaks of the C K-edge in electron energy-loss spectroscopy (EELS). The experimental spectral change was explained by model calculations of intercalated hydrogen in graphitic sheets, using an ab initio molecular orbital (DV-X

  134. Change in mechanical properties of ion-irradiated ceramics by nanoindentation method 査読有り

    S. Nakano, S. Muto and T. Tanabe

    Materials Transactions   47 巻 ( 1 ) 頁: 112-121   2006年1月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    Changes in hardness of several representative ceramics and semiconductors associated with ion irradiation were systematically studied using a combination of nanoindentation and finite element analysis. We established a new method for obtaining the precise hardness of the embedded damaged layer of ion-irradiated samples. The method was applied to silicon carbide,

  135. Site-specific electronic structure analysis by channeling EELS and first principles calculations 査読有り

    K. Tatsumi, S. Muto, Y. Yamamoto, H. Ikeno, S. Yoshioka and I. Tanaka

    Ultramicroscopy   106 巻   頁: 1019-1023   2006年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  136. Local Oxidation Induced by Inhomogeneous Stress on Blistered Si Surface 査読有り

    S. Igarashi, A. N. Itakura, M. Kitajima, S. Nakano, S. Muto, T. Tanabe, H. Yamamoto and K. Hojou

    Jpn. J. Appl. Phys.   45 巻   頁: 4179-4182   2006年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  137. Substructures of gas-ion-irradiation induced surface blisters in Si studied with cross-sectional transmission electron microscopy 査読有り

      46 巻 ( 10 ) 頁: 2117-2124   2005年10月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  138. 微小押し込み試験法によるセラミック材料のイオン照射に伴う力学特性変化 査読有り

    中野伸祐,武藤俊介,田辺哲朗

    日本金属学会誌   69 巻 ( 9 ) 頁: 815-824   2005年9月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  139. 非金属材料におけるヘリウム照射損傷について 招待有り 査読有り

    武藤俊介

    プラズマ・核融合学会誌   81 巻 ( 1 ) 頁: 41-45   2005年1月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

  140. Structure of Oxygen-Related Defect Centers in of Ge1-xSix Alloys Studied by Extended Energy-Loss Fine Structure Analysis 査読有り

    S. Muto, H. Sugiyama, I. Yonenaga and T. Tanabe

    Japanese Journal of Applied Physics   44 巻   頁: 1892-1896   2005年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  141. Transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy analysis of hydrogenated nanostructured graphite prepared by mechanical milling 査読有り

    S. Muto, T. Kimuta, T. Kiyobayashi, T. Tanabe and T. Maruyama

    Japanese Journal of Applied Physics   44 巻   頁: 2061-2068   2005年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    Hydrogen trapping sites in hydrogenated nanostructured graphite (HNG) prepared by mechanical milling under hydrogen atmosphere were intensively studied with transmission electron microscopy (TEM) and electron energy-loss spectroscopy (EELS). Measurements of

  142. 複合電子顕微分光への展望とその応用の可能性 招待有り 査読有り

    武藤俊介、巽一厳

    日本セラミックス協会「セラミックス」   11 巻   頁: 928-931   2005年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

  143. TEM-EXELFS法の特徴とその応用の現状と展望 招待有り 査読有り

    武藤俊介

    日本結晶学会誌   471 巻   頁: 61-66   2005年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

  144. Formation and in-situ dynamics of metallic nanoblisters in Ga+ implanted GaN nanowires 査読有り

    A. Datta, S. Dhara, S. Muto, C. W. Hsu, C. T. Wu, C. H. Shen, T. Tanabe, T. Maruyama, K. H. Chen, L. C. Chen and Y. L. Wang

    Nanotechnology   16 巻   頁: 2764-2769   2005年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  145. Atomistic structure and strain relaxation in Czochralski-grown SixGe1-x bulk alloys 査読有り

      16 巻   頁: 429-432   2005年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  146. Mechanism of nanoblister formation in Ga+ self-ion implanted GaN nanowires 査読有り

    S. Dahra, A. Datta, S. Muto, C.T. Wu, K.H. Chen, Y. L. Wang, T. Tanabe, C.H. Shen, C.W.Hsu, L.C. Chen and T. Maruyama

    Appllied Physics Letters   86 巻   頁: 203119-1-3   2005年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  147. Irradiation-induced hardening/softening in SiO2 studied with instrumented indentation 査読有り

    S. Nakano, S. Muto and T. Tanabe

    Materials Science and Engineering A   400-401 巻   頁: 382-385   2005年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  148. Maximum entropy spectral analysis of extended energy-loss fine structure and its application to time-resolved measurement 査読有り

    S. Muto

    Philosophical Magazine   84 巻   頁: 2793-2808   2004年9月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  149. EXELFS analysis of oxygen in Si-Ge alloys 査読有り

    S. Muto, H. Sugiyama, I. Yonenaga and T. Tanabe

    Proc. 8th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference (APEM-8)     頁: 483-484   2004年6月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語  

  150. Evidence of spatial valence fluctuation in Ce2Zr2O7.5 detected with electron channeling EELS: Janus state of Cerium 査読有り

    S. Arai, S. Muto, T. Sasaki, Y. Ukyo, K. Kuroda and H. Saka

    Proc. 8th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference (APEM-8)     頁: 142-143   2004年6月

     詳細を見る

    記述言語:英語  

  151. FT-IR study on the effect of OH content on the damaging process in silica irradiated by hydrogen 査読有り

    T. Yoshida, T. Tanabe, M. Hirano and S. Muto

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B   218 巻   頁: 202-208   2004年6月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  152. Characterization of nanodome on GaN nanowires formed with Ga Ion irradiation 査読有り

    S. Muto, S. Dhara, A. Datta, C.-W. Hsu, C.-T. Wu, C.-H. Shen, L.-C. Chen, K.-H. Chen, Y.-L. Wang, T. Tanabe, T. Maruyama, H.-M. Lin and C.-C. Chen

    Materials Transactions   45 巻 ( 2 ) 頁: 435-439   2004年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  153. シリコン表面の水素イオン照射誘起ブリスターの非破壊構造解析と内部ガス圧評価 査読有り

    中野伸祐、榎本成晟、武藤俊介、田辺哲朗

    日本金属学会会報「まてりあ」   43 巻 ( 12 ) 頁: 1008   2004年4月

     詳細を見る

    記述言語:日本語  

  154. Synthesis of boron nitride nanolayers encapsulating iron fine particles and boron nitride nanotubes 査読有り

    H. Tokoro, S. Fujii, T. Oku and S. Muto

    Materials Research Society Symposium Proceedings   789 巻   頁: N3.34-39   2004年

     詳細を見る

    記述言語:英語  

  155. Valence Change of Cerium Ion associated with Redox reactions of Ceria-Zirconia Solid Solution by Electron Energy-Loss Spectroscopy 査読有り

    S. Arai, S. Muto, J. Murai, T. Sasaki, Y. Ukyo, K. Kuroda and H. Saka

    Mater.Trans.   45 巻   頁: 2951-2955   2004年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  156. TEM analysis of blisters on Si surface formed by hydrogen ion irradiation 査読有り

    S. Muto, T. Tanabe and S. Igarashi

    Physica Scripta   T108 巻   頁: 19-22   2004年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  157. ブリスタリングによる応力変調を利用した局所シリコン酸化の観察 査読有り

    五十嵐慎一、板倉明子、北島正弘、中野伸祐、武藤俊介、田辺哲朗、山本博之、北條喜一

    表面科学   25 巻   頁: 562-567   2004年

     詳細を見る

    記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  158. Crystal Structure of Ce2Zr2O7 and β-Ce2Zr2O7.5 査読有り

    T. Sasaki, Y. Ukyo, K. Kuroda, S. Arai, S. Muto and H. Saka

    Journal of ceramics society of Japan   112 巻 ( 8 ) 頁: 440-444   2004年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  159. 電子エネルギー損失分光法によるセリア-ジルコニア固溶体の規則相の解析 査読有り

    荒井重勇、武藤俊介、村井盾哉、佐々木厳、右京良雄、黒田光太郎、坂公恭

    日本金属学会誌   68 巻 ( 5 ) 頁: 264-268   2004年

     詳細を見る

    記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  160. EXELFS/ELNES study of electron irradiation induced oxidation of α-SiC 査読有り

    S. Muto, H. Sugiyama, T. Kimura, T. Tanabe and T. Maruyama

      218C 巻   頁: 117-122   2004年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  161. Structure of an Oxygen-Related Defect Complex in SiC Studied with Electron Energy-Loss Spectroscopy 査読有り

    S. Muto, H. Sugiyama, T. Kimura and T. Tanabe

    Japanese Journal of Applied Physics   43 巻   頁: 1076-1080   2004年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  162. Reverse Monte Carlo analysis of extended energy-loss fine structure for disordered structures of tetrahedrally co-ordinated materials: its applicability 査読有り

    S. Muto and T. Tanabe

    Journal of Electron Microscopy   52 巻   頁: 125-132   2003年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  163. Cross sectional TEM observation of gas-ion-irradiation induced surface blisters and their precursors in SiC 査読有り

    S. Muto, T. Tanabe and T. Maruyama

    Materials Transactions   44 巻 ( 12 ) 頁: 2599-2604   2003年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  164. Experimental and full multiple scattering approaches to energy-loss near-edge structures for c-Si, a-Si and a-Si:H 査読有り

    K. Hayakawa, T. Fujikawa and S. Muto

    Chemical Physics Letters   371 巻   頁: 498-503   2003年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  165. Local structures and damage processes of electron irradiated α-SiC studied with transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy 査読有り

    S. Muto and T. Tanabe

    Journal of Applied Physics   93 巻   頁: 3765-3775   2003年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  166. Damaging process of α-SiC under electron irradiation studied with electron microscopy and spectroscopy 査読有り

    S. Muto, T. Tanabe, T. Shibayama, and H. Takahashi

    Nuclear Instruments and Methods for Physics Research B   191 巻   頁: 519-523   2002年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  167. Development of new TEM specimen holder for cathodoluminescence detection 査読有り

    T. Tanabe, S. Muto and S. Tohtake

    Journal of Electron Microscopy   51 巻   頁: 311-313   2002年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  168. Surface Blistering of Ion Irradiated SiC studied by Grazing Incidence Electron Microscopy 査読有り

    S. Igarashi, S. Muto T. Tanabe and T. Maruyama

    Journal of Nuclear Materials   307-311 巻   頁: 1126-1129   2002年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  169. TEM and EELS characterization of carbon dust and co-deposited layers from the TEXTOR tokamak 査読有り

    Journal of Nuclear Materials   307-311 巻   頁: 1289-1293   2002年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  170. In-situ Observation of Surface Blistering in Silicon by Deuterium and Helium Ion Irradiation 査読有り

    S. Igarashi, S. Muto, T. Tanabe, J. Aihara and K. Hojou

    Surface and Coatings Technology   158-159C 巻   頁: 421-425   2002年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  171. Chemical effects of hydrogen on surface damaging process in gas-ion irradiated alumina 査読有り

    J. Asami, S. Muto and T. Tanabe

    Surface and Coatings Technology   158-159C 巻   頁: 518-521   2002年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  172. RHEED study of irradiation-induced surface damage processes in Si and α-Al2O3 査読有り

    S. Muto, J. Asami and T. Tanabe

    Nuclear Instruments and Methods for Physics Research B   196 巻   頁: 324-332   2002年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  173. 透過電子エネルギー損失分光における内殻励起スペクトルを利用した軽元素材料の局所領域構造解析 査読有り

    武藤俊介、田辺哲朗

    表面科学   23 巻   頁: 381-388   2002年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

  174. Formation of Si clusters in electron-irradiated SiC studied by electron energy-loss spectroscopy 査読有り

    N. Asaoka, S. Muto and T. Tanabe

    Diamond and Related Materials   10 巻   頁: 1247-1250   2001年4月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  175. 低角度入射電子顕微鏡法による表面微小構造体の非破壊分析 査読有り

    五十嵐慎一、武藤俊介、田辺哲朗

    日本金属学会誌「分析電子顕微鏡法による材料評価」   65 巻 ( 5 ) 頁: 423-426   2001年

     詳細を見る

    記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  176. Non-Destructive Structural Analysis of Surface Blistering by TEM and EELS in a Reflection Configuration 査読有り

    S. Muto, T. Matsui and T. Tanabe

    Journal of Nuclear Materials   290-293 巻   頁: 131-134   2001年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  177. Energy-Filtered Image of Surface Blisters by Grazing Incidence Electron Microscopy 査読有り

    S. Igarashi, S. Muto, T. Tanabe and T. Maruyama

    Materials Transactions   42 巻 ( 10 ) 頁: 2131-2132   2001年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  178. TEM-EXELFS法の効用:EXAFSとの対比 招待有り

    武藤俊介

    電子顕微鏡   36 巻 ( 1 ) 頁: 65-67   2001年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語  

  179. エネルギー損失広域微細構造による短距離構造相関の解析―二体分布から多体分布導出へ―

    武藤俊介、田辺哲朗

    日本金属学会誌「分析電子顕微鏡法による材料評価」   65 巻 ( 5 ) 頁: 332-337   2001年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  180. Detailed Structure Analysis of Deposit Layer in TEXTOR by Means of TEM Techniques 査読有り

    S. Muto, N. Yokoya and T. Tanabe

    Journal of Nuclear Materials   290-293 巻   頁: 295-298   2001年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  181. Observation of Surface Blistering by Grazing Incidence Electron Microscopy

    S. Muto, T. Matsui and T. Tanabe

    Japanese Journal of Applied Physics   39 巻 ( 6A ) 頁: 3555-3556   2000年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  182. Application of spline wavelet transformation to the analysis of extended energy-loss fine structure 査読有り

    S. Muto

    Journal of Electron Microscopy   49 巻   頁: 525-529   2000年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    We propose a new analysis method of the extended energy-loss fine structure (EXELFS), applying the multi-resolution analysis (MRA) in the wavelet transformation. We select the cardinal spline wavelet where the rank-4 cardinal spline function is used as a scaling function to construct the mother wavelet. In contrast with the conventional analysis method, the present method is efficient in filtering out the high-frequency noise and low-frequency components introduced by the numerical analysis process without distorting the original signal components, which promises quantitative analyses with less uncertainties.

