講演・口頭発表等 - 大塚 真弘
-
Identification of occupation site of Al doped in Y2Ti2O7 based by ab initio calculation and statistical high-angular resolution electron channeling X-ray spectroscopy 国際会議
Yoshihiro Obata, Kenji Oda, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Makoto Tanaka, Satoshi Kitaoka
The 16th European Microscopy Congress
-
統計的ALCHEMI法を用いたSrZn2-W型フェライトにおけるZn占有サイトの定量解析 国際会議
大塚真弘, 武藤俊介, 阿南義弘, 小林義徳
日本顕微鏡学会 第72回学術講演会
-
HARECXSによる珪線石のAl/Si秩序度測定 国際会議
伊神洋平, 武藤俊介, 大塚真弘, 三宅亮
日本顕微鏡学会 第72回学術講演会
-
電子顕微鏡によるオリビン中Mサイトの Mg/Fe元素比推定 国際会議
三宅亮, 藤昇一, 福永啓一, 栗林貴弘, 武藤俊介, 大塚真弘, 伊神洋平
日本顕微鏡学会 第72回学術講演会
-
統計的ALCHEMI法を利用した耐環境保護膜中の軽元素添加物占有サイトの決定 国際会議
織田健嗣, 小幡佳弘, 大塚真弘, 武藤俊介, 田中誠, 北岡諭
日本顕微鏡学会 第72回学術講演会
-
Application of Statistical High-Angular Resolution Electron Channeling X-ray Spectroscopy to Quantitaive Occupation Site Analysis of a Light Element Dopant 国際会議
Masahiro Ohtsuka, Kenji Oda, Yoshihiro Obata, Shunsuke Muto, Makoto Tanaka, Satoshi Kitaoka
-
統計的ALCHEMI/HARECXS法を用いたZn添加W型フェライト中のZn占有サイト解析
大塚真弘, 武藤俊介, 阿南義弘, 小林義徳
日本金属学会 2015年春期(第158回)講演大会
-
ビームロッキングEDXを用いたドーパント占有サイト評価
大塚真弘, 武藤俊介
日本金属学会 2015年秋期講演大会
-
Site occupancy determination of a dopant substituting for multiple sites using beam-rocking TEM-EDX and statistical analysis 国際会議
Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto, Kazuyoshi Tatsumi
Microscopy Conference 2015
-
統計的ALCHEMI法/動力学計算を用いた磁性材料中の添加元素占有サイト評価
大塚真弘, 武藤俊介, 巽一厳
日本顕微鏡学会 第71回学術講演会
-
統計的ALCHEMI法を用いた占有サイト評価における各種実験条件の依存性
大塚真弘, 武藤俊介
日本顕微鏡学会 第71回学術講演会
-
統計的ALCHEMI法と動力学計算を組み合わせた添加元素占有サイトの定量評価
大塚真弘, 武藤俊介, 市川貴浩, 巽一厳
日本金属学会 2014年度秋期講演大会
-
ビームロッキング法によるSi-doped GaAsの欠陥構造解析
市川貴浩, 大塚真弘, 武藤俊介
日本金属学会 2014年度秋期講演大会
-
Planer defect structure analysis based on electron channeling phenomena 国際会議
Takahiro Ichikawa, Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto
18th International Microscopy Congress
-
Element/Site-Selective Local Ligand Analysis using High-Angular Resolution Electron Channeled Fluorescent Spectroscopy 国際会議
S. Muto, M. Ohtsuka, K. Tatsumi, M. Bosman, H. Yamane
18th International Microscopy Congress
-
Slice-by-slice simulations of absorption potential for high-angular resolution electron channeled X-ray spectroscopy 国際会議
Masahiro Ohtsuka, Shunsuke Muto
18th International Microscopy Congress
-
高角度分解能電子チャネリングX線分光パターンのマルチスライス計算手法
大塚真弘, 武藤俊介
日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会
-
層状構造を有するNaイオン電池正極材料の結晶構造解析 国際会議
本田善岳, 北野 保行, 武藤 俊介, 大塚 真弘, 巽一厳, 片岡理樹, 境哲男
日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会
-
高角度分解能電子チャネリングX線分光法を用いた欠陥構造解析に関する理論的検討
市川貴浩, 大塚真弘, 武藤俊介, 巽一厳
日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会
-
高角度分解能電子チャネリングX線分光法を用いた欠陥構造解析の試み
大塚真弘, 市川貴浩, 武藤俊介, 巽一厳
日本顕微鏡学会 第70回記念学術講演会