論文 - 武藤　俊介

Energy drifts correction of electron energy-loss spectra for prolonged data accumulation of low SNR signals 査読有り

Y. Sasano and S. Muto

Journal of Electron Microscopy   57 巻   頁： 149-158   2008年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Site-selective electronic structure of aluminum in oxide ceramics obtained by TEM-EELS analysis using the electron standing-wave method 査読有り

Y. Yamamoto, K. Tatsumi and S. Muto

Materials Transaction   48 巻   頁： 2590-2594   2007年12月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Depth-resolved EELS and chemical state mapping of N+-implanted TiO2 photocatalyst 査読有り

T. Yoshida, S. Muto and J. Wakabayashi

Materials Transaction   48 巻   頁： 2580-2584   2007年12月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

位置選択的電子エネルギー損失分光法によるナノ表面・界面電子状態測定とその空間分布の可視化 招待有り

武藤俊介，吉田朋子

表面   45 巻 ( 2 ) 頁： 27-38   2007年2月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語  

TEM分析において特に発展著しい電子エネルギー損失分光法（EELS）による局所領域の化学結合分析に焦点を絞り，最近の二次元位置敏感検出器の特性を活かして電子を小さく絞らずにナノメートル領域の分析を行う手法とその応用を紹介

Nano-Order Structural Analysis of White Light-Emitting Silicon Oxide Prepared by Successive Thermal Carbonization/Oxidation of the Porous Silicon 査読有り

S. Muto, A. V. Vasin, Y. Ishikawa, N. Shibata, J. Salonen, and V-P. Lehto

Materials Science Forum   561-565 巻   頁： 1127-1130   2007年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Site-by-site Electronic Structure Analysis of Al-containing Complex Compounds Using Channeling EELS and First Principles Calculations 査読有り

K. Tatsumi, Y Yamamoto and S. Muto

Materials Science Forum   561-565 巻   頁： 2091-2094   2007年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Hydrogen Quasi-Chemically Trapped Between Defective Graphene Layers in Nanostructured Graphite 査読有り

Y. Miyabe, T. Yoshida, S, Muto and T. Kiyobayashi

Materials Science Forum   561-565 巻   頁： 1585-1588   2007年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Depth selective electronic state analysis of implanted nitrogen in visible-light response TiO2 photocatalyst 査読有り

T. Yoshida, S. Muto and J. Wakabayashi

Materials Sciencd Forum   561-565 巻   頁： 567-570   2007年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

In situ observation of reversible oxygen absorption/release of ceria-zirconia solid solution with Pt particles by TEM and EELS 査読有り

S. Arai, S. Muto, T. Sasaki, Y. Ukyo, K. Kuroda, H. Saka

Electrochem. Solid-State Lett.   9 巻   頁： E1-E3   2006年4月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Spectral restoration and energy resolution improvement of electron energy-loss spectra by Pixon reconstruction: I.Principle and test examples 査読有り

S. Muto, R. C. Puetter and K. Tatsumi

Journal of Electron Microscopy   54 巻 ( 4 ) 頁： 215-223   2006年4月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Fe-Co and Fe-Ni magnetic fine particles encapsulated by graphite carbon 査読有り

H. Tokoro, S. Fujii, S. Muto and S. Nasu

J. Appl. Phys.   99 巻   頁： 08Q512   2006年4月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Intercalated hydrogen in nanostructured graphite studied by electron energy-loss spectroscopy and molecular orbital calculation 査読有り

T. Kimura, S. Muto, K. Tatsumi, T. Tanabe and T. Kiyobayashi

Journal of Alloys and Compounds   413 巻 ( 1-2 ) 頁： 150-154   2006年3月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Hydrogen loosely trapped between graphitic basal planes in hydrogenated nanostructured graphite was detected by the change in the relative intensity ratio of the π * and σ* peaks of the C K-edge in electron energy-loss spectroscopy (EELS). The experimental spectral change was explained by model calculations of intercalated hydrogen in graphitic sheets, using an ab initio molecular orbital (DV-X

Change in mechanical properties of ion-irradiated ceramics by nanoindentation method 査読有り

S. Nakano, S. Muto and T. Tanabe

Materials Transactions   47 巻 ( 1 ) 頁： 112-121   2006年1月

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Changes in hardness of several representative ceramics and semiconductors associated with ion irradiation were systematically studied using a combination of nanoindentation and finite element analysis. We established a new method for obtaining the precise hardness of the embedded damaged layer of ion-irradiated samples. The method was applied to silicon carbide,

Site-specific electronic structure analysis by channeling EELS and first principles calculations 査読有り

K. Tatsumi, S. Muto, Y. Yamamoto, H. Ikeno, S. Yoshioka and I. Tanaka

Ultramicroscopy   106 巻   頁： 1019-1023   2006年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Local Oxidation Induced by Inhomogeneous Stress on Blistered Si Surface 査読有り

S. Igarashi, A. N. Itakura, M. Kitajima, S. Nakano, S. Muto, T. Tanabe, H. Yamamoto and K. Hojou

Jpn. J. Appl. Phys.   45 巻   頁： 4179-4182   2006年

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記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Substructures of gas-ion-irradiation induced surface blisters in Si studied with cross-sectional transmission electron microscopy 査読有り

  46 巻 ( 10 ) 頁： 2117-2124   2005年10月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

微小押し込み試験法によるセラミック材料のイオン照射に伴う力学特性変化 査読有り

中野伸祐，武藤俊介，田辺哲朗

日本金属学会誌   69 巻 ( 9 ) 頁： 815-824   2005年9月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

非金属材料におけるヘリウム照射損傷について 招待有り 査読有り

武藤俊介

プラズマ・核融合学会誌   81 巻 ( 1 ) 頁： 41-45   2005年1月

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担当区分：筆頭著者   記述言語：日本語  

Structure of Oxygen-Related Defect Centers in of Ge1-xSix Alloys Studied by Extended Energy-Loss Fine Structure Analysis 査読有り

S. Muto, H. Sugiyama, I. Yonenaga and T. Tanabe

Japanese Journal of Applied Physics   44 巻   頁： 1892-1896   2005年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy analysis of hydrogenated nanostructured graphite prepared by mechanical milling 査読有り

S. Muto, T. Kimuta, T. Kiyobayashi, T. Tanabe and T. Maruyama

Japanese Journal of Applied Physics   44 巻   頁： 2061-2068   2005年

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担当区分：筆頭著者   記述言語：英語   掲載種別：研究論文（学術雑誌）  

Hydrogen trapping sites in hydrogenated nanostructured graphite (HNG) prepared by mechanical milling under hydrogen atmosphere were intensively studied with transmission electron microscopy (TEM) and electron energy-loss spectroscopy (EELS). Measurements of