  183. Temperature effect of electron-irradiation-induced structural modification in graphite 査読有り

    S. Muto and T. Tanabe

    Journal of Nuclear Materials   283-287 巻   頁: 917-921   2000年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  184. Extraction of three-body distribution in amorphous silicon by wavelet analysis of EXELFS

    S. Muto, K. M. Yu, W. Walukiewicz, H-C. Jin and J. R. Abelson

    Proceedings of 12th European Congress on Electron Microscopy, EUREM-2000   1 巻   頁: 319-320   2000年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語  

  185. TEM study on deuterium irradiation-induced defects in tungsten and molybdenum 査読有り

    T. Matsui, S. Muto and T. Tanabe

    Journal of Nuclear Materials   283-287 巻   頁: 1139-1143   2000年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  186. Wavelet analysis of extended energy-loss fine structure

    S. Muto

    Proceedings 12th European Congress on Electron Microscopy, EUREM-2000   1 巻   頁: 321-322   2000年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語  

  187. Structural Change in Graphite under Electron Irradiation at Low Temperatures

    Journal of Nuclear Materials   271&272 巻   頁: 280-284   1999年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  188. Local structures of Ga atoms in amorphous silicon and hydrogenated amorphous silicon before and after synchrotron X-ray irradiation

    K. M. Yu, W. Walukiewicz, S. Muto, H.-G. Jin, J. R. Abelson, C. Clerc, C. J. Glover and M. C. Ridgway

    Applied Physics Letters   75 巻 ( 21 ) 頁: 3282-3284   1999年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  189. Fragmentation of graphite crystals by electron irradiation at elevated temperatures

    S. Muto and T. Tanabe

    Journal of Electron Microscopy   48 巻 ( 5 ) 頁: 519-523   1999年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  190. Local structural order in electron-irradiated graphite studied by high-resolution high-voltage electron microscopy

    S. Muto, S. Horibuchi and T. Tanabe

    Journal of Electron Microscopy   48 巻 ( 6 ) 頁: 767-776   1999年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  191. Change in Chemical Bonding States in Electron-Irrodiated Graphite(共著)

    Japanese Journal of Applied Physics Part(]G0001[)   38 巻 ( 3A ) 頁: 1514-1515   1999年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  192. On EXELFS data analysis for obtaining reliable structural parameters

    Y. Kobayashi, S. Muto, C. J. Echer and T. Tanabe

    Journal of Electron Microscopy   48 巻 ( 5 ) 頁: 525-529   1999年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  193. The effects of X-ray induced structural changes on the microstructure of a-Si after thermal crystallization

    K. M. Yu, W. Walukiewicz, S. Muto, H-C. Jin and J. R. Abelson

    Applied Physics Letters   75 巻 ( 14 ) 頁: 2032-2034   1999年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  194. TEM Analysis of Surface Ridge Network in an Ion-Irradiated Graphite Thin Film

    S. Muto, T. Tanabe, M. Takeuchi, Y. Kobayashi, S. Furuno and K. Hojou

    Journal of Nuclear Materials   271&272 巻   頁: 285-289   1999年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  195. Molecular Dynamics Study on Local Atomic Displacements Associated with Point Defects and Displacive Phase Transformations(共著)

    Materials Transactions, JIM   40 巻 ( 6 ) 頁: 514-521   1999年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  196. The Influence of X-ray Irradiation on Structural Relaxation and Crystallization of Amorphous Silicon films

    S. Muto, Y. Kobayashi, K.-M. Yu, W. Walukiewicz, C.J. Echer, S. McCormick and J.R. Abelson

    Japanese Journal of Applied Physics   37 巻 ( 11 ) 頁: 5890-5893   1998年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  197. HREM-EELS Study of Structural Changes in Electron Irradiated Graphite (共著)

    Proceedings of 14th International Congress on Electron Microscopy     頁: 119   1998年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語  

  198. TEM-EELS法による黒鉛の電子照射誘起構造変化 招待有り 査読有り

    まてりあ   37 巻 ( 10 ) 頁: 873-879   1998年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  199. Spatial and Structural Modification in Graphite by High-Energy Electron Irradiation (共著)

    Proceedings of 5-th NIRIM International Symposium on Advanced Materials     頁: 129   1998年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語  

  200. Lacal Atom Displacements Around Crystal Lattice Defects Inducing Phase Transformation Studies by Molecular Dynamics Simulation (共著)

    Proceedings of Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing     頁: 1461   1998年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語  

  201. A New Microscopic Model of Electron Irradiation Damage in Graphite

    S. Muto, M. Takeuchi and T. Tanabe

    Journal of Surface Analysis   3 巻 ( 2 ) 頁: 420-425   1997年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  202. Damage Process in Electron-Irradiated Graphite Studied by Transmission Electron Microscopy. II. Analysis of Extended Energy-Loss Fine Structure of Highyly Oriented Pyrolytic Graphite

    M. Takeuchi, S. Muto, T. Tanabe, S. Arai and T. Kuroyanagi

    Philosophical Magazine A   76 巻 ( 3 ) 頁: 691-700   1997年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  203. Damage Process in Electron-Irradiated Graphite by Transmission Electron Microscopy. I. High Resolution Observation of Highly Graphitized Carbon Fibre

    S. Muto and T. Tanabe

    Philosophical Magazine A   76 巻 ( 3 ) 頁: 679-690   1997年4月

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  204. 計算材料設計システムMASPHYCによる分子動力学シミュレーション(共著)

    名古屋大学大型計算機センターニュース   27 巻 ( 4 ) 頁: 305   1996年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  205. New Stable Structure on the (001) Plane in Germanium Formed by Deutron Irradiation(共著)

    Philosophical Magazine Letters   72 巻 ( 2 ) 頁: 99   1995年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  206. Structure of Hydrogen Induced Platelet Studied by Transmission Electron Microscopy

    Philosophical Magazine A   72 巻 ( 4 ) 頁: 1057   1995年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  207. Extended Defect Formation in Silicon and Germanium Induced by Light Gas Ion Irradiation Studied with Transmission Electron Microscopy(共著)

    Materials Science Forum   196-201 巻   頁: 1171   1995年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  208. A New Type of Extended Defect on the (100) Plane in Germanium Produced by Deuteron Bombardment (共著)

    Proceedings of International Congress on Electron Microscopy   II 巻   頁: 565   1994年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語  

  209. Structural Study of Hydrogen Induced Platelet in Si and Ge by Transmission Electron Microscopy (共著)

    Materials Science Forum   143-147 巻   頁: 897   1994年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  210. 電子顕微鏡法によるω相変態に付随する格子変位の研究

    電子顕微鏡   29 巻 ( 1 ) 頁: 2   1994年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  211. In-situ HREM Observation of Electron-Irradiation-Induced Martensitic Transformation in a N63Al37 Alloy (共著)

    Journal of Alloys and Compounds   199 巻   頁: 1   1993年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  212. High-Resolution Electron Microscopy and Electron Diffraction Study of the Displacive Transformation of the Ni2Al Phase in Ni65Al35 Alloy and Associated Martensitic Transformation (共著)

    Acta Metallurgica et Materialia   41 巻 ( 8 ) 頁: 2377   1993年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  213. Displacive-Replacive Phase Transformation in a N62.5Al37.52 Phase by Transmission Electron Microscopy and Diffraction (共著)

    Philosophical Magazine B   67 巻 ( 5 ) 頁: 673   1993年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  214. Structures and Phase Transitions in C60 and C70 Fullerites (共著)

    Ultramicroscopy   51 巻   頁: 168   1993年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  215. Displacive and Diffusive Components in the Formation of the Ni2Al Structure Studied by HREM, SAED and Micro-ED

    Proceedings of International Conference on Martensitic Trausformations, ICOMAT-92     頁: 101   1993年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語  

  216. High Resolution Electron Microscopy of Structural Defects in Crystalline C60 and C70 (共著)

    Philosophical Magazine B   67 巻 ( 4 ) 頁: 443   1993年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

  217. Structure of Si Aggregates in Heavily Si-Doped GaAs (共著)

    Philosophical Magazine A   66 巻 ( 2 ) 頁: 257   1992年

     詳細を見る

    担当区分:筆頭著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

▼全件表示

書籍等出版物 9

  1. Nanoinformatics

    M. Shiga, S. Muto( 担当: 共著)

    Springer  2018年1月 

     詳細を見る

    記述言語:日本語

  2. ライフサイエンス顕微鏡学ハンドブック

    著者多数( 担当: 分担執筆)

    朝倉書店  2017年1月 

     詳細を見る

    記述言語:日本語

  3. 金属学会セミナーテキスト「機能元素のナノ材料科学」

    著者多数( 担当: 分担執筆)

    日本金属学会  2009年7月 

     詳細を見る

    記述言語:日本語

  4. 21世紀の格子欠陥研究に残された課題

    西谷滋人、青木正人、武藤俊介(共編)( 担当: 共著)

    吉岡書店  2003年7月 

     詳細を見る

    記述言語:日本語

  5. Science, Technology and Education of Microscopy: an Overview

    ( 担当: 共著)

    FORMATEX  2003年 

     詳細を見る

    記述言語:英語

  6. 電子顕微鏡法の実践と応用写真集

    著者多数( 担当: 共著)

    日本鉄鋼協会・日本金属学会共同出版委員会  2002年3月 

     詳細を見る

    記述言語:日本語

  7. 分子動力学

    武藤俊介、竹内宗孝(分担執筆)( 担当: 共著)

    金属学会セミナー「パソコンで学ぶ材料力学」  2001年11月 

     詳細を見る

    記述言語:日本語

  8. EXELFSによる無秩序構造の解析(単著)

    電子顕微鏡基礎技術と応用1998「極微構造解明の新展開」  1998年 

     詳細を見る

    記述言語:日本語

  9. Effects of Synchrotron X-rays on PVD-Deposited And Ion-Implanted a-Si (共著)

    Materials Research Society Symposium Proceedings  1997年 

     詳細を見る

    記述言語:英語

▼全件表示

MISC 17

  1. Control of surface potential and hydroxyapatite formation on TiO2 scales containing nitrogen-related defects

    Masami Hashimoto, Takafumi Ogawa, Satoshi Kitaoka, Shunsuke Muto, Maiko Furuya, Hiroyasu Kanetaka, Masayuki Abe, Hayato Yamashita  

    Acta Materialia155 巻   頁: 379 - 385   2018年8月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)   出版者・発行元:Acta Materialia Inc  

    The hydroxyapatite (HAp) formation ability and related surface potentials of rutile-type TiO2 scales formed on Ti are controlled by varying the Ti heat treatment conditions in a N2 atmosphere containing a trace amount of O2. The zeta potentials of the samples heated at 873 and 973 K for 1 h are large negative and positive values, respectively, where HAp formation on the surface is enhanced in both cases. Upon longer heat treatment at those temperatures, the HAp forming ability diminishes and the zeta potential becomes more neutral. Kelvin probe force microscopy indicates that, under dry conditions, the surface charges on the TiO2 scales formed at 873 and 973 K in 1 h are positive and negative, respectively, opposite to the signs of the zeta potentials measured under wet conditions. Scanning transmission electron microscopy, electron energy loss spectroscopy, and calculations of defect formation energies reveal that nitrogen atoms incorporated into TiO2 during scale formation produce the charged defects (NO)O −1 and (N2)O +2 for the scales formed in 1 h at 873 and 973 K, respectively. In the case of longer treatments, nitrogen-related defects presumably transform into more stable states, such as N2 gas, in voids, resulting in a neutral surface. The present findings lead to physical models of surface charge distributions that elucidate the relationship between nitrogen-related defects, charged surfaces, and HAp formation mechanisms.

    DOI: 10.1016/j.actamat.2018.05.072

    Scopus

  2. EPR Study of Porous Si:C and SiO2:C Layers

    Dariya Savchenko, Andrii Vasin, Shunsuke Muto, Ekaterina Kalabukhova, Alexei Nazarov  

    Physica Status Solidi (B) Basic Research255 巻 ( 6 )   2018年6月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)   出版者・発行元:Wiley-VCH Verlag  

    Initial porous silicon (por-Si), carbonized porous silicon (por-Si:C), and carbon-incorporated porous silicon oxide (por-SiO2:C) layers are studied by electron paramagnetic resonance (EPR) at T = 10–13 K. Scanning transmission electron microscopy and electron energy loss (EEL) spectroscopy show that por-Si:C and por-SiO2:C layers have a highly disordered structure with mixing sp2 and sp3 CC bonds. In the por-SiO2:C layers, the peak of the oxygen bonded to carbon in the form of hydroxyl groups is found in the EEL spectrum of the C K-edge region. Low-intensity signals of Lorentzian lineshape are detected in the EPR spectrum of por-Si, por-Si:C, por-SiO2:C layers. One of them is attributed to the Pb0 defect at the Si/SiO2 interface of nanocrystalline grain and the second to the silicon dangling bonds (SiDB) localized in nanocrystalline Si. The carbonization of por-Si layers and subsequent oxidation of por-Si:C gives rise to the appearance of additional EPR signals of high intensity at g = 2.0035(3) in por-Si:C and at g = 2.0030(3) in por-SiO2:C, which are assigned to carbon-related defects (CRD) and carbon clusters, correspondingly. It was found that predominant defect types in por-Si:C and por-SiO2:C layers are CRD and carbon clusters, respectively, while the spin concentration of Pb0 interface defects and SiDB is low.

