論文 - 田渕　雅夫

Occupation site and distribution of δ-doped Er in InP measured by X-ray CTR csattering

Applied Surface Science   117 巻 ( 118/ ) 頁： 785   1997年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1016/S0169-4332(97)80183-3

Atomic configuration study of δ-doped Er in InP by fluorescence EXAFS

Applied Surface Science   117 巻 ( 118/ ) 頁： 781   1997年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

DOI： 10.1016/S0169-4332(97)80182-1

EXAFS measurement on local structures around erbium atoms doped in GaAs with oxgen co-doping

Defectin Semiconductors ICDS-19, Trans Tech Pub. LTD.     頁： 1571   1997年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）