Presentations -
-
LSI故障解析用レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡の開発
山下将嗣, 二川清, 斗内政吉, 大谷知行, 川瀬晃道
理研シンポジウム「第15回マイクロファブリケーション研究の最新動向」
-
テラヘルツ波を用いたフレキシブルパッケージの欠陥検出に関する研究
森田康之, Adrian Dobroiu, 大谷知行, 川瀬晃道
MWP・THz応用システム合同研究会
-
集積回路評価用レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡の開発
山下将嗣, 二川清, 斗内政吉, 大谷知行, 川瀬晃道
MWP・THz応用システム合同研究会
-
LSI故障解析用レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡の開発
山下将嗣, 二川清, 斗内政吉, 大谷知行, 川瀬晃道
理研シンポジウム「マイクロファブリケーション研究の最新動向」
-
THz-wave parametric sources and imaging applications International conference
SPIE Conference on Solid State Laser Technologies
-
Terahertz imaging - new steps toward real-life applications
12th International Conference on Terahertz Electronics (IRMMW2004/THz2004)
-
Difference of X-ray-induced substrate phonon events observed with superconducting tunnel junctions on a sapphire and a LiNbO3 substrates International conference
Applied Superconductivity Conference (ASC 2004)
-
A broad-band THz radiation detector using a Nb- based superconducting tunnel junction International conference
Applied Superconductivity Conference (ASC 2004)
-
Characterization of an STJ-based Direct Detector of Submillimeter-waves International conference
Applied Superconductivity Conference (ASC 2004)
-
テラヘルツ波の産業応用可能性
川瀬晃道
秋田県産業経済労働部商工業振興課技術移転促進講演会
-
テラヘルツ分光によるバナナ型液晶のダイナミクスに関する知見
高西陽一, 石川謙, 竹添秀男, 川瀬晃道, 山下雅弘
液晶学会討論会
-
ミリ波の吸収特性を利用した含水量・凍結状態のモニタリング
進藤賢治, 水野麻弥, 小川雄一, 大谷知行, 川瀬晃道
電気学会光量子デバイス研究会
-
テラヘルツ波の散乱と吸収スペクトルを用いた非破壊検査技術
渋谷孝幸, 山下雅弘, 小川雄一, 井上博之, 金森達之, 大谷知行, 川瀬晃道
電気学会光量子デバイス研究会
-
プリズム形ファブリーペロー共振器を用いたテラヘルツ帯吸収測定
Adrian Dobroiu, Rene Beigang, Chiko Otani, and Kodo Kawase
平成16年秋季応用物理学会学術講演会
-
テラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの非接触測定II
山下将嗣, 二川 清, 斗内政吉, 大谷知行, 川瀬晃道
平成16年秋季応用物理学会学術講演会
-
超伝導トンネル接合素子を用いた基板吸収型テラヘルツ波検出器の開発 (II)
大谷知行, 田井野徹, 中野蘭, 明連広昭, 有吉誠一郎, 佐藤広海, 清水裕彦, 川瀬晃道
平成16年秋季応用物理学会学術講演会
-
LiNbO3, Al2O3基板を用いたSTJ検出器の動作特性
中野蘭, 星野耕一, 田井野徹, 明連広昭, 大谷知行, 佐藤広海, 川瀬晃道, 清水裕彦, 高田進
平成16年秋季応用物理学会学術講演会
-
テラヘルツ領域の散乱強度と分光情報を用いた試薬の非破壊検査
山下雅弘, 渋谷孝幸, 小川雄一, 井上博之, 金森達之, 大谷知行, 川瀬晃道
平成16年秋季応用物理学会学術講演会
-
超伝導トンネル接合素子(STJ)を用いたサブミリ波帯直接検出器の開発
有吉誠一郎, 松尾宏, 大谷知行, 佐藤広海, 清水裕彦, 川瀬晃道, 野口卓
平成16年秋季応用物理学会学術講演会
-
Non-contact measurement of MOSFET with zero bias voltage using the laser-THz emission microscope International conference
12th International Conference on Terahertz Electronics (IRMMW2004/THz2004)