    DOI: 10.1002/pssb.201700559

    Scopus

  3. Interfacial fracture strength evaluation of Cu/SiN micro-components: applicability of the linear fracture mechanics criterion under a hydrogen environment

    Yoshimasa Takahashi, Itaru Ashida, Shigeo Arai, Kimitaka Higuchi, Yuta Yamamoto, Shunsuke Muto  

    International Journal of Fracture210 巻 ( 1-2 ) 頁: 223 - 231   2018年3月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)   出版者・発行元:Springer Netherlands  

    The strength against fracture initiation from an interface free-edge of bonded copper (Cu) and silicon nitride (SiN) micro-components is studied. Quantitative fracture tests are conducted either in a vacuum environment or in a gaseous hydrogen (H2) environment. By using two kinds of specimens, Types I and II, having the same free-edge geometry (135∘/135∘) but different outer shape, the validity of the linear fracture mechanics criterion is critically evaluated. For specimens tested in vacuum, fracture initiation strength represented by the elastic stress intensity factor of the near-edge normal stress component is found to be the same irrespective of the specimen type, indicating that the fracture mechanics criterion holds. For specimens tested in H2 gas, the strength of both types is reduced and, interestingly, Type II strength shows greater reduction than Type I. In other words, the fracture mechanics criterion does not hold in H2 gas. Such a difference may be attributable to the difference of local plasticity in each specimen type.

    DOI: 10.1007/s10704-018-0269-8

    Scopus

  4. Unmixing hyperspectral data by using signal subspace sampling

    Jakob Spiegelberg, Shunsuke Muto, Masahiro Ohtsuka, Kristiaan Pelckmans, Jan Rusz  

    ULTRAMICROSCOPY182 巻   頁: 205 - 211   2017年11月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)   出版者・発行元:ELSEVIER SCIENCE BV  

    This paper demonstrates how Signal Subspace Sampling (SSS) is an effective pre-processing step for Non-negative Matrix Factorization (NMF) or Vertex Component Analysis (VCA). The approach allows to uniquely extract non-negative source signals which are orthogonal in at least one observation channel, respectively. It is thus well suited for processing hyperspectral images from X-ray microscopy, or other emission spectroscopies, into its non-negative source components. The key idea is to resample the given data so as to satisfy better the necessity and sufficiency conditions for the subsequent NMF or VCA. Results obtained both on an artificial simulation study as well as based on experimental data from electronmicroscopy are reported. (C) 2017 Elsevier B.V. All rights reserved.

    DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.07.009

    Web of Science

  5. A microscopy method for scanning transmission electron microscopy imaging of the antibacterial activity of polymeric nanoparticles on a biofilm with an ionic liquid

    Chisato Takahashi, Shunsuke Muto, Hiromitsu Yamamoto  

    JOURNAL OF BIOMEDICAL MATERIALS RESEARCH PART B-APPLIED BIOMATERIALS105 巻 ( 6 ) 頁: 1432 - 1437   2017年8月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)   出版者・発行元:WILEY  

    In this study, we developed a scanning transmission electron microscopy (STEM) method for imaging the antibacterial activity of organic polymeric nanoparticles (NPs) toward biofilms formed by Staphylococcus epidermidis bacterial cells, for optimizing NPs to treat biofilm infections. The combination of sample preparation method using a hydrophilic ionic liquid (IL) and STEM observation using the cooling holder eliminates the need for specialized equipment and techniques for biological sample preparation. The annular dark-field STEM results indicated that the two types of biodegradable poly-(DL-lactide-co-glycolide) (PLGA) NPs: PLGA modified with chitosan (CS), and clarithromycin (CAM)loaded+CS-modified PLGA, prepared by emulsion solvent diffusion exhibited different antibacterial activities in nanoscale. To confirm damage to the sample during STEM obser-vation, we observed the PLGA NPs and the biofilm treated with PLGA NPs by both the conventional method and the newly developed method. The optimized method allows microstructure of the biofilm treated with PLGA NPs to be maintained for 25 min at a current flow of 40 pA. The developed simple sample preparation method would be helpful to understand the interaction of drugs with target materials. In addition, this technique could contribute to the visualization of other deformable composite materials at the nanoscale level. (C) 2016 Wiley Periodicals, Inc.

    DOI: 10.1002/jbm.b.33680

    Web of Science

  6. High-precision quantitative atomic-site-analysis of functional dopants in crystalline materials by electron-channelling-enhanced microanalysis

    Shunsuke Muto, Masahiro Ohtsuka  

    PROGRESS IN CRYSTAL GROWTH AND CHARACTERIZATION OF MATERIALS63 巻 ( 2 ) 頁: 40 - 61   2017年6月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:書評論文,書評,文献紹介等   出版者・発行元:PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD  

    Knowledge of the location and concentration of impurity atoms doped into a synthesized material is of great interest to investigate the effect of doping. This would usually be investigated using X-ray or neutron diffraction methods in combination with Rietveld analysis. However, this technique requires a large-scale facility such as a synchrotron radiation source and nuclear reactor, and can sometimes fail to produce the desired results, depending on the constituent elements and the crystallographic conditions that are being analysed. Thus, it would be preferable to use an element-selective spectroscopy technique that is applicable to any combination of elements. We have established a quantitative method to deduce the occupation sites and their occupancies, as well as the site-dependent chemical states of the doped elements, using a combination of transmission electron microscopy (TEM), energy-dispersive X-ray (EDX) spectroscopy, and electron energy-loss spectroscopy (EELS). The method is based on electron channelling phenomena where the symmetries of the Bloch waves excited in a crystal are dependent on the diffraction condition or incident beam direction with respect to the crystal axes. By rocking the incident electron beam with a fixed pivot point on the sample surface, a set of EDX/EELS spectra are obtained as a function of the beam direction. This is followed by a statistical treatment to extract the atom-site-dependent spectra, thereby quantitatively enabling the estimation of the site occupancies and chemical states of the dopants. This is an extension of the 'ALCHEMI' (Atom Location by Channelling Enhanced Microanalysis) method or 'HARECXS/HARECES' (High Angular Resolution Channelled X-ray/Electron Spectroscopy), and we further extended the method to be applicable to cases where the crystal of interest contains multiple inequivalent atomic sites for a particular element, applying the precise spectral predictions based on electron elastic/inelastic dynamical scattering theory. After introduction of conceptual aspects of the method, we describe the extension of the method together with the development of the theoretical calculation method. We then demonstrate several useful applications of the method, including luminescent, ferrite, and battery materials. We discuss the advantages and drawbacks of the present method, compared with those of the recently developed atomic column-by-column analysis using aberration-corrected scanning TEM and high-efficiency X-ray detectors. (C) 2017 Elsevier Ltd. All rights reserved

    DOI: 10.1016/j.pcrysgrow.2017.02.001

    Web of Science

  7. Localization of magnetic circular dichroic spectra in transmission electron microscopy experiments with atomic plane resolution

    Jan Rusz, Jakob Spiegelberg, Shunsuke Muto, Thomas Thersleff, Masahiro Ohtsuka, Klaus Leifer, Peter M. Oppeneer  

    PHYSICAL REVIEW B95 巻 ( 17 )   2017年5月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)   出版者・発行元:AMER PHYSICAL SOC  

    Inelastic electron scattering is a consequence of mostly Coulomb interaction between electrons in the sample and electron beam and, as such, it is a nonlocal event. In atomic resolution experiments, it thus opens the following question: How far is the origin of the inelastic scattering signal that is observed when the electron beam is passing nearby an atomic column or plane? We analyze computationally the delocalization of the magnetic signal in electron magnetic circular dichroism (EMCD) experiments in the so-called three-beam orientation, allowing one to image individual atomic planes. We compare the classical EMCD setup using the double-difference procedure (DD-EMCD) to a recently introduced atomic plane resolution EMCD (APR-EMCD) geometry, assuming the same probe size. We observe a strong localization of the EMCD signal to the closest atomic plane, confirming the potential of EMCD to study an evolution of magnetic properties near surfaces or interfaces with atomic plane resolution. The localization of the EMCD signal is remarkably higher than the localization of the nonmagnetic component of the inelastic scattering cross section. We also analyze double-channeling effects and find them particularly strong for the DD-EMCD method, while for APR-EMCD they appear to be minor. The DD-EMCD signal, on the other hand, appears to be more robust with respect to sample thickness than that of the APR-EMCD.

    DOI: 10.1103/PhysRevB.95.174412

    Web of Science

  8. Microscopic origin of ultra-low friction coefficient between the wear track formed on carbon nitride coating and transfer layer on sliding ball in friction tests under dry N-2

    Hiroshi Inoue, Shunsuke Muto, Shigeo Arai, Hiroaki Wasada, Noritsugu Umehara  

    SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY313 巻   頁: 31 - 39   2017年3月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)   出版者・発行元:ELSEVIER SCIENCE SA  

    Carbon nitride (CN) coatings have been found to exhibit an ultra-low friction coefficient (less than 0.01) after repeated sliding against a silicon nitride (Si3N4) ball in a dry nitrogen gas (N-2) atmosphere. However, the mechanism for this has not yet been fully elucidated with respect to analyzing changes in the space structure of CNN. In the present study, we examined the microscopic structural changes in the near-surface structural transition layers of the wear track in the CN, coating and the transfer layer of the Si3N4 ball, using scanning transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy. We investigated the nitrogen concentration, density, and curvature of fragmented graphitic planes in the structural transition layers of both the CN,, coating and the transfer layer of the Si3N4 ball by analyzing the plasmon peak and carbon K-edge. In addition, we theoretically examined the chemical bonding states of nitrogen doping in various model clusters using an ab initio molecular orbital method to clarify the role of nitrogen in the ultra -low friction behavior. The mechanism behind the ultra low friction behavior is explained by nano-graphitization of the fragmented carbon structure with optimal nitrogen concentration passivating the contacting counter surfaces of the coating and ball formed during sliding. (C) 2017 Elsevier B.V. All rights reserved.

    DOI: 10.1016/j.surfcoat.2017.01.048

    Web of Science

  9. Towards sub-nanometer real-space observation of spin and orbital magnetism at the Fe/MgO interface

    Thomas Thersleff, Shunsuke Muto, Miroslaw Werwinski, Jakob Spiegelberg, Yaroslav Kvashnin, Bjorgvin Hjorvarsson, Olle Eriksson, Jan Rusz, Klaus Leifer  

    SCIENTIFIC REPORTS7 巻   2017年3月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)   出版者・発行元:NATURE PUBLISHING GROUP  

    While the performance of magnetic tunnel junctions based on metal/oxide interfaces is determined by hybridization, charge transfer, and magnetic properties at the interface, there are currently only limited experimental techniques with sufficient spatial resolution to directly observe these effects simultaneously in real-space. In this letter, we demonstrate an experimental method based on Electron Magnetic Circular Dichroism (EMCD) that will allow researchers to simultaneously map magnetic transitions and valency in real-space over interfacial cross-sections with sub-nanometer spatial resolution. We apply this method to an Fe/MgO bilayer system, observing a significant enhancement in the orbital to spin moment ratio that is strongly localized to the interfacial region. Through the use of first-principles calculations, multivariate statistical analysis, and Electron Energy-Loss Spectroscopy (EELS), we explore the extent to which this enhancement can be attributed to emergent magnetism due to structural confinement at the interface. We conclude that this method has the potential to directly visualize spin and orbital moments at buried interfaces in magnetic systems with unprecedented spatial resolution.

    DOI: 10.1038/srep44802

    Web of Science

  10. Detection of local chemical states of lithium and their spatial mapping by scanning transmission electron microscopy, electron energy-loss spectroscopy and hyperspectral image analysis 査読有り

    Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi  

    MICROSCOPY66 巻 ( 1 ) 頁: 39 - 49   2017年2月

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:書評論文,書評,文献紹介等   出版者・発行元:OXFORD UNIV PRESS  

    Advancements in the field of renewable energy resources have led to a growing demand for the analysis of light elements at the nanometer scale. Detection of lithium is one of the key issues to be resolved for providing guiding principles for the synthesis of cathode active materials, and degradation analysis after repeated use of those materials. We have reviewed the different techniques currently used for the characterization of light elements such as high-resolution transmission electron microscopy, scanning transmission electron microscopy ( STEM) and electron energy-loss spectroscopy (EELS). In the present study, we have introduced a methodology to detect lithium in solid materials, particularly for cathode active materials used in lithium-ion battery. The chemical states of lithium were isolated and analyzed from the overlapping multiple spectral profiles, using a suite of STEM, EELS and hyperspectral image analysis. The method was successfully applied in the chemical state analyses of hetero-phases near the surface and grain boundary regions of the active material particles formed by chemical reactions between the electrolyte and the active materials.

