論文 - 武藤 俊介
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Reverse Monte Carlo analysis of extended energy-loss fine structure for disordered structures of tetrahedrally co-ordinated materials: its applicability 査読有り
S. Muto and T. Tanabe
Journal of Electron Microscopy 52 巻 頁： 125-132 2003年
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Cross sectional TEM observation of gas-ion-irradiation induced surface blisters and their precursors in SiC 査読有り
S. Muto, T. Tanabe and T. Maruyama
Materials Transactions 44 巻 ( 12 ) 頁： 2599-2604 2003年
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Experimental and full multiple scattering approaches to energy-loss near-edge structures for c-Si, a-Si and a-Si:H 査読有り
K. Hayakawa, T. Fujikawa and S. Muto
Chemical Physics Letters 371 巻 頁： 498-503 2003年
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Local structures and damage processes of electron irradiated α-SiC studied with transmission electron microscopy and electron energy-loss spectroscopy 査読有り
S. Muto and T. Tanabe
Journal of Applied Physics 93 巻 頁： 3765-3775 2003年
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Damaging process of α-SiC under electron irradiation studied with electron microscopy and spectroscopy 査読有り
S. Muto, T. Tanabe, T. Shibayama, and H. Takahashi
Nuclear Instruments and Methods for Physics Research B 191 巻 頁： 519-523 2002年
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Development of new TEM specimen holder for cathodoluminescence detection 査読有り
T. Tanabe, S. Muto and S. Tohtake
Journal of Electron Microscopy 51 巻 頁： 311-313 2002年
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Surface Blistering of Ion Irradiated SiC studied by Grazing Incidence Electron Microscopy 査読有り
S. Igarashi, S. Muto T. Tanabe and T. Maruyama
Journal of Nuclear Materials 307-311 巻 頁： 1126-1129 2002年
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TEM and EELS characterization of carbon dust and co-deposited layers from the TEXTOR tokamak 査読有り
Journal of Nuclear Materials 307-311 巻 頁： 1289-1293 2002年
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In-situ Observation of Surface Blistering in Silicon by Deuterium and Helium Ion Irradiation 査読有り
S. Igarashi, S. Muto, T. Tanabe, J. Aihara and K. Hojou
Surface and Coatings Technology 158-159C 巻 頁： 421-425 2002年
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Chemical effects of hydrogen on surface damaging process in gas-ion irradiated alumina 査読有り
J. Asami, S. Muto and T. Tanabe
Surface and Coatings Technology 158-159C 巻 頁： 518-521 2002年
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RHEED study of irradiation-induced surface damage processes in Si and α-Al2O3 査読有り
S. Muto, J. Asami and T. Tanabe
Nuclear Instruments and Methods for Physics Research B 196 巻 頁： 324-332 2002年
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透過電子エネルギー損失分光における内殻励起スペクトルを利用した軽元素材料の局所領域構造解析 査読有り
武藤俊介、田辺哲朗
表面科学 23 巻 頁： 381-388 2002年
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Formation of Si clusters in electron-irradiated SiC studied by electron energy-loss spectroscopy 査読有り
N. Asaoka, S. Muto and T. Tanabe
Diamond and Related Materials 10 巻 頁： 1247-1250 2001年4月
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低角度入射電子顕微鏡法による表面微小構造体の非破壊分析 査読有り
五十嵐慎一、武藤俊介、田辺哲朗
日本金属学会誌「分析電子顕微鏡法による材料評価」 65 巻 ( 5 ) 頁： 423-426 2001年
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Non-Destructive Structural Analysis of Surface Blistering by TEM and EELS in a Reflection Configuration 査読有り
S. Muto, T. Matsui and T. Tanabe
Journal of Nuclear Materials 290-293 巻 頁： 131-134 2001年
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Energy-Filtered Image of Surface Blisters by Grazing Incidence Electron Microscopy 査読有り
S. Igarashi, S. Muto, T. Tanabe and T. Maruyama
Materials Transactions 42 巻 ( 10 ) 頁： 2131-2132 2001年
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TEM-EXELFS法の効用：EXAFSとの対比 招待有り
武藤俊介
電子顕微鏡 36 巻 ( 1 ) 頁： 65-67 2001年
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エネルギー損失広域微細構造による短距離構造相関の解析―二体分布から多体分布導出へ―
武藤俊介、田辺哲朗
日本金属学会誌「分析電子顕微鏡法による材料評価」 65 巻 ( 5 ) 頁： 332-337 2001年
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Detailed Structure Analysis of Deposit Layer in TEXTOR by Means of TEM Techniques 査読有り
S. Muto, N. Yokoya and T. Tanabe
Journal of Nuclear Materials 290-293 巻 頁： 295-298 2001年
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Observation of Surface Blistering by Grazing Incidence Electron Microscopy
S. Muto, T. Matsui and T. Tanabe
Japanese Journal of Applied Physics 39 巻 ( 6A ) 頁： 3555-3556 2000年4月