論文 - 曾　剛

Hybrid BIST for System-on-a-Chip Using an Embedded FPGA Core 査読有り

G. Zeng and H. Ito

Proc. of IEEE VLSI Test Symposium (VTS)     頁： 353-358   2004年4月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Efficient Test Data Decompression for System-on-a-Chip Using an Embedded FPGA Core 査読有り

G. Zeng and Hideo Ito

Proc. of IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT)     頁： 134-142   2003年11月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）