    DOI: 10.1093/jmicro/dfw038

    Web of Science

  11. Control of HAp Formation and Osteoconductivity on Nitrogen-Doped TiO2 Scale Formed by Oxynitridation of Ti 査読有り

    M. Hashimoto, S. Kitaoka, Y. Obata, S. Muto, T. Ogawa, M. Furuya, H. Kanetaka  

    Key Engineering Materials758 巻   頁: 86-89   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)  

  12. Unmixing hyperspectral data by using signal subspace sampling 査読有り

    J. Spiegelberg, S. Muto, M. Ohtsuka, K. Pelckmans, J. Rusz  

    Ultramicroscopy182 巻   頁: 205-211   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)  

  13. Towards sub-nanometer real-space observation of spin and orbital magnetism at the Fe/MgO interface 査読有り

    T. Thersleff, S. Muto, M. Werwinski, J. Spiegelberg, Y. Kvashnin, B. Hjorvarsson, O. Eriksson, J. Rusz, K. Leifer  

    SCIENTIFIC REPORTS7 巻   頁: 44802   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)  

  14. Microscopic origin of ultra-low friction coefficient between the wear track formed on carbon nitride coating and transfer layer on sliding ball in friction tests under dry N2 査読有り

    H. Inoue, S. Muto, S. Arai, H. Wasada, N. Umehara  

    Surface &Coating Technology313 巻   頁: 31-39   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)  

  15. Localization of magnetic circular dichroic spectra in transmission electron microscopy experiments with atomic plane resolution 査読有り

    J. Rusz, J. Spiegelberg, S. Muto, T. Thersleff, M. Ohtsuka, K. Leifer, P. M. Oppene  

    PHYSICAL REVIEW B95 巻   頁: 174412   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)  

  16. In situ TEM analysis of a symmetric solid oxide cell in oxygen and vacuum-cation diffusion observations 査読有り

    F. Gualandris, S. B. Simonsen, J. B. Wagner, S. Sanna, S. Muto, L. Theil Kuhn  

    ECS Transactions75 巻   頁: 123-133   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)  

  17. High-precision quantitative atomic-site-analysis of functional dopants in crystalline materials by electron-channelling-enhanced microanalysis 査読有り

    S. Muto, M. Ohtsuka  

    Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials63 巻   頁: 40-61   2017年

     詳細を見る

    記述言語:英語   掲載種別:速報,短報,研究ノート等(学術雑誌)  

▼全件表示

講演・口頭発表等 129

  1. 固体電池におけるLATP/LCO界面で何が起こっているか-断面STEM-EELS解析でここまでわかる- 招待有り

    武藤俊介

    日本化学会第101春季年会(2021)新学術領域研究「蓄電固体界面科学」成果報告会  2021年3月20日  日本化学会 新学術領域研究「蓄電固体界面科学」

     詳細を見る

    開催年月日: 2021年3月

    記述言語:日本語   会議種別:シンポジウム・ワークショップ パネル(指名)  

    開催地:オンライン開催   国名:日本国  

  2. 固体電池におけるLATP/LCO界面で何が起こっているか-断面STEM-EELS解析でここまでわかる- 招待有り

    武藤俊介

    日本化学会第101春季年会(2021)新学術領域研究「蓄電固体界面科学」成果報告会  2021年3月20日  日本化学会 新学術領域研究「蓄電固体界面科学」

     詳細を見る

    開催年月日: 2021年3月

    記述言語:日本語   会議種別:シンポジウム・ワークショップ パネル(指名)  

    開催地:オンライン開催   国名:日本国  

  3. 反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡の最前線 招待有り

    武藤俊介

    ナノプローブテクノロジー第167委員会第94回研究会  2020年9月14日  日本学術振興会第167委員会

     詳細を見る

    開催年月日: 2020年9月

    記述言語:日本語   会議種別:シンポジウム・ワークショップ パネル(指名)  

    開催地:オンライン開催   国名:日本国  

  4. 反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡の最前線 招待有り

    武藤俊介

    ナノプローブテクノロジー第167委員会第94回研究会  2020年9月14日  日本学術振興会第167委員会

     詳細を見る

    開催年月日: 2020年9月

    記述言語:日本語   会議種別:シンポジウム・ワークショップ パネル(指名)  

    開催地:オンライン開催   国名:日本国  

  5. 名古屋大学反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡の新展開 招待有り

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会第76回学術講演会  日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2020年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:大阪   国名:日本国  

  6. 実験データ解析に機械学習は本当に有効か? 招待有り

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会第76回学術講演会  日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2020年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:大阪   国名:日本国  

  7. 名古屋大学反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡の新展開 招待有り

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会第76回学術講演会  日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2020年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:大阪   国名:日本国  

  8. 実験データ解析に機械学習は本当に有効か? 招待有り

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会第76回学術講演会  日本顕微鏡学会

     詳細を見る

    開催年月日: 2020年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:大阪   国名:日本国  

  9. 電子チャネリングを利用した元素/サイト選択的化学分析

    武藤俊介, 大塚真弘

    日本顕微鏡学会第75回学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2019年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:名古屋国際会議場   国名:日本国  

  10. STEM-EELSハイパースペクトル像解析による無染色ポリマーイメージング

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会第75回学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2019年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:名古屋国際会議場   国名:日本国  

  11. テンソル分解法によるハイパースペクトル像解析の進展

    武藤俊介

    人工知能学会第2種研究会 計測インフォマティクス研究会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2019年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:物質・材料研究機構   国名:日本国  

  12. 今EELS分析をどう考えるか

    武藤俊介

    Gatan製品技術セミナー2019 

     詳細を見る

    開催年月日: 2019年2月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:品川シーズンテラスカンファレンス   国名:日本国  

  13. Operando study of catalytic reactions by environmental HVEM equipped with Q-mass spectrometry 国際会議

    S.Muto

    EM CHINA 2018 

     詳細を見る

    開催年月日: 2018年10月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:CHENGDU XIYUE HOTEL, Chengdu, China   国名:中華人民共和国  

  14. Application of Machine Learning Techniques to Electron Microscopy/Spectroscopy Image Data 国際会議

    S.Muto

    ACSIN-14&ICSPM26 

     詳細を見る

    開催年月日: 2018年10月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:Sendai International Center, Japan   国名:日本国  

  15. 分光スペクトルデータへのインフォマティクス応用とその課題

    武藤俊介

    日本セラミックス協会第31回秋季シンポジウム 

     詳細を見る

    開催年月日: 2018年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:名古屋工業大学   国名:日本国  

  16. Development of new environmental high-voltage transmission electron microscope equipped with quadrupole mass spectrometer for observing catalytic reactions 国際会議

    S.Muto

    International conference on Mass Spectrometry and Proteomics 2018  

     詳細を見る

    開催年月日: 2018年6月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:Finnstown Castle Hotel, Dublin, Ireland   国名:アイルランド  

  17. 構造化データ融合法によるテンソル分解を適用したハイパー顕微分光データから

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会高分解能分科会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2018年2月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(基調)  

    開催地:マホロバ・マインズ三浦   国名:日本国  

  18. ハイパー分光像データからの情報抽出法開発の現状

    武藤俊介

    日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会第171回研究会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2018年2月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:東京理科大学森戸記念館   国名:日本国  

  19. 未来社会を支えるエネルギーとマテリアル研究に超高圧電子顕微鏡の果たす役割

    武藤俊介

    第7回エネルギー・マテリアル融合領域シンポジウム 

     詳細を見る

    開催年月日: 2018年1月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:北海道大学   国名:日本国  

  20. ナノ電子顕微分光への情報処理技法の応用

    武藤俊介

    第46回薄膜・表面物理基礎講座2017 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年11月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:名古屋大学VBLホール   国名:日本国  

  21. In situ observation of catalytic reactions under gas atmosphere by reaction science high-voltage scanning transmission electron microscope equipped with quadrupole mass spectrometer 国際会議

    S.Muto

    The 3rdEast-Asia Microscopy Conference (EAMC3) 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年11月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:BEXCO in Busan, Korea   国名:大韓民国  

  22. ハイパー分光スペクトルイメージデータによる化学イメージング-情報統計学によるデータ処理を正しく使うために-

    武藤俊介

    第7回CSJ化学フェスタ2017 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年10月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:タワーホール船堀   国名:日本国  

  23. 情報統計処理による信号抽出法の基礎

    武藤俊介

    第33回分析電子顕微鏡討論会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:幕張メッセ国際会議場   国名:日本国  

  24. Signal mining for chemical imaging from hyperspectral image data 国際会議

    S.Muto

    3rd International Workshop on TEM Spectroscopy in Materials Science 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年6月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:S. Muto   国名:スウェーデン王国  

  25. Hyperspectral Image Analysis of Spatially/Spectrally Overlapped Datasets for Chemical Imaging 国際会議

    S.Muto

    The 19th Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions(SISS19) 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年5月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:Miyako Messe, Kyoto   国名:日本国  

  26. Multi-Way Hyperspectral Image Analysis Based on Scanning Transmission Electron Microscopy and Associated Spectroscopic Methods 国際会議

    S.Muto

    2017MRS Spring Meeting & Exhibit 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年4月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:Phonix Convention Center and Sheraton Grand Phoenix   国名:アメリカ合衆国  

  27. ビッグデータ時代の微細構造解析支援-トップサイエンスと実材料分析-

    武藤俊介

    共用・計測合同シンポジウム2017 先端計測けんきゅうと共用推進による材料イノベーション 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:物質・材料研究機構   国名:日本国  

  28. 新しい情報・統計理論に基づくスペクトル分解―化学イメージング法の開発

    武藤俊介

    Spring-8材料構造の解析に役立つ計算科学研究会(第3回)/第10回Spring-8先端利用技術ワークショップ 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年2月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:㈱ニチイ学館神戸ポートアイランドセンター   国名:日本国  

  29. ナノ電子顕微分光への情報処理技法の応用

    武藤俊介

    「先端計測インフォマティクス 大量データ時代の情報活用」ワークショップ 

     詳細を見る

    開催年月日: 2017年1月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:物質・材料研究機構   国名:日本国  

  30. 複合電子顕微分光と情報統計処理による機能元素/物性定量分析-Two-wayからMulti-way解析へ、ナノ材料から宇宙へ-

    武藤俊介

    日本金属学会2016年秋期(第159回)講演大会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2016年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(基調)  

    開催地:大阪大学豊中キャンパス   国名:日本国  

  31. Mechanical and spatial/electronic structural changes of lonic bonded materials associated with particle irradiation damage 国際会議

    S.Muto

    Workshop on Experimental Cosmochemistry 2016 

     詳細を見る

    開催年月日: 2016年6月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  32. ナノ電子分光への情報処理技法の応用 

    武藤俊介

    第二回元素プロジェクト<研究拠点形成型>/大型研究施設連携シンポジウム「局所構造制御で物質から材料へ 

     詳細を見る

    開催年月日: 2016年1月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:東京大学伊藤国際学術研究センター   国名:日本国  

  33. Current progress in nanometric magnetic moment measurements based on electron magnetic circular dichroism 国際会議

    S.Muto, J. Rusz, K. Tatsumi, T. Thersleff, K. Leiffer

    Magnetics and Optics Research International Symposium 2015 (MORIS2015) 

     詳細を見る

    開催年月日: 2015年11月 - 2015年12月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:マレーシア  

  34. Current progress in a data mining technique applying to digital spectral image datasets 国際会議

    S. Muto, M. Shiga, K. Tatsumi, K. Tsuda

    ALC'15 

     詳細を見る

    開催年月日: 2015年10月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  35. Mind the Noise: Mining Hidden Information from Spectroscopic datasets 国際会議

    S. Muto

    NIMS Conference 2015 

     詳細を見る

    開催年月日: 2015年7月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  36. Application of EDX Spectroscopy 国際会議

    S. Muto

    The 2th Uppsala TEM spectroscopy workshop (HMK2015) 

     詳細を見る

    開催年月日: 2015年5月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:スウェーデン王国  

  37. Recent development of EMCD technique: toward spin nanoscopy using STEM-EELS 国際会議

    S. Muto

     詳細を見る

    開催年月日: 2015年4月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:クロアチア共和国  

  38. Quantitative element/site-selective microanalysis using high-angular resolution electron channeled X-ray/electron spectroscopy 国際会議

    The 3th Croatian Microscopy Congress (HMK2015) 

     詳細を見る

    開催年月日: 2015年4月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:the Hotel Adriana   国名:クロアチア共和国  

  39. 複合電子顕微分光法の開発と実材料分析への応用の現状 

    武藤俊介

    新学術領域研究第2回公開シンポジウム 

     詳細を見る

    開催年月日: 2015年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:名古屋大学環境総合館レクチャーホール   国名:日本国  

  40. エネルギー関連機能材料のナノオーダー解析-電池・触媒のSTEM分光マッピングを中心に- 

    武藤俊介

    2014JEOL先端材料解析ソリューションセミナー 

     詳細を見る

    開催年月日: 2014年11月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:グランドティアラ名古屋駅前   国名:日本国  

  41. ナノ電子状態解析のフロンティア開拓と実材料分析への応用 

    武藤俊介

    日本金属学会2014年度秋期講演大会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2014年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(基調)  

    開催地:名古屋大学東山キャンパス   国名:日本国  

  42. STEM spectroscopic analysis of white-luminescent nano structures 国際会議

    セミナー 

     詳細を見る

    開催年月日: 2014年9月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:ストックホルム大学   国名:スウェーデン王国  

  43. 電子磁気円二色性に基づくナノ領域磁気角運動量定量測定

    武藤俊介

    第30回分析電顕討論会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2014年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:幕張メッセ国際会議場   国名:日本国  

  44. Digital Micrograph スクリプティング事始め

    武藤俊介

    2014年夏の電子顕微鏡解析技術フォーラム  

     詳細を見る

    開催年月日: 2014年8月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(一般)  

    開催地:時之栖   国名:日本国  

  45. 超高圧電子顕微鏡による新たなナノ物性測定の可能性

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会第70回記念学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2014年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:幕張メッセ国際会議場   国名:日本国  

  46. Recent development of EMCD technique:toward spin nanoscopy using STEM-EELS

     詳細を見る

    開催年月日: 2014年4月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  47. 超高圧STEMによるナノ磁性材料の電子磁気円二色性定量測定

    武藤俊介, 巽一厳, Jan Rusz, 荒井重勇

    第74回応用物理学会秋季学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2013年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:同志社大学京田辺キャンパス   国名:日本国  

  48. Element/Site-Selective Microanalysis UsingHigh-Angular Resolution Electron Channeled X-ray/Electron/Light Spectroscopy 国際会議

    The 4th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations(AMTC) 

     詳細を見る

    開催年月日: 2013年7月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:ACT CITY HAMAMATSU Congress Center   国名:日本国  

  49. 電子顕微鏡による炭素系非晶質膜のミクロ構造と結合状態のキャラクタリゼーション 

    武藤俊介

    第93回東海トライボロジー研究会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2013年6月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:名城大学   国名:日本国  

  50. グリーンビーグル材料の特性と局所電子状態可視化 

    武藤俊介

    第152回日本金属学会2013年春期大会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2013年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(基調)  

    開催地:東京理科大学   国名:日本国  

  51. SEM反射電子像コントラストの動力学的電子回析理論による解釈の試み

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会第69回学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2013年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:ホテル阪急エキスポパーク   国名:日本国  

  52. 電子顕微鏡による電池材料分析への取り組みについて

    武藤俊介

    日本学術振興会材料の微細組織と機能性第133委員会第217回研究会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2013年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:東京理科大学   国名:日本国  

  53. 多変量スペクトル分解法のスペクトラムイメージングへの応用

    武藤俊介

    平成24年度日本表面科学会関西支部セミナー 

     詳細を見る

    開催年月日: 2013年2月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:産総研関西センター   国名:日本国  

  54. S/TEMにおける分析の極意-電子遷移の過程を知ろう-

    武藤俊介

    2013年新春電子顕微鏡解析技術フォーラム 

     詳細を見る

    開催年月日: 2013年1月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:日本電子株式会社大手町野村ビル   国名:日本国  

  55. 高分解能電子エネルギー損失分光法

    武藤俊介

    第16回VBLシンポジウム 

     詳細を見る

    開催年月日: 2012年12月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:名古屋大学フロンティアプラザ ベンチャーホール   国名:日本国  

  56. 複合電子分光S/TEMで探る不均一触媒の局所電子状態マッピング

    武藤俊介 他

    日本顕微鏡学会第56回シンポジウム「ソフト・ハードマターの多様性を観る」 

     詳細を見る

    開催年月日: 2012年11月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:北海道大学学術交流会館   国名:日本国  

  57. 動力学回折理論の基礎とSEMへの適用

    武藤俊介

    「SEMの物理科学」研究部会 合宿幹事会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2012年10月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:日本電子 山中湖保養所ジュラク荘   国名:日本国  

  58. 酸化物の定量解析

    武藤 俊介

    電子顕微鏡解析技術フォーラム 

     詳細を見る

    開催年月日: 2012年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:琵琶湖リゾートクラブ   国名:日本国  

  59. A new method for extracting EMCD signals from spectrum diffraction datacube using a multivariate curve resolution technique 国際会議

    武藤 俊介

    Workshop on EELS in Materials Science 

     詳細を見る

    開催年月日: 2012年6月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:Uppsala University   国名:スウェーデン王国  

  60. Extraction of Electron Magnetic Circular Dichroism from Energy-Filtered Nano-Diffraction by Multivariate Curve Resolution Technique 国際会議

    武藤 俊介

    The 3rd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations(AMTC3) 

     詳細を見る

    開催年月日: 2012年5月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:Nagaragawa Convention Center   国名:日本国  

  61. 複合電子分光による物性画像診断とそのリチウム電池材料への応用

    武藤 俊介

    高分子分析研究懇談会第362回例会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2012年4月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:ゆうぽうと   国名:日本国  

  62. TEM-EELSによるパラメータフリー磁気円二色性測定法の開発

    武藤 俊介

    日本金属学会2012年度春期講演大会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2012年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(基調)  

    開催地:横浜国立大学   国名:日本国  

  63. エネルギー・環境材料と格子欠陥-分光TEMによる展開-

    武藤 俊介

    日本物理学会第67回年次大会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2012年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:関西学院大学   国名:日本国  

  64. Diagnostic STEM-EELS Analysis of Cathodes in Lithium-Ion Secondary Batteries 国際会議

    Shunsuke MUTO

    International Symposium on Role of Electron Microscopy in Industry-Toward genuine collaboration between academia and industry- 

     詳細を見る

    開催年月日: 2012年1月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  65. サブナノ領域分光イメージング-最新TEM分析技術

    武藤 俊介

    金属学会鉄鋼協会東海支部若手材料研究会 第60回研究会「最新の分析評価技術」 

     詳細を見る

    開催年月日: 2011年12月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:東レ総合研修センター   国名:日本国  

  66. 今S/TEM-EELSの分析をどのように考えるべきか

    武藤 俊介

    学振141委員会研修セミナー「SEM,TEMにおける分光分析技術」 

     詳細を見る

    開催年月日: 2011年12月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:東レ総合研修センター   国名:日本国  

  67. 複合電子分光による機能元素電子状態解析

    武藤 俊介

    日本金属学会秋期大会(沖縄) S1:機能元素のナノ材料科学 

     詳細を見る

    開催年月日: 2011年11月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(基調)  

    開催地:沖縄コンベンションセンター   国名:日本国  

  68. TEMを用いた分光法によるナノ機能評価の現状と今後

    武藤俊介

    東北大学金属材料研究所ワークショップ「分野融合型格子欠陥研究の発展にむけて」 

     詳細を見る

    開催年月日: 2011年10月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:東北大学金属材料研究所   国名:日本国  

  69. TEM法による蓄電池材料解析技術

    武藤俊介

    第21回格子欠陥フォーラム 

     詳細を見る

    開催年月日: 2011年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:立山国際ホテル   国名:日本国  

  70. 化学状態から探るリチウムイオン二次電池正極の相分布マッピング

    武藤俊介

    分析電子顕微鏡討論会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2011年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:幕張メッセ   国名:日本国  

  71. Diagnostic STEM-EELS Analysis of Cathodes Degradation in Lithium-Ion Secondary Batteries 国際会議

    Shunsuke MUTO

    Microscopy & Microanalysis 2011 

     詳細を見る

    開催年月日: 2011年8月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:アメリカ合衆国  

  72. EELS データへの統計処理の応用‐化学状態分析の新しい展開

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会関西支部特別企画講演会「産業基盤を支える顕微鏡」 

     詳細を見る

    開催年月日: 2010年12月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  73. S/TEM分析データへの多変量解析の応用

    第三回日本電子TEMユーザーズミーティング 

     詳細を見る

    開催年月日: 2010年12月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

    武藤俊介

  74. S/TEM像・分析データの信号処理による情報抽出

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会・第54回シンポジウム,瀬藤賞受賞講演 

     詳細を見る

    開催年月日: 2010年11月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  75. Statistical signal processing of S/TEM-EELS datasets–Extraction of information without reference– 国際会議

    Max Planck Institute, STEM group seminar 

     詳細を見る

    開催年月日: 2010年9月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

  76. リチウム電池正極のSTEM-EELSイメージングによるナノ劣化解析とリチウム状態分析

    日本金属学会分科会シンポジウム 

     詳細を見る

    開催年月日: 2010年7月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  77. スペクトラムイメージによるリチウムイオン二次電池正極の劣化解析

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会第66回学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2010年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  78. 最先端電子顕微分光法の周辺-水素を見ることができるか-

    第3回「環境調和型水素製造システムにおける生成と吸蔵貯蔵の一体化研究会」 

     詳細を見る

    開催年月日: 2009年11月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  79. 多変量スペクトル分解法によるSTEM-EELS化学結合マップ

    日本顕微鏡学会第53回シンポジウム 

     詳細を見る

    開催年月日: 2009年10月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  80. Diagnostic analysis of Li ion secondary batteries by STEM-EELS/SI-MCR 国際会議

    Electrochemical laboratory seminar 

     詳細を見る

    開催年月日: 2009年10月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

  81. S/TEM-EELSデータの統計処理による先端材料ナノ物性解析

    日本学術振興会 マイクロビームアナリシス第141委員会 09年度研究会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2009年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  82. 多変量スペクトル分解法の基礎とスペクトラムイメージングへの応用

    第25回分析電子顕微鏡討論会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2009年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  83. Diagnostic analysis of ion-beam induced nanostructures by S/TEM-EELS 国際会議

    XVIII International Materials Research Congress: Symposium 20:Beams and Materials: Ion Beams 

     詳細を見る

    開催年月日: 2009年8月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

  84. TEM関連スペクトロスコピーによる情報抽出法

    武藤俊介

    金属学会セミナー「機能元素のナノ材料科学} 

     詳細を見る

    開催年月日: 2009年7月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  85. 複合電子分光によるナノテク実材料のナノ領域特性画像診断

    武藤俊介

    第56回応用物理学関係連合講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2009年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  86. 複合電子分光による機能元素分析

    武藤俊介

    日本金属学会第143回秋期大会 基調講演 

     詳細を見る

    開催年月日: 2008年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  87. Combined Electron Spectroscopy and Imaging Associated with (S)TEM Application of Multivariate Curve Resolution

    The 1st International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations 

     詳細を見る

    開催年月日: 2008年6月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  88. 電子顕微鏡におけるX線マイクロアナリシスへの期待

    武藤 俊介

    島津製作所第25回記念マイクロアナリシス研究懇談会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2007年11月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  89. Electronic state analysis of implanted nitrogen in visible-light response TiO2 photocatalyst by TEM-EELS

    Lattice Defects Forum, The Doyama Symposium on Advanced Materials, “Materials to Save Humankind: The Dream, Creativity, and Working Toward its Realization" 

     詳細を見る

    開催年月日: 2007年9月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  90. 複合電子分光TEMによる局所領域電子状態解析の最近の進展

    武藤 俊介

    豊田中研講演会「微細(界面)構造観察から計算科学へ」 

     詳細を見る

    開催年月日: 2007年8月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  91. 電子定在波を利用した原子位置選択的電子状態測定

    武藤俊介、巽 一厳

    日本顕微鏡学会第63回学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2007年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  92. EELS微細構造の先端解析とその材料科学への応用

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会関西支部平成18年度特別講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2006年7月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  93. ナノ計測と電子状態評価

    武藤俊介

    日本金属学会春期(第138回)大会 基調講演 

     詳細を見る

    開催年月日: 2006年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  94. ナノグラファイトの構造・機能評価-秩序と無秩序の間

    武藤 俊介

    日本物理学会第61回年次大会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2006年3月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  95. セラミックス関連材料のTEM-EELSによる先端解析

    武藤俊介

    学振先進セラミックス第124委員会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2006年1月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  96. 計算科学による材料科学研究-変形,局所振動モード,同位体効果-

    武藤俊介,巽一厳

    富士通分子動力学ソフト新バージョン発表セミナー 

     詳細を見る

    開催年月日: 2006年1月

    記述言語:日本語  

  97. 透過電子顕微鏡に付随した電子分光法で何ができるか

    武藤俊介

    新しい触媒・素材開発のためのin-situ計測・分析技術・第一回講演 

     詳細を見る

    開催年月日: 2005年11月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  98. 内殻励起吸収端微細構造を利用した実・逆空間構造解析

    武藤 俊介

    日本顕微鏡学会第50回シンポジウム 

     詳細を見る

    開催年月日: 2005年11月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  99. TEM-EELS法による材料中の水素検出法の開発

    武藤俊介

    第15回格子欠陥フォーラム 

     詳細を見る

    開催年月日: 2005年9月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  100. 電子チャネリングEELSによる原子サイト選択的電子状態分析

    武藤俊介

    第21回分析電子顕微鏡討論会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2005年8月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  101. TEM-EELS structural analysis of oxygen-related defect complexes in semiconductors surfaces 国際会議

    2005 Symposium on Materials & Systems for Energy Conversion, “Development and Microstructural Analysis for Energy Related Materials" 

     詳細を見る

    開催年月日: 2005年3月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  102. Detection of hydrogen states in hydrogenated nanostructured graphite with EELS 国際会議

    8th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference (APEM-8) 

     詳細を見る

    開催年月日: 2004年6月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  103. Hydrogen State in Hydrogenated Nanostructured Grphite Studied with TEM-EELS 国際会議

    5th KIM-JIM Symposium on Recent Advances in Energy Materials and Nano-Characterization 

     詳細を見る

    開催年月日: 2003年10月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

  104. EELS with Green Sauce 国際会議

    Annual Meeting of Belgian Electron Microscopy Society 

     詳細を見る

    開催年月日: 2003年5月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

  105. EELS Characterization of defect structures in light element materials

    First Kyoto Int'l Symp. on Computational Materials Science 

     詳細を見る

    開催年月日: 2003年3月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  106. Maximum entropy spectral analysis of extended energy-loss fine structure and its application to time-resolved measurements

    Int'l Symp. on In-Situ Electron Microscopy 

     詳細を見る

    開催年月日: 2003年1月

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  107. 構造相変態における格子振動モードと点欠陥

    武藤 俊介

    WinMASPHYCフォーラム 

     詳細を見る

    開催年月日: 2002年12月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  108. 高エネルギー粒子線照射による共有結合性非晶質のEELSによる構造解析

    武藤 俊介

    日本電子顕微鏡学会第58回学術講演会 

     詳細を見る

    開催年月日: 2002年5月

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    国名:日本国  

  109. STEM-EELSハイパースペクトル像解析による無染色ポリマーイメージング 国際会議

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会第75回学術講演会  2019年6月16日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:名古屋国際会議場  

  110. 電子チャネリングを利用した元素/サイト選択的化学分析 国際会議

    武藤俊介, 大塚真弘

    日本顕微鏡学会第75回学術講演会  2019年6月16日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:名古屋国際会議場  

  111. テンソル分解法によるハイパースペクトル像解析の進展 国際会議

    武藤俊介

    人工知能学会第2種研究会 計測インフォマティクス研究会  2019年3月6日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:物質・材料研究機構  

  112. 今EELS分析をどう考えるか 国際会議

    武藤俊介

    Gatan製品技術セミナー2019  2019年2月22日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:品川シーズンテラスカンファレンス  

  113. Operando study of catalytic reactions by environmental HVEM equipped with Q-mass spectrometry

    S.Muto

    EM CHINA 2018  2018年10月23日 

     詳細を見る

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:CHENGDU XIYUE HOTEL, Chengdu, China  

  114. Application of Machine Learning Techniques to Electron Microscopy/Spectroscopy Image Data

    S.Muto

    ACSIN-14&ICSPM26  2018年10月21日 

     詳細を見る

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:Sendai International Center, Japan  

  115. 分光スペクトルデータへのインフォマティクス応用とその課題 国際会議

    武藤俊介

    日本セラミックス協会第31回秋季シンポジウム  2018年9月5日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:名古屋工業大学  

  116. Development of new environmental high-voltage transmission electron microscope equipped with quadrupole mass spectrometer for observing catalytic reactions

    S.Muto

    International conference on Mass Spectrometry and Proteomics 2018  2018年6月25日 

     詳細を見る

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:Finnstown Castle Hotel, Dublin, Ireland  

  117. 構造化データ融合法によるテンソル分解を適用したハイパー顕微分光データから 国際会議

    武藤俊介

    日本顕微鏡学会高分解能分科会  2018年2月23日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(基調)  

    開催地:マホロバ・マインズ三浦  

  118. ハイパー分光像データからの情報抽出法開発の現状 国際会議

    武藤俊介

    日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会第171回研究会  2018年2月22日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:東京理科大学森戸記念館  

  119. 未来社会を支えるエネルギーとマテリアル研究に超高圧電子顕微鏡の果たす役割 国際会議

    武藤俊介

    第7回エネルギー・マテリアル融合領域シンポジウム  2018年1月11日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:北海道大学  

  120. ナノ電子顕微分光への情報処理技法の応用 国際会議

    武藤俊介

    第46回薄膜・表面物理基礎講座2017  2017年11月17日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:名古屋大学VBLホール  

  121. In situ observation of catalytic reactions under gas atmosphere by reaction science high-voltage scanning transmission electron microscope equipped with quadrupole mass spectrometer

    S.Muto

    The 3rdEast-Asia Microscopy Conference (EAMC3)  2017年11月7日 

     詳細を見る

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:BEXCO in Busan, Korea  

  122. ハイパー分光スペクトルイメージデータによる化学イメージング-情報統計学によるデータ処理を正しく使うために- 国際会議

    武藤俊介

    第7回CSJ化学フェスタ2017  2017年10月17日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:タワーホール船堀  

  123. 情報統計処理による信号抽出法の基礎 国際会議

    武藤俊介

    第33回分析電子顕微鏡討論会  2017年9月5日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:幕張メッセ国際会議場  

  124. Signal mining for chemical imaging from hyperspectral image data

    S.Muto

    3rd International Workshop on TEM Spectroscopy in Materials Science  2017年6月19日 

     詳細を見る

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:S. Muto  

  125. Hyperspectral Image Analysis of Spatially/Spectrally Overlapped Datasets for Chemical Imaging

    S.Muto

    The 19th Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions(SISS19)  2017年5月11日 

     詳細を見る

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:Miyako Messe, Kyoto  

  126. Multi-Way Hyperspectral Image Analysis Based on Scanning Transmission Electron Microscopy and Associated Spectroscopic Methods

    S.Muto

    2017MRS Spring Meeting & Exhibit  2017年4月17日 

     詳細を見る

    記述言語:英語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:Phonix Convention Center and Sheraton Grand Phoenix  

  127. ビッグデータ時代の微細構造解析支援-トップサイエンスと実材料分析- 国際会議

    武藤俊介

    共用・計測合同シンポジウム2017 先端計測けんきゅうと共用推進による材料イノベーション  2017年3月9日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:物質・材料研究機構  

  128. 新しい情報・統計理論に基づくスペクトル分解―化学イメージング法の開発 国際会議

    武藤俊介

    Spring-8材料構造の解析に役立つ計算科学研究会(第3回)/第10回Spring-8先端利用技術ワークショップ  2017年2月27日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:㈱ニチイ学館神戸ポートアイランドセンター  

  129. ナノ電子顕微分光への情報処理技法の応用 国際会議

    武藤俊介

    「先端計測インフォマティクス 大量データ時代の情報活用」ワークショップ  2017年1月19日 

     詳細を見る

    記述言語:日本語   会議種別:口頭発表(招待・特別)  

    開催地:物質・材料研究機構  

▼全件表示

共同研究・競争的資金等の研究課題 25

  1. 反応ガス中触媒活性サイトの環境TEM解析

    2019年7月 - 2020年4月

    国内共同研究 

  2. 透過電子顕微鏡によるサイト占有率測定技術の伝授

    2018年11月 - 2020年3月

    企業からの受託研究 

  3. 反応ガス中触媒活性サイトの環境TEM解析

    2018年7月 - 2019年5月

    国内共同研究 

  4. 情報科学活用による電子・磁気状態の定量評価手法の開発

    2018年7月 - 2019年3月

    企業からの受託研究 

  5. 電子顕微鏡を用いた分光法のための新解析システムの開発

    2018年6月 - 2019年3月

    国内共同研究 

  6. 情報科学活用による電子・磁気状態の定量評価手法の開発

    2018年5月 - 2019年3月

    国内共同研究 

  7. STEM-EELSによる材料の状態マッピング技術の開発

    2018年4月 - 2019年3月

    国内共同研究 

  8. 機能性材料の微量元素置換サイト計測に関する研究

    2017年5月 - 2018年3月

    国内共同研究 

  9. コンピュータ演算による原子レベル構造解析技術の高度化

    2017年4月 - 2019年3月

    国内共同研究 

  10. 電子顕微鏡及びそれに付随した分光法とそれぞれを用いた材料評価技術

    2016年4月 - 2018年5月

    国際共同研究 

  11. 磁石材料の微量元素置換サイト計測に関する研究

    2015年7月 - 2017年3月

    国内共同研究 

  12. Research on Advanced EELS analysis and simulation technique using high energy resolution TEM

    2012年12月 - 2014年11月

    International Cooperative Research 

  13. 数値処理によるEELSスペクトルの解析技術

    2010年4月 - 現在

    企業からの受託研究 

  14. 固体構造の評価手法および解析手法の開発

    2010年4月 - 現在

    企業からの受託研究 

      詳細を見る

    分析機能を有する電子顕微鏡を用いた固体構造解析に関する技術指導

  15. 電子顕微鏡及びそれに付随した分光法とそれを用いた材料評価技術の研究

    2010年4月 - 現在

    企業からの受託研究 

  16. STEM-EELS及び新規信号処理技術を用いた次世代電池材料の解析

    2009年4月 - 2011年3月

    企業からの受託研究 

  17. アルミニウム系水素化物における微細構造と反応機構

    2009年4月 - 2010年3月

    国内共同研究 

  18. ベイナイト変態及び析出に関する基礎研究

    2008年10月 - 2011年3月

    企業からの受託研究 

      詳細を見る

    鉄鋼中の炭化物や酸化物、或いはその他元素分析のための新しい電子顕微鏡X線分光 法技術の開発研究、並びに関連する電子顕微鏡用のソフト開発研究。

  19. TEM-WDS/EELSを用いた局所活性点の状態解析

    2007年5月 - 現在

    企業からの受託研究 

      詳細を見る

    化学反応を促進させる触媒として酸化物セラミックスに担持した貴金属微粒子は排気ガス浄化などの産業的に重要な役割を担っている。一方これらの触媒開発は試行錯誤の域を出ておらず、その触媒活性発現に特有な化学結合状態を解析することが喫緊の課題である。実触媒では活性点である貴金属は様々な状態分布を持っており、これらの状態分布を解析し、分布領域毎の貴金属活性を調査することは、将来の触媒研究/材料設計にとって重要である。しかし、既存の解析手法では平均的な情報は得られるが局所的な情報を得ることが困難である。本研究では、TEM-WDS/EELSを用いて局所的な構造を解析する技術を確立し、自動車触媒への応用を研究する。

  20. 電子顕微鏡データ解析技術に関する研究

    2007年5月 - 2008年3月

    企業からの受託研究 

      詳細を見る

    電子顕微鏡で観察した原子配列画像や電子線エネルギー損失分光データに対し、ベイズ定理に基づく画像復元法(PIXON法)を使ってノイズや歪みを低減して画像やスペクトルを復元する。この技術を非晶質材料の局所状態解析やナノ構造合金材料の表面電子状態解析に適用することでその機能発現メカニズムを明らかにする。

  21. 微細組織及び遷移金属価数解析に関する研究

    2007年4月 - 2010年3月

    企業からの受託研究 

  22. PZT薄膜圧電素子の通電による特性劣化メカニズム解析

    2006年10月 - 2012年3月

    企業からの受託研究 

  23. 金属中の水素イメージング法の開発とその鉄鋼材料における水素脆性個所直接診断への応用

    2006年4月 - 2008年3月

    企業からの受託研究 

  24. 電子チャネリングを利用した元素・原子位置選択的電子状態計測法の開発と応用

    2005年10月 - 2007年3月

    大幸財団 

      詳細を見る

    資金種別:競争的資金

    本研究は、ナノサイズ電子ビームを用いて固体中のブロッホ波を選択的に励起すること(電子チャネリング)によって、局所領域で特定の原子面上の特定の元素の電子状態を高エネルギー電子分光法で計測するという独自のものである。

  25. 新しい統計的手法(ウェーブレット変換法)を導入した電子エネルギー損失広域微細構造解析による非品質(ガラス)局所構造の決定

    2000年4月 - 2001年3月

    中部電力基礎技術研究所 

      詳細を見る

    資金種別:競争的資金

▼全件表示

科研費 25

  1. 逆空間走査多元分光による局在機能欠陥の高分解能立体構造/状態分析

    2014年4月 - 2018年3月

    科学研究費補助金  基盤研究(A)

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

    本研究の目的は,ナノ電子プローブを用いたビームロッキング下での複数電子分光(EELS, EDX,WDX, CL)に基づく新しい「立体的かつ定量」ナノ領域スペクトロスコピーを確立し,表面・界面を含む様々な格子欠陥の局所構造・機能解析に応用することである.本手法は,本来電子顕微鏡が持つ高い角度分解能を利用して,逆空間座標に依存する蛍光/吸収スペクトル情報を収集・解析するため,元素/原子サイト選択的であり,従来の二次元実空間結像/マッピングに比べ高精度の定量性を持つ.また周期構造から逸脱した格子特異点の選択的分析によって機能性材料分析への応用の道を拓く.特にナノ領域発光によるイオン化チャネリングパターン(ICP)解析に力点を置き,STEM分光法の三次元・空間/エネルギー分解能の飛躍的向上を目指す.

  2. ナノ電子状態解析のフロンティア開拓

    2013年6月 - 2018年3月

    科学研究費補助金  新学術領域研究(領域提案型) 計画班

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

    ナノ電子プローブを用いた分光法,すなわち電子エネルギー損失分光(EELS:伝導帯DOS),カソードルミネッセンス(CL:バンド間遷移)と軟X線発光分光(SXES:価電子帯DOS)を集約し,動力学的回折条件によるブロッホ波の対称性を利用して,ナノ構造を内包する試料の電子状態・光学的性質・磁性を,「ナノ分解能で,同じ場所から同時に,かつ元素・サイト選択的に」測定する.そして得られたデータをA01(ア)およびA02(エ)と共同で統計処理することで多角的な情報抽出を行い,共通の分光的特徴を持つ領域の空間分布の可視化を通じて「高角度分解能・多元電子分光」という新たな格子特異点の定量分析法を開拓する.

  3. 複合電子分光顕微鏡による金属酸化物中のサブナノメートル欠陥の性質と構造

    2002年4月 - 2005年3月

    科学研究費補助金  基盤研究(B),課題番号:14350340

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

  4. 軟X線領域複合電子分光が拓く高空間・エネルギー分解能物性診断

    2005年4月 - 2009年3月

    科学研究費補助金  基盤研究(A),課題番号:17206063

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

  5. 複合電子分光による機能元素電子状態解析

    2007年8月 - 2012年3月

    科学研究費補助金  特定領域研究 19053004

    武藤 俊介

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

    高エネルギー電子をプローブとして、ナノサイズ格子特異点領域に配置した機能元素における電子状態を定量的に計測・評価そして可視化する.

  6. 多元スペクトラムイメージによるナノ光学材料分析法の開発と応用

    2009年4月 - 2012年3月

    科学研究費補助金  基盤研究(B)

    武藤俊介

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

    本研究の目的は,高エネルギーナノ電子プローブによって試料各点から得られる二種類以上かつ多数のスペクトルに対して統計学的処理による情報抽出を行い,ヘテロ構造を持つ機能材料の光学物性を1ナノメートルの空間分解能で可視化する技術を確立し,実用光学材料解析に応用することである.これまで基盤研究等による助成によって段階的に確立してきた「複合電子分光による画像物性診断」の要素技術開発の最終段階に当たり,ナノ領域発光測定と三(四)元解析法の開発がその主眼である.

  7. 理論・計算・データ科学による蓄電固体界面イオンダイナミクスの機構解明 国際共著

    研究課題/研究課題番号:JP19H05815  2019年7月 - 2024年3月

    日本学術振興会  科学研究費補助金  新学術領域研究(研究領域提案型)

      詳細を見る

    担当区分:研究分担者 

  8. 質量分析機ー反応科学TEMによる新しい原子レベル触媒反応オペランド測定法の開発

    2019年7月 - 2021年3月

    科学研究費補助金  研究成果公開促進費 (研究成果公開発表)

    武藤 俊介

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

  9. 質量分析機ー反応科学TEMによる新しい原子レベル触媒反応オペランド測定法の開発

    2019年7月 - 2021年3月

    科学研究費助成事業  挑戦的研究(萌芽)

    武藤 俊介

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者  資金種別:競争的資金

  10. 理論・計算・データ科学による蓄電固体界面イオンダイナミクスの機構解明

    研究課題/研究課題番号:19H05815  2019年6月 - 2024年3月

    新学術領域研究(研究領域提案型)

    館山 佳尚

      詳細を見る

    担当区分:研究分担者 

    蓄電固体材料内の界面では、しばしば特異的なイオンの振舞い(輸送や蓄積)が観測されている。これらは界面付近の電子状態、構造および可動イオン状態の変調が絡み合って生じると予想されるが、既存の電気化学・半導体物理の理論ではこのような複雑な相関を扱うことは未だ難しく、そのメカニズムはわかっていない。本研究では、ナノスケール第一原理計算、高精度メソスケール計算、サブミクロンスケール実験データに関するデータ駆動型AI解析を有機的に組み合わせることでイオンの振舞いをマルチスケールで明らかにする。さらに得られた知見をもとに、電子状態・イオンダイナミクスの相関をより高度に扱える界面理論の構築に取り組む。

  11. 質量分析機-反応科学TEMによる新しい原子レベル触媒反応オペランド測定法の開発

    研究課題/研究課題番号:19K22102  2019年6月 - 2021年3月

    挑戦的研究(萌芽)

    武藤 俊介

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

    配分額:6370000円 ( 直接経費:4900000円 、 間接経費:1470000円 )

    本研究は,ガス化学反応をリアルタイム原子レベル観察でその場観察すると同時に反応に関与する供給ガス及び生成ガスを検出する新たなオペランド測定システムを構築し,触媒反応研究における議論の中心の一つである反応活性点の特定とそのダイナミクスの解明を目指すものである.触媒反応の観察に実績を持つ名古屋大学超高圧電子顕微鏡施設所有の反応科学超高圧走査透過型電子顕微鏡(RS-HVSTEM)に高感度四重極質量分析計を装着して原子分解能で触媒粒子を観察すると同時にガス分子を検出するのみならず,電子エネルギー損失分光データにインフォマティクス技法応用によって表面ガス吸着分子のイメージングを行う.
    本研究の目的は,ガス化学反応,特に表面触媒反応をリアルタイム原子レベル観察でその場観察すると同時に反応に関与する供給ガス及び生成ガスを検出する新たなオペランド測定システムを構築し,セラミックス担持金属微粒子触媒反応研究における議論の中心の一つである反応活性点の特定とそのダイナミクスの解明を目指すものである.
    本年度は、反応科学超高圧電子顕微鏡,RS-HVSTEMのガス環境セル排気ラインに電磁バルブを介して四重極質量分析計,QMS(JMS-Q1500)を設置し,外部環境(酸素,窒素,アルゴン,二酸化炭素など)から導入されるバックグラウンド強度を下げ,ガスセル内のすべてのガス種を効率よくQMSに引き入れるシステム開発を行った.
    次にシステム動作テストとして,これまで実際に化学反応その場観察してきたカーボンナノチューブ(CNT)上に散布したPd微粒子による酸素雰囲気中炭素燃焼(酸化過程)及びRh酸化物の加熱による金属化(還元反応)を実施し,TEM観察による組織変化と同時に生成ガス放出(CO2またはO2)が検出されることを確認することができた.
    更に,具体的応用事例として、実触媒における反応その場オペランド観察の実施した.試料として自動車排気ガス浄化でも困難とされている窒素酸化物還元のためのモデル触媒であるZrO2担持Rh微粒子を用い,温度上昇に伴う微粒子表面の原子分解能TEM観察と酸化還元反応生成ガスの検出が実際に可能なことを示した.各温度における反応生成ガスのQMSによって得られる放出曲線は,反応速度論方程式によってそのキネティクスを解析する事ができ,異なる反応温度でのデータから反応の活性化エネルギーを算出することが可能となった.本成果は,文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム・微細構造解析プラットフォーム事業の一つとしても認定され,2019年度の秀でた利用成果・最優秀賞を受賞した.
    研究開始当初から,そもそもこのような微量ガス生成を検出できるか,という大きな問題設定であったが,様々な装置細部の改良によって,確かに電子顕微鏡に挿入した試料からの生成ガスを検知している確証が得られたことは大きな成果である.のみならず触媒反応の定常状態で起こっている金属微粒子の表面構造のダイナミカルな変化を原子レベルで捉えることができている.さらには質量分析計が刻々と記録するスペクトルの時間変化から,触媒反応がどのような機構で進行しているか、また各反応に伴う活性化エネルギーの定量算出が可能になったことは,まさしく触媒反応の研究に新たな扉を開きつつあるといって過言ではない.
    当初電子エネルギー損失分光法を併用して,金属微粒子表面の分析を行うことを想定していたが,超高圧電子顕微鏡施設における走査モード時の空間分解能の不足によって,化学イメージングによる反応活性点の同定や,吸着ガスの可視化には至っていない.しかしながら,原子レベル構造像自体に表面ガス吸着の情報が記録されていることが示唆され,実際のガス分子と表面構造が触媒反応時にどのように具体的に変化しているかを現在鋭意解析を進めているところである.
    次年度においては,質量分析計にガスクロマトグラフィーを追加し,発生しているガス種の正確な同定および定量にまで発展させたい.
    また前項でも述べた通り,高温(500-600℃)での触媒反応定常状態において,金属微粒子表面のダイナミクスが明らかになりつつある.しかし質量分析スペクトルの解析から,実際の触媒反応は低温側と高温側で二つのモードが存在することが示唆されている.そのため低温側でも原子レベル観察の記録動画の解析を進め,この触媒の反応機構の全容を明らかにする予定である.
    さらに新たな触媒開発のために,添加元素効果を並行して調査中であり,窒素酸化物の還元特性が実際に異なる金およびパラジウム添加のRh微粒子試料についてもこれまでと同様の実験を繰り返し,その詳細なメカニズムを明らかにすることが計画されている.

  12. ナノ電子ビーム分光によるセラミックス一般粒界偏析機能元素の定量分析法開発

    研究課題/研究課題番号:17K19101  2017年6月 - 2019年3月

    挑戦的研究(萌芽)

    武藤 俊介

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

    配分額:6370000円 ( 直接経費:4900000円 、 間接経費:1470000円 )

    本研究は、電子ビームロッキングによる結晶中不純物の占有サイト分析法と高度スペクトルイメージング法を組み合わせて,任意の方位を持った結晶粒界に偏析する機能性ドーパントの規則配列構造及びそれに伴う特有の電子状態を抽出し定量解析するロバストな手法開発の試みである.
    収差補正機能を付加するためのビーム制御スクリプトを開発し、ビーム径を100nm以下にまで小さくした条件で平行照射することが可能となった。実際SrTiO3の結晶粒界に適用したところ、粒界偏析したYによるチャネリング図形が得られ、Yが特定の原子コラム上に存在していることが示唆された。これらの成果は日本金属学会学会報のレビューにまとめられた。
    機能材料において、構成元素の正確なサイト占有率や微量ドーパントの占有サイトを定量的に正確に知ることは、材料設計上きわめて重要である。多くの場合、X線回折データにリートベルト解析を適用することが標準的であるが、ナノ構造を持っている場合、原子番号の近接した元素を含む場合など、この手法が適用できない場合も多い。本研究で開発した手法はこのような制限を一切必要とせず、さらに組成変化に伴う原子位置の変位や、電気的中性条件のために導入される陰イオン空孔の解析へと拡張可能である。実際現在最も民間からの分析依頼が多い手法となっている。

  13. ナノ構造情報のフロンティア開拓-材料科学の新展開(国際活動支援)

    研究課題/研究課題番号:15K21748  2015年11月 - 2018年3月

    新学術領域研究(研究領域提案型)

    田中 功

      詳細を見る

    担当区分:連携研究者 

    本国際活動支援班では,国内外での国際会議,シンポジウム,ワークショップなどの機会に,領域メンバーやポスドク研究者,大学院生などが積極的に成果発表を行うことで,国際的な研究ネットワークの構築,その場への若手研究者の参加促進と,国際的な研究のリーダーシップを取ることに努めた.また,領域での成果をまとめた英文での書籍と雑誌特集号の出版および大学院生および若手研究者の海外派遣を行った.

  14. 非弾性電子散乱における電子回折効果を顕在化したスピンモーメントナノイメージング

    研究課題/研究課題番号:15H04115  2015年4月 - 2018年3月

    巽 一厳

      詳細を見る

    担当区分:連携研究者 

    本研究の目的は、わずか10 nmの結晶サイズで足る、物質中のスピン状態の新しい元素選択的計測法を構築し、スピントロニクス材料のナノスピンイメージングに応用することである。
    電子磁気直線二色性信号(EMLD)は,スピンモーメントの大きなスピネル酸化物で有意な差スペクトルを計測した.特型EELS絞りを用いた電子磁気円二色性(EMCD)は,装置の不安定性により望みの信号を得られていない.鉄のL2,3端EELSを計測しそのデータを統計解析することで,理論予測された原子面分解能EMCDを実証した.これは,条件付きではあるが,目標に掲げた10nmの結晶サイズでのスピン状態の分析法を達成したと言える.

  15. ベンチレータ型絞りによる逆空間選択的位相干渉スピンナノスコピーの試み

    2015年4月 - 2017年3月

    科学研究費補助金 

    武藤俊介

      詳細を見る

    本研究の目的は,磁性材料を通過した高エネルギー電子の回折面上の特定領域における位相干渉効果(電子磁気円二色性:EMCD)を利用して,実材料への応用を意識した軌道/スピン角運動量の定量的高空間分解能分布像を得るための試みである.特に従来のEMCD測定と異なり,強く絞った収束電子を使用することにより,既に確立している円偏光放射光によるXMCDと同等のS/N比を実現し,測定時間も一桁以上短縮されることが期待される.元素戦略の一つの柱である希土類フリー磁石開発には微細構造制御がその鍵となっているが,磁性発現の基礎的理解のためには結晶粒界,微小析出物などにおけるナノ領域での磁気物性測定実用化が不可欠である.本研究はこの目標に直につながる簡便かつ効果的な測定法を世界に先駆けて提案したい.

  16. 環境超高圧電子顕微鏡を用いた実装電池反応の原子レベルその場観察

    研究課題/研究課題番号:26246006  2014年6月 - 2018年3月

    田中 信夫

      詳細を見る

    担当区分:研究分担者 

    本研究では反応科学超高圧電子顕微鏡を用いて、①リチウム電池関連材料を酸化しない状態で電子顕微鏡観察する装置を開発した。②電池材料を加熱したり、電圧印加したり、雰囲気を変化させたりしてその場観察し、その劣化過程機構を原子レベルで研究した。③各種電池材料を走査透過電子顕微鏡を用いた電子エネルギー損失分光法で組成分布を、電子回折法で薄膜界面の歪解析を行った。

  17. 電子磁気二色性による局所スピンモーメント測定技術の開発

    2014年6月 - 2016年5月

    科学研究費補助金  二国間交流事業共同研究

    武藤俊介

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

    本研究の目的は,日-典(スウェーデン)協力による磁性元素の磁気モーメントの「定量的」ナノメートル分解能マッピングを可能にするためのナノ電子プローブを用いた磁気円二色性(EMCD)測定法を確立することである.2014年1月23日に本テーマに関するスウェーデングループとの共同研究論文がNature Communications誌(doi:10.1038/ncomms4138)に掲載され,特定の条件下でのEMCD定量測定に道筋をつけることができた.この論文発表を契機に「元素戦略-磁性材料研究拠点」からのアプローチがあった.そこで26年度からは,さらにこれを推し進め,数nmの空間分解能によって磁気モーメントの大きさの分布マップを作ることを目標とし,今年度はfeasibilityについて以下の二つの検討を行う:
     ①高密度磁気記録のための強磁性ビットマップパターンにおける磁気モーメントマッピングの試み:
      Nature Communications誌に発表した新しい技術の応用を図る.理想的な系として,同じ磁気パターンの繰り返すビットパターン薄膜について,およそ数十ナノメートル四方の各ビットのエッジ部分の磁気モーメントマッピングを試みる.このためには名古屋大学の超高圧走査透過電子顕微鏡システムが必要である.同じエコトピア科学研究所の微細加工グループによって試料の作製・提供がなされる予定である.同じ試料について,ウプサラ大学の中加速電圧マシンでも測定を試みる.またエッジ部分の磁性予測のための理論計算は,ウプサラ大学側で実行される.

     ②ベンチレータ型絞りによる新しいナノ領域EMCD測定の試み:
     すでにウプサラ大学Rusz博士による理論的な検 討によって,信号強度を飛躍的に向上させる試みが提案さ れている.図1(a)は,鉄の100晶帯入射条件における回折面上のEMCD信号分布である.これから予測されることは,図1(b)に示すようなベンチレータ型の絞りを回折面上に挿入することで,異なる符号のEMCD信号を選択的に測定することが可能となる.この手法はナノ電子ビーム走査と親和性が良く,STEMモードによるEMCDマッピング技術へと発展させることが期待される.絞りの挿入位置として対物レンズ絞り位置とEELS検出器絞りの二通りが考えられ,それぞれについて実際に実施することでそれぞれの特徴を詳細に検討する.

    以上について主として名古屋大学側が実験を,ウプサラ大学側が理論を受け持ち,双方の若手研究者の交換を行うことで進めていく.

  18. 逆空間走査多元分光による局在機能欠陥の高分解能立体構造/状態分析

    研究課題/研究課題番号:26249096  2014年4月 - 2018年3月

    武藤 俊介

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

    配分額:41730000円 ( 直接経費:32100000円 、 間接経費:9630000円 )

    本研究では,走査透過型電子顕微鏡に付随する様々な分光法を組み合わせ,同じ場所から同時に他種類のスペクトルを取得し,更にこの大量データを統計的に処理することによって,機能材料のナノ領域の物性分析及び化学イメージングのための手法を開発した.またこの手法を応用して,環境材料,エネルギー材料,磁性材料,生体材料などの実材料中の添加元素の占有サイト,占有率,化学結合状態を明らかにした.これらの成果は従来の回折的手法及び電子顕微鏡の技術ではなしえなかったものである.

  19. ナノ構造情報のフロンティア開拓-材料科学の新展開

    研究課題/研究課題番号:25106001  2013年6月 - 2018年3月

    新学術領域研究(研究領域提案型)

    田中 功

      詳細を見る

    担当区分:連携研究者 

    総括班では,領域の全体的な研究方針の策定,企画調整,研究成果の適正評価,研究連携の円滑化・促進,公募による新テーマ発掘,若手育成プログラムの推進,公開講演会・シンポジウム等の企画・実行,海外のトップグループとの情報交換・協力体制構築,国民との科学・技術対話推進,産業界への情報発信などを行った.
    また,個別の成果を統合し,新しい学術基盤の創成に貢献するために,領域代表者を編集者として,書籍"Nanoinfomatics"を出版した.

  20. ナノ電子状態解析のフロンティア開拓

    研究課題/研究課題番号:25106004  2013年6月 - 2018年3月

    新学術領域研究(研究領域提案型)

    武藤 俊介

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

    配分額:150930000円 ( 直接経費:116100000円 、 間接経費:34830000円 )

    本研究では、透過型電子顕微鏡を主軸にした各種付随分光法を駆使して固体材料の微小な局所領域の化学状態を分析、可視化する新たな手法を開発し、実用材料への適用にまで止揚することを目的とした。
    特に細く絞ったナノ電子プローブを試料上で走査、またはロッキングする事によって分光スペクトルを場所または回折条件の関数として多数収集し、得られたいわゆる「ビッグデータ」に機械学習(インフォマティクス)の手法を適用し、異なる化学状態毎に状態解析と同時にその空間分布を可視化する技術を確立するに至った。

  21. エネルギーフィルタ環境TEM による触媒表面ガス吸着/反応可視化

    2013年4月 - 2015年2月

    科学研究費補助金 

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

    本研究の目的は,名古屋大学の反応科学超高圧走査透過型電子顕微鏡(RS-HVSTEM)を用いて金属触媒表面のガス反応(吸着,解離など)のナノメートルレベルでのその場可視化を試みることである.次項以下に示すように100Pa 程度のガス圧下で軽元素ガス分子の電子エネルギー損失スペクトル(EELS)は5-20eV の領域に特徴的な微細構造を示すことを我々は見いだした.この大きな強度を持つスペクトルを使ったエネルギーフィルター像によってガス分子を可視化する事を着想した.これまで環境TEM における触媒反応のミクロ可視化としてまさしく待ち望まれてき,
    反応活性点の明快な特定とそのダイナミックな可視化という課題に切り込む.

  22. ナノプローブを用いたS/TEM内インターカレーション過程その場観察の試み

    2011年4月 - 2013年3月

    科学研究費補助金 

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

    本研究の目的は、TEM用STM測定試料ホルダーを改良し、インターカーレーション反応過程をナノスケールでその場観察・化学状態測定を行うことを試みるものである。その具体的かつ喫緊の要求が高い応用例として次世代リチウムイオン電池正極活物質として期待されているLiFePO4の充放電過程におけるリチウムイオンの移動とそれに伴う構造相転移を透過型電子顕微鏡(TEM)と電子エネルギー損失分光(EELS)によってその場観察し、そのための試料マニピュレ-ションシステムを開発することにある。

  23. 局在水素の電子分光間接イメージング法の開発

    2008年4月 - 2010年3月

    科学研究費補助金  挑戦的萌芽研究

    武藤俊介

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

  24. Pixon型信号処理による微量軽元素の電子状態分析法の開発

    2006年4月 - 2008年3月

    科学研究費補助金  萌芽研究,課題番号:17656204

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

  25. 高エネルギー電子ビームによるチェレンコフ発光を用いた新しいサブナノ領域分析

    2003年4月 - 2005年3月

    科学研究費補助金  萌芽研究,課題番号:15656153

      詳細を見る

    担当区分:研究代表者 

▼全件表示

産業財産権 1

  1. 発光体およびその製造方法

     詳細を見る

    出願番号:特願2009-18031  出願日:2009年1月

    出願国:国内  

 

担当経験のある科目 (本学) 42

  1. 物理工学演習2a

    2020

  2. 熱力学

    2020

  3. 高エネルギー電子分光特論

    2020

  4. 熱力学

    2019

  5. ナノ顕微分光物質科学特別実験及び演習

    2019

  6. ナノ顕微分光物質科学セミナー

    2019

  7. 物質科学特別輪講(ナノ顕微分光物質科学)A,B

    2019

  8. ナノ顕微分光物質科学特別実験及び演習

    2018

  9. ナノ顕微分光物質科学セミナー

    2018

  10. 高エネルギー電子分光特論

    2018

  11. 物質科学特別輪講(ナノ顕微分光物質科学)A,B

    2018

  12. 熱力学

    2018

  13. 極限環境エネルギー材料科学セミナー

    2017

  14. 量子エネルギー工学セミナーAB

    2017

  15. 電磁気学解析

    2017

  16. 熱力学

    2017

  17. 高エネルギー電子分光特論

    2016

  18. 極限環境エネルギー材料科学セミナー

    2016

  19. 量子エネルギー工学セミナーAB

    2016

  20. 電磁気学解析

    2016

  21. 熱力学

    2016

  22. 熱力学

    2015

  23. 極限環境エネルギー材料科学セミナー

    2015

  24. 量子エネルギー工学セミナーAB

    2015

  25. 電磁気学解析

    2015

  26. 熱力学

    2014

  27. 高エネルギー電子分光特論

    2014

  28. 量子エネルギー工学セミナーAB

    2014

  29. 極限環境エネルギー材料科学セミナー

    2014

  30. 極限環境エネルギー材料科学セミナー

    2014

  31. 高エネルギー電子分光特論

    2014

  32. 量子エネルギー工学セミナーAB

    2014

  33. 熱力学

    2014

  34. 数学2および演習(G30)

    2014

  35. Mathematical Physics I

    2012

  36. 英語

    2012

  37. 電子分光法

    2012

  38. 熱力学

    2012

  39. 力学Ⅰ

    2011

  40. エネルギー材料物性

    2004

  41. 量子材料物理

    2001

  42. 統計力学A

    2001

▼全件表示

担当経験のある科目 (本学以外) 17

  1. 電子エネルギー損失分光法による化学結合解析

    2010年4月 - 2011年3月 大阪大学)

  2. 電子エネルギー損失分光法による化学結合解析

    2009年4月 - 2010年3月 大阪大学)

  3. 電子エネルギー損失分光法による化学結合解析

    2008年4月 - 2009年3月 大阪大学)

  4. エネルギー科学特別講義IX

    2005年4月 - 2006年3月 九州大学)

  5. 数学2および演習(G30)

    名古屋大学)

  6. 高エネルギー電子分光特論

    名古屋大学)

  7. 高エネルギー電子分光特論

    名古屋大学)

  8. 電磁気学解析

    名古屋大学)

  9. 量子エネルギー工学セミナーAB

    名古屋大学)

  10. 量子エネルギー工学セミナーAB

    名古屋大学)

  11. 量子エネルギー工学セミナーAB

    名古屋大学)

  12. 熱力学

    名古屋大学)

  13. 熱力学

    名古屋大学)

  14. 熱力学

    名古屋大学)

  15. 極限環境エネルギー材料科学セミナー

    名古屋大学)

  16. 極限環境エネルギー材料科学セミナー

    名古屋大学)

  17. 極限環境エネルギー材料科学セミナー

    名古屋大学)

▼全件表示

 

社会貢献活動 10

  1. 豊西総合大学講座

    役割:講師

    愛知県立豊田西高等学校  2017年11月

     詳細を見る

    対象: 高校生

    種別:出前授業

  2. 名古屋大学オープンレクチャー2017

    役割:講師

    名古屋大学産官連携推進本部  2017年3月

     詳細を見る

    対象: 高校生, 社会人・一般

    種別:セミナー・ワークショップ

    「物質からのミクロな暗号を読み解くはなし」

  3. 第3回Spring-8材料構造の解析に役立つ計算科学研究会 第10回Spring-8先端利用技術ワークショップ

    役割:講師

    (公財)高輝度光科学研究センター(JASRI) SPring-8 利用推進協議会 研究開発委員会  2017年2月

     詳細を見る

    対象: 研究者, 企業

    種別:セミナー・ワークショップ

    理論・実験・計算科学と情報科学が融合したマテリアルズ・インフォマティクスの基盤となる方法論の原理とそれらの適用例、および情報統合型物質・材料開発イニシアティブ(MI2I:“Materials research by Information Integration” Initiative)の活動内容を紹介し、データ駆動型(情報統合型)の新しい科学が加速する新物質・新材料研究や、放射光計測における変革を展望する。

  4. 機器分析講座「材料の微細組織の観察」

    役割:講師

    静岡理工科大学  2016年3月

     詳細を見る

    対象: 大学生, 教育関係者, 研究者, 企業

  5. 先端計測インフォマティクス大量データ時代の情報活用ワークショップ

    役割:講師

    物質・材料研究機構  2016年1月

     詳細を見る

    対象: 研究者, 企業

    種別:セミナー・ワークショップ

    以下の技術をNIMS内外の実験系・理論系・情報系研究者が共有することで、測定装置には手を加えず、埋蔵データをリソースとして活用できるシステムを構築することを目的とする。
    (1) NIMSが得意とする計測技術を使った、大量データの取得と解析
    (2) 大量データから信頼性の高い定量値を引き出す機械学習と、そのパッケージ化
    (3) 蓄積されてきた実験データを掘り起し、情報科学の俎上に載せるデータベース化技術

  6. 電池・エネルギー材料解析セミナー

    2014年11月

     詳細を見る

    昨今の革新的なエネルギー技術の開発から導入・普及に向けた不可欠な手段として、効果的・効率的にナノレベルで制御された高度な材料開発が注目を集めておりますが、このような材料開発を加速するためには、透過電子顕微鏡(TEM)、核磁気共鳴装置(NMR)をはじめとする複数の計測・分析機器を総合的、有機的に組み合わせ、解析していく事が必要とされています。
    本セミナーでは、これらの最新の分析技術をご紹介すると共に、次世代の革新電池・エネルギーに関する先端技術・材料開発の一助となるソリューションのご提供をさせていただきます。

  7. セミナー「分光スペクトルの統計処理ーノイズ処理と多変量スペクトル分解法」㈱情報機構

    役割:講師

    2014年5月

     詳細を見る

    対象: 研究者, 企業

  8. セミナー「EELSの基本原理とスペクトル解釈・評価ノウハウ」㈱情報機構

    2013年11月

  9. 春日井高等学校出前講義「原子の世界から見るナノテクノロジー」

    役割:講師

    春日井高等学校  2013年11月

     詳細を見る

    対象: 高校生

    種別:出前授業

  10. 透過電子顕微鏡および電子エネルギー損失分光法による材料解析・評価技術((株)情報機構)

    2011年8月

▼全件表示

メディア報道 1

  1. ガス環境下における自動車触媒ナノ粒子のオペランドTEM観察 ~触媒開発に大きく貢献する研究開発手法~ インターネットメディア

    文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム  NanotechJapan Bulletin  <2020年秀でた利用成果-1>  2020年4月

     詳細を見る

    執筆者:本